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    • 7. 发明申请
    • 半導体装置
    • 半导体器件
    • WO2016190197A1
    • 2016-12-01
    • PCT/JP2016/064766
    • 2016-05-18
    • シャープ株式会社
    • 中山 正樹塩田 素二松井 隆司田中 康彦宮崎 弘規村岡 盛司
    • H01L21/60
    • H01L24/73G02F1/13454G02F1/13458H01L24/16H01L24/32H01L27/124H01L2224/16227H01L2224/32227H01L2224/73204H01L2924/1426
    • 半導体チップのバンプと基板の電極パッドとの間の接続不良を抑制する。半導体装置は、複数の電極パッド15が一方の面に配置された基板と、略同一の大きさの複数のバンプ21が一方の面に形成された半導体チップ20と、複数のバンプ21及び複数の電極パッド15の間に介在して、複数のバンプ21と複数の電極パッド15とをそれぞれ電気的に接続する異方性導電膜30と、を備える。複数の電極パッド15には、半導体チップ20の端25に最も近い位置に位置する複数の第1の電極パッド15Aと、複数の第1の電極パッド15Aよりも半導体チップ20の内側に位置する複数の第2の電極パッド15Bとが含まれており、複数の第2の電極パッド15Bの各々の面積は、複数の第1の電極パッド15Aの各々の面積よりも広い。
    • 为了抑制衬底的电极焊盘与半导体芯片的凸块之间的错误连接。 半导体器件设置有:具有设置在一个表面上的多个电极焊盘15的衬底; 半导体芯片20具有形成在一个表面上的大致相同尺寸的凸块; 以及介于凸块21和电极焊盘15之间的各向异性导电膜30,以电连接凸块21和电极焊盘15.电极焊盘15包括位于最靠近边缘25的位置的多个第一电极焊盘15A 半导体芯片20的多个电极焊盘15B以及比第一电极焊盘15A更靠在半导体芯片20的内侧的电极焊盘15B。 每个第二电极焊盘15B的面积大于每个第一电极焊盘15A的面积。