会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 24. 发明申请
    • BELEUCHTUNGSMODUL UND VERFAHREN ZU DESSEN HERSTELLUNG
    • 照明模块与方法研究
    • WO2004077578A2
    • 2004-09-10
    • PCT/DE2004/000040
    • 2004-01-15
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHHÄRLE, VolkerHAHN, BertholdLUGAUER, Hans-Jürgen
    • HÄRLE, VolkerHAHN, BertholdLUGAUER, Hans-Jürgen
    • H01L33/00
    • H01L33/486H01L25/0753H01L33/22H01L33/507H01L33/54H01L33/56H01L33/60H01L2224/48091H01L2224/48247H01L2224/48465H01L2924/16195H01L2924/00014H01L2924/00
    • Die Erfindung bezieht sich auf ein Beleuchtungsmodul mit zumindest einem auf einem elektrische Anschlussleiter aufweisenden Chipträger aufgebrachten Dünnfilm-Leuchtdiodenchip, der eine erste une eine zweite elektrische Anschlussseite sowie eine epitaktisch hergestellte Halbleiterschichtfolge aufweist. Die Halbleiterschichtfolge weist eine n-leitende Halbleiterschicht, eine p-leitende Halbleiterschicht und einen zwischen diesen beiden Halbleiterschichten angeordneten elektromagnetische Strahlung erzeugenden Bereich auf und ist auf einem Träger angeordnet. Zudem weist sie an einer zu dem Träger hin gewandten Hauptfläche eine reflektierende Schicht auf, die zumindest einen Teil der in der Halbleiterschichtfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung in diese zurückreflektiert. Die Halbleiterschichtfolge weist mindestens eine Halbleiterschicht mit zumindest einer mikrostrukturierten, rauhen Fläche auf. Die Auskoppelfläche des Dünnfilm-Leuchtdiodenchips ist im Wesentlichen durch eine von der reflektierenden Schicht abgewandten Hauptfläche definiert und ist frei von Gehäusematerial wie Verguss- oder Verkapselungsmaterial.
    • 本发明涉及一种照明模块,包括至少一个具有一种半导体芯片载体具有第一UNE的第二电端子侧和外延制造的半导体层序列淀积薄膜发光二极管芯片电连接。 半导体层序列具有n型半导体层,p型半导体层和设置在这两个半导体层之间的电磁辐射产生部分和设置在载体上。 此外,它有一个朝向正对支撑主表面上的反射层,其反射回在它的半导体层序列中产生的电磁辐射的至少一部分。 半导体层序列具有至少一个微结构化的,粗糙的表面的至少一个半导体层。 该薄膜发光芯片的输出表面基本上由面向从反射层主表面远离的一侧形成,并且自由外壳材料,如灌封或包封材料的。
    • 28. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINES STRAHLUNGSEMITTIERENDEN HALBLEITERCHIPS
    • 方法用于产生辐射半导体芯片
    • WO2005106972A1
    • 2005-11-10
    • PCT/DE2004/000892
    • 2004-04-29
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHHAHN, BertholdKAISER, StephanHÄRLE, Volker
    • HAHN, BertholdKAISER, StephanHÄRLE, Volker
    • H01L33/00
    • H01L33/22H01L33/0079
    • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Mikrostrukturierung einer strahlungsemittierenden Fläche einer Halbleiterschichtfolge für einen Dünnschicht-Leuchtdiodenchip, mit folgenden Verfahrensschritten: a) Aufwachsen der Halbleiterschichtfolge auf einem Substrat; b) Ausbilden oder Aufbringen einer Spiegelschicht (7) auf der Halbleiterschichtfolge, die zumindest einen Teil einer in der Halbleiterschichtfolge bei deren Betrieb erzeugten und zur Spiegelschicht hin gerichteten Strahlung in die Halbleiterschichtfolge zurückreflektiert; c) Trennen der Halbleiterschichtfolge vom Substrat mittels eines Abhebe-Verfahrens, bei dem eine Trennzone in der Halbleiterschichtfolge zumindest teilweise zersetzt wird, derart, dass an der Trennfläche der Halbleiterschichtfolge, von der das Substrat abgetrennt ist, anisotrop Rückstände (20) eines Bestandteils der Trennzone, insbesondere eines metallischen Bestandteils der Trennschicht verbleiben; und d) Ätzen der mit den Rückständen versehenen Trennfläche der Halbleiterschichtfolge, bei dem die anisotropen Rückstände zumindest temporär als Ätzmaske verwendet werden.
    • 本发明涉及一种用于微结构的半导体层序列的发射辐射的表面的薄膜发光二极管芯片,包括以下步骤:a)在衬底上的半导体层序列的增长; b)形成或沉积镜层(7)在半导体层序列,其至少反映在其朝向半导体层序列中的反射镜层中的操作过程中在半导体层序列产生的辐射和一部分; c)以在其中半导体层序列中的分离区被至少部分地分解,剥离方法的手段从基底分离半导体层序列,使得在从该衬底在分离区的部件的各向异性分离残基(20)中的半导体层序列的接口 依然存在,特别是分离层的金属成分的; 以及d)蚀刻设置有半导体层序列的残基,其中,所述各向异性残基是至少暂时分离区域,作为蚀刻掩模。
    • 29. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM HERSTELLEN VON HALBLEITERCHIPS
    • 方法制造半导体芯片
    • WO2005004231A1
    • 2005-01-13
    • PCT/DE2004/001329
    • 2004-06-24
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHBRUEDERL, GeorgHAHN, BertholdHAERLE, Volker
    • BRUEDERL, GeorgHAHN, BertholdHAERLE, Volker
    • H01L21/762
    • B23K26/0057B23K26/0063B23K26/40B23K2203/172H01L21/76254H01L21/78H01L33/0079H01L33/0095
    • Verfahren zum Herstellen einer Mehrzahl von Halbleiterchips, insbesondere von strahlungsemittierenden Halbleiterchips, mit jeweils mindestens einem epitaktisch hergestellten funktionellen Halbleiterschichtstapel, das folgende Verfahrensschritte umfaßt: - Bereitstellen eines Aufwachssubstratwafers (1), der im Wesentlichen Halbleitermaterial aus einem hinsichtlich Gitterparameter gleichen oder ähnlichen Halbleitermaterialsystem umfaßt wie dasjenige, auf dem eine Halbleiterschichtenfolge für die funktionellen Halbleiterschichtstapel basiert, - Ausbilden einer parallel zu einer Hauptfläche (100) des Aufwachssubstratwafers (1) liegende Trennzone (4) im Aufwachssubstratwafer (1), - Verbinden des Aufwachssubstratwafers (1) mit einem Hilfsträgerwafer (2), - Abtrennen eines aus Sicht der Trennzone (4) vom Hilfsträgerwafer (2) abgewandten Teiles (11) des Aufwachssubstratwafers (1) entlang der Trennzone (4), - Ausbilden einer Aufwachsfläche auf dem auf dem Hilfsträgerwafer (2) verbliebenen Teil (12) des Aufwachssubstratwafers für ein nachfolgendes epitaktisches Aufwachsen einer Halbleiterschichtenfolge, - Epitaktisches Aufwachsen der Halbleiterschichtenfolge (5) auf die Aufwachsfläche, - Aufbringen eines Chipsubstratwafers auf die Halbleiter-schichtenfolge, - Abtrennen des Hilfsträgerwafers (2), und - Vereinzeln des Verbundes von Halbleiterschichtenfolge und Chipsubstratwafer (7) zu voneinander getrennten Halbleiterchips.
    • 制造多个半导体芯片,尤其是发射辐射的半导体芯片的方法,每个具有至少一个外延制造功能性半导体层堆叠,其包括以下步骤: - 提供在生长衬底晶片(1),其基本上半导体材料包括关于晶格参数等于或类似的半导体材料系统,例如该 在其上的功能性半导体层堆叠中的半导体层序列基于, - 形成平行于生长衬底晶片的主表面(100)(1)位于分离区(4)在生长衬底(1), - 将所述生长衬底晶片(1)与辅助载体晶片(2) - 从视图从所述载体晶片的分离区(4)的分离(2)的面向远离生长基底晶片的部分(11)(1)沿着所述分离区(4), - 残留在基座晶片上形成在生长表面(2) 烯用于半导体层序列的随后的外延生长中,生长衬底晶片的部分(12) - 外延生长半导体层序列(5)在生长表面上, - 将芯片衬底晶片的半导体层序列, - 分离所述基座晶片(2),以及 - 分离复合 半导体层序列和芯片衬底晶片(7),以在半导体芯片分离。