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1. 发明申请

WO2017209741A1 NOVEL USE OF MICROSCOPES - USE OF ATOMIC FORCE MICROSCOPES AND SPECTRA ANALYSES 审中-公开
标题翻译：显微镜的新用途 - 使用原子力显微镜和光谱分析
公开(公告)号：WO2017209741A1
公开(公告)日：2017-12-07
申请号：PCT/US2016/035091
申请日：2016-05-31
申请人： CHACHOUA, Samir , NG, Henry
发明人： CHACHOUA, Samir
IPC分类号： G01Q30/02 , C12Q1/68 , G01Q60/32 , G01N21/64 , A61N1/40
CPC分类号： G01Q60/32 , A61N1/406 , G01Q30/02
摘要： The Author teaches on how to use Atomic Force Microscopes combined with frequency generators, instruments that provide ability to set different conditions that a sample may be subjected, Spectra Analyses Instruments for the diagnoses, prevention and treatment of diseases. The author also discusses the use of atomic force, enhanced light and other forms of microscopy including the Nemes scope in diagnostic and therapeutic applications.
摘要翻译：作者教授如何使用与频率发生器相结合的原子力显微镜，提供设定样品可能经受的不同条件的能力的仪器，用于诊断，预防和治疗疾病的光谱分析仪器。作者还讨论了使用原子力，增强光和其他形式的显微镜，包括Nemes的诊断和治疗应用范围。

2. 发明申请

WO2017033187A1 AUTOMATIC CALIBRATION AND TUNING OF FEEDBACK SYSTEMS 审中-公开
标题翻译：反馈系统的自动校准和调谐
公开(公告)号：WO2017033187A1
公开(公告)日：2017-03-02
申请号：PCT/IL2016/050920
申请日：2016-08-24
申请人： TECHNION RESEARCH & DEVELOPMENT FOUNDATION LIMITED
发明人： SIVAN, Uri , KUCHUK, Kfir , SCHLESINGER, Itai
IPC分类号： G01Q60/24
CPC分类号： G01Q10/065 , G01Q40/00 , G01Q60/32
摘要： A method for automatically calibrating a feedback system, comprising: receiving one or more input parameters associated with a feedback system; applying the one or more input parameters to a model of the feedback system; deriving one or more feedback parameters for the feedback system from the model by: optimizing the model for the feedback parameters, and applying a noise characteristic of the feedback system to the model; and automatically tuning the feedback system using the one or more derived feedback parameters.
摘要翻译：一种用于自动校准反馈系统的方法，包括：接收与反馈系统相关联的一个或多个输入参数; 将所述一个或多个输入参数应用于所述反馈系统的模型; 通过以下方式从模型中得到反馈系统的一个或多个反馈参数：优化反馈参数的模型，以及将反馈系统的噪声特性应用于模型; 并且使用一个或多个导出的反馈参数自动调整反馈系统。

3. 发明申请

WO2017006435A1 原子間力顕微鏡およびその制御方法审中-公开
标题翻译：原子力显微镜及其控制方法
公开(公告)号：WO2017006435A1
公开(公告)日：2017-01-12
申请号：PCT/JP2015/069552
申请日：2015-07-07
申请人：オリンパス株式会社
发明人：酒井　信明
IPC分类号： G01Q10/04 , G01Q60/32
CPC分类号： G01Q10/065 , G01Q60/24 , G01Q60/32
摘要：原子間力顕微鏡（１００）は、カンチレバー（１０２）の自由端に設けられた探針（１０１）と試料（１０３）の間に相互作用を生じさせながら、ＸＹ平面に沿ったカンチレバーと試料の間の相対的なラスター走査をおこなって試料情報を取得する。原子間力顕微鏡は、ラスター走査情報を生成するラスター走査情報生成部（１１４）と、ラスター走査情報に基づいて、ラスター走査を制御するラスター走査制御部（１０８）と、ラスター走査情報に基づいて、相互作用の大きさを制御する相互作用制御部（１１１）とを備えている。相互作用制御部は、ラスター走査のＸＹ平面に沿ったカンチレバーと前記試料の相対速度が相対的に減少するとき、相互作用の大きさを相対的に減少させる。
摘要翻译：这种原子力显微镜（100）产生样品（103）和提供给悬臂（102）的自由端的探针（101）之间的相互作用，同时沿XY方向相对于彼此执行悬臂和样品之间的光栅扫描并获取样品信息。原子力显微镜设置有：光栅扫描信息生成单元（114），其生成光栅扫描信息; 光栅扫描控制单元，其基于光栅扫描信息控制光栅扫描; 以及基于光栅扫描信息来控制交互的大小的交互控制单元（111）。当沿着光栅扫描的XY平面的悬臂和样本的相对速度相对于彼此减小时，相互作用控制单元以相对的方式减小相互作用的大小。

4. 发明申请

WO2016181325A1 METHOD AND APPARATUS OF USING A SCANNING PROBE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：使用扫描探针显微镜的方法和装置
公开(公告)号：WO2016181325A1
公开(公告)日：2016-11-17
申请号：PCT/IB2016/052701
申请日：2016-05-11
申请人： ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL)
发明人： FANTNER, Georg Ernest , ADAMS, Jonathan David , NIEVERGELT, Adrian Pascal
IPC分类号： G01Q10/04 , G01Q60/32
CPC分类号： G01Q20/02 , G01Q10/045 , G01Q10/065 , G01Q60/32
摘要： a scanning probe microscope for high-speed imaging and/or nanomechanical mapping. The microscope comprises a scanning probe comprising a cantilever with a tip at the distal end; and means for modulating a tip-sample distance separating the tip from an intended sample to be viewed with the microscope, the means for modulating being adapted to provide a direct cantilever actuation.
摘要翻译：用于高速成像和/或纳米机械测绘的扫描探针显微镜。显微镜包括扫描探针，其包括在远端具有尖端的悬臂; 以及用于调制将尖端与预期样品分开以使用显微镜观察的尖端样本距离的装置，用于调制的装置适于提供直接的悬臂驱动。

5. 发明申请

WO2014144018A2 DUAL-PROBE SCANNING PROBE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：双探针扫描探针显微镜
公开(公告)号：WO2014144018A2
公开(公告)日：2014-09-18
申请号：PCT/US2014/028250
申请日：2014-03-14
申请人： BRUKER NANO, INC.
发明人： SU, Chanmin
IPC分类号： G01Q60/24
CPC分类号： G01Q10/00 , B82Y35/00 , G01Q10/065 , G01Q60/32 , G01Q60/36 , G01Q70/06
摘要： An apparatus and method of positioning a probe of an atomic force microscope (AFM) includes using a dual probe configuration in which two probes are fabricated with a single base, yet operate independently. Feedback control is based on interaction between the reference probe and surface, giving an indication of the location of the surface, with this control being modified based on the difference in tip heights of the two probes to allow the sensing probe to be positioned relative to- the sample at a range less than 10 nm.
摘要翻译：定位原子力显微镜（AFM）的探针的装置和方法包括使用双探针配置，其中两个探针用单个基座制造，但是独立地操作。反馈控制基于参考探针和表面之间的相互作用，给出表面位置的指示，根据两个探针的尖端高度的差异修改该控制，以允许探针相对于表面的位置定位，样品的范围小于10纳米。

6. 发明申请

WO2012010738A1 DISPOSITIVO DE MICROSCOPÍA QUE COMPRENDE UNA SONDA DE HORQUILLA RESONANTE Y UNIDAD DE CONTROL PARA UN NANOSENSOR BASADO EN UNA HORQUILLA RESONANTE 审中-公开
标题翻译：包含调谐孔的调谐探头和控制单元的显微镜装置
公开(公告)号：WO2012010738A1
公开(公告)日：2012-01-26
申请号：PCT/ES2011/070535
申请日：2011-07-21
申请人： UNIVERSITAT DE BARCELONA , FUNDACIÓ PRIVADA INSTITUT DE BIOENGINYERIA DE CATALUNYA , OTERO DÍAZ, Jorge , PUIG VIDAL, Manuel , CABEZAS RUESCAS, Gonzalo , GONZÁLEZ CLARAMONTE, Laura
发明人： OTERO DÍAZ, Jorge , PUIG VIDAL, Manuel , CABEZAS RUESCAS, Gonzalo , GONZÁLEZ CLARAMONTE, Laura
IPC分类号： G01Q10/04 , G01Q20/04 , B82Y15/00
CPC分类号： G01Q10/065 , G01Q60/32
摘要： Comprende una sonda de horquilla resonante (TF), una fuente (2) para excitar la sonda, un sensor (3) para medir la amplitud de oscilación (A) de la sonda, un primer lazo de control (CL1 ) ajustado para controlar el factor de calidad (Q) de la sonda, y un segundo lazo de control (CL2) que actúa sobre la fuente (2) en respuesta a la señal suministrada por el sensor (3), estando ajustado CL2 para controlar A a un valor predeterminado constante cuando el dispositivo de microscopia (1 ) no interacciona con un objeto (S), de modo que es posible fijar valores constantes de la amplitud y del factor de calidad independientemente. También comprende una unidad de control (CU) para una horquilla resonante que puede ser montada en un dispositivo de microscopia.
摘要翻译：本发明包括音叉（TF）探针，用于激发探针的源（2），用于测量探针的振荡幅度（A）的传感器（3），经调整以控制的第一控制回路（CL1）所述探头的Q因子和响应于所述传感器（3）提供的信号而作用在所述源（2）上的第二控制回路（CL2）。根据本发明，当显微镜装置（1）不与物体（S）相互作用时，调节CL2以便以预定的恒定值控制A，使得可以设定恒定幅度和Q因子值独立。此外，本发明包括一个用于音叉的控制单元（CU），该控制单元可以安装在显微镜装置中。

7. 发明申请

WO2010085948A1 FLEXIBEL VERSCHIEBBARE KOPPLUNGSEINRICHTUNG FÜR DIE AKUSTISCH ANGEREGTE RASTERKRAFTMIKROSKOPIE MIT AKUSTISCHER ANREGUNG DER PROBE 审中-公开
标题翻译：的声学灵活滑动结合DEVICE建议的原子力显微镜使用拾音器样本
公开(公告)号：WO2010085948A1
公开(公告)日：2010-08-05
申请号：PCT/DE2010/000110
申请日：2010-02-02
申请人： FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. , STRIEGLER, André , NAUMANN, Sascha
发明人： STRIEGLER, André , NAUMANN, Sascha
IPC分类号： G01Q60/24 , G01N29/06
CPC分类号： G01Q60/38 , G01N29/022 , G01N29/0681 , G01Q30/14 , G01Q60/32
摘要： Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Kopplungseinrichtung für ein Rasterkraftmikroskop mit akustischer Probenanregung umfassend einen Schallerzeuger (1), insbesondere einen Ultraschall-Prüfkopf, und ausgebildet zum Einkoppeln von mit dem Schallerzeuger erzeugten Schallwellen in einen Probenkörper (P) zur akustischen Anregung des Probenkörpers, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die Kopplungseinrichtung ein in seinem Innenraum (I) mit einer Flüssigkeit (2) füllbares und/oder gefülltes Flüssigkeitsreservoir (3) aufweist, dass der Probenkörper mit seiner Unterseite (U) auf dem Flüssigkeitsreservoir lateral verschieblich lagerbar ist und/oder gelagert ist, dass das zur Einkopplung der Schallwellen in den Probenkörper ausgebildete Ende (4) des Schallerzeugers in dem Innenraum des Flüssigkeitsreservoirs angeordnet ist und/oder dass mit diesem Ende Schallwellen in den Innenraum einkoppelbar sind, und dass der zwischen diesem Ende und der Unterseite des Probenkörpers liegende Raumabschnitt des Innenraums des Flüssigkeitsreservoirs vollständig mit der Flüssigkeit füllbar ist und/oder gefüllt ist.
摘要翻译：本发明涉及一种连接装置用于原子力显微镜用声学样本激发包括声音发生器（1），特别是超声波探头，并适于在一个样品物体（P）由声音发生器的声波产生耦合为试样的声激励该其特征在于，所述耦合装置进入其内部（I）与液体（2）可被填充和/或填充的储液器（3），在其下侧（U）的样品体横向移动的被存储在所述液体储存器和/或被存储时，所形成的用于声波的耦合到本体的样品端部（4）生成器被设置在所述液体储存器的内部的声音的和/或声波可以与为此在内部，并且该端部和所述底部之间标本液体贮存器的内部空间躺在部分完全填充有液体可被填充和/或填充。

8. 发明申请

WO2010065131A2 HIGH FREQUENCT DEFLECTION MEASUREMENT OF IR ABSORPTION 审中-公开
标题翻译： IR吸收的高频偏转测量
公开(公告)号：WO2010065131A2
公开(公告)日：2010-06-10
申请号：PCT/US2009006388
申请日：2009-12-04
申请人： ANASYS INSTR , VODOPYANOV KONSTANTIN , POLICAR CLOTILDE , READING MIKE , DAZZI A , KJOLLER KEVIN , PRATER CRAIG , GOTTHERD DOUG
发明人： VODOPYANOV KONSTANTIN , POLICAR CLOTILDE , READING MIKE , DAZZI A , KJOLLER KEVIN , PRATER CRAIG , GOTTHERD DOUG
IPC分类号： G01Q30/02 , G01Q60/24
CPC分类号： G01Q30/02 , G01N21/3563 , G01Q60/32
摘要： An AFM 2 based technique has been demonstrated for performing highly localized IR spectroscopy 13 on a sample surface 3. Such a technique implemented in a commercially viable analytical instrument would be extremely useful. Various aspects of the experimental set-up have to be changed to create a commercial version. The invention addresses many of these issues thereby producing a version of the analytical technique that can be made generally available to the scientific community.
摘要翻译：已经证明基于AFM 2的技术用于在样品表面3上执行高度局域化的红外光谱学13.在商业上可行的分析仪器中实施的这种技术将是非常有用的。实验设置的各个方面必须改变以创建商业版本。本发明解决了这些问题中的许多问题，由此产生可以通用于科学界的分析技术的版本。

9. 发明申请

WO2009130832A1 非接触型走査プローブ顕微鏡审中-公开
标题翻译：非接触扫描探针显微镜
公开(公告)号：WO2009130832A1
公开(公告)日：2009-10-29
申请号：PCT/JP2009/000591
申请日：2009-02-16
申请人：独立行政法人産業技術総合研究所 , 小椋俊彦
发明人：小椋俊彦
IPC分类号： G01N13/16 , G01N13/10
CPC分类号： G01Q60/32 , G01Q10/06
摘要：　試料ステージ（１１）の上に試料（１３）が載置され、その表面に第１のプローブ（１４）が、裏面に第２のプローブ（１５）が配置されている。第１のプローブ（１４）にはＦＭ検出モジュール（１８）から、第２のプローブ（１５）であるカンチレバーの機械的な共振周波数と同じ周波数の交流信号が数Ｖの振幅で印加され、第２のプローブ（１５）の先端部により試料（１３）により変調された後の信号が感知（検出）されてカンチレバーは当該信号により共振する。このような相互作用に基づく共振振動は、カンチレバー（１５）により電気信号として検出され、検出信号の振幅変化と周波数変化は、コントロールＰＣ（２０）により処理されて、振幅変化情報および周波数変化情報に基づいて画像情報（マッピング像）が形成される。
摘要翻译：将样品（13）放置在样品台（11）上，在样品台的前表面上布置第一探针（14），并在样品台的后表面上设置第二探针（15）。与来自FM检测模块（18）的悬臂的机械共振频率即第二探头（15）的频率相同的交流信号以几伏的幅度施加到第一探头（14）已经由样品（13）调制的信号被第二探针（15）的前端部检测（检测），并且悬臂通过这种信号共振。基于这种相互作用的谐振振荡由悬臂（15）检测为电信号，由控制PC（20）处理检测信号的幅度变化和频率变化，形成图像信息（映射图像）基于振幅变化信息和频率变化信息。

10. 发明申请

WO2008156722A1 MATERIAL PROPERTY MEASUREMENTS USING MULTIPLE FREQUENCY ATOMIC FORECE MICROSOCOPY 审中-公开
标题翻译：使用多个频率原子视觉显微镜的材料性能测量
公开(公告)号：WO2008156722A1
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：PCT/US2008/007476
申请日：2008-06-16
申请人： PROKSCH, Roger
发明人： PROKSCH, Roger
IPC分类号： G01B5/26
CPC分类号： G01Q60/32
摘要： Apparatus and techniques for extracting information carried in higher eigenmodes or harmonics of an oscillating cantilever or other oscillating sensors in atomic force microscopy and related MEMs work are described. Similar apparatus and techniques for extracting information using contact resonance with multiple excitation signals are also described.
摘要翻译：描述了用于提取在原子力显微镜和有关MEMs工作中的振荡悬臂或其它振荡传感器的较高本征模或谐波中携带的信息的装置和技术。还描述了使用具有多个激励信号的接触谐振提取信息的类似装置和技术。

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