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    • 3. 发明申请
    • 真空処理装置
    • 真空加工设备
    • WO2012053171A1
    • 2012-04-26
    • PCT/JP2011/005773
    • 2011-10-14
    • 株式会社アルバック藤本 信也林 信博廣野 貴啓多田 勲
    • 藤本 信也林 信博廣野 貴啓多田 勲
    • C23C14/56
    • C23C14/3407C23C14/3464C23C14/562H01J37/32458H01J37/32743H01J37/32752H01J37/32761H01J37/32788H01J2237/3325
    •  運搬等にとって便利なように真空処理室と真空補助室とを分けて構成し、設置現場での組立作業が容易でメンテナンス性のよい真空成膜装置を提供する。 長尺のシート状基材Sの一部が巻回されるドラム15と、このドラムの下方に配置されて、上流側からシート状基材を搬送する複数のローラ16cと、処理ユニット4とを有する真空処理室1と、シート状基材を真空処理室へと送る上流側の真空補助室2と、シート状基材を巻取り回収する下流側の真空補助室3とを連設して構成される。上記真空処理室及び真空補助室が、床面に設置される架台上に載置されるベースプレートに、下面に開口した箱体をその下面側から設置して夫々画成される。複数のローラは、一体のローラユニットとして構成し、真空処理室内にてドラムの下方空間に出し入れ自在に設けられる。
    • 提供一种真空成膜装置,其具有分别构造为便于运输等的真空处理室和辅助真空室,并且易于在安装地点组装,并且具有优异的可维护性。 真空成膜装置通过连续地安装:真空处理室(1),其具有卷绕有长片状基材(S)的一部分的滚筒(15),多个辊(16c) ),其设置在滚筒下方并从上游传送片状基材,以及处理单元(4); 上游辅助真空室(2),其将片状基材输送到真空处理室; 以及吸收和回收片状基材的下游辅助真空室(3)。 通过将设置在底板上的底部的底部开口的箱体设置在基板上,分别设置在真空处理室和辅助真空室中。 辊被构造为一体的辊单元,并且可移除地设置在真空处理室中的滚筒下方的空间中。
    • 4. 发明申请
    • DISPOSITIF POUR LE TRAITEMENT D'OBJETS PAR DEPOSITION PLASMA
    • 用于通过等离子体沉积处理物体的装置
    • WO2003054910A1
    • 2003-07-03
    • PCT/CH2002/000698
    • 2002-12-16
    • AISAPACK HOLDING SAVOIGTMANN, Jean-Pierre
    • VOIGTMANN, Jean-Pierre
    • H01J37/32
    • H01J37/32743H01J37/32788
    • Dispositif pour le traitement d'objets par déposition plasma comprenant: une chambre de traitement étanche (1), sous pression réduite, pourvue sur l'une de ses parois (4) d'un passage (2) pouvant être obturé, ledit passage (2) permettant d'acheminer des objets à traiter (3) entre l'intérieur et l'extérieur de la chamb re de traitement (1), un espace de transfert (5) pouvant être mis en relation, via ledit passage (2), avec la chambre de traitement (1) de façon à ce que des objets à traiter (3) soient introduits dans l'espace de transfert (5) préalablement à leur introduction dans la chambre de traitement (1), le dispositif étant caractérisé par le fait que l'espace de transfert (5): est délimité par des parois discontinues (6, 7), est mobile relativement à la chambre de traitement (1) de façon à pouvoir franchir le passage (2) de la chambre de traitement (1).
    • 本发明涉及一种用于通过等离子体沉积处理物体的装置,包括:密封处理室(1),在减压下设置在其一个壁(4)上,具有能够关闭的通道(2),所述通道(2) 使得能够将处理室(1)的内部和外部之间的待处理物体(3)进给; 能够经由所述通道(2)与所述处理室(1)连通的传送空间(5),使得待被处理物体(3)在引入所述传送空间(5)之前被引入所述传送空间 治疗室(1)。 所述装置的特征在于,由不连续壁(6,7)限定的传送空间(5)可相对于处理室(1)移动,以便能够移动经过处理室的通道(2) (1)。
    • 5. 发明申请
    • AN ATMOSPHERIC PRESSURE PLASMA SYSTEM
    • 大气压力等离子体系统
    • WO01059809A1
    • 2001-08-16
    • PCT/IE2001/000023
    • 2001-02-12
    • H05H1/24B01J19/08H01J37/32H05H1/34
    • H01J37/32825H01J37/32743H01J37/3277H01J37/32788
    • An atmospheric pressure plasma system (1) sharing electrodes (4) defining a plasma region (5) mounted in an enclosure housing (2). The enclosure housing has an open to atmosphere entry port assembly (10) and exit port assembly (11) for the continuous transfer of work-pieces through the plasma region (5). The embodiment illustrated is for precursor process gases having a relative density less than that of the ambient air so that the processor gases rise in the enclosure housing (2) expelling the heavier ambient and exhaust gases. Where the gases have a relative density greater than ambient the port assemblies (10 and 11) are sited above the plasma region (5).
    • 大气压等离子体系统(1)共享限定安装在外壳壳体(2)中的等离子体区域(5)的电极(4)。 外壳壳体具有大气进入口组件(10)和出口端口组件(11),用于连续传送工件穿过等离子体区域(5)。 所示的实施方案是用于具有小于环境空气的相对密度的前体工艺气体,使得处理器气体在外壳壳体(2)中升高,排出较重的环境和废气。 当气体的相对密度大于环境温度时,端口组件(10和11)位于等离子体区域(5)的上方。
    • 7. 发明申请
    • TREATMENT SYSTEM FOR FLAT SUBSTRATES
    • 救治体系平面基板
    • WO2009003552A9
    • 2010-04-01
    • PCT/EP2008003414
    • 2008-04-28
    • LEYBOLD OPTICS GMBHGEISLER MICHAELMERZ THOMASROEDER MARIO
    • GEISLER MICHAELMERZ THOMASROEDER MARIO
    • H01J37/32C23C14/56H01L21/00H01L21/677
    • H01J37/32568C23C16/4587C23C16/54H01J37/32009H01J37/32743H01J37/32788H01J2237/022H01L21/67005
    • Disclosed is a reactor for treating flat substrates, comprising a vacuum chamber (11) and a process chamber (9). A first electrode (5) and a counter electrode (7) which form two opposite walls of the process chamber are provided for generating a plasma. The counter electrode can accommodate the substrate (3). The reactor further comprises means for introducing (19, 23, 25) and evacuating gaseous material into and/or from process chamber, an inlet and outlet for the vacuum chamber, and a mechanism (41, 43) for varying the relative distance between the electrodes, a first relatively great distance being used when the process chamber is loaded and discharged and a second relatively short distance being used when the treatment is performed, and/or a device which is associated with the counter electrode, is used for accommodating substrates, and is designed such that the substrate is disposed at an angle alpha ranging from 0° to 90°, preferably at an angle of 1°, 3°, 5°, 7°, 9°, 11°, 13°, 15°, 17°, 20°, 25°, 30°, 40°, 45°, relative to the vertical direction at least while the treatment is performed, the substrate surface that is to be treated facing downward.
    • 为平面基底的处理而形成的反应器,与真空室(11),处理室(9),其中,提供用于产生等离子体与处理室的两个相对壁的第一电极(5)和一对电极(7); 装置,用于将(19,23,25)和用于去除气态物质(进和/或出处理腔室,其中所述衬底(3)是由对电极,所述真空腔室的装载和卸载开口,和装置可接收的 41,43为改变电极,其特征在于,提供一种在装载或卸载处理室并进行了处理时的第二相对较小的距离的第一相对较大的距离之间的相对距离相关联),和/或用于接收反电极装置 基板被形成为使得至少所述治疗的执行期间所述基板,与所述表面被以一角度阿尔法向下处理在范围0°和90°之间,优选地具有1°,3°的值 5设置°,7°,9°,11°,13°,15°,17°,20°,25°,30°,40°,相对于垂直方向45°。
    • 10. 发明申请
    • PLASMA PROCESSING METHODS AND APPARATUS
    • 等离子体处理方法和装置
    • WO99026796A1
    • 1999-06-03
    • PCT/US1998/023701
    • 1998-11-06
    • H01L21/302C23C16/458C23C16/513C23C16/54H01L21/00H01L21/205H01L21/3065H01L21/677H01L21/687H05H1/46B44C1/22B05D3/14B28B1/02C23C16/00
    • H01L21/67017C23C16/4584C23C16/513C23C16/54H01J37/32743H01J37/32788H01J2237/20228H01J2237/31701H01L21/67745H01L21/67796H01L21/68707
    • To move an article (134) in and out of plasma (120) during plasma processing, the article (134) is rotated by a first drive (140) around a first axis (140X), and the first drive is itself rotated by a second drive (150). As a result, the article (134) enters the plasma (120) at different angles for different positions of the first axis (140X). The plasma cross section (114-0) at the level at which the plasma (120) contacts the article (134) is asymmetric so that those points on the article (134) that move at a greater linear velocity (due to being farther away from the first axis (140X) move longer distances through the plasma (120). As a result, the plasma processing time becomes more uniform for different points on the article surface. In some embodiments, two shuttles (710-1, 710-2) are provided for loading and unloading the plasma processing system. One of the shuttles (710-1) stands empty waiting to load them into the system, while the other shuttle (710-2) holds unprocessed articles (134) waiting to load them into the system. After the plasma processing terminates, the empty shuttle unloads processed articles (134) from the system, takes articles (134) away, and gets unloaded and reloaded with unprocessed articles (134). Meanwhile the other shuttle loads unprocessed articles (134) into the system and the plasma process begins. Since the plasma processing system does not wait for the first shuttle (710-1), the productivity of the system is increased.
    • 为了在等离子体处理期间移动物品(134)进入和离开等离子体(120),物品(134)围绕第一轴线(140X)由第一驱动器(140)旋转,并且第一驱动器本身旋转一 第二驱动(150)。 结果,物品(134)以不同的角度对第一轴(140X)的不同位置进入等离子体(120)。 等离子体(120)接触物品(134)的水平面处的等离子体横截面(114-0)是不对称的,使得物品(134)上的那些点以更大的线速度移动(由于更远的距离 从第一轴(140X)移动通过等离子体(120)的较长距离,结果是对物品表面上的不同点等离子体处理时间变得更加均匀,在一些实施例中,两个梭(710-1,710-2 )提供用于装载和卸载等离子体处理系统,其中一个梭(710-1)待机等待装载到系统中,而其他梭子(710-2)保持未加工物品(134)等待加载 等离子体处理结束后,空梭从系统中卸载加工物品(134),取物品(134)离开,卸载并重新加载未加工物品(134),另外的梭子装载未加工物品( 134)进入系统和等离子体处理 开始。 由于等离子体处理系统不等待第一梭(710-1),因此系统的生产率增加。