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    • 7. 发明申请
    • ICキャリア,ICソケット及びICデバイスの試験方法
    • IC卡,IC插座和测试IC器件的方法
    • WO2006097973A1
    • 2006-09-21
    • PCT/JP2005/004286
    • 2005-03-11
    • 株式会社日本マイクロニクススパンション エルエルシーSpansion Japan株式会社大里衛知河西純一目黒弘一小野寺正徳
    • 大里衛知河西純一目黒弘一小野寺正徳
    • H01R33/76
    • G01R1/0483G01R1/0466
    •  本発明のICキャリア(24)に保持されるICデバイス(10)は,両面電極タイプのBGA型のICデバイス(10)であり,パッケージの第1面に複数の突起電極(14)を備えている。このICデバイスは,前記第1面とは反対側の第2面に,(a)中央の隆起部(30)と,(b)隆起部より一段低い周辺部(32)と,(c)周辺部に形成された複数の上部電極(18)とを備えている。ICキャリアは,フレーム(36)とカバー部(40)と保持手段(42)を備えている。フレームはICデバイスを収容するためのデバイス収容空間(38)を形成している。カバー部はICキャリアに保持されたICデバイスの周辺部に接触して上部電極を覆うことができる。保持手段は,カバー部がICデバイスの上部電極を覆っている状態で,ICデバイスをICキャリアに保持できる。ICデバイスをICキャリアに搭載したままでICソケットに装着できる。
    • 保持在IC载体(24)上的IC器件(10)是在封装的第一表面上设置有凸块电极(14)的双面电极型BGA IC器件(10)。 IC器件在与第一表面相对的第二表面上具有(a)中心突起(30),(b)比突起低一级的周边部分(32),(c)上电极(18) 形成在IC器件的周边部分上。 IC载体设有框架(36),盖(40)和保持装置(42)。 该帧形成用于接收IC设备的设备接收空间(38)。 盖可以覆盖上电极,同时与保持在IC载体上的IC器件的周边接触。 保持装置可以将IC器件保持在IC载体上,盖子覆盖IC器件的上部电极。 该IC器件可以安装在IC载体上而设置在IC插座中。