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    • 6. 发明申请
    • 半導体装置およびその製造方法
    • 半导体器件及其制造方法
    • WO2016135852A1
    • 2016-09-01
    • PCT/JP2015/055211
    • 2015-02-24
    • 三菱電機株式会社
    • 奥村 美香
    • G01P15/08G01P15/125
    • B81B3/0051B81B2201/0235B81B2203/0118B81C1/00825B81C2201/0109B81C2201/013G01P15/0802G01P15/125G01P15/18G01P2015/082G01P2015/084G01P2015/0871
    • 半導体装置は、基板(1A)と、梁(12)と、可動構造体(13)と、第1のストッパ部材(S1)と、第2のストッパ部材(S2)と、第3のストッパ部材(S3)とを備えている。第1のストッパ部材(S1)は、面内方向において可動構造体(13)と第1の隙間(T1)を介して配置されている。第2のストッパ部材(S2)は、面外方向において可動構造体(13)と第2の隙間(T2)を介して配置されている。第3のストッパ部材(S3)は、面外方向において可動構造体(13)に対して第2のストッパ部材(S2)と反対側に配置され、かつ可動構造体(13)との間に第3の隙間(T3)を介して配置されている。これにより、可動構造体の過剰な変位を抑制することにより可動構造体を支持する梁の損傷および破損を抑制できる半導体装置およびその製造方法を得ることができる。
    • 该半导体装置设置有基板(1A),梁(12),可动构件(13),第一挡块构件(S1),第二挡块构件(S2)和第三挡块构件(S3)。 通过在可移动结构(13)和第一止动构件之间沿面内方向具有第一间隙(T1)来设置第一止动构件(S1)。 第二止动件(S2)通过在可移动结构(13)和第二止动件之间沿着平面外的方向具有第二间隙(T2)来设置。 第三止动构件(S3)通过具有第三间隙(T3)而在面外方向上设置在可移动结构(13)的侧面上,所述侧面与第二止动构件(S2)相反, )在可移动结构(13)和第三止动件之间。 因此,通过抑制可移动结构的过度位移来抑制支撑可移动结构的梁的损伤和断裂的半导体器件,并且可以提供半导体器件的制造方法。