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1. 发明申请

WO02033698A1 DISC DRIVE SLIDER HAVING TEXTURED PADS 审中-公开
标题翻译：带有纹理垫的DISC驱动滑块
公开(公告)号：WO02033698A1
公开(公告)日：2002-04-25
申请号：PCT/US2001/026432
申请日：2001-08-24
IPC分类号： G11B5/60
CPC分类号： G11B5/6005 , G11B5/6082 , Y10S977/724 , Y10S977/863 , Y10S977/881
摘要： A disc drive slider (118) includes a slider body (143) and a rail (148) formed on the slider body. The rail includes a bearing surface (146) which faces a surface (120) of a disc (102). A textured portion (163) is formed on the bearing surface of the rail. Pads (162) are deposited on the textured portions. The pads operate to reduce stiction, dynamic friction, and the likelihood of damage to the slider or the surface of the disc due to contact therebetween.
摘要翻译：盘驱动器滑块（118）包括滑块体（143）和形成在滑块体上的导轨（148）。导轨包括面对盘（102）的表面（120）的支承表面（146）。纹理部分（163）形成在轨道的支承表面上。垫（162）沉积在纹理部分上。垫片用于减少由于它们之间的接触而导致的滑块或盘表面的静摩擦，动摩擦和损坏的可能性。

2. 发明申请

WO01063555A2 IMAGE DECONVOLUTION TECHNIQUES FOR PROBE SCANNING APPARATUS 审中-公开
标题翻译：用于探测扫描装置的图像解压缩技术
公开(公告)号：WO01063555A2
公开(公告)日：2001-08-30
申请号：PCT/US2001/005434
申请日：2001-02-21
IPC分类号： G01Q10/00 , G01Q30/04 , G01Q30/06 , G01Q60/24 , G01Q80/00 , G06F17/15 , G06T1/00 , G06T5/00 , G21K7/00 , G06T
CPC分类号： G06T5/003 , G01Q30/06 , G01Q40/00 , G06T5/30 , G06T2207/10056 , Y10S977/85 , Y10S977/863 , Y10S977/875 , Y10S977/881
摘要： An apparatus and method are provided for processing the images obtained from an atomic force microscopy when profiling high aspect ratio features. A deconvolution technique for deconvolving the sample image includes the use of multiple images but does not require exact calibration of the scanning probe. In one embodiment, erosion and dilation techniques are used to obtain an undistorted image of the sample being measured. In another embodiment, Legendre transforms are used to obtain an undistorted image of the sample being measured. Also described is a technique for measuring the tip radius of the scanning probe.
摘要翻译：提供了一种装置和方法，用于在分析高纵横比特征时处理从原子力显微镜获得的图像。用于对样本图像进行去卷积的去卷积技术包括使用多个图像，但不需要精确校准扫描探针。在一个实施例中，使用侵蚀和扩张技术来获得待测样品的未失真图像。在另一个实施例中，勒让德变换用于获得被测样本的未失真图像。还描述了一种用于测量扫描探针的尖端半径的技术。

3. 发明申请

WO99058922A1 APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING INTERMOLECULAR INTERACTIONS BY ATOMIC FORCE MICROSCOPY 审中-公开
标题翻译：用原子力显微镜测量分子间相互作用的装置和方法
公开(公告)号：WO99058922A1
公开(公告)日：1999-11-18
申请号：PCT/US1999/009696
申请日：1999-05-05
IPC分类号： G01B21/30 , G01B5/00 , G01B5/30 , G01Q30/02 , G01Q60/24 , G01Q60/42 , G01B5/34
CPC分类号： G01Q60/42 , Y10S977/849 , Y10S977/851 , Y10S977/853 , Y10S977/863
摘要： A sample support member for atomic force microscopy of intermolecular interactions includes a sample support base (40) having a plurality of protrusions (45), each protrusion (45) having an apical substrate region (48) or tip that has been chemically modified by the immobilization thereon of a sample compound (50) or of a linking compound that is capable of binding a sample compound. A reference compound support member (10), shaped as a cantilever, has a surface region (20) having at least one reference compound (30) immobilized thereon. A physical parameter associated with the interaction between the reference compound (20) and the sample compound (50) can be measured while controlling the spacing between the two support members.
摘要翻译：用于分子间相互作用的原子力显微镜的样品支撑构件包括具有多个突起（45）的样品支撑底座（40），每个突出部（45）具有顶部基底区域（48）或已由在其上固定样品化合物（50）或能够结合样品化合物的连接化合物。成形为悬臂的参考化合物支撑构件（10）具有固定有至少一个参考化合物（30）的表面区域（20）。可以在控制两个支撑构件之间的间隔的同时测量与参考化合物（20）和样品化合物（50）之间的相互作用相关联的物理参数。

4. 发明申请

WO2008015916A1 走査プローブ顕微鏡装置审中-公开
标题翻译：扫描探针显微镜
公开(公告)号：WO2008015916A1
公开(公告)日：2008-02-07
申请号：PCT/JP2007/064237
申请日：2007-07-19
申请人：独立行政法人科学技術振興機構 , 小林大 , 西田周平 , 川勝英樹
发明人：小林大 , 西田周平 , 川勝英樹
IPC分类号： G01N13/16
CPC分类号： G01Q60/32 , Y10S977/851 , Y10S977/863
摘要：　ＦＭモードの走査プローブ顕微鏡のカンチレバーが、機械的Ｑ値が低い環境においても安定に振動し、かつ、カンチレバーとサンプルの相互作用に対して高い感度を持つ走査プローブ顕微鏡装置を提供する。　カンチレバー（４）の共振周波数に近い周波数を持つ駆動信号を信号発生器（９）から振動励起手段（１０）に供給し、カンチレバー（４）を他励振動（強制振動）させる。振動検出手段（５）によって検出されたカンチレバー（４）の振動と前記駆動信号との位相差がゼロになるように、即ち前記駆動信号とカンチレバー（４）の共振周波数が一致するように、（１）前記駆動信号の周波数、または、（２）カンチレバーの共振周波数を（カンチレバー（４）とサンプル（１）の距離を調整することによって）制御する。
摘要翻译：扫描探针显微镜对悬臂与样品之间的相互作用具有高度的敏感性，其中扫描探针显微镜的悬臂在FM模式中即使在低机械Q的环境下也稳定地振荡。具有接近共振频率的频率的驱动信号悬臂（4）从信号发生器（9）提供给振荡激励装置（10），从而使悬臂（4）分别激励振荡（强制振荡）。（1）驱动信号的频率或（2）悬臂的共振频率被控制（通过调节悬臂（4）和样品（1）之间的距离），使得驱动信号与振荡之间的相位差由振荡检测装置（5）检测的悬臂（4）变为零，即驱动信号和悬臂（4）的共振频率彼此匹配。

5. 发明申请

WO2003050821A1 FORCE SCANNING PROBE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：强力扫描探针显微镜
公开(公告)号：WO2003050821A1
公开(公告)日：2003-06-19
申请号：PCT/US2002/039012
申请日：2002-12-06
申请人： VEECO INSTRUMENTS, INC.
发明人： STRUCKMEIER, Jens , GOTTHARD, Doug , OHLER, Ben
IPC分类号： G12B21/22
CPC分类号： G01Q10/065 , G01Q60/42 , Y10S977/837 , Y10S977/85 , Y10S977/863 , Y10S977/869 , Y10S977/872 , Y10S977/881
摘要： A force scanning probe microscope, i.e. an FSPM (100) and associated method of making force measurements on a sample (116) includes a piezoelectric scanner (118) have a surface that supports sample (116) so as to move the sample (116) in three orthogonal directions. FSPM (100) also includes a displacement sensor (162) that measures movement of the sample (116) in a direction orthogonal to the surface and generates a corresponding position signal so as to provide closed loop position feedback. In addition, a probe (108) is fixed relative to the piezoelectric scanner (118), while a deflection detection apparatus (123) is employed to sense deflection of probe (108). FSPM also includes a controller (128) that generates a scanner drive signal based on the position signal, and is adapted to operate according to a user-defined input that can change a force curve measurement parameter during data acquisition.
摘要翻译：强力扫描探针显微镜，即FSPM（100）和在样品（116）上进行力测量的相关方法包括具有支撑样品（116）的表面以便移动样品（116）的压电扫描仪（118）在三个正交方向。 FSPM（100）还包括位移传感器（162），该位移传感器测量样品（116）在与该表面正交的方向上的移动，并产生相应的位置信号，从而提供闭环位置反馈。此外，探针（108）相对于压电扫描器（118）固定，而偏转检测装置（123）用于检测探针（108）的偏转。 FSPM还包括基于位置信号产生扫描仪驱动信号的控制器（128），并且适于根据在数据采集期间可以改变力曲线测量参数的用户定义的输入进行操作。

6. 发明申请

WO0041213A9 METHODS UTILIZING SCANNING PROBE MICROSCOPE TIPS AND PRODUCTS THEREFOR OR PRODUCED THEREBY 审中-公开
标题翻译：使用扫描探针显微镜的方法和产品或其生产的产品
公开(公告)号：WO0041213A9
公开(公告)日：2001-10-04
申请号：PCT/US0000319
申请日：2000-01-07
申请人： UNIV NORTHWESTERN
发明人： MIRKIN CHAD A , PINER RICHARD , HONG SEUNGHUM
IPC分类号： B05D1/00 , B05D1/18 , B05D1/26 , B81C1/00 , B82B3/00 , G01Q70/06 , G01Q70/14 , G01Q70/16 , G01Q80/00 , G03F7/00 , G03F7/16 , H01J49/00
CPC分类号： B82B3/00 , B05D1/007 , B05D1/185 , B05D1/26 , G01Q80/00 , G03F7/0002 , G03F7/165 , Y10S977/84 , Y10S977/857 , Y10S977/863 , Y10S977/877 , Y10T428/24917 , Y10T436/24
摘要： An atomic force microscope (AFM) having a tip coated with hydrophobic compounds, which is performed as dip pen nanolithography (DPN), for transporting molecules from the atomic force microscope tip (AFM) to a gold substrate (AU) to write patterns on the gold substrate (AU).
摘要翻译：具有用疏水化合物涂覆的尖端的原子力显微镜（AFM），其作为浸渍笔纳米光刻（DPN）进行，用于将分子从原子力显微镜尖端（AFM）输送到金基底（AU）以在金底物（AU）。

7. 发明申请

WO01066460A1 NANOTWEEZERS AND NANOMANIPULATOR 审中-公开
标题翻译： NANOTWEEZERS和NANOMANIULATOR
公开(公告)号：WO01066460A1
公开(公告)日：2001-09-13
申请号：PCT/JP2001/001803
申请日：2001-03-08
IPC分类号： B25J7/00 , B81B3/00 , B81B7/00 , B82B3/00 , G01Q30/20 , G01Q70/00 , G01Q70/12 , G01Q70/14 , G01Q80/00 , B82B1/00
CPC分类号： B25J7/00 , B81B2201/032 , B81B2201/12 , B81B2203/0118 , B81C99/002 , B82B3/00 , G01Q80/00 , Y10S977/732 , Y10S977/734 , Y10S977/742 , Y10S977/778 , Y10S977/78 , Y10S977/837 , Y10S977/842 , Y10S977/858 , Y10S977/863 , Y10S977/875 , Y10S977/876 , Y10S977/89 , Y10S977/901 , Y10S977/962
摘要： A pair of electrostatic nanotweezers (2) is characterized by comprising a plurality of nanotubes extending from their proximal ends at which they are fixed to a holder (6), coating films with which the surfaces of these nanotubes are insulation coated, and two lead wires (10, 10) connected to two (8, 9) of these nanotubes, wherein a voltage is applied across the lead wires to produce an electrostatic attractive force by which the front ends of the two nanotubes are made openable and closable, thereby gripping a nanosubstance therebetween. Further, if a piezoelectric film (32) is formed on the surface of each nanotube (9) and caused to stretch and contract so as to make the front ends of the nanotubes openable and closable, then any nanosubstance, whether dielectric, semiconductor or conductor, can be handled. Further, if three nanotubes are made openable and closable by the electrostatic system, nanosubstances of any desired shape, such as spherical or linear, can be handled. Further, gripping, moving and discharging of nanosubstances are facilitated by constituting a nanomanipulator in combination with a three-dimensional driving mechanism.
摘要翻译：一对静电纳米管（2）的特征在于包括从其近端延伸的多个纳米管，它们固定在支架（6）上，涂覆有这些纳米管的表面的涂膜被绝缘涂覆，以及两根引线（10,10），其连接到这些纳米管的两个（8,9），其中跨过引线施加电压以产生静电吸引力，通过该吸引力将两个纳米管的前端制成可打开和关闭，从而夹紧纳米级之间。此外，如果在每个纳米管（9）的表面上形成压电膜（32）并使其拉伸和收缩以使纳米管的前端能够打开和关闭，则任何纳米级（无论是电介质的，半导体的还是导体的），可以处理。此外，如果使三个纳米管可由静电系统打开和关闭，则可以处理任何所需形状（例如球形或线性）的纳米级。此外，通过与三维驱动机构结合构成纳米机械手，便于纳米级的夹持，移动和放电。

8. 发明申请

WO99006793A1 MICROSCOPE FOR COMPLIANCE MEASUREMENT 审中-公开
标题翻译： MICROSCOPE符合性测量
公开(公告)号：WO99006793A1
公开(公告)日：1999-02-11
申请号：PCT/US1998/015498
申请日：1998-07-27
IPC分类号： G01B7/34 , B81B3/00 , G01B7/00 , G01B21/30 , G01Q10/06 , G01Q30/14 , G01Q60/24 , G01Q60/32 , G01Q60/38 , G01Q70/06
CPC分类号： G01Q60/38 , G01Q10/06 , G01Q30/14 , Y10S977/849 , Y10S977/851 , Y10S977/852 , Y10S977/863 , Y10S977/872 , Y10S977/875 , Y10S977/881 , Y10S977/934
摘要： An atomic force microscope and method of operation are provided and include a force sensing probe tip (48) adapted to be brought into close proximity with a sample surface (52), a scanning element (50) for generating relative movement between the probe tip and the sample surface, a device (62) for generating a magnetic field to cause deflection of the probe tip, a driver (73) for the device, the driver including a source of alternating current (66) and a source of a second current (74) of a controlled magnitude, and a detector (60) for detecting the position of the probe tip. In a preferred mode of operation, two signals, one of alternating current and the other of a fixed, but variable, current, are applied to cause a displacement of the time-average position of the probe tip.
摘要翻译：提供了一种原子力显微镜和操作方法，包括适于与样品表面（52）紧密接近的力传感探针尖端（48），用于产生探头尖端和所述样品表面，用于产生磁场以引起所述探针尖端偏转的装置（62），用于所述装置的驱动器（73），所述驱动器包括交流电流源（66）和第二电流源（ 74）和用于检测探针尖端的位置的检测器（60）。在优选的操作模式中，施加两个信号，一个交流电流，另一个是固定的，但是可变电流，以引起探头尖端的时间平均位置的位移。

9. 发明申请

WO2004038504A3 NANOMETER-SCALE ENGINEERED STRUCTURES, METHODS AND APPARATUS FOR FABRICATION THEREOF, AND APPLICATIONS TO MASK REPAIR, ENHANCEMENT, AND FABRICATION 审中-公开
标题翻译：纳米尺度工程结构，其制造方法和装置以及掩模修复，增强和制造的应用
公开(公告)号：WO2004038504A3
公开(公告)日：2004-11-04
申请号：PCT/US0333148
申请日：2003-10-21
申请人： NANOINK INC , VAN CROCKER PERCY , CRUCHON-DUPEYRAT SYLVAIN , DEMERS LINETTE , ELGHANIAN ROBERT , DISAWAL SANDEEP , AMRO NABIL , ZHANG HUA
发明人： VAN CROCKER PERCY , CRUCHON-DUPEYRAT SYLVAIN , DEMERS LINETTE , ELGHANIAN ROBERT , DISAWAL SANDEEP , AMRO NABIL , ZHANG HUA
IPC分类号： B82B3/00 , C23C18/14 , C23C18/16 , C23C18/28 , G01Q30/16 , G01Q60/00 , G03F1/00 , G03F7/00 , G03F9/00 , G21K5/00
CPC分类号： C23C18/14 , C09D11/52 , C23C18/06 , C23C18/1208 , C23C18/1254 , C23C18/1605 , C23C18/161 , C23C18/1612 , C23C18/1658 , G03F1/72 , G03F7/0002 , Y10S977/857 , Y10S977/863
摘要： Photomask repair and fabrication with use of direct-write nanolithography, including use of scanning probe microscopic tips for deposition of ink materials including solgel and metallic inks. Additive methods can be combined with substractive methods. Holes can be filled with nanostructures. Height of the nanostructure filling the hole can be controlled without losing control of the lateral dimensions of the nanostructure. Chrome-on-Glass masks can be used and fabricated, as well as more advanced masks including masks for nanoimprint nanolithography.

10. 发明申请

WO2004017019A1 VERFAHREN ZUR ÖRTLICH HOCHAUFGELÖSTEN, MASSENSPEKTROSKOPISCHEN CHARAKTERISIERUNG VON OBERFLÄCHEN MITTELS EINER RASTERSONDENTECHNIK 审中-公开
标题翻译： FOR当地的方法解决了，质谱表面特性通过网格探针技术手段
公开(公告)号：WO2004017019A1
公开(公告)日：2004-02-26
申请号：PCT/DE2003/002493
申请日：2003-07-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KNEBEL, Detlef , AMREIN, Matthias
发明人： KNEBEL, Detlef , AMREIN, Matthias
IPC分类号： G01B7/34
CPC分类号： G01Q30/02 , G01Q60/22 , H01J49/04 , Y10S977/849 , Y10S977/86 , Y10S977/863
摘要： Die Erfindung betrifft ein kombiniertes Verfahren, bei dem eine hochaufgelöste Abbildung einer Probenoberfläche mittels der Rasterkraftmikroskopie erfaßt wird und eine hierzu korrelierte, örtlich hochaufgelöste, chemische Natur der Probenoberfläche mittels der Massenspektroskopie gemessen wird. Die chemische Analyse der Oberfläche erfolgt nach Laserdesorption eines eingeschränkten Oberflächenbereichs. Hierzu wird die Oberfläche impulsartig an jeder interessierenden Stelle nach dem optischen Nahfeldprinzip beleuchtet. Das optische Nahfeldprinzip garantiert eine Analyse mit einer nicht beugungslimitierten Ortsauflösung. Eine Hohlspitze der verwendeten Meßsonde erlaubt eine eindeutige Zuordnung der chemischen Analyse zu einem ausgewählten Oberflächenbereich. Die hochsymmetrische Anordnung erlaubt eine hohe Transmission der erzeugten molekularen Ionen.
摘要翻译：本发明涉及在其中检测和与其相关的由原子力显微镜的装置的样品表面的高分辨率成像，样品表面的空间上的高分辨率的化学性质通过质谱法来测量的组合过程。表面的化学分析是通过激光解吸受限表面积进行。为此目的，表面被以脉冲方式在感兴趣的光Nahfeldprinzip每个位置照亮。光学Nahfeldprinzip保证与非衍射限制的空间分辨率的分析。探针的中空尖端使用的，允许所选择的表面区域上的化学分析的一个明确的指配。的高度对称的布置允许产生分子离子的高透射率。

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