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1. 发明申请

WO2014197083A2 METHODS, DEVICES, AND SYSTEMS FOR FORMING ATOMICALLY PRECISE STRUCTURES 审中-公开
标题翻译：用于形成原始精密结构的方法，装置和系统
公开(公告)号：WO2014197083A2
公开(公告)日：2014-12-11
申请号：PCT/US2014027895
申请日：2014-03-14
申请人： ZYVEX LABS LLC
发明人： RANDALL JOHN NEAL , VON EHR JAMES R , OWEN JAMES H G , BALLARD JOSHUA B , FUCHS EHUD
IPC分类号： H01J37/30
CPC分类号： G01Q20/00 , B82B3/0038 , G01Q10/00 , G01Q60/10 , G01Q80/00 , H01J2237/31759
摘要： Methods, devices, and systems for forming atomically precise structures are provided. In some embodiments, the methods, devices, and systems of the present disclosure utilize a scanning tunneling microscope (STM) to remove portions of a monolayer of atoms or molecules from a crystalline surface to form atomically precise structures. The STM is utilized to both image the sample and remove the desired portions of the monolayer of atoms or molecules. In some instances, the lattice structure of the crystalline surface is utilized as a coordinate system by a control system of the STM to facilitate the automated removal of specific atoms or molecules from the crystalline surface.
摘要翻译：提供了用于形成原子精确结构的方法，装置和系统。在一些实施例中，本公开的方法，装置和系统利用扫描隧道显微镜（STM）从晶体表面去除单层原子或分子的部分以形成原子精确的结构。 STM用于对样品进行成像和去除单层原子或分子的所需部分。在一些情况下，通过STM的控制系统将结晶表面的晶格结构用作坐标系，以促进特定原子或分子从结晶表面的自动去除。

2. 发明申请

WO98029707A1 ACOUSTIC SENSOR AS PROXIMITY DETECTOR 审中-公开
标题翻译：声学传感器作为接近检测器
公开(公告)号：WO98029707A1
公开(公告)日：1998-07-09
申请号：PCT/US1998/000089
申请日：1998-01-02
IPC分类号： G01B21/00 , G01B17/00 , G01B21/30 , G01N29/06 , G01Q10/02 , G01Q10/04 , G01Q20/02 , G01Q30/02 , G01Q60/24 , G01B5/28 , G01N29/24
CPC分类号： G01B17/00 , G01N29/06 , G01N2291/02854 , G01Q20/00 , Y10S977/872
摘要： An acoustic sensor (34) used with a first sensor (36) (such as a profilometer, scanning probe microscope, or the like) allows for the positioning of the first sensor (36) with respect to a sample (22). The acoustic sensor (34) has a greater range than a profilometer or a scanning probe microscope, and a relatively quick response time, which allows it to be an effective proximity sensor. Additionally, the acoustic sensor (34) is not affected by the material of the sample's surface layer.
摘要翻译：与第一传感器（36）（例如轮廓仪，扫描探针显微镜等）一起使用的声学传感器（34）允许第一传感器（36）相对于样品（22）的定位。声学传感器（34）具有比轮廓仪或扫描探针显微镜更大的范围以及相对较快的响应时间，其允许其成为有效的接近传感器。此外，声学传感器（34）不受样品表面层的材料的影响。

3. 发明申请

WO2010057052A3 METHOD AND APPARATUS OF OPERATING A SCANNING PROBE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：操作扫描探针显微镜的方法和设备
公开(公告)号：WO2010057052A3
公开(公告)日：2010-10-14
申请号：PCT/US2009064476
申请日：2009-11-13
申请人： VEECO INSTR INC , HU YAN , HU SHUIQING , SU CHANMIN
发明人： HU YAN , HU SHUIQING , SU CHANMIN
IPC分类号： G01Q60/24 , G01Q60/34
CPC分类号： G01Q20/00 , B82Y35/00 , G01Q10/065 , G01Q20/02 , G01Q60/24 , G01Q60/30 , G01Q60/32 , G01Q60/34
摘要： An improved mode 300 of AFM imaging (Peak Force Tapping (PFT) Mode) uses force as the feedback variable to reduce tip-sample interaction forces while maintaining scan speeds achievable by all existing AFM operating modes. Sample imaging and mechanical property mapping are achieved with improved resolution and high sample throughput, with the mode workable across varying environments, including gaseous, fluidic and vacuum.
摘要翻译： AFM成像（峰值攻牙（PFT）模式）的改进模式300使用力作为反馈变量来减少尖端 - 样品相互作用力，同时保持所有现有AFM操作模式可实现的扫描速度。样品成像和力学性能测试是通过提高分辨率和高样品通量来实现的，该模式可在各种环境下使用，包括气体，流体和真空。

4. 发明申请

WO2008027601A2 BAND EXCITATION METHOD APPLICABLE TO SCANNING PROBE MICROSCOPY 审中-公开
标题翻译：带状激发法适用于扫描探针显微镜
公开(公告)号：WO2008027601A2
公开(公告)日：2008-03-06
申请号：PCT/US2007/019339
申请日：2007-09-04
申请人： UT-BATTELLE, LLC , JESSE, Stephen , KALININ, Sergei, V.
发明人： JESSE, Stephen , KALININ, Sergei, V.
IPC分类号： G01Q10/06 , G01Q30/04 , G01Q60/32
CPC分类号： G01Q20/00 , B82Y35/00 , G01Q10/06 , G01Q30/04 , G01Q60/32
摘要： Methods and apparatus are described for scanning probe microscopy. A method includes generating a band excitation (BE) signal having finite and predefined amplitude and phase spectrum in at least a first predefined frequency band; exciting a probe using the band excitation signal; obtaining data by measuring a response of the probe in at least a second predefined frequency band; and extracting at least one relevant dynamic parameter of the response of the probe in a predefined range including analyzing the obtained data. The BE signal can be synthesized prior to imaging (static band excitation), or adjusted at each pixel or spectroscopy step to accommodate changes in sample properties (adaptive band excitation). An apparatus includes a band excitation signal generator; a probe coupled to the band excitation signal generator; a detector coupled to the probe; and a relevant dynamic parameter extractor component coupled to the detector, the relevant dynamic parameter extractor including a processor that performs a mathematical transform selected from the group consisting of an integral transform and a discrete transform.
摘要翻译：描述了用于扫描探针显微镜的方法和设备。一种方法包括：在至少第一预定义频带中生成具有有限且预定义的幅度和相位频谱的频带激励（BE）信号; 使用频带激励信号激发探针; 通过在至少第二预定义频带中测量探针的响应来获得数据; 以及在预定范围内提取探针的响应的至少一个相关动态参数，包括分析所获得的数据。 BE信号可以在成像之前合成（静态带激发），或者在每个像素或光谱步骤处调整以适应样品属性（自适应带激发）的变化。一种装置包括频带激励信号发生器; 耦合到频带激励信号发生器的探针; 耦合到探针的检测器; 以及耦合到所述检测器的相关动态参数提取器组件，所述相关动态参数提取器包括执行从包括积分变换和离散变换的组中选择的数学变换的处理器。

5. 发明申请

WO01020616A1 MAGNETIC SENSING OF MOTION IN MICROFABRICATED DEVICES 审中-公开
标题翻译：微型装置运动的磁感测
公开(公告)号：WO01020616A1
公开(公告)日：2001-03-22
申请号：PCT/IB2000/001256
申请日：2000-09-06
IPC分类号： G01B7/00 , B81B3/00 , G01B7/14 , G01B7/34 , G01D5/14 , G01N27/00 , G01Q20/00 , G01R33/06 , G11B9/00 , G11B21/21 , G12B21/08 , G12B21/04
CPC分类号： G01Q20/00 , G11B9/1418 , G11B21/21
摘要： A magnetic sensing unit for measuring displacements on a nanometer scale is disclosed. For that, a moveable part and a fixed part of a microdevice comprises a magnetic element having a magnetic field and a magnetic sensor. The magnetic element being located on the moveable part and the magnetic sensor on the fixed part, or the magnetic sensor being located on the moveable part and the magnetic element on the fixed part, the magnetic sensor and/or the magnetic element being an integral part of the microdevice. The magnetic element and the magnetic sensor being arranged relative to each other such that when the moveable part is displaced the change of the magnetic field at the magnetic sensor is detectable by use of the magnetic sensor. Applications are the deflection detection of the cantilever of a scanning probe microscope or in a flying head of a storage device.
摘要翻译：公开了一种用于测量纳米尺度位移的磁感测单元。为此，微型装置的可移动部件和固定部件包括具有磁场的磁性元件和磁性传感器。磁性元件位于可动部件上，磁传感器位于固定部件上，或者磁性传感器位于可移动部件上，而磁性元件位于固定部件上，磁性传感器和/或磁性元件是一体的部分的微型设备。磁性元件和磁性传感器相对于彼此布置，使得当可移动部件移位时，通过使用磁性传感器可以检测磁性传感器处的磁场变化。应用是扫描探针显微镜或存储装置的飞头中的悬臂的偏转检测。

6. 发明申请

WO2014162858A1 走査型プローブ顕微鏡および走査型プローブ検鏡法审中-公开
标题翻译：扫描探针显微镜和扫描探针显微镜
公开(公告)号：WO2014162858A1
公开(公告)日：2014-10-09
申请号：PCT/JP2014/057158
申请日：2014-03-17
申请人：オリンパス株式会社
发明人：酒井　信明
IPC分类号： G01Q60/32
CPC分类号： G01Q20/00 , G01Q60/32
摘要：　走査型プローブ顕微鏡は、加振信号に基づいてカンチレバー（１２）を振動させる加振部（１４）と、カンチレバー（１２）の変位を表す変位信号を出力する変位検出部（１５）と、加振信号と変位信号の位相差に位相オフセットを与える位相調整部（３０）と、加振信号と変位信号の位相差と位相オフセットの情報を含む位相信号を生成する位相信号生成部と、位相信号に基づいてプローブ（１１）と試料（１９）の間の距離を制御するコントローラ（２５）を備えている。位相調整部（３０）は、プローブ（１１）と試料（１９）が接触していない状態において存在する初期位相差をキャンセルする第一の位相量と、（０[ｒａｄ]）以上かつ（π／２[ｒａｄ]）以下の第二の位相量を合算して位相オフセットとして位相差に与える。
摘要翻译：扫描探针显微镜具备：基于振动激励信号振动悬臂（12）的振动激励单元（14）; 位移检测单元（15），用于输出指示悬臂（12）的位移的位移信号; 相位调整单元，用于对振动激励信号和位移信号之间的相位差施加相位偏移; 相位信号产生单元，用于产生包括与振动激励信号和位移信号之间的相位差有关的信息和相位偏移的相位信号; 以及用于根据相位信号控制探头（11）和样品（19）之间的距离的控制器（25）。相位调整单元（30）将第一相位量相加以消除在探针（11）和样本（19）彼此不接触的状态下存在的初始相位差，并且相位调整单元 0到＆pgr; / 2 [rad]，并将其结果作为相位偏移应用于相位差。

7. 发明申请

WO2014003557A1 HIGH THROUGHPUT MICROSCOPY DEVICE 审中-公开
标题翻译：高速显微镜装置
公开(公告)号：WO2014003557A1
公开(公告)日：2014-01-03
申请号：PCT/NL2013/050459
申请日：2013-06-27
申请人： NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO
发明人： VAN DEN BRABER, Rens , VAN DEN DOOL, Teunis Cornelis , SADEGHIAN MARNANI, Hamed , RIJNVELD, Niek
IPC分类号： G01Q10/06 , G01Q70/06 , B82Y35/00
CPC分类号： G01Q20/00 , G01Q10/06 , G01Q70/06
摘要： An object is mounted on a surface of a sample carrier. Properties of the surface of the object are measured and/or modified by means of a plurality of independently movable heads, each comprising a microscopic probe. The heads being located between the surface of a reference grid plate and the surface of the sample carrier. Head specific target locations are selected for the heads. Each head is moved over the surface of the reference grid plate, to the target location of the head. During movement a position of the head is determined from markings on the reference grid plate sensed by sensor in the head. When the sensor has indicated that the head is at the target location selected for the head a force between the head and the reference grid plate is switched to seat and/or clamp the head on the reference grid plate.
摘要翻译：物体安装在样品载体的表面上。通过多个可独立移动的头来测量和/或修改物体表面的特性，每个头包括微观探针。头部位于参考栅格板的表面和样品载体的表面之间。头部具体目标位置被选择。每个头部移动到参考格栅板的表面，到头部的目标位置。在运动期间，头部的位置由头部中由传感器感测到的参考网格板上的标记确定。当传感器已经指示头部位于为头部选择的目标位置时，头部和参考格栅板之间的力被切换以将头部安置和/或夹紧在参考格栅板上。

8. 发明申请

WO2013050770A1 METHOD OF INVESTIGATING A SAMPLE SURFACE BY SCANNING PROBE MICROSCOPY WHICH ADJUSTS PROBE MISALIGNMENTS 审中-公开
标题翻译：通过扫描探针显微镜研究样品表面的方法调整误差
公开(公告)号：WO2013050770A1
公开(公告)日：2013-04-11
申请号：PCT/GB2012/052462
申请日：2012-10-04
申请人： INFINITESIMA LIMITED
发明人： HUMPHRIS, Andrew
IPC分类号： G01Q30/06 , G01Q40/00 , B82Y35/00
CPC分类号： G01Q20/00 , B82Y35/00 , G01Q30/06 , G01Q40/00
摘要： A method of investigating a sample surface. A probe is brought into close proximity with a first sample and scanned across the first sample. A response of the probe to its interaction with the sample is monitored using a detection system and a first data set is collected indicative of said response. The probe and/or sample is tilted through a tilt angle. The probe is scanned across the first sample or across a second sample after the tilting step, and a response of the probe to its interaction with the scanned sample is monitored using a detection system and a second data set is collected indicative of said response. The method includes the additional step of analysing the first data set prior to tilting the probe and/or sample in order to determine the tilt angle.
摘要翻译：调查样品表面的方法。将探针置于第一样品附近，并扫描第一个样品。使用检测系统监测探针对其与样品的相互作用的响应，并收集指示所述响应的第一数据集。探头和/或样品倾斜倾斜。在倾斜步骤之后扫描探针跨越第一样品或跨第二样品，并且使用检测系统监测探针对其与扫描样品的相互作用的响应，并且收集指示所述响应的第二数据集。该方法包括在倾斜探针和/或样品之前分析第一数据集以确定倾斜角度的附加步骤。

9. 发明申请

WO2009142661A1 ANALYSIS OF EX VIVO CELLS FOR DISEASE STATE DETECTION AND THERAPEUTIC AGENT SELECTION AND MONITORING 审中-公开
标题翻译：用于疾病状态检测和治疗药物选择和监测的EXVIV细胞的分析
公开(公告)号：WO2009142661A1
公开(公告)日：2009-11-26
申请号：PCT/US2008/085194
申请日：2008-12-01
申请人： THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORNIA , GIMZEWSKI, James , CROSS, Sarah , JIN, Yusheng , RAO, Jianyu
发明人： GIMZEWSKI, James , CROSS, Sarah , JIN, Yusheng , RAO, Jianyu
IPC分类号： A61B10/00
CPC分类号： G01Q30/025 , B82Y15/00 , B82Y35/00 , G01Q20/00 , G01Q30/14 , G01Q60/366 , Y10S977/92
摘要： Described herein is the analysis of nanomechanical characteristics of cells. In particular, changes in certain local nanomechanical characteristics of ex vivo human cells can correlate with presence of a human disease, such as cancer, as well as a particular stage of progression of the disease. Also, for human patients that are administered with a therapeutic agent, changes in local nanomechanical characteristics of ex vivo cells collected from the patients can correlate with effectiveness of the therapeutic agent in terms of impeding or reversing progression of the disease. By exploiting this correlation, systems and related methods can be advantageously implemented for disease state detection and therapeutic agent selection and monitoring.
摘要翻译：这里描述的是细胞的纳米机械特性的分析。特别地，离体人细胞的某些局部纳米机械特性的变化可以与人类疾病如癌症的存在以及疾病进展的特定阶段相关联。此外，对于施用治疗剂的人类患者，从患者收集的离体细胞的局部纳米机械特征的变化可以与治疗剂在阻碍或逆转疾病进展方面的有效性相关。通过利用这种相关性，系统和相关方法可以有利地实现用于疾病状态检测和治疗剂选择和监测。

10. 发明申请

WO01003157A1 OBJECT INSPECTION AND/OR MODIFICATION SYSTEM AND METHOD 审中-公开
标题翻译：对象检查和/或修改系统和方法
公开(公告)号：WO01003157A1
公开(公告)日：2001-01-11
申请号：PCT/US2000/018041
申请日：2000-06-30
IPC分类号： B82B3/00 , G01N23/00 , G01Q20/02 , G01Q70/02 , G01Q80/00 , G21K7/00 , H01J37/26 , H01L21/00
CPC分类号： G01Q20/02 , G01Q20/00 , G01Q60/04 , G01Q60/06 , G01Q70/02 , G01Q70/06 , G01Q80/00
摘要： A scanning probe microscope system (100) includes an objective lens (147), a clamping circuit (404), a tip deflection measurement circuit (421), a cantilever (136), and a probe (137) for modifying and inspecting an object (102) disposed on a stage (129).
摘要翻译：扫描探针显微镜系统（100）包括物镜（147），夹紧电路（404），尖端偏转测量电路（421），悬臂（136）和用于修改和检查物体的探针（137）（102）设置在台（129）上。

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