专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

81. 发明公开

KR1020060052699A 감도 및 다이내믹 레인지가 증가된 3Ｄ 및 2Ｄ 측정장치 및방법 无效
标题翻译： 3D和2D测量系统和方法具有增强的灵敏度和动态范围
公开(公告)号：KR1020060052699A
公开(公告)日：2006-05-19
申请号：KR1020057023915
申请日：2004-06-09
申请人： 솔비젼 인코포레이티드
发明人： 두발,양 , 퀴리옹,브노아트 , 라마르,마티유 , 칸틴,미첼
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01B11/0608 , G01B11/2441 , G01B11/25 , G01B11/254
摘要： The present invention provides a Fast Moire Interferometry (FMI) method and system for measuring the height profile of an object with an increase precision by combining a plurality of image features. In one large aspect of the invention, two or several images are acquired under different conditions,to yield two or several images: Ia'(x,y), Ia''(x,y),... instead of one single image Ia(x,y). This is repeated for images obtained with different grating projection "b", "c", and "d". These images are combined to provide combined images or a merged phase value, which are used to determine the object height profile.
摘要翻译：本发明提供了一种通过组合多个图像特征来通过增加精度来测量物体的高度分布的快速摩尔干涉测量（FMI）方法和系统。在本发明的一个大方面，在不同条件下获取两个或几个图像，以产生两个或几个图像：Ia'（x，y），Ia“（x，y），而不是一个单个图像 IA（X，Y）。对于使用不同光栅投影“b”，“c”和“d”获得的图像，这是重复的。这些图像被组合以提供用于确定对象高度分布的组合图像或合并相位值。

82. 发明公开

KR1020050005464A 주사 간섭계를 위한 위상 갭 분석 有权
标题翻译：扫描干涉仪的相位差分析
公开(公告)号：KR1020050005464A
公开(公告)日：2005-01-13
申请号：KR1020047017658
申请日：2003-05-02
申请人： 지고 코포레이션
发明人： 디그로트,피터제이
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B11/0608 , G01B9/02044 , G01B9/02078 , G01B9/02085 , G01B9/02087 , G01B9/0209 , G01B11/2441
摘要： 본 발명의 방법은 검사 표면(test surface)용 간섭측정 데이터로부터 도출된 코히어런스 프로필 및 위상 프로필을 제공하는 단계; 상기 코히어런스 프로필 및 위상 프로필 간의 차와 관련된 위상 갭 맵(phase gap map)을 계산하는 단계; 상기 코히어런스 프로필을 기반으로 한 항(term)을 포함하는 표현식을 위상 갭 맵에 부합시키는 단계; 및, 상기 부합으로부터 도출된 정보를 사용하여 상기 검사 표면용 높이 프로필을 결정하는 단계를 포함한다.

83. 发明公开

KR1020040083998A 레이저 변위센서의 기준 거리를 변경하는 장치 失效
标题翻译：用于移动激光位移传感器的参考距离的装置与具有折射率指示器的板式透明部件相比，空气被插入到激光位移传感器和对象
公开(公告)号：KR1020040083998A
公开(公告)日：2004-10-06
申请号：KR1020030018749
申请日：2003-03-26
申请人： 한국전자통신연구원
发明人： 곽창수 , 임을균
IPC分类号： G01B11/16
CPC分类号： G01B11/0608
摘要： PURPOSE: An apparatus is provided to shift a reference distance of a laser displacement sensor and to expand a measurement range of the laser displacement sensor by inserting a transparent member into a laser beam path. CONSTITUTION: A laser displacement sensor(100) includes a laser beam source(11) and a laser beam receiving section(12). The laser beam source(11) generates laser beam. The laser beam receiving section(12) receives laser beam reflected from an object(13) to be measured. A plate-type transparent member(200) having a refractive index larger than that of air is inserted into the laser displacement sensor(100) and the object(13). The transparent member(200) is supported by a holder.
摘要翻译：目的：提供一种移动激光位移传感器的参考距离的装置，并且通过将透明构件插入到激光束路径中来扩大激光位移传感器的测量范围。构成：激光位移传感器（100）包括激光束源（11）和激光束接收部分（12）。激光束源（11）产生激光束。激光束接收部分（12）接收从待测物体（13）反射的激光束。将折射率大于空气的板状透明构件（200）插入到激光位移传感器（100）和物体（13）中。透明构件（200）由支架支撑。

84. 发明授权

KR100393429B1 각기 다른 금속 물질의 단차 측정을 위한 두 파장 백색광간섭법과 간섭계 失效
标题翻译： 각기다른금속물질의단차측정을위소소두파장백색광간섭법과간섭계
公开(公告)号：KR100393429B1
公开(公告)日：2003-08-02
申请号：KR1020010018617
申请日：2001-04-09
申请人： 한국과학기술원
发明人： 김승우 , 박민철
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B11/0608 , G01B9/02007 , G01B9/02057 , G01B9/02084 , G01B9/0209
摘要： This invention is on a measurement method and apparatus for measuring the accurate height of a very small step composed of two different flat materials. In this method, two wavelength-white light interferometry is used and the measuring error caused by the change in phase difference by two materials is compensated by a unique equation.
摘要翻译：本发明涉及用于测量由两种不同的扁平材料组成的非常小的台阶的精确高度的测量方法和设备。在这种方法中，使用两种波长 - 白光干涉测量法，并且由两种材料的相位差变化引起的测量误差通过独特的方程进行补偿。

85. 发明授权

KR101901308B1 실리콘 융액면의 높이위치의 산출방법 및 실리콘 단결정의 인상방법 그리고 실리콘 단결정 인상장치 有权
公开(公告)号：KR101901308B1
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：KR1020147023071
申请日：2013-01-22
申请人： 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤
发明人： 마스다,나오키 , 야나기마치,타카히로
IPC分类号： C30B15/26 , C30B29/06
CPC分类号： C30B15/26 , C30B15/20 , C30B29/06 , G01B11/0608 , G01B11/08 , G01B21/08 , Y10T117/1008 , Y10T117/1012
摘要： 본발명은, CZ 실리콘단결정을인상할때에, 실리콘융액면의높이위치를산출하는방법으로서, 실리콘단결정에대하여임의의각도로설치한 CCD 카메라를이용하여, 실리콘융액과실리콘단결정의경계의퓨전링으로부터계측한제1의결정직경과, 실리콘단결정의결정직경의양단을향하여각각평행하게설치한 2대의 CCD 카메라를이용하여계측한제2의결정직경을구하고, 이제1의결정직경과제2의결정직경의차로부터, 실리콘단결정인상중에있어서의도가니내의실리콘융액면의높이위치를산출하는실리콘융액면의높이위치의산출방법을제공한다. 이에따라, 실리콘단결정을인상하고있을때의실리콘융액면의높이위치를보다정확하게산출할수 있는방법이제공된다.

86. 发明授权

KR101857371B1 비접촉식 높이측정유닛 및 이를 구비하는 탑승교 有权
标题翻译：非接触式高度测量单元和寄宿学校
公开(公告)号：KR101857371B1
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：KR1020160174763
申请日：2016-12-20
申请人： 한국공항공사
发明人： 김동수
IPC分类号： G01B11/02 , G01B11/14 , G01B11/06 , G01B9/02 , B64F1/305
CPC分类号： G01B11/026 , B64F1/305 , G01B9/02092 , G01B11/0608 , G01B11/14
摘要： 비접촉식높이측정유닛은항공기및 출입문사이의거리를측정하는거리측정센서를포함하고, 항공기및 출입문에대향되는탑승교의캐빈의일측에배치되어, 항공기와탑승교사이의높이변화를측정한다. 이러한, 비접촉식높이측정유닛은탑승교와항공기의높이를항공기와접촉하지않고측정하여, 항공기의상승또는하강에따른탑승교와항공기사이의높이감지와이에대응하는높이조절을할 수있다. 또한, 항공기에접촉하지않고탑승교와항공기의높이를측정하여, 접촉에의한파손을방지할수 있다.

87. 发明授权

KR101823208B1 공기 조화기 및 그 제어방법 有权
公开(公告)号：KR101823208B1
公开(公告)日：2018-01-29
申请号：KR1020150172079
申请日：2015-12-04
申请人： 엘지전자 주식회사
发明人： 박병용 , 황성목 , 이주연 , 김주수 , 함승록
IPC分类号： F24F11/00 , F24F11/02
CPC分类号： F24F1/0014 , F24F11/30 , F24F11/64 , F24F11/77 , F24F11/79 , F24F11/83 , F24F2001/0037 , F24F2120/10 , F24F2120/12 , G01B11/0608 , G06K9/00362 , G06K9/52 , G06K9/6267 , G06T15/20 , H04N17/002
摘要： 본실시예는공기조화기및 그제어방법에관한것이다. 본실시예에따른공기조화기의제어방법에는, 촬영장치를이용하여실내공간에관한탑뷰(top view) 이미지를획득하고, 실내기가설치된천장의높이를산출하는단계; 상기탑뷰이미지에포함된적어도하나이상의이미지에대하여, 인체또는장애물여부를결정하는단계; 및상기장애물을회피하고, 상기인체를향하여기류가취출될수 있도록실내기에구비된실내팬 또는토출베인의작동을조절하는단계가포함된다.

88. 发明公开

KR1020170096001A 반도체 검사 및 계측을 위한 라인 주사 나이프 에지 높이 센서 审中-实审
标题翻译：线路注射刀边缘高度传感器，用于半导体检测和测量
公开(公告)号：KR1020170096001A
公开(公告)日：2017-08-23
申请号：KR1020177019724
申请日：2015-12-17
申请人： 케이엘에이-텐코 코포레이션
发明人： 리시팡 , 호른폴
IPC分类号： G01N21/55 , G01N21/88 , G01N21/95 , G01B11/06 , G03F7/20
CPC分类号： G01N21/55 , G01B11/0608 , G01N21/8806 , G01N21/9501 , G01N2201/0612 , G01S17/48 , G02B21/0016 , G02B21/241 , G03F7/70625 , G11B7/0916
摘要： 이반도체검사및 계측시스템은웨이퍼로부터반사된광을수신하도록구성된나이프에지미러를포함한다. 나이프에지미러는상기나이프에지미러에있는반사막이상기웨이퍼로부터반사된광의적어도일부를차단하도록구성되게끔상기웨이퍼로부터반사된광의초점에위치된다. 상기차단되는광의부분은상기웨이퍼로부터반사된광이언더포커스또는오버포커스인때 변화된다. 적어도하나의센서가상기웨이퍼로부터반사된광을수신한다. 광이언더포커스또는오버포커스인지는상기적어도하나의센서로부터의판독치를이용하여결정될수 있다. 웨이퍼표면에서의조명되는영역의높이는상기적어도하나의센서로부터의판독치를이용하여결정될수 있다.
摘要翻译：伊万导体检测和测量系统包括配置为接收从晶片反射的光的刀口镜。刀口镜位于从晶片反射的光的焦点处，以被配置为阻挡从刀口镜中的反射膜移位器晶片反射的至少一部分光。当从晶片反射的光聚焦不足或过度聚焦时，阻挡光的部分发生改变。至少一个传感器接收从晶片反射的光。可以使用来自至少一个传感器的读取来确定光是否聚焦不足或过聚焦。可以使用来自至少一个传感器的读数来确定晶片表面处的照射区域的高度。

89. 发明公开

KR1020170009524A 검사 시스템 및 검사 방법 有权
标题翻译：检查系统和检查方法
公开(公告)号：KR1020170009524A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：KR1020150101735
申请日：2015-07-17
申请人： 주식회사 고영테크놀러지
发明人： 서승애 , 안원미 , 이혜인 , 이종휘
IPC分类号： G01B11/25 , G01B11/06 , G01B11/02 , G06T7/60 , G06T7/00
CPC分类号： G01B11/02 , G01B11/0608 , G01B11/25 , G01B11/2527 , G01N21/95684 , G01N2021/95615 , G01N2021/95646 , G06T7/00 , G06T7/0004 , G06T7/50 , G06T7/60 , G06T2207/30152 , H05K1/0269 , H05K3/3478 , H05K2203/163
摘要： 검사대상체의양호및 불량여부에따라검사대상체의윤곽에대해이미지처리를수행하고, 이미지처리된윤곽을검사대상체의양호및 불량여부를판단하기위한기준정보와중첩하여표시하는검사시스템및 검사방법이개시된다. 본발명에따른검사시스템은, 검사대상체에광을조사하여검사대상체의이미지를획득하는측정부와, 검사대상체의이미지에대해상기검사대상체의윤곽을검출하는처리부와, 윤곽을기준정보와중첩하여표시하는출력부를포함하고, 처리부는, 기준정보를바탕으로윤곽에대한양호및 불량여부를판단하여양호및 불량여부에따라윤곽에대한이미지처리를수행한다.
摘要翻译：公开了一种检查系统和检查方法，其根据被检查物体是否良好或有缺陷地对被检查物体的轮廓进行图像处理; 并且通过与用于确定被检查对象是否良好或有缺陷的参考信息重叠来显示图像处理的轮廓。根据本发明的检查系统包括：数据获取单元，用于用光照射被检查物体，以便获取待检查对象的图像数据; 处理单元，用于根据被检查对象的图像数据检测被检查对象的轮廓; 以及输出单元，用于通过与参考信息重叠来显示轮廓，其中处理单元基于参考信息来确定轮廓是否精细或有缺陷，从而根据轮廓是否精细地对轮廓进行图像处理或有缺陷。

90. 发明公开

KR1020170002409A 이미지 분석에 의한 신의 3차원 재구성 디바이스 및 방법 审中-实审
标题翻译： 3通过图像分析三维重建场景的装置和方法
公开(公告)号：KR1020170002409A
公开(公告)日：2017-01-06
申请号：KR1020167030847
申请日：2015-05-06
申请人： 아레바 엔피
发明人： 코릴에,야니크
IPC分类号： G01B11/25 , G01B11/06
CPC分类号： G01B11/303 , G01B11/0608 , G01B11/2531 , G02B7/36 , G02B15/12 , G06T7/521 , G06T7/571 , G06T2207/10016
摘要： 이미지분석에의한신의 3차원재구성디바이스및 방법이 디바이스는신의이미지를캡쳐하는이미지획득디바이스(4), 이미지획득디바이스(4)에의해찍은신의적어도하나의이미지(10)로부터신의 3차원재구성을계산하는분석디바이스(12), 및상보적인제1 광패턴과제2 광패턴을검사된신 상에투영하는투영디바이스(14)를포함하며, 제1 광패턴과제2 광패턴은, 투영평면에서균질한세기를갖는균일한이미지를형성하면서슈퍼임포즈되도록, 이들패턴사이에 0이아닌각도를형성하는분리된투영축(A1; A2)을따라투영된다.
摘要翻译：提供了一种通过图像分析对场景进行三维重建的装置和方法。该装置包括用于捕获场景的图像的图像获取装置，用于从图像获取装置拍摄的场景的至少一个图像计算场景的三维重建的分析装置，以及投影装置，用于投影第一在所检查的场景上，互补的光图案和第二光图案，第一光图案和第二光图案沿着在它们之间形成非零角度的单独的突出轴线投影，以便形成均匀的在投影平面中具有均匀强度的图像。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式