专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

KR101758589B1 자동 광학 검사 시스템, 장치 및 방법 有权
公开(公告)号：KR101758589B1
公开(公告)日：2017-07-17
申请号：KR1020170061682
申请日：2017-05-18
申请人： (주)워프비전
发明人： 김홍유
IPC分类号： G01N21/956 , G01N21/88 , G06T7/00 , H05K13/08
CPC分类号： G01N21/956 , G01N21/8806 , G01N21/8851 , G01N2021/95638 , G06T7/0004 , G06T2207/30141 , H05K13/08
摘要： 자동광학검사시스템, 장치및 방법이제공된다. 상기자동광학검사시스템은, 회로기판에포함된불량을판단하는기준이되는광학정보를저장하는데이터베이스부, 상기회로기판에대한광학이미지를획득하고, 상기광학정보와상기광학이미지를이용하여상기회로기판을검사하는제1 광학검사부, 및상기제1 광학검사부로부터판단이보류된상기광학이미지를가공하고, 상기광학정보와상기가공된광학이미지를이용하여상기회로기판을재검사하는제2 광학검사부를포함하되, 상기제1 및제2 광학검사부의검사결과가상기데이터베이스부에저장된다.

2. 发明公开

KR1020170018097A 기판의 성질을 측정하기 위한 방법 및 장치 审中-实审
标题翻译：测量基材性质的方法和装置
公开(公告)号：KR1020170018097A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：KR1020177003118
申请日：2012-11-22
申请人： 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이.
发明人： 엘링스우터 , 반빌슨프란시스쿠스 , 드몰크리스티아누스 , 모스에버하르두스 , 톨스마호이트 , 텐벌지피터 , 반위즈넨폴 , 베르스태픈레오나르두스 , 딕커제럴드 , 융블러트라이너 , 리청-순
IPC分类号： G01N21/956 , G01N21/47
CPC分类号： G01B11/002 , G01B11/02 , G01B11/14 , G01B11/26 , G01N21/9501 , G01N21/956 , G01N21/95607 , G03F7/70508 , G03F7/70625 , G03F7/70633 , G05B19/41875 , G05B2219/37224 , H01L22/20 , Y02P90/20 , Y02P90/22 , G01N21/47 , G01N2021/95638
摘要： 웨이퍼기판의성질, 예컨대크리티컬디멘전또는오버레이의측정에서, 기판의성질을측정하기위하여정의된샘플링플랜이생성되는데(2506), 여기에서샘플링플랜은복수의서브-샘플링플랜을포함한다. 샘플링플랜은측정포인트의선결정된고정된개수로한정될수도있고검사장치가개별적인기판에대한상이한서브-샘플링플랜을사용하여복수의기판의성질의복수의측정을수행하도록제어하기위하여사용되며(2508), 선택적으로, 결과들은적층되어(stacked; 2510) 그샘플플랜에따른측정결과를적어도부분적으로재구성한다.
摘要翻译：在测量晶片衬底的特性（例如临界尺寸或覆盖层）时，产生用于测量衬底性质的采样计划（2506），其中采样计划包括多个次采样图。采样计划可以被约束到预定的固定数量的测量点，并且被使用（2508）来控制检查装置，以使用对于各个基板的不同的子采样计划来执行多个基板的属性的多个测量，结果（2510）根据样本计划至少部分地重新组合测量结果。

3. 发明授权

KR101628643B1 금속 재료의 표면 상태 평가 장치, 투명 기재의 시인성 평가 장치, 그 평가 프로그램 및 그것이 기록된 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 有权
标题翻译：用于评估金属材料表面状态的装置，用于评估透明基板评估程序的可视性和计算机可读记录介质的记录
公开(公告)号：KR101628643B1
公开(公告)日：2016-06-21
申请号：KR1020157009269
申请日：2013-09-13
申请人： 제이엑스금속주식회사
发明人： 아라이히데타 , 미키아츠시 , 아라이고스케 , 나카무로가이치로
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/95 , G01N21/956 , H05K3/00
CPC分类号： G01N21/95684 , G01N2021/95638
摘要： 금속재료의표면상태를효율적으로정확하게평가한다. 금속재료의표면상태평가장치는, 금속재료의표면을투명기재의적어도일방의면에접합한후에, 금속재료의적어도일부를에칭에의해제거하고, 투명기재아래에존재하는마크를투명기재너머로촬영하는촬영수단과, 얻어진화상에대해관찰된마크를가로지르는방향을따라관찰지점마다의명도를측정하여관찰지점-명도그래프를제작하는관찰지점-명도그래프제작수단과, 마크의단부로부터마크가없는부분에걸쳐생기는명도곡선의기울기에의해투명기재의시인성을평가하고, 평가결과에기초하여금속재료의표면상태를평가하는금속재료표면상태평가수단을구비한다. 금속재료표면상태평가수단은, 관찰지점-명도그래프에있어서, (1) 식으로정의되는 Sv 를이용하여시인성평가를실시하고, 시인성의평가결과에기초하여금속재료의표면상태를평가한다. Sv = (ΔB × 0.1) / (t1 - t2) (1)

4. 发明公开

KR1020160069489A 기판 상에 형성된 부품의 터미널 검사방법 및 기판 검사장치 审中-实审
标题翻译：检查板上组件端子和板检查装置的方法
公开(公告)号：KR1020160069489A
公开(公告)日：2016-06-16
申请号：KR1020150174149
申请日：2015-12-08
申请人： 주식회사 고영테크놀러지
发明人： 전계훈 , 권달안
IPC分类号： G01R31/04 , G01R31/28 , G06T7/00
CPC分类号： G01R31/04 , G01N21/8806 , G01N2021/95638 , G01R31/28 , G01R31/306 , G06T7/0004 , G06T7/12 , G06T7/174 , G06T2207/10024 , G06T2207/10152 , G06T2207/30141
摘要： 기판검사장치는투영부, 조명부, 이미지획득부및 처리부를포함한다. 투영부는검사대상물의 3차원형상정보를획득하기위한광을검사대상물에조사한다. 조명부는각기다른컬러를갖는적어도 2개이상의광들을검사대상물에조사한다. 이미지획득부는투영부로부터조사되어검사대상물에의해반사된광을수신하여제1 이미지를획득하고, 조명부로부터조사되어검사대상물에의해반사된광들을수신하여제2 이미지를획득한다. 처리부는획득된제1 이미지로부터명도정보를획득하고, 이미지획득부에서획득된제2 이미지로부터색상정보를획득하고, 획득된명도정보및 색상정보를이용하여검사대상물의터미널의경계중 적어도일부를획득한다. 이에따라, 검사의정확성및 신뢰성을향상시킬수 있다.
摘要翻译：板检查装置包括：突出部; 照明部分; 图像获取部; 和处理部。投影部分照射光，以获得关于待检查对象的三维形状的信息。照明部件向被检查物体照射具有不同颜色的两个或更多个光线。图像获取部分通过接收从投影部分辐射并被被检查对象反射的光获得第一图像，并且通过接收从照明部分辐射并由被检查对象反射的光线获得第二图像。处理部分从获得的第一图像获得亮度信息，从由图像获得部分获得的第二图像获得颜色信息，并使用获得的亮度信息和颜色信息获得被检查对象的终端的边界的一部分。因此，能够提高检查的准确性和可靠性。

5. 发明公开

KR1020150110327A 가요성 기판 검사 장치 审中-实审
标题翻译：柔性基板检查装置
公开(公告)号：KR1020150110327A
公开(公告)日：2015-10-02
申请号：KR1020150026972
申请日：2015-02-26
申请人： 니혼덴산리드가부시키가이샤
发明人： 나카가와,다카시 , 마츠카와,도시히데 , 히키타,오사무 , 가이다,미치오
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/677
CPC分类号： G01R31/2808 , G01N2021/95638 , G01R1/06794 , G01R31/2805 , H05K3/0008 , H05K2203/1545 , H05K2203/162 , H01L22/30 , H01L21/67715
摘要： 가요성회로기판의검사를원활하게행할수 있고, 간소화및 경량화를용이하게실현할수 있는기판검사장치를제공한다. 가요성기판(11)의검사를행하는기판검사장치(10)는, 반송경로(23)와, 검사부기구(30)를구비한다. 반송경로(23)에있어서는, 복수의단위기판이배열되어배치되는가요성기판(11)이연속적으로반송된다. 검사부기구(30)는, 반송경로(23)에반송되는가요성기판(11)을검사하기위한지그(33, 34)를, 가요성기판(11)에대하여접근시키거나멀어지게하는것이가능하다. 반송경로(23)는, 연직하방으로가요성기판(11)을반송하는세로반송부분(23a)을포함한다. 검사부기구(30)는, 세로반송부분(23a)에있어서반송되는가요성기판(11)에대하여지그(33, 34)를가요성기판(11)과수직인방향으로이동시킴으로써당해지그(33, 34)를접근시키거나멀어지게한다.
摘要翻译：提供一种能够顺利地进行柔性电路基板的测试的柔性基板测试装置，并且可以容易地实现简化和轻量化。柔性基板（11）的基板测试装置（10）包括承载路线（23）和测试部件结构（30）。在搬送路径（23）中，连续配置多个单位基板的柔性基板（11）。测试部件结构（30）可以接近夹具（33,34）以测试携带路线（23）上靠近或远离柔性基板（11）的柔性基板（11）。承载路径（23）包括垂直地向下运送柔性基板（11）的垂直承载部（23a）。通过将夹具（33,34）垂直地移动到垂直承载部件中的所携带的柔性基板（11）上，使得测试部件结构（30）靠近或远离柔性基板（11）接近夹具（33,34） 23A）。

6. 发明公开

KR1020150012881A ＰＣＢ 불량정보 시각화 장치 审中-实审
标题翻译：用于在印刷电路板上提供视觉数据的装置
公开(公告)号：KR1020150012881A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：KR1020130088987
申请日：2013-07-26
申请人： 한화테크윈 주식회사
发明人： 김남욱 , 김경택 , 조철형
IPC分类号： G01B11/00 , G01N21/88 , H05K13/08
CPC分类号： H01L21/67259 , G01N21/95607 , G01N2021/95638
摘要： 본 발명은 PCB 불량정보 시각화 장치에 관한 것으로, 전자기판에 장착되는 부품이 상기 전자기판 내에 어느 곳에 위치하는지를 나타내는 공간적 정보를 포함하도록 전자기판을 3차원 이미지로 표시하고, 전자기판 내에 불량이 발생한 경우, 이를 3차원적으로 시각적으로 표시하는 것을 일 특징으로 한다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于可视化PCB（印刷电路板）的缺陷信息的装置，其特征在于示出电气基板的三维图像，以包括指示安装在电气基板上的部件的位置的空间信息，当电气基板上存在缺陷时，电气基板的缺陷的三维图像。用于可视化PCB的缺陷信息的装置的特征在于包括显示电气基板的三维图像的图形单元，以包括指示安装在电气基板上的部件的位置的空间信息; 从至少一个AOI（自动光学检查）单元接收数据的数据收集单元; 数据分类单元，对安装在电气基板上的部件的每个位置的接收数据进行排序; 以及可视化单元，其使用指示安装在电气基板上的部件的位置的空间信息来映射分类数据，并且显示在与映射的空间信息相对应的位置处排序的数据的信息。

7. 发明公开

KR1020140012340A 기판 검사 및 리페어 방법 无效
标题翻译：液晶面板检查与维修方法
公开(公告)号：KR1020140012340A
公开(公告)日：2014-02-03
申请号：KR1020120078931
申请日：2012-07-19
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 임쌍근 , 강민구 , 송준호 , 이현민 , 한철희
IPC分类号： G01N21/88 , G02F1/13
CPC分类号： G01N21/95684 , G01N2021/95638 , G01N2021/95661 , G02F2001/136254
摘要： The present invention relates to a method for inspecting and repairing a substrate, wherein the method is for inspecting a defective position through a pattern inspection on the substrate, determining whether or not a short circuit or disconnection is in the defective position through image comparison, and then outputting a signal for restoration corresponding to the short circuit or the disconnection in order to automatically restore a defective area. The method for inspecting and repairing the substrate comprises: an inspecting step of optically inspecting a pattern defect on the substrate, and then transmitting information in which the pattern defect is recorded; a deciphering step of determining whether or not the short circuit or the disconnection is in the pattern defect based on the transmitted information for the pattern defect; and a restoring step of recognizing the short circuit or the disconnection in the pattern defect, and then repairing the pattern defect. [Reference numerals] (S100) Inspecting step; (S200) Deciphering step; (S300) Restoring step; (S400) Re-inspecting step
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查和修复基板的方法，其中该方法用于通过基板上的图案检查来检查缺陷位置，通过图像比较确定短路或断开是否处于缺陷位置，以及然后输出与短路或断开相对应的恢复信号，以便自动恢复缺陷区域。用于检查和修复基板的方法包括：光学检查基板上的图案缺陷，然后发送记录有图案缺陷的信息的检查步骤; 根据所发送的图案缺陷信息，确定短路或断线是否处于图案缺陷的解密步骤; 以及识别图案缺陷中的短路或断开的恢复步骤，然后修复图案缺陷。（附图标记）（S100）检查步骤; （S200）解密步骤; （S300）恢复步骤; （S400）重新检查步骤

8. 发明授权

KR101295760B1 다중 격자 무늬를 이용한 비전검사장치 有权
标题翻译：使用多种网格图案的视觉检测装置
公开(公告)号：KR101295760B1
公开(公告)日：2013-08-13
申请号：KR1020110021427
申请日：2011-03-10
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 박찬화 , 오상민 , 김성현 , 구자명
IPC分类号： G01B11/25 , G01N21/956 , H05K13/08
CPC分类号： G01B11/0608 , G01B11/25 , G01B11/2509 , G01B11/2513 , G01N21/95684 , G01N2021/95638
摘要： 본 발명에 따른 비전검사장치는 부품 조립과정에서 조립 또는 실장된 검사대상물을 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 대상 이미지와 비교하여 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전검사장치로서, 상기 검사대상물을 검사위치에 고정 또는 이송시키는 스테이지부와, 상기 스테이지부의 상부에 위치하며, 상기 검사대상물에 조명을 제공하는 조명부와, 상기 조명부의 중심에 위치되어 검사대상물의 2차원 형상을 획득하기 위한 중앙카메라부와, 상기 중앙카메라부의 측부에 배치되는 격자무늬조사부와, 상기 중앙카메라부에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부와, 상기 스테이지부와 상기 격자무늬조사부 및 상기 카메라부를 제어하는 제어부를 포함하며, 상기 격자무늬조� ��부는 서로 다른 간격의 주기를 가지는 격자무늬를 조사하도록 구성된다.

9. 发明公开

KR1020130077813A 프린트 기판의 검사 장치 无效
标题翻译：用于检测打印基板的装置
公开(公告)号：KR1020130077813A
公开(公告)日：2013-07-09
申请号：KR1020127025525
申请日：2011-11-08
申请人： 가부시키가이샤 메가 트레이드
发明人： 사사이마사토시
IPC分类号： G01N21/956
CPC分类号： G01N21/956 , G01N2021/8825 , G01N2021/95638 , G01N2201/0627
摘要： [과제] 패드나 레지스트 등에 있어서, 특성에 따른 광을 조사하여 정밀도 좋은 검사를 행하도록 한다.
[해결 수단] 프린트 기판(7)의 검사 장치(1)에 있어서, 카메라(6)에 대하여 명시야 조명으로 되는 제1 각도에 배치된 적색 LED(32)와, 녹색의 형광등에 의한 확산 조명인 제2색 광원(4)과, 카메라(6)에 대하여 암시야 조명으로 되는 제３ 각도에 배치된 청색 LED로 이루어진 제3색 광원(5)을 구비하고, 상기 제1색 광원(3)으로부터 제3색 광원(5)까지의 광을 이용하여 카메라(6)로 프린트 기판(7)의 화상을 촬영하고, 상기 명시야 조명인 적색 LED(32)로부터의 광에 의한 화상을 이용하여 패드 표면의 상처(71b)나 타흔(71c), 변색의 유무를 검사한다. 또, 녹색의확산 조명인 형광등으로부터의 광에 의한 화상에 의해 패드(71) 윤곽(71a)의 형성 상태를 검사한다. 또한, 청색 LED인 제3색 광원(5)으로부터의 화상을 이용하여 레지스트(72)의 굄이나 흠, 또 레지스트 하 패턴의 단선이나 쇼트 등을 검사한다.

10. 发明授权

KR101148490B1 수지 조성물 및 그 용도 有权
标题翻译：树脂组合物及其用途
公开(公告)号：KR101148490B1
公开(公告)日：2012-05-25
申请号：KR1020107003445
申请日：2008-07-14
申请人： 쇼와 덴코 가부시키가이샤
发明人： 오니시미나 , 이노우에히로후미
IPC分类号： C08L101/00 , C08K13/02 , C09D7/12 , G01N21/84
CPC分类号： H05K3/285 , C08G18/0823 , C08G18/348 , C08G18/44 , C08G18/6659 , C08G18/69 , C08G18/758 , C08L63/00 , C08L75/04 , C08L75/14 , G01N21/94 , G01N21/956 , G01N2021/95638 , H01L27/1462 , H01L27/14625 , H05K1/0269 , H05K2203/161 , C08L2666/20 , C08L2666/14
摘要： 본 발명은, 녹색 또는 적색의 조명 하, 조명의 강도나 CCD 카메라의 조건에 따르지 않고 CCD 카메라의 흑백 화상에 실상을 반영할 수 있도록 시인성이 우수한 수지 조성물을 제공한다. 본 발명의 수지 조성물은, 착색 안료 (A) 및 경화성 수지 (B)를 포함하는 수지 조성물이며, 상기 수지 조성물의 경화물을 포함하는 막이 하기 조건 (I), (II), (III), (IV) 및 (V)를 만족한다.
(I) 500㎚ 내지 550㎚의 범위의 파장에 있어서의 광의 투과율의 최대값이 90% 이상을 나타내는 것.
(II) 600㎚ 내지 650㎚의 범위의 파장에 있어서의 광의 투과율의 최소값이 80% 미만을 나타내는 것.
(III) 500㎚ 내지 550㎚의 범위의 파장에 있어서의 광의 반사율의 최대값이 12% 미만을 나타내는 것.
(IV) 600㎚ 내지 650㎚의 범위의 파장에 있어서의 광의 반사율의 최소값이 7% 미만을 나타내는 것.
(V) 백색광을 사용한 경우의 60°광택도가 80 이상을 나타내는 것.

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式