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热词
    • 2. 发明申请
    • 接合装置
    • 绑定装置
    • WO2007043254A1
    • 2007-04-19
    • PCT/JP2006/317455
    • 2006-09-04
    • 株式会社村田製作所平田 篤彦
    • 平田 篤彦
    • H01L21/02H01L21/603H05K3/36
    • H01L21/67092H01L21/67121H01L21/67144H01L24/75H01L24/81H01L2224/75H01L2224/75301H01L2224/75981H01L2224/81203H01L2224/81801H01L2924/01004H01L2924/01005H01L2924/01006H01L2924/01013H01L2924/01033H01L2924/01042H01L2924/01047H01L2924/014
    •  熱の影響を受けることなく接合対象となるウエーハの平行度を維持して両者の接合精度を高めかつ安定させることができる接合装置を提供する。  第1ブロック部材12と第1加圧軸22の間に第1空間部M1を介在させ、第2ブロック部材28と第2加圧軸42の間に第2空間部M2を介在させることで、第1ブロック部材12及び第2ブロック部材28から第1加圧軸22と第2加圧軸42には熱がほとんど伝達されないため、第1ブロック部材12内部と第2ブロック部材28内部が略均一な温度になる。第1ブロック部材12及び第2ブロック部材28の熱膨張と第1加圧軸22及び第2加圧軸42の熱膨張の違いにより発生する応力を第1支柱部材20、第2支柱部材40が撓んで吸収させることで、第1ブロック部材12の第1ウエーハW1把持面と第2ブロック部材28の第2ウエーハW2把持面の平面度を維持できる。
    • 提供了一种粘合装置,通过使两晶片的接合精度得到改善和稳定,通过保持晶片之间的平行度而不受热量的影响。 第一空间部(M1)设置在第一块构件(12)和第一加压轴(22)之间,第二空间部(M2)设置在第二块构件(28)和第二加压轴 42)。 因此,由于几乎没有热量从第一块构件(12)和第二块构件(28)传递到第一加压轴(22)和第二加压轴(42),所以第一块构件(12)内部的温度 并且第二块构件(28)变得基本均匀。 由于第一块构件(12)和第二块构件(28)的热膨胀和第一加压轴(22)和第二加压轴(42)的热膨胀系数之间的差异产生的应力被弯曲吸收 第一柱状构件(20)和第二柱状构件(40)的平行度与第一块构件(12)的第一晶片(W1)的保持平面和第二晶片(W2)的保持平面之间的平行度, 的第二块构件(28)。
    • 5. 发明申请
    • 実装装置及びそのオフセット量補正方法
    • 安装设备和偏移量校正方法
    • WO2015119274A1
    • 2015-08-13
    • PCT/JP2015/053534
    • 2015-02-09
    • 株式会社新川
    • 高橋 誠佐藤 亮
    • H01L21/60
    • H01L24/75H01L21/67144H01L21/67259H01L21/681H01L24/81H01L2224/75753H01L2224/759H01L2224/7598H01L2224/75981H01L2224/81122H01L2224/8113H01L2224/81908H01L2224/83121H01L2224/83908
    •  上下二視野カメラ20によって基準用チップ12の上面の画像と補正用チップ13の下面の画像と取得して各チップ12,13の各位置を計算する第1のチップ位置計算工程と、各チップの各位置から計算した各チップ間のズレ量に基づいて各チップ間の離間距離が所定のオフセット量となる位置に基準用チップを移動させた後、補正用チップ13を吸着ステージ11に載置する第2のチップ移動工程と、補正用チップ13の上面の画像を取得して補正用チップ13の第2位置を計算する第2のチップ位置計算工程と、基準用チップの位置と補正用チップの第2位置とに基づいて所定のオフセット量の補正量を計算する補正量計算工程と、を含む。これにより、実装位置の経時的な位置ズレを抑制し実装品質の向上を図る。
    • 本发明包括:第一芯片位置计算步骤,其中通过使用上/下双视点相机(20)获取参考芯片的顶表面的图像来计算芯片(12,13)的位置, (12)和校正芯片(13)的底面的图像; 基于从芯片的位置计算出的芯片之间的偏差量,将参考芯片移动到使得芯片之间的间隔距离达到规定的偏移量的位置的第二芯片移动步骤 ,然后将校正芯片(13)安装在吸附台(11)上; 第二芯片位置计算步骤,其中通过获取校正芯片(13)的顶表面的图像来计算校正芯片(13)的第二位置; 以及校正量计算步骤,其中基于所述参考芯片的位置和所述校正芯片的所述第二位置来计算用于规定的偏移量的校正量。 由此,可以抑制安装位置随时间的位置偏差,实现安装质量的提高。