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    • 1. 发明申请
    • 成膜制御装置、成膜装置及び成膜方法
    • WO2023079770A1
    • 2023-05-11
    • PCT/JP2022/004474
    • 2022-02-04
    • 株式会社シンクロン
    • 大瀧 芳幸松平 学幸山口 剛宮内 充祐
    • C23C14/54
    • 回転体(25)に配置された基板(S)に光を照射する光源(42)と、前記光源から照射した光に対し、前記基板に成膜された薄膜の層を透過する透過光または反射する反射光を受光する受光部(46)と、前記回転体の円周方向の位置に対応した位置情報を取得する位置情報取得部(48)と、成膜条件を制御する制御部(4)と、を備え、前記制御部は、前記位置情報取得部で取得した前記回転体の円周方向の位置情報に基づいて目的とする基板の位置を特定し、当該特定した位置の基板に対して前記光源から照射した光の透過光または反射光を受光するタイミングを制御するタイミング制御部と、前記受光部で受光した透過光または反射光に基づいて、複数の層からなる薄膜の各層の膜厚を算出し、前記各層の膜厚と、所望の分光特性を有する薄膜を構成する各層の目標膜厚との膜厚差を判定する膜厚判定部と、前記各層の膜厚が前記目標膜厚に対して所定値以上の膜厚差がある場合には、当該膜厚差がある層の膜厚が当該層の目標膜厚になるように当該層に対する成膜条件を補正したうえで、前記成膜条件を設定する成膜条件設定部と、を含む。