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    • 1. 发明专利
    • 接合基板及其製造方法與使用了此接合基板的表面聲波裝置
    • 接合基板及其制造方法与使用了此接合基板的表面声波设备
    • TW201722074A
    • 2017-06-16
    • TW105130380
    • 2016-09-21
    • 信越化學工業股份有限公司SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.
    • 丹野雅行TANNO, MASAYUKI加藤公二KATO, KOJI桑原由則KUWABARA, YOSHINORI
    • H03H9/25
    • H03H9/25
    • 本發明的目的在於提供一種溫度特性優良,抑制了在接合界面的彈性波的反射造成的不需要的響應的Q大,翹曲小的接合基板。本發明的特徵為在於,將LiTaO3基板和基礎基板接合而構成,該LiTaO3基板的和基礎基板結合的接合面上的Li濃度比該接合基板的LiTaO3基板側表面的Li濃度還要大。另外,LiTaO3基板的和基礎基板結合的接合面上的Li濃度和所述接合基板的LiTaO3基板側表面的Li濃度的差為0.1mol%以上為優選。進一步,LiTaO3基板的和基礎基板結合的接合面上的Li濃度為Li/(Li+Ta)×100=(50+α)mol%,α為-1.2<α<0.5的範圍,接合基板的LiTaO3基板側表面的Li濃度為Li/(Li+Ta)×100=(48.5+β)mol%,β為-0.5<β<0.5的範圍,從LiTaO3基板和基礎基板的接合界面到LiTaO3基板側的表面的厚度比表面聲波或者洩露表面聲波的波長的5倍還要大,但是比20倍要小為優選。
    • 本发明的目的在于提供一种温度特性优良,抑制了在接合界面的弹性波的反射造成的不需要的响应的Q大,翘曲小的接合基板。本发明的特征为在于,将LiTaO3基板和基础基板接合而构成,该LiTaO3基板的和基础基板结合的接合面上的Li浓度比该接合基板的LiTaO3基板侧表面的Li浓度还要大。另外,LiTaO3基板的和基础基板结合的接合面上的Li浓度和所述接合基板的LiTaO3基板侧表面的Li浓度的差为0.1mol%以上为优选。进一步,LiTaO3基板的和基础基板结合的接合面上的Li浓度为Li/(Li+Ta)×100=(50+α)mol%,α为-1.2<α<0.5的范围,接合基板的LiTaO3基板侧表面的Li浓度为Li/(Li+Ta)×100=(48.5+β)mol%,β为-0.5<β<0.5的范围,从LiTaO3基板和基础基板的接合界面到LiTaO3基板侧的表面的厚度比表面声波或者泄露表面声波的波长的5倍还要大,但是比20倍要小为优选。
    • 6. 发明专利
    • 複合基板及複合基板之製造方法
    • 复合基板及复合基板之制造方法
    • TW201733175A
    • 2017-09-16
    • TW106102981
    • 2017-01-25
    • 信越化學工業股份有限公司SHIN-ETSU CHEMICAL CO., LTD.
    • 秋山昌次AKIYAMA, SHOJI丹野雅行TANNO, MASAYUKI
    • H01L41/08H01L41/18H01L41/22
    • 本發明係一種複合基板及複合基板之製造方法,其課題為提供可在壓電材料層與支持基板之貼合中得到充分之接合強度的複合基板及複合基板之製造方法。解決手段為本發明係具備:將第1元素作為主成分之單結晶支持基板,和加以設置於單結晶支持基板上,將第2元素(除了氧以外)作為主成分之氧化物單結晶層,和加以設置於單結晶支持基板與氧化物單結晶層之間,包含第1元素,第2元素及Ar之非晶質層的複合基板,其特徵為非晶質層係具有:第1元素的比例則成為較第2元素的比例為高之第1非晶質範圍,和第2元素的比例則成為較第1元素的比例為高之第2非晶質範圍,而含於第1非晶質範圍之Ar的濃度係較含於第2非晶質範圍之Ar的濃度為高,且為3原子%以上者。
    • 本发明系一种复合基板及复合基板之制造方法,其课题为提供可在压电材料层与支持基板之贴合中得到充分之接合强度的复合基板及复合基板之制造方法。解决手段为本发明系具备:将第1元素作为主成分之单结晶支持基板,和加以设置於单结晶支持基板上,将第2元素(除了氧以外)作为主成分之氧化物单结晶层,和加以设置於单结晶支持基板与氧化物单结晶层之间,包含第1元素,第2元素及Ar之非晶质层的复合基板,其特征为非晶质层系具有:第1元素的比例则成为较第2元素的比例为高之第1非晶质范围,和第2元素的比例则成为较第1元素的比例为高之第2非晶质范围,而含于第1非晶质范围之Ar的浓度系较含于第2非晶质范围之Ar的浓度为高,且为3原子%以上者。