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11. 发明授权

KR101009375B1 반도체 집적 회로 및 그 제어 방법, 및 정보 처리 장치 失效
标题翻译：半导体集成电路及其控制方法及信息处理装置
公开(公告)号：KR101009375B1
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：KR1020090041976
申请日：2009-05-14
申请人： 후지쯔 가부시끼가이샤
发明人： 야마모토다카시 , 이시즈카다카하루 , 우에키도시카즈 , 오와키다케시 , 모로사와아츠시
IPC分类号： G11C7/00 , G11C11/413
CPC分类号： G01R31/31708 , G01R31/3004 , G01R31/31721
摘要： 본 발명은 반도체 집적 회로의 데이터 에러 발생시에서의 데이터 패턴 및 전원 노이즈, 및 데이터 패턴과 전원 노이즈의 상관 관계를 해석 가능하게 하는 것을 과제로 한다.
반도체 집적 회로(200)는, 연산 처리 장치에 버스를 통해 접속되는 회로 블록(210)과, 회로 블록을 동작시키는 전원에 생기는 전원 노이즈를 아날로그 신호에서 디지털 신호로 변환함으로써 전원 노이즈 데이터 신호를 생성하는 전원 노이즈 데이터 신호 생성 수단(220, 230, 231, 232)과, 회로 블록으로부터 버스에 출력되는 데이터의 에러를 검출하는 에러 검출 수단(260)과, 전원 노이즈 데이터 신호에 의거하는 전원 노이즈 정보와 버스상의 데이터를 서로 대응시켜 기억 수단(280)에 기입하는 동시에, 에러 검출 수단에 의해 에러가 검출된 타이밍에 따라, 기억 수단에 기입하는 것을 정지하는 기입 제어 수단(250)을 구비한다.
반도체 집적 회로, 전원 노이즈, 데이터 에러, 데이터 패턴

12. 发明公开

KR1020090065311A 클럭 지터 발생 장치 및 이를 포함하는 시험 장치 失效
标题翻译：用于产生具有抖动和测试装置的时钟信号的装置
公开(公告)号：KR1020090065311A
公开(公告)日：2009-06-22
申请号：KR1020070132802
申请日：2007-12-17
申请人： 한국전자통신연구원
发明人： 유봉국 , 김은태 , 김형중 , 조권도
IPC分类号： H03L7/00
CPC分类号： G01R31/31708 , H03L7/099 , H03L2207/06
摘要： A device for generating a clock jitter and a testing device including the same are provided to reduce manufacturing cost and complexity by generating a clock signal including a jitter. A waveform generator(110) reproduces a predetermined waveform. The waveform generator generates an arbitrary waveform by converting various waveforms. The waveform generator sets amplitude and frequency of an output waveform. A power source circuit part(120) outputs a DC power source. The power source signal outputted from the power source circuit part is added to an output waveform of the waveform generator. The added result is inputted to a PLL(Phase Locked Loop) circuit part(130) as a power source. The PLL circuit part makes frequency of an inputted reference signal(170) and oscillation signal(180) identical. The PLL circuit part includes a phase comparator(140), a loop filter(150), and a voltage-controlled crystal oscillator(160).
摘要翻译：提供了用于产生时钟抖动的装置和包括其的测试装置，以通过产生包括抖动的时钟信号来降低制造成本和复杂性。波形发生器（110）再现预定波形。波形发生器通过转换各种波形来产生任意波形。波形发生器设置输出波形的幅度和频率。电源电路部（120）输出直流电源。从电源电路部分输出的电源信号加到波形发生器的输出波形上。相加的结果被输入到作为电源的PLL（锁相环）电路部分（130）。 PLL电路部分使输入的参考信号（170）和振荡信号（180）的频率相同。 PLL电路部分包括相位比较器（140），环路滤波器（150）和压控晶体振荡器（160）。

13. 发明授权

KR100780941B1 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를사용하는 자동 테스트 시스템 失效
标题翻译：能够进行噪声注入的高速测试数据生成器和使用它的自动测试系统
公开(公告)号：KR100780941B1
公开(公告)日：2007-12-03
申请号：KR1020050078044
申请日：2005-08-24
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 장진모 , 김영부 , 유두식 , 안병욱
IPC分类号： G01R31/3183
CPC分类号： G01R31/31713 , G01R31/30 , G01R31/31708
摘要： 고속 인터페이스 기능블록을 테스트하는데 사용되는 고속의 테스트 신호에, 적절한 잡음을 선택적으로 주입할 수 있는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를 사용하는 자동 테스트 시스템을 개시한다. 상기 고속 테스트데이터 발생기는, 병렬로 인가되는 저속의 테스트 데이터 신호를 결합하여 고속의 제1테스트입력신호 및 제2테스트입력신호를 생성하는 HSI(High Speed Interface) 샘플데이터 생성기와, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 상기 제1테스트입력신호에 잡음을 인가하여 제1테스트잡음신호를 생성하는 제1잡음주입블록 및 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 상기 제2테스트입력신호에 잡음을 인가하여 제2테스트잡음신호를 생성하는 제2잡음주입블록을 구비하며, 상기 제1잡음주입블록은 상기 제1테스트입력신호에 지터잡음 및/또는 전압잡음을 주입하며, 상기 제2잡음주입블록은 제2테스트잡음신호에 지터잡음 및/또는 전압잡음을 주입하는 것을 특징으로 한다.
摘要翻译：能够进行噪声注入的速度测试数据生成器以及使用该速度测试数据生成器的自动测试系统能够将适当的噪声选择性地注入到用于测试高速接口功能块的高速测试信号中。高速测试数据产生器，通过所述测试数据信号从低速组合以并行地施加到第一测试输入信号和（高速接口）HSI至2的高速产生测试输入信号样本数据发生器和至少一个噪声响应于响应于第一噪声注入块以及用于产生第一测试噪声信号中的噪声的噪声控制信号中的至少一个施加至所述测试输入信号中的噪声，第一控制信号施加所述第二测试输入信号以及用于产生第二测试噪声信号的第二噪声注入模块，其中第一噪声注入模块将抖动噪声和/或电压噪声注入到第一测试输入信号中， 2个抖动噪声和/或电压噪声进入测试噪声信号。

14. 发明公开

KR1020070023457A 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를사용하는 자동 테스트 시스템 失效
标题翻译：能够插入噪声的高速测试数据发生器及使用其的自动测试系统
公开(公告)号：KR1020070023457A
公开(公告)日：2007-02-28
申请号：KR1020050078044
申请日：2005-08-24
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 장진모 , 김영부 , 유두식 , 안병욱
IPC分类号： G01R31/3183
CPC分类号： G01R31/31713 , G01R31/30 , G01R31/31708
摘要： 고속 인터페이스 기능블록을 테스트하는데 사용되는 고속의 테스트 신호에, 적절한 잡음을 선택적으로 주입할 수 있는 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기 및 이를 사용하는 자동 테스트 시스템을 개시한다. 상기 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 제1잡음주입블록 및 제2잡음주입블록을 구비한다. 상기 제1잡음주입블록은, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제1테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가하여 제1테스트잡음신호를 생성한다. 상기 제2잡음주입블록은, 적어도 1개의 잡음제어신호에 응답하여 제2테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가하여 제2테스트잡음신호를 생성한다. 여기서, 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호는 위상이 서로 반대되는 직렬 디지털신호이다. 상기 자동 테스트 시스템은, HSI 샘플 데이터 생성기 및 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기를 구비한다. 상기 HSI 샘플 데이터 생성기는, 수신한 저속의 병렬 테스트데이터를 직렬로 결합하여 고속의 제1테스트입력신호 및 제2테스트입력신호를 생성한다. 잡음주입이 가능한 고속 테스트데이터 발생기는, 상기 제1테스트입력신호 및 상기 제2테스트입력신호에 소정의 잡음을 인가한 제1테스트잡음신호 및 제2테스트잡음신호를 생성한다.

15. 发明授权

KR100641706B1 온칩 셀프 테스트 회로 및 신호 왜곡 셀프 테스트 방법 失效
标题翻译：芯片自检测电路和自检信号失真测试方法
公开(公告)号：KR100641706B1
公开(公告)日：2006-11-03
申请号：KR1020040088841
申请日：2004-11-03
申请人： 에스케이하이닉스 주식회사
发明人： 김경훈
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G01R31/31708 , G01R31/3187 , G11C29/02 , G11C29/023 , G11C29/028 , G11C29/12015 , G11C29/40 , G11C29/50 , G11C29/50012
摘要： 본 발명은 외부 측정장비없이 칩 내에서 자체적으로 출력 신호의 유효성을 측정할 수 있는 테스트 회로를 제공함을 그 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 온칩 테스트 회로는, 테스트 대상 신호를 입력받기 위한 테스트 부하 블록; 및 상기 테스트 부하 블록을 경유한 테스트 대상 신호를 입력받아 허용오차 이내인가 여부를 판단하는 셀프 테스트 블록을 포함하는 것을 특징으로 한다.
출력 신호가 왜곡되는 정도가 허용오차 이내인가를 판단하기 위한 온칩 셀프 테스트 회로를 내장한 반도체 소자를 실시함에 의해 별도의 고가의 외부 측정장비의 보조없이 소자에서 출력되는 신호의 유효성을 측정할 수 있는 효과가 있는데, 특히, 이 효과는 패키징 이전에 테스트가 실시되어야 하는 경우에 간단하게 테스트를 수행할 수 있어, 종래기술과 비교할 때 상당한 테스트 비용 절감효과를 가져온다.
온칩 테스트, 셀프 테스트, 신호 왜곡, 신호 지연, 테스트 로드

16. 发明公开

KR1020060039655A 온칩 셀프 테스트 회로 및 신호 왜곡 셀프 테스트 방법 失效
标题翻译：片上自检电路和信号失真自检方法
公开(公告)号：KR1020060039655A
公开(公告)日：2006-05-09
申请号：KR1020040088841
申请日：2004-11-03
申请人： 에스케이하이닉스 주식회사
发明人： 김경훈
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G01R31/31708 , G01R31/3187 , G11C29/02 , G11C29/023 , G11C29/028 , G11C29/12015 , G11C29/40 , G11C29/50 , G11C29/50012 , G01R31/31713 , G01R31/3177
摘要： An on-chip self test circuit implemented on the same chip as a test semiconductor device includes: a test load block for receiving a test target signal; and a self test block for receiving a test target signal passing through the test load block and a test target signal inputted to an output driver together, and determining whether a change of the test target signal is within an allowable range.
摘要翻译：本发明的目的是提供一种测试电路，其能够在没有外部测量仪器的情况下在芯片中测量输出信号本身的有效性。

17. 发明公开

KR1020060017530A 네트워크 분석 장치 및 방법 无效
标题翻译：网络分析方法和网络分析设备
公开(公告)号：KR1020060017530A
公开(公告)日：2006-02-23
申请号：KR1020057023114
申请日：2004-06-03
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 하라다고지
IPC分类号： G01R27/28 , G01R23/16 , H04B17/00
CPC分类号： G01R31/2839 , G01R31/2822 , G01R31/31708 , H04L1/242 , H04L25/0212 , H04L25/0238
摘要： A network analyzing apparatus (100) and method for analyzing the network properties of a device under test (20) to which modulated signals are applied including modulating data contained in output signals (10) of the device under test (20), generating modulated signals (140) based on demodulated data and setting data supplied in advance, outputting the modulated signals as reference signals, and analyzing (150) the network properties of the device under test (20) by comparing or referencing the output signals of the device under test and these reference signals.
摘要翻译：一种用于分析被测设备（20）的网络特性的网络分析装置（100）和方法，所述被测设备施加包括在被测设备（20）的输出信号（10）中的调制信号，生成调制信号（140），基于解调数据和预先提供的设置数据，输出调制信号作为参考信号，并通过比较或参考被测器件的输出信号来分析（150）被测器件（20）的网络特性和这些参考信号。

18. 发明授权

KR101794139B1 반도체 테스트를 위한 클럭 동기 회로 시스템 有权
公开(公告)号：KR101794139B1
公开(公告)日：2017-11-06
申请号：KR1020160056908
申请日：2016-05-10
申请人： 주식회사 엑시콘
发明人： 허영기 , 신종경 , 이창원 , 방두환
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/317
CPC分类号： G01R31/2884 , G01R31/2856 , G01R31/2882 , G01R31/31708 , G01R31/31726
摘要： 본발명은피검사디바이스를테스트하기위한테스트장치내부에장착되어테스트장치내부의복수개의인스트루먼트보드들에동기화된 클럭신호를제공하는클럭동기회로시스템에관한것으로서복수개의인스트루먼트보드들각각에주파수변환기를실장하여클럭동기회로시스템의제작비용을줄일수 있다.

19. 发明公开

KR1020170028769A 반도체장치 및 반도체시스템 审中-实审
标题翻译：半导体器件和半导体系统
公开(公告)号：KR1020170028769A
公开(公告)日：2017-03-14
申请号：KR1020150125805
申请日：2015-09-04
申请人： 에스케이하이닉스 주식회사
发明人： 김정현
IPC分类号： G11C29/12 , G11C29/48
CPC分类号： H01L27/0207 , G01R31/31708 , G01R31/31715 , H01L27/11582 , H01L28/00
摘要： 반도체시스템은외부커맨드및 터미네이션제어신호를출력하고, 데이터신호를입력받는제1 반도체장치; 및상기외부커맨드및 상기터미네이션제어신호에응답하여터미네이션인에이블신호를생성하고, 상기터미네이션인에이블신호에응답하여풀업신호를생성하며, 상기터미네이션인에이블신호및 테스트모드신호에응답하여풀다운신호를생성하는제2 반도체장치를포함한다.
摘要翻译：半导体系统包括适于输出外部命令和终止控制信号并被输入数据信号的第一半导体器件; 以及第二半导体器件，适于响应于所述外部命令和所述终止控制信号产生终止使能信号，响应于所述终止使能信号产生上拉信号，以及响应于所述终止产生下拉信号使能信号和测试模式信号。

20. 发明公开

KR1020090115864A 신호 측정 장치 및 시험 장치 失效
标题翻译：信号测量装置和测试装置
公开(公告)号：KR1020090115864A
公开(公告)日：2009-11-09
申请号：KR1020097018331
申请日：2008-03-04
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 바바,타다히코 , 오하시,마사토시
IPC分类号： G11C7/10 , G11C29/00 , G11C7/22 , G11C8/00
CPC分类号： G01R31/31937 , G01R31/31708 , G01R31/31922 , G11C29/023 , G11C7/22 , G11C29/025
摘要： Provided is a signal measuring apparatus for measuring a first input signal and a second input signal. The signal measuring apparatus is provided with a first measuring section for measuring the first input signal in a plurality of strobe timings arranged in each measurement cycle; a second measuring section for measuring the second input signal in a plurality of strobe timings arranged in each measurement cycle; and a phase difference calculating section for calculating a phase difference between the first input signal and the second input signal in each measurement cycle, based on the measurement results obtained by the first measuring section and the second measuring section; and a distribution generating section for generating distribution information of the phase difference calculated by the phase difference calculating section in each measurement cycle.
摘要翻译：提供了一种用于测量第一输入信号和第二输入信号的信号测量装置。该信号测量装置设置有第一测量部分，用于在每个测量周期中布置的多个选通定时中测量第一输入信号; 第二测量部分，用于在每个测量循环中布置的多个选通定时中测量第二输入信号; 以及相位差计算部，其基于由所述第一测量部和所述第二测量部获得的测量结果，计算每个测量周期中的所述第一输入信号和所述第二输入信号之间的相位差; 以及分配生成部，用于在各测量周期中生成由相位差计算部计算出的相位差的分布信息。

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