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热词
    • 2. 发明授权
    • 노광 장치 및 이를 이용한 디바이스 제조 방법
    • 曝光装置和装置制造方法
    • KR101810327B1
    • 2017-12-18
    • KR1020160102354
    • 2016-08-11
    • 캐논 가부시끼가이샤
    • 스즈키아츠시히라노신이치
    • H01L21/027G03F7/20
    • G03F7/70191G03F7/70066G03F7/7015G03F7/7085
    • 본발명의노광장치는, 기판면에공액인면에배치되고, 상기기판상의원형경계선외측의외주영역에광이입사하지않도록광을차단하는차광판과; 상기차광판을상기조명계의광축에평행한축을중심으로회전구동시키는제1 구동유닛과; 상기차광판을상기광축에수직인면 내에서직선구동시키는제2 구동유닛과; 차광위치를검출하는검출유닛과; 기준시점에서의차광위치와, 상기기준시점후에상기차광판이변경된경우상기차광판의변경전후의차광위치를저장하고, 상기차광판이변경된후의임의의시점에서상기검출유닛에의해검출되는차광위치와, 상기기준시점에서의차광위치와, 상기차광판이변경되기전후의차광위치사이의차분에기초하여, 상기차광위치의변화량을산출하는제어유닛을포함한다.
    • 本发明的曝光设备包括:遮光板,设置在基板表面的共轭表面上并遮挡光线,使得光线不进入基板上的圆形边界线外部的外围区域; 第一驱动单元,用于围绕与照明系统的光轴平行的轴旋转地驱动遮光板; 第二驱动单元,用于在垂直于光轴的平面内线性驱动遮光板; 检测单元,用于检测阴影位置; 标准如果eseoui遮蔽位置的时间点,其中,所述遮光板之前,并且其中所述屏蔽板由所述检测部在改变位置之后的特定时间检测到的遮光板和阴影的变化之后存储的遮光位置的基​​准时间点之后改变,并且参考 eseoui基于遮光位置之间的差时,屏蔽板之前改变和遮光位置时,在光阻挡位置计算的变化量的控制单元之后。
    • 3. 发明授权
    • 간섭계, 리소그래피 장치, 및 물품 제조 방법
    • 干涉仪,光刻设备和物品制造方法
    • KR101790830B1
    • 2017-10-26
    • KR1020140088285
    • 2014-07-14
    • 캐논 가부시끼가이샤
    • 야마구치와타루마츠모토다카히로이나히데키
    • G03F9/00G01B9/02G01B11/06H01L21/66
    • G03F9/7034G01B9/0209G01B11/0675G03F7/7085G03F9/7049
    • 본발명의간섭계는, 광원으로부터의광을분할하고, 참조광과측정광을합성하여, 간섭광을생성하도록구성된광학계와; 상기광학계에의해서생성된상기간섭광을검출하도록구성된검출기와; 상기검출기가상기광원으로부터의광을검출하기전에상기광원으로부터의광에대해공간가간섭을부여하도록구성된광학부재를포함한다. 상기광학부재는, 상기광학부재상으로입사되는광의빔의단면과, 상기광학계에의해서분할되기전의상기광원으로부터의광, 상기참조광, 상기측정광및 상기간섭광의광로를포함하는평면의교차선의방향으로서제공되는제2 방향으로, 상기평면에수직한제1 방향보다큰 공간가간섭을부여한다.
    • 本发明的干涉仪,由分割光从一光源,与参照光并测定光,被配置成产生干涉光的光学系统相结合; 检测器,被配置为检测由光学系统产生的干涉光; 以及光学构件,其构造成在检测器检测到来自光源的光之前对来自光源的光施加空间虚拟干涉。 所述光学部件包括所述光束的横截面的平面,其是在光学部件上入射,包括光,参考光和测量光与来自光源的干涉光路之前,通过光学系统分割的交叉线方向 在第二方向上,该第二方向被设置为垂直于该平面的第一方向。