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1. 发明申请

WO2013186622A1 MOUNTING SYSTEMS FOR A SURFACE FORCES APPARATUS 审中-公开
标题翻译：表面装置的安装系统
公开(公告)号：WO2013186622A1
公开(公告)日：2013-12-19
申请号：PCT/IB2013/001219
申请日：2013-06-10
申请人： ISRAELACHVILI, Jacob
发明人： ISRAELACHVILI, Jacob
IPC分类号： G01Q30/02 , G01Q70/02 , G01N3/04 , G01N19/02 , G01B21/26 , G01Q30/18 , B82Y35/00
CPC分类号： G01N13/00 , B01L3/00 , G01N1/00 , G01N1/28 , G01N3/04 , G01N19/02 , G01Q30/02 , G01Q30/18 , G01Q30/20 , G01Q70/02 , G02B21/26
摘要： A mounting system for samples and instruments for use with a measuring device such as a surface forces apparatus has a housing and a sample mount assembly positioned within the housing. The sample mount assembly has a pivot arm having a first edge and a flexing section. A spring has a first end coupled to the pivot arm. A first sample holder is coupled to the second end of the spring. A second sample holder is positioned in proximity to the first sample holder.
摘要翻译：用于与诸如表面力装置的测量装置一起使用的样品和仪器的安装系统具有定位在壳体内的壳体和样品安装组件。样品安装组件具有枢转臂，其具有第一边缘和弯曲部分。弹簧具有联接到枢转臂的第一端。第一样品保持器联接到弹簧的第二端。第二样品架位于第一样品架附近。

2. 发明申请

WO2010044869A1 MODULAR ATOMIC FORCE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：模块化原子力显微镜
公开(公告)号：WO2010044869A1
公开(公告)日：2010-04-22
申请号：PCT/US2009/005631
申请日：2009-10-14
申请人： PROKSCH, Roger
IPC分类号： G01B5/28
CPC分类号： G01Q30/18 , G01Q10/02 , G01Q10/04 , G01Q20/02
摘要： A modular AFM/SPM which provides faster measurements, in part through the use of smaller probes, of smaller forces and movements, free of noise artifacts, that the old generations of these devices have increasingly been unable to provide. The modular AFM/SPM includes a chassis, the foundation on which the modules of the instrument are supported; a view module providing the optics for viewing the sample and the probe; a head module providing the components for the optical lever arrangement and for steering and focusing those components; a scanner module providing the XYZ translation stage that actuates the sample in those dimensions and the engage mechanism; a isolation module that encloses the chassis and provides acoustic and/or thermal isolation for the instalment and an electronics module which, together with the separate controller, provide the electronics for acquiring and processing images and controlling the other functions of the instrument.
摘要翻译：模块化AFM / SPM，通过使用较小的探头，通过使用较小的力和运动，无需噪声伪影，这些设备的旧一代越来越无法提供更快的测量。模块化AFM / SPM包括一个底盘，支持仪器模块的基础; 提供用于观察样品和探针的光学元件的视图模块; 提供用于光学杠杆装置的部件并用于转向和聚焦这些部件的头部模块; 提供XYZ平移台的扫描仪模块，其驱动那些尺寸的样品和接合机构; 隔离模块，其包围机箱并为该装置提供声学和/或热隔离以及电子模块，其与单独的控制器一起提供用于获取和处理图像并控制仪器的其它功能的电子装置。

3. 发明申请

WO2017124864A1 一种基于无液氦室温孔超导磁体的强磁场扫描探针显微镜审中-公开
公开(公告)号：WO2017124864A1
公开(公告)日：2017-07-27
申请号：PCT/CN2016/110236
申请日：2016-12-16
申请人：复旦大学
发明人：吴施伟 , 孙泽元 , 张帅 , 黄迪 , 周盛予 , 殷立峰 , 高春雷 , 沈健
IPC分类号： G01Q60/00 , G01Q60/10
CPC分类号： G01Q30/18
摘要：一种基于无液氦消耗室温孔超导磁体的强磁场扫描探针显微镜，属于扫描探针显微镜技术领域。包括：无液氦消耗的室温孔超导磁体(1)、扫描探针显微镜和计算机控制电路系统(7)；所述室温孔超导磁体(1)包括无液氦消耗的闭循环制冷机(2)、超导磁体和具备室温孔的腔室；所述扫描探针显微镜包括扫描头(3)、真空腔室(4)、隔振平台(6)。该方案采用由闭循环制冷机(2)制冷的室温孔超导磁体(1)，摆脱了强磁场运行对液氦的依赖；与闭循环制冷机(2)相连的超导磁体和扫描探针显微镜之间无物理接触，制冷机(2)的机械振动不会直接传到扫描探针显微镜上，可以实现扫描探针显微镜的原子级分辨能力；扫描探针显微镜的温度不受制于超导磁体工作运行时要求的低温条件；扫描探针显微镜及其真空腔体(4)可以独立于超导磁体进行高温烘烤，满足实现超高真空的条件。

4. 发明申请

WO01009965A1 MICROMANIPULATOR WITH PIEZOELECTRIC MOVEMENT ELEMENTS 审中-公开
标题翻译：含压电运动元素微机器人
公开(公告)号：WO01009965A1
公开(公告)日：2001-02-08
申请号：PCT/EP2000/006554
申请日：2000-07-11
IPC分类号： B23Q1/34 , B25J7/00 , G01Q10/04 , G01Q20/04 , G01Q30/18 , G01Q30/20 , G01Q60/24 , H01L41/09 , H02N2/00
CPC分类号： G01Q10/04 , B23Q1/34 , B25J7/00 , G01Q30/18 , H02N2/0055 , H02N2/0095 , H02N2/025 , H02N2/028 , Y10S977/872
摘要： The invention relates to a micromanipulator (1, 8, 14, 35) which is used to produce a relative movement between said micromanipulator and an object (7, 13, 25, 34). The micromanipulator (1, 8, 14, 35) has piezoelectric movement elements (3, 10, 15, 16, 17, 43, 44, 45) which are provided with end pieces (6, 12, 22, 23, 24, 46, 47, 48). The inventive micromanipulator is characterized in that the end pieces (6, 12, 22, 23, 24, 46, 47, 48) are magnetic or can be magnetized.
摘要翻译：本发明涉及一种微操纵器（1，8，14，35），用于产生本身和一个对象（7,13，25，34）之间的相对运动，其中，所述微操纵器（1，8，14，35）的压电运动元件（ 3，10，15，16，17，43，44，45），其设置有端件（6，12，22，23，24，46，47，48），其特征在于，所述端件（ 6，12，22，23，24，46，47，48）是磁性或可磁化。

5. 发明申请

WO2013073186A1 密閉型ＡＦＭセル审中-公开
标题翻译：密封型AFM电池
公开(公告)号：WO2013073186A1
公开(公告)日：2013-05-23
申请号：PCT/JP2012/007326
申请日：2012-11-15
申请人：国立大学法人金沢大学
发明人：福間　剛士 , 淺川　雅 , 片桐　由智
IPC分类号： G01Q30/14 , G01Q60/24
CPC分类号： G01Q30/14 , B82Y35/00 , G01Q10/00 , G01Q20/02 , G01Q30/08 , G01Q30/12 , G01Q30/18 , G01Q60/24 , G01Q60/32 , G01Q70/02
摘要：　計測精度が低下せず、かつ、観察用液体が制限されない密閉型ＡＦＭセルを提供する。本発明に係る密閉型ＡＦＭセル（１００）は、探針を有する片持ち梁（１２０）と、試料を固定するサンプルホルダー（１３２）と、サンプルホルダー（１３２）を移動させるスキャナー（１３４）と、探針が試料の計測面近傍に位置するように片持ち梁（１２０）を保持する蓋部（１２２）と、スキャナー（１３４）を保持する部材であり、試料を挟んで蓋部（１２２）と相対する部材である本体部（１３６）とを備え、蓋部（１２２）と本体部（１３６）とは、観察用液体とは異なる液体であり、当該観察用液体と接触していない液体である密閉用液体を介して接合されることにより、蓋部（１２２）と本体部（１３６）と密閉用液体とで形成される空間の内部に観察用液体を密閉する。
摘要翻译：提供了一种密封型AFM电池，其中测量精度不降低，并且观察液体不受限制。该密封型AFM电池（100）具有：具有探针的悬臂（120）用于固定样品的样品架（132）用于移动样品架（132）的扫描仪（134）; 用于保持悬臂（120）使得探针位于样品的测量表面附近的盖（122）以及身体部分（136），其是用于保持扫描器（134）的构件，并且覆盖所述盖子（122）横跨所述样品。盖（122）和主体部（136）与密封液接合，密封液是与观察液不同且不与观察液接触的液体。观察液由此被密封在由盖（122），主体部（136）和密封液形成的空间中。

6. 发明申请

WO2006090593A9 DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：用于扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的位移检测机理
公开(公告)号：WO2006090593A9
公开(公告)日：2007-06-14
申请号：PCT/JP2006302315
申请日：2006-02-10
申请人： SII NANOTECHNOLOGY INC , IYOKI MASATO , YAMAMOTO HIROYOSHI
发明人： IYOKI MASATO , YAMAMOTO HIROYOSHI
IPC分类号： G01Q10/00 , G01Q10/04 , G01Q20/00 , G01Q30/18 , G01Q70/02
CPC分类号： G01Q20/00 , G01Q10/04 , G01Q30/18 , G01Q70/02
摘要： A displacement detection mechanism for a scanning probe microscope capable of performing measurement quickly with high precision even if an objective lens or an illumination system is arranged above or below a sample or a cantilever, and a scanning probe microscope comprising it. The displacement detection mechanism (112) for a scanning probe microscope comprising a supporting section (22) for supporting a cantilever (20), a light source (114) for irradiating a reflective surface (14) with light, and a light receiving section (121) for receiving light reflected off the reflective surface (14), and detecting displacement of the cantilever (20) based on the light receiving position of the light receiving section (121), wherein the rear end of the cantilever (20) is secured to the supporting section (22), and the above light is allowed to impinge on the reflective surface (14), while inclining toward the X axis and Y axis, from above regions B and C on the distal end side of the cantilever (20) out of regions A, B, C and D sectioned, when viewed from the above, by the Y axis extending in the longitudinal direction of the cantilever (20) and the X axis passing through the reflective surface (14) and extending in the direction intersecting the Y axis perpendicularly.
摘要翻译：即使将物镜或照明系统配置在样本或悬臂的上方或下方，也可以以高精度快速进行测量的扫描探针显微镜以及包括该扫描探针显微镜的扫描探针显微镜。一种用于扫描探针显微镜的位移检测机构（112），包括用于支撑悬臂（20）的支撑部分（22），用于用光照射反射表面（14）的光源（114）和光接收部分 121），用于接收从所述反射表面（14）反射的光，以及基于所述光接收部分（121）的光接收位置检测所述悬臂（20）的位移，其中所述悬臂（20）的后端被固定到所述支撑部分（22），并且当所述悬臂（20）的远端侧上方的区域B和C向X轴和Y轴倾斜时，允许上述光照射在所述反射表面（14）上）在从上方观察的区域A，B，C和D中，通过沿悬臂（20）的纵向延伸的Y轴和穿过反射表面（14）的X轴延伸并在方向垂直于Y轴。

7. 发明申请

WO2004015455A9 IMPROVED METHOD AND SYSTEM FOR SCANNING APERTURELESS FLUORESCENCE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：改进的扫描无特征荧光显微镜的方法和系统
公开(公告)号：WO2004015455A9
公开(公告)日：2004-05-27
申请号：PCT/US0324086
申请日：2003-07-30
申请人： CALIFORNIA INST OF TECHN , QUAKE STEPHEN R , LESSARD GUILLAUME , WADE LAWRENCE A , GERTON JORDAN M
发明人： QUAKE STEPHEN R , LESSARD GUILLAUME , WADE LAWRENCE A , GERTON JORDAN M
IPC分类号： G01B11/30 , G01Q30/02 , G01Q30/04 , G01Q30/18 , G01Q40/00 , G01Q60/06 , G01Q60/20 , G01Q70/12 , G02B21/00 , G02B21/16 , G02B
CPC分类号： G01Q60/20 , G01Q30/025 , G01Q30/04 , G01Q30/18 , G01Q40/00 , G01Q60/06 , G01Q70/12 , G02B21/16 , Y10S977/862
摘要： Methods and systems for operating an apertureless microscope for observing one or more features to a molecular sensitivity on objects are described. More particularly, the method includes moving a tip of a probe coupled to a cantilever in a vicinity of a feature of a sample, which emits one or more photons at a detected rate relative to a background rate of the sample based upon the presence of the tip of the probe in the vicinity of the feature. The method modifies the detected rate of the feature of the sample, whereupon the modifying of the detected rate causes the feature of the sample to enhance relative to background rate of the feature.
摘要翻译：描述了用于操作无孔显微镜以观察一个或多个特征以对物体的分子灵敏度的方法和系统。更具体地说，该方法包括将耦合到悬臂的探针的尖端移动到样本的特征附近，该样本的特征相对于样本的背景速率以检测到的速率发射一个或多个光子，这基于探针的顶端在特征附近。该方法修改样本的特征的检测速率，由此检测到的速率的修改导致样本的特征相对于特征的背景速率增强。

8. 发明申请

WO2016105109A1 헤드 일체형 원자간력 현미경 및 이를 포함한 융합 현미경 审中-公开
标题翻译：组合原子力显微镜和包括其的复合微结构
公开(公告)号：WO2016105109A1
公开(公告)日：2016-06-30
申请号：PCT/KR2015/014143
申请日：2015-12-23
申请人： 한국표준과학연구원
发明人： 김달현 , 박병천 , 신채호
IPC分类号： G01Q60/24
CPC分类号： G01Q60/32 , G01Q20/02 , G01Q30/02 , G01Q30/18 , G01Q60/38
摘要： 본 발명의 목적은 원자간력 현미경(AFM)의 헤드 구조를 최적화함으로써, 중량 및 부피 최소화와 구조적 안정성 향상을 실현하는 원자간력 현미경용 일체형 헤드를 제공함에 있다. 본 발명의 다른 목적은, 이러한 일체형 헤드를 장착함으로써 동적 특성이 향상되어 고속 헤드 스캔이 가능해서 대면적 샘플 이미징에 활용할 수 있는 헤드 일체형 원자간력 현미경을 제공함에 있다. 본 발명의 또다른 목적은, 이처럼 동적 특성이 향상된 헤드 일체형 원자간력 현미경과 전자 현미경 또는 광학 현미경을 융합함으로써, 고속 위치탐색 및 이미징이 가능함과 동시에 관심 영역에서는 원자상 수준까지의 3차원 형상의 정밀 관찰이 가능하도록 하는, 헤드 일체형 원자간력 현미경을 포함한 융합 현미경을 제공함에 있다.
摘要翻译：本发明的目的是提供一种用于原子力显微镜（AFM）的集成头，通过AFM的头部结构的优化，其具有最小的重量和体积以及改进的结构完整性。本发明的另一个目的是提供一种头部集成的AFM，其具有安装在其上的上述集成头，并且具有改善的动态特性，使得可以进行高速头扫描，并且AFM可用于广域样本成像。本发明的另一个目的是提供一种复合显微镜，其包括头部集成的AFM，复合显微镜是具有改善的动态特性的上述头部集成AFM和电子显微镜或光学显微镜的组合，以便是能够进行高速位置跟踪和成像，以及在原子级别上感兴趣区域中的3D形状的详细观察。

9. 发明申请

WO2016056903A1 SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH A REDUCED Q-FACTOR 审中-公开
标题翻译：扫描探针显微镜与减少的Q因子
公开(公告)号：WO2016056903A1
公开(公告)日：2016-04-14
申请号：PCT/NL2015/050699
申请日：2015-10-05
申请人： NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
发明人： TABAK, Femke Chantal , SADEGHIAN MARNANI, Hamed , VAN ES, Maarten Hubertus
IPC分类号： G01Q30/12 , G01Q70/04 , G01Q70/08 , G01Q60/32
CPC分类号： G01Q70/04 , G01Q30/12 , G01Q30/18 , G01Q60/32
摘要： A scanning probe microscope is provided comprising a scanning probe (10), a holder (5) for holding a sample (SMP) in an environment free from liquid. A scanning arrangement (20) is provided therein for inducing a relative motion of the scanning probe (10) with respect to said sample (SMP) along a surface of the sample (SMP). A driver (30) generates a drive signal (Sd) to induce an oscillating motion of the scanning probe (10) relative to the surface of the sample to be scanned. A measuring unit (40) measure a deflection of the scanning probe (10), and provides a deflection signal (Sδ) indicative for said deflection. An amplitude detector (50) detects an amplitude of the oscillating motion as indicated by the deflection signal (Sδ) and provides an amplitude signal (Sa) indicative for the amplitude. The scanning probe (10) is at least partly arranged in a liquid (L) to dampen motion of said scanning probe, and therewith has a quality factor Q which is less than or equal than 5. The scanning probe (10) is accommodated in a casing (90) comprising said liquid (L), the scanning probe (10) comprising a flexible carrier (11), the flexible carrier having a movable part provided with a tip (12), which tip (12) extends through an opening (91) in said casing.
摘要翻译：提供了一种扫描探针显微镜，其包括扫描探针（10），用于将样品（SMP）保持在不含液体的环境中的保持器（5）。在其中提供扫描装置（20），用于沿着样品（SMP）的表面引起扫描探针（10）相对于所述样品（SMP）的相对运动。驱动器（30）产生驱动信号（Sd），以引起扫描探针（10）相对于待扫描样品的表面的振荡运动。测量单元（40）测量扫描探针（10）的偏转，并提供指示所述偏转的偏转信号（Sδ）。振幅检测器（50）如偏转信号（Sδ）所示，检测振荡运动的振幅，并提供表示振幅的振幅信号（Sa）。扫描探针（10）至少部分地布置在液体（L）中以阻尼所述扫描探针的运动，并且因此具有小于或等于5的品质因数Q.扫描探针（10）被容纳在包括所述液体（L）的壳体（90），所述扫描探针（10）包括柔性载体（11），所述柔性载体具有设置有尖端（12）的可移动部分，所述尖端（12）延伸穿过开口（91）。

10. 发明申请

WO2014034489A1 分析用除電部材审中-公开
标题翻译：放弃会员分析
公开(公告)号：WO2014034489A1
公开(公告)日：2014-03-06
申请号：PCT/JP2013/072287
申请日：2013-08-21
申请人：日東電工株式会社
发明人：前野　洋平
IPC分类号： G01Q30/18 , C01B31/02 , G01Q60/24
CPC分类号： G01Q30/08 , C01B32/05 , G01Q30/18
摘要：　原子間力顕微鏡を用いる分析などの精密分析において、分析対象試料周辺に十分に貼着でき、分析対象試料や周辺環境が汚染されることなく、分析対象試料周辺の帯電を抑制でき、分析対象試料周辺に金属が存在していてもスパークのおそれがなく、チャンバーで覆って分析することも可能であり、高温環境下や真空環境下での分析も問題なく行える、分析用除電部材を提供する。　本発明の分析用除電部材は、繊維状柱状物を複数備える繊維状柱状構造体を含む。
摘要翻译：本发明提供一种用于分析的放电部件，对于使用原子力显微镜的分析等精密分析，在被分析的样品上附着好; 最小化待分析样品周围的电荷，而不分析样品或周围环境被污染; 被房间覆盖，即使分析的样品周围存在金属，也能够进行分析，而不会产生火花。并且允许在高温环境或真空环境中以无问题的方式进行分析。该用于分析的放电元件包括具有多个纤维柱状物体的纤维状柱状结构。

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