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    • 52. 发明公开
    • 반도체 발광소자의 제조 방법
    • 制造半导体发光器件的方法
    • KR1020170048615A
    • 2017-05-08
    • KR1020177011398
    • 2013-07-03
    • 에피스타 코포레이션
    • 린준-위니징-화이전이-밍슈추치에츄신치루치치앙린징-페이
    • H01L25/075H01L33/00H01L33/20H01L33/38
    • H01L33/0025H01L21/00H01L25/0753H01L33/0062H01L33/0079H01L33/0095H01L33/22H01L33/382H01L33/387H01L33/46H01L33/62H01L2924/0002H01L2924/00H01L33/20
    • 반도체발광소자제조방법및 반도체발광소자에있어서, 상기방법은제1 기판(20)을제공하는단계; 반도체외연적층(110)을제공하는단계; 제1 기판(20) 및반도체외연적층(110)을접착하는제1 접착층(135)을제공하는단계; 반도체외연적층(110)을복수의외연유닛으로패턴화하여제1 기판(20)으로부터서로분리시키는단계; 표면을갖는제2 기판(30)을제공하는단계; 상기복수의제2 외연유닛을제2 기판(30)의표면으로전이시키는단계; 복수의제1 반도체발광소자를형성하도록제1 기판(20)을절단하고복수의제2 반도체발광소자를형성하도록제2 기판(30)을절단하는단계를포함한다. 복수의외연유닛은복수의제1 외연유닛(201)과복수의제2 외연유닛(202)을포함한다. 각각의제1 외연유닛(201)은제1 기하형상및 제1 면적을가지고, 각각의제2 외연유닛(202)은제2 기하형상및 제2 면적을가진다. 제1 기하형상과제2 기하형상이서로다르거나또는제1 면적과제2 면적이서로다르다.
    • 一种制造半导体发光器件和半导体发光器件的方法,该方法包括:提供第一衬底(20);提供第二衬底(20)。 提供半导体外层叠层(110); 提供第一粘合层(135)以粘合第一基板(20)和半导体外层压板(110); 将半导体外层叠层(110)图案化成多个外部单元并将它们与第一衬底(20)分离; 提供具有表面的第二基板(30); 将所述多个第二外部单元转移到第二基板(30)的表面; 切割第一基板20以形成多个第一半导体发光元件并切割第二基板30以形成多个第二半导体发光元件。 多个外部单元包括多个第一外部单元(201)和多个第二外部单元(202)。 每个第一外部单元201具有第一几何形状和第一区域,并且每个第二外部单元202具有第二几何形状和第二区域。 第一个几何项目2几何不同或第一个区域项目2的面积不同。
    • 53. 发明公开
    • MOCVD 반응공정을 개선하는 공정 부품 및 그 방법
    • 工艺组件和改进MOCVD反应过程的方法
    • KR1020160100835A
    • 2016-08-24
    • KR1020160016211
    • 2016-02-12
    • 어드밴스드 마이크로 패브리케이션 이큅먼트 인코퍼레이티드, 상하이
    • 허,시아오밍구오,쉬핑
    • H01L33/44H01L33/00H01L21/205H01L21/02H01L21/28H01L21/285
    • C30B29/406C23C16/4404C30B25/08H01L33/0062
    • 본발명은 MOCVD 반응공정을개선하는공정부품및 그방법에관한것이다. 상기개선원리는 MOCVD 반응챔버내에서스테인리스강본체상에치밀한보호막을코팅하고, 상기보호막의성분전부가 MOCVD 증착공정동안필요한가스원소의성분으로구성되거나, 또는 MOCVD 반응가스와반응하지않는성분으로구성된다. 보호막의성분은알루미늄, 갈륨, 및마그네슘중 적어도하나및 질소및 산소중 적어도하나로구성된화합물, 또는 MOCVD 공정에서가스와반응하지않는화학특성이안정한기타재료를포함한다. 상기보호막은 MOCVD 공정에서반응가스와반응하지않거나, MOCVD 반응챔버에오염물질을증가하지않으므로, MOCVD 생산공정의초기화시간을단축하고, MOCVD 설비의생산효율을향상시킨다. 보호막은공극률이 1% 미만인치밀한조직을갖고, 보호막의두께는 1㎚-0.5㎜이다.
    • 本发明涉及一种改进MOCVD反应过程的方法组分和方法。 改进的原理是在MOCVD反应室中涂覆紧密保护膜的不锈钢体,其中紧密保护膜的整个组成由MOCVD沉积过程中所需的气体元素或不与 MOCVD反应气体。 保护膜的组成包括由Al,Ga和Mg中的至少一种以及氧和氮中的至少一种构成的化合物,或者与MOCVD工艺中的气体不反应的具有稳定化学特性的其它材料。 保护膜不会与MOCVD工艺中的反应气体反应或MOCVD反应室中的污染物不增加。 因此,降低MOCVD工艺的初始化时间,提高MOCVD设备的生产效率。 保护膜具有紧凑的质感,孔隙率小于1%,保护膜的厚度为1nm至0.5mm。
    • 57. 发明公开
    • 반도체 발광 소자 및 그 제조 방법
    • 半导体发光器件及其制造方法
    • KR1020140017443A
    • 2014-02-11
    • KR1020130090603
    • 2013-07-31
    • 가부시끼가이샤 도시바
    • 기무라시게야나고하지메다치바나고이치누노우에신야
    • H01L33/06H01L33/04
    • H01L33/32H01L33/0062H01L33/0075H01L33/06
    • A semiconductor light emitting element according to one embodiment of the present invention includes a first semiconductor layer, a second semiconductor layer, and a light emitting layer. The second semiconductor layer is provided in the [0001] direction of the first semiconductor layer. The light emitting layer includes a first well layer, a second well layer, and a first barrier layer. The In composition ratio of the first barrier layer is lower than the composition ratios of the first well layer and the second well layer. The first barrier layer includes a first part and a second part. The second part includes a first region and a second region. The first region includes a first In composition ratio which is higher than the In composition ratio of the first part. The second region is provided between the first region and the first well layer. The second region has a second In composition ratio which is lower than the first In composition ratio.
    • 根据本发明的一个实施例的半导体发光元件包括第一半导体层,第二半导体层和发光层。 第二半导体层设置在第一半导体层的[0001]方向上。 发光层包括第一阱层,第二阱层和第一势垒层。 第一阻挡层的In组成比低于第一阱层和第二阱层的组成比。 第一阻挡层包括第一部分和第二部分。 第二部分包括第一区域和第二区域。 第一区域包括高于第一部分的In组成比的第一In组成比。 第二区域设置在第一区域和第一阱层之间。 第二区域具有低于第一In组成比的第二In组成比。