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    • 74. 发明申请
    • MEMORY DEVICE AND METHOD FOR OPERATING THEREOF
    • 存储器件及其操作方法
    • WO2016114718A1
    • 2016-07-21
    • PCT/SG2015/050520
    • 2015-12-31
    • AGENCY FOR SCIENCE,TECHNOLOGY AND RESEARCH
    • FOONG, Huey ChianLI, Fei
    • H01L27/105H01L27/24G11C11/02G11C11/15G11C11/16
    • G11C11/1673G11C5/025G11C11/161G11C11/1653G11C11/1655G11C11/1675G11C11/1693H01L27/222H01L27/228
    • According to various embodiments, there is provided a memory device including at least one sense amplifier having a first side and a second side, wherein the second side opposes the first side; a first array including a plurality of memory cells arranged at the first side; a second array including a plurality of memory cells arranged at the second side; a first row including a plurality of mid-point reference units arranged at the first side; and a second row including a plurality of mid-point reference units arranged at the second side, wherein each mid-point reference unit of the first row is configured to generate a first reference voltage, and wherein each mid-point reference unit of the second row is configured to generate a second reference voltage; wherein the sense amplifier is configured to determine a resistance state of a memory cell of the first array based on the second reference voltage; wherein the sense amplifier is configured to determine a resistance state of a memory cell of the second array based on the first reference voltage.
    • 根据各种实施例,提供了一种存储器件,其包括具有第一侧和第二侧的至少一个读出放大器,其中第二侧与第一侧相对; 包括布置在第一侧的多个存储单元的第一阵列; 包括布置在第二侧的多个存储单元的第二阵列; 第一行,包括布置在第一侧的多个中点参考单元; 以及第二排,包括布置在第二侧的多个中点参考单元,其中第一行的每个中点参考单元被配置为产生第一参考电压,并且其中第二行的每个中点参考单元 行被配置为产生第二参考电压; 其中所述读出放大器被配置为基于所述第二参考电压来确定所述第一阵列的存储单元的电阻状态; 其中所述读出放大器被配置为基于所述第一参考电压来确定所述第二阵列的存储单元的电阻状态。
    • 75. 发明申请
    • メモリの温度上昇を抑制するための装置およびプログラム
    • 用于抑制存储器温度升高的程序和设备
    • WO2015155906A1
    • 2015-10-15
    • PCT/JP2014/079823
    • 2014-11-11
    • 株式会社フィックスターズ
    • 米谷 聡土山 了士村瀬 正名二木 紀行
    • G06F12/16G06F12/00G06F12/06
    • G11C7/1045G06F12/00G06F12/06G06F12/16G11C5/025G11C7/04G11C8/12G11C11/34G11C11/413
    •  本発明の課題は、積層された複数のメモリモジュールを備えるメモリが、データの読み書きに伴い高温となることを抑制することである。本発明の一実施形態にかかる記憶装置は積層された複数のメモリモジュールを備える。メモリコントローラとしての役割を果たすデータ処理装置は、データの書込要求を受けると、同時にデータが書き込まれるメモリモジュールが互いに隣接せず、また、一連の書込シーケンスにおいて、後続の書込タイミングでデータが書き込まれるメモリモジュールが、先行する書込タイミングでデータが書き込まれるメモリモジュールと隣接しないように、書込先のメモリモジュールを順次選択する。その結果、積層された複数のメモリモジュールにおける発熱箇所が分散され、高温化が低減される。
    • 本发明解决的问题在于存储器,其具有多个堆叠的存储器模块,由于读取/写入数据而被抑制到达到高温。 在本发明的一个实施例中的存储装置设置有多个堆叠的存储器模块。 当接收到数据写入请求时,满足存储器控制器的作用的数据处理装置顺序选择作为写入目的地的存储器模块,使得同时写入数据的存储器模块彼此不相邻, 并且在一系列写入序列中,在随后的写入定时将数据写入的存储器模块与在前一个写入定时中写入数据的存储器模块不相邻。 结果,多个层叠的存储器模块之间的发热位置分布,减少了温度的上升。
    • 77. 发明申请
    • 스택 메모리 장치 및 그 동작 방법
    • 堆叠存储器件及其操作方法
    • WO2015064982A1
    • 2015-05-07
    • PCT/KR2014/010123
    • 2014-10-27
    • (주)실리콘화일
    • 안상욱정희찬이용운안희균이도영
    • H01L23/50H01L23/12H01L23/48
    • G11C5/025G11C5/063G11C8/06G11C8/10H01L23/48H01L23/481H01L25/0657H01L2225/06541H01L2924/0002H01L2924/00
    • 본 발명은 스택 메모리 장치 및 그 동작 방법을 제공한다. 본 발명에 따른 스택 메모리 장치는, 제1 타입의 메모리 셀이 행 방향과 열 방향으로 반복 배열되되, 상기 제1 타입의 메모리 셀 각각에는 덤프 라인이 연결된 셀 어레이가 하나 이상 포함된 제1 메모리 칩; 및 제2 타입의 메모리 셀이 행 방향과 열 방향으로 반복 배열되되, 상기 제2 타입의 메모리 셀 각각에는 덤프 라인이 연결된 셀 어레이가 하나 이상 포함된 제2 메모리 칩;을 구비하고, 상기 제1 타입의 메모리 셀의 상기 덤프라인에는 제1 패드가 연결되고, 상기 제2 타입의 메모리 셀의 상기 덤프라인에는 제2 패드가 연결되되, 상기 제1 패드와 상기 제2 패드는 일대일로 대응되는 구조를 갖는다.
    • 本发明提供了一种堆栈存储装置及其操作方法。 根据本发明的堆叠存储器件提供有:第一存储器芯片,其中第一类型存储器单元在行方向和列方向上重复布置,并且包括一个或多个单元阵列,其中转储线是 连接到每个第一类型存储单元; 以及第二存储器芯片,其中第二类型存储器单元在行方向和列方向上重复布置,并且包括一个或多个单元阵列,其中转储线连接到每个第二类型存储单元,其中第一焊盘被连接 到第一类型存储单元的转储线和第二焊盘连接到第二类型存储单元的转储线,第一焊盘和第二焊盘具有一一对应关系。