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    • 31. 发明申请
    • PATH ISOLATION IN A MEMORY DEVICE
    • 存储器件中的路径隔离
    • WO2013036244A1
    • 2013-03-14
    • PCT/US2011/051073
    • 2011-09-09
    • INTEL CORPORATIONCASTRO, Hernan A.
    • CASTRO, Hernan A.
    • G11C7/10G11C13/02G11C16/06
    • G11C13/0097G11C7/10G11C7/12G11C13/0004G11C13/0023G11C13/0026G11C13/0028G11C13/0038G11C13/004G11C13/0069G11C13/02G11C16/06
    • Embodiments of the present disclosure describe techniques and configurations for word-line path isolation in a phase change memory (PCM) device. In one embodiment, a memory device includes a memory cell of a memory device, a bit-line coupled to the memory cell, a word-line coupled to the memory cell, a bit-line electrode coupled to the bit-line, a word-line electrode coupled to the word-line, current-limiting circuitry of a selection module coupled to one of the word-line electrode and the bit-line electrode having a lower potential, the current-limiting circuitry to facilitate a selection operation of the memory cell by the selection module, sensing circuitry coupled to the one of the word-line electrode and the bit-line electrode having the lower potential, the sensing circuitry to perform a read operation of the memory cell, and write circuitry coupled to the one of the word-line electrode and the bit-line electrode having the lower potential, the write circuitry to perform a write operation of the memory cell. Other embodiments may be described and/or claimed.
    • 本公开的实施例描述了在相变存储器(PCM)设备中的字线路径隔离的技术和配置。 在一个实施例中,存储器件包括存储器件的存储器单元,耦合到存储器单元的位线,耦合到存储器单元的字线,耦合到位线的位线电极,字 耦合到字线的选择模块的限流电路,耦合到具有较低电位的字线电极和位线电极之一的选择模块的限流电路,所述限流电路有助于选择操作 存储单元,所述感测电路耦合到所述字线电极和具有较低电位的所述位线电极之一,所述感测电路执行所述存储单元的读取操作,以及耦合到所述存储单元的写入电路 的字线电极和具有较低电位的位线电极,写电路执行存储单元的写操作。 可以描述和/或要求保护其他实施例。
    • 33. 发明申请
    • 抵抗変化型記憶装置
    • 电阻可变存储器件
    • WO2008129774A1
    • 2008-10-30
    • PCT/JP2008/000542
    • 2008-03-12
    • パナソニック株式会社加藤佳一島川一彦
    • 加藤佳一島川一彦
    • G11C13/00
    • G11C13/003G11C8/08G11C13/0028G11C13/0038G11C13/0069G11C2013/009G11C2213/15G11C2213/74G11C2213/76G11C2213/79
    •  本発明の抵抗変化型記憶装置(10)は、第1の電圧を超えると高抵抗状態へ第2の電圧を超えると低抵抗状態へ変化する抵抗変化型素子(1)と、制御装置(4)と、抵抗変化型素子(1)と直列に接続された電圧制限能動素子(2)と、電圧制限能動素子(2)を介して抵抗変化型素子(1)と直列に接続された電流制限能動素子(3)とを備え、制御装置(4)は、高抵抗状態へ変化させる場合に、電流と第1の抵抗値との積が第1の電圧以上となるように電流制限能動素子(3)を制御し、かつ電極間電圧が第2の電圧未満となるように電圧制限能動素子(2)を制御するように構成され、かつ、低抵抗状態へと変化させる場合に、電流と第2の抵抗値との積の絶対値が第2の電圧以上になりかつ電流と第1の抵抗値との積の絶対値が第1の電圧未満となるように電流制限能動素子(3)を制御するように構成されている。
    • 电阻可变存储装置(10)包括:电阻可变元件(1),其在施加第一电压时变为高电阻状态,并且当施加第二电压时变为低电阻状态; 控制装置(4); 与电阻可变元件(1)串联连接的限压有源元件(2); 和限流有源元件(3),其通过限压有源元件(2)与电阻可变元件(1)串联连接。 控制装置(4)如下构成。 也就是说,在改变为高电阻状态时,控制装置(4)控制限流有源元件(3),使得电流和第一电阻值的乘积不小于第一电压,并控制电压 限制有源元件(2),使得电极间电压小于第二电压; 并且在改变为低电阻状态时,控制装置(4)控制限流有源元件(3),使得电流和第二电阻值的乘积的绝对值不小于第二电压,并且 电流和第一电阻值的乘积的绝对值小于第一电压。