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1. 发明公开

KR1020170084334A 화학적 변형을 갖는 가이드 RNA 审中-实审
标题翻译：指导RNA与化学修饰
公开(公告)号：KR1020170084334A
公开(公告)日：2017-07-19
申请号：KR1020177018311
申请日：2015-12-03
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 라이언다니엘이 , 델링저더글라스제이 , 샘슨제프리알 , 카이저로버트 , 마이어슨조엘
IPC分类号： C12N15/113 , C12N15/90 , C12N9/22 , C12Q1/68
CPC分类号： C12N15/111 , C07H21/02 , C12N9/22 , C12N15/113 , C12N15/907 , C12N2310/10 , C12N2310/20 , C12N2310/312 , C12N2310/315 , C12N2310/321 , C12N2310/322 , C12N2310/323 , C12N2310/3231 , C12N2310/333 , C12N2310/335 , C12N2310/346 , C12N2310/3517 , C12N2310/531 , C12N2320/51 , C12N2320/53 , C12N2330/31 , C12Q1/6876 , C12N2310/3521 , C12N2310/3533
摘要： 본발명은변형된가이드 RNA, 및간헐적으로반복되는회문구조염기서열집합체(크리스퍼)/크리스퍼-결합된(Cas) 시스템에서의그의용도에관한것이다.
摘要翻译：本发明涉及修饰的指导性RNA及其在间歇性重复假性序列聚类（Crisper）/ Crisper-linked（Cas）系统中的用途。

2. 发明授权

KR100930784B1 집적 회로 테스트 방법 및 집적 회로 失效
标题翻译： 집적회로테스트방법및집적회로
公开(公告)号：KR100930784B1
公开(公告)日：2009-12-09
申请号：KR1020030034052
申请日：2003-05-28
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크. , 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드
发明人： 릭키스쥬겐티 , 맥아담스휴피 , 그레이스제임스더블유 , 퐁존와이 , 랜함랄프에이치
IPC分类号： G11C11/22
CPC分类号： G11C29/028 , G11C11/22 , G11C29/12005 , G11C29/50 , G11C29/50016 , G11C2029/2602 , G11C2029/5002
摘要： A method and circuit for measuring a charge distribution for readout from FeRAM cells is fast enough for an on-chip defect detection and parameter adjustment. A comparator-type sense amplifier and a reference voltage generator measure a bit line charge or voltage using one readout of charge from an FeRAM cell and comparisons of the resulting bit line voltage to a series of reference voltages. A series of result signals from the sense amplifier indicates when the bit line voltage is approximately equal to the reference voltage. The results signals can be output for analysis and/or used internally for defect detection or setting of operating parameters such as a reference used during read operations.
摘要翻译：测量用于从FeRAM单元读出的电荷分布的方法和电路对于片上缺陷检测和参数调整来说足够快。比较器型读出放大器和参考电压发生器使用来自FeRAM单元的一个电荷读数来读取位线电荷或电压，并将得到的位线电压与一系列参考电压进行比较。来自读出放大器的一系列结果信号指示位线电压何时近似等于参考电压。结果信号可以输出用于分析和/或在内部用于缺陷检测或设置操作参数，例如在读取操作期间使用的参考。

3. 发明授权

KR100880109B1 내장된 강유전성 소자의 제조공정을 위한 오염 제어법 失效
标题翻译：嵌入式微波器件制造工艺的污染控制
公开(公告)号：KR100880109B1
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：KR1020020046627
申请日：2002-08-07
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 길버트스티븐알 , 허드트레이스큐 , 미카리미라우라더블유 , 서머펠트스코트 , 콜롬보루이지
IPC分类号： H01L27/105
CPC分类号： H01L21/6708 , H01L21/31122 , H01L21/32136 , H01L27/0805 , H01L27/11502 , H01L28/55
摘要： 본 발명은 표준 CMOS 제조 공정에 부적합한 강유전성 소자 오염 물질(예를 들어, Pb, Zr, Ti 및 Ir)이 엄격히 제어되는 강유전성 소자의 제조방법에 관한 것이다. 특히, 강유전성 소자가 형성된 후 기판의 후측 및 가장자리 표면으로부터 부적합한 물질을 제거하기 위한 특수한 에칭 화학물질이 개발되었다. 또한, 에칭이 곤란한 오염물질(예를 들어, Ir)의 제거를 보조하기 위해, 기판의 하부 표면 및 가장자리 표면(및, 일부 양태에서는, 전면 가장자리 이외의 영역 표면) 위에 희생층을 배치할 수 있다. 이러한 방식으로 상기 강유전성 소자의 제조공정을 표준 반도체 제조 공정과 통합할 수 있고, 이로 인해 강유전성 소자가 겸용 장비(예를 들어, 스테퍼, 계측 기구 등)를 통해 상호 오염될 실질적인 위험 없이 반도체 집적 회로와 함께 형성될 수 있다.

4. 发明公开

KR1020080039216A 파형 데이터 발생기, 파형 발생기 및 반도체 시험 장치 无效
标题翻译：波形数据发生器，波形发生器和半导体测试装置
公开(公告)号：KR1020080039216A
公开(公告)日：2008-05-07
申请号：KR1020070098322
申请日：2007-09-28
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 야와타겐 , 이와사키유코 , 구보야마요이시
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/2851 , G01R31/31917 , G01R31/31919 , H01L22/30
摘要： A waveform data generator, a waveform generator, and a semiconductor test apparatus are provided to generate plural wave patterns by combining plural linear waves. A waveform data generator includes a waveform memory(2126), a sequence memory(2118), a sequencer(2110), and a linear data generator(2130). The waveform memory stores waveform parameters of plural linear lines. The sequence memory stores sequence data having repeated one-period waveform made by connecting plural linear lines with each other. The sequencer reads the sequence data from the sequence memory and accesses the waveform memory, so that the one-period waveform is repeated by several times based on the sequence data. The linear data generator generates a linear wafer based on the waveform parameters from the sequencer and the waveform memory, and generates DAC(Digital to Analog Converter) data having the one-period waveform which is repeated by several times.
摘要翻译：提供波形数据发生器，波形发生器和半导体测试装置，以通过组合多个线性波来产生多个波形图案。波形数据发生器包括波形存储器（2126），序列存储器（2118），定序器（2110）和线性数据发生器（2130）。波形存储器存储多条直线的波形参数。序列存储器存储具有通过将多个线性线彼此连接而制成的重复的一个周期波形的序列数据。定序器从序列存储器中读取序列数据并访问波形存储器，使得基于序列数据重复一次周期波形数次。线性数据发生器基于来自定序器和波形存储器的波形参数生成线性晶片，并且生成具有重复几次的单周期波形的DAC（数模转换器）。

5. 发明公开

KR1020070066916A 액정 디스플레이 패널의 테스트 방법, 제조 방법 및 테스트장비 无效
标题翻译：用于测试液晶细胞的方法和装置
公开(公告)号：KR1020070066916A
公开(公告)日：2007-06-27
申请号：KR1020060131684
申请日：2006-12-21
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 미야케야스히로
IPC分类号： G02F1/13
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/3648 , G09G2330/10
摘要： A test method and a manufacturing method of an LCD(Liquid Crystal Display) panel and a test apparatus thereof are provided to detect a defect between opposite electrodes through the irregularity within dielectric capacitance, thereby discriminating the defect electrically. A panel(200) includes pixels arranged with a matrix shape. The pixel includes a liquid crystal device having the liquid crystal materials sealed between opposite electrodes. Charges are supplied to the liquid crystal device of a pixel(230) under test so that a test of an LCD panel is performed. The charges are discharged from the charged liquid crystal device and thereafter the discharged charge amount is measured. The existence of a defect within the liquid crystal device of the pixel under test is discriminated from the measuring result. The static and dynamic characteristics of the liquid crystal display are discriminated.
摘要翻译：提供了一种LCD（液晶显示器）面板及其测试装置的测试方法和制造方法，用于通过介电电容内的不规则性来检测相对电极之间的缺陷，从而电缺陷。面板（200）包括以矩阵形状排列的像素。像素包括具有密封在相对电极之间的液晶材料的液晶装置。对被测试的像素（230）的液晶装置提供充电，从而进行LCD面板的测试。从充电的液晶装置中排出电荷，之后测量放电电荷量。从测量结果来区分被测像素的液晶装置内的缺陷的存在。鉴别液晶显示器的静态和动态特性。

6. 发明公开

KR1020060111392A 프로브 카드 접속용 인터페이스, 반도체 테스트 장치,테스트 헤드와 프로브 카드의 접속 및 접속 해제 방법 无效
标题翻译：使用相同的接口和半导体测试装置
公开(公告)号：KR1020060111392A
公开(公告)日：2006-10-27
申请号：KR1020060035900
申请日：2006-04-20
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 고토아키히코
IPC分类号： H01L21/02 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2889
摘要： An interface for a probe card connection, equipment for testing a semiconductor thereof are provided to connect/disconnect easily the test head and the probe card using a pair of coaxial connectors. An interface(100) is installed on a test head(13) in order to connect a probe card(10) to the test head. The interface for probe card connection includes a interface main body(1), a male coaxial connector and a pressure units. The interface main body supports the male coaxial connector(2). When connecting the male coaxial connector to a female coaxial connector(15), the pressure units(3) add a pressure to the probe card to a disconnection direction of the coaxial connectors.
摘要翻译：提供用于探针卡连接的接口，用于测试其半导体的设备，以便使用一对同轴连接器容易地连接/断开测试头和探针卡。接口（100）安装在测试头（13）上，以将探针卡（10）连接到测试头。用于探针卡连接的接口包括接口主体（1），阳同轴连接器和压力单元。接口主体支撑阳同轴连接器（2）。当将阳同轴连接器连接到母同轴连接器（15）时，压力单元（3）向探针卡增加同轴连接器的断开方向的压力。

7. 发明授权

KR100627536B1 기록 드라이버 회로 및 그 제조 방법 失效
标题翻译：用于向磁性存储介质写入信息的可编程驱动器电路
公开(公告)号：KR100627536B1
公开(公告)日：2006-09-22
申请号：KR1019990028005
申请日：1999-07-12
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 데이비스브래들리케이 , 더렌로버트엠
IPC分类号： G11B5/02
CPC分类号： G11B5/022 , G11B5/00813 , G11B5/012 , G11B5/02 , G11B5/09 , G11B2005/0013 , H03K17/6872
摘要： 본 발명은 자기 저장 매체에 정보를 기록하는 자기 판독/기록 시스템에서 사용하기 위한 기록 드라이버 회로를 제공한다. 본 발명의 제 1 실시예에 따르면, 기록 드라이버 회로(20)는 기록 드라이버 회로(20)의 공통 모드 출력 전압이 가변 및/또는 사전 선택된 값으로 설정될 수 있게 하는 가변 공통 모드 회로 구성 요소(30)를 포함한다. 본 발명의 제 2 실시예에 따르면, 기록 드라이버 회로(60)는 기록 전류 상승 시간 및 오버슈트를 최적화하기 위하여, 기록 드라이버 회로(60)의 댐핑 저항 값이 가변 및/또는 사전 선택된 값으로 설정될 수 있게 하는 가변 댐핑 저항 값 회로 구성 요소(70)를 포함한다. 본 발명의 제 3 실시예에 따르면, 기록 드라이버 회로(80)는, 기록 드라이버 회로(80)의 성능을 최적화하기 위하여, 공통 모드 출력 전압 및 댐핑 저항 값이 가변되어 사전 선택된 값으로 설정될 수 있게 하는 가변 공통 모드 회로 구성 요소(30) 및 가변 댐핑 저항 값 구성 요소(70)를 모두 포함한다. 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 비교적 고전력 기록 드라이버 회로(90)는 비교적 저전력 기록 드라이버 회로를 제조하는데 보통 사용되는 제조 공정을 사용하여 제조된다. 이러한 실시예에 따르면, 기록 드라이버 회로(90)의 전류원(75, 85, 77, 86, 83, 91, 81, 88)은 캐스코드 구조의 트랜지스터 중 임의의 트랜지스터 양단간의 전압 강하가 제조 공정의 요건에 부합하게 제한되도록, 캐스코드 구조로 직렬로 접속된 다수의 트랜지스터로 각각 구성된다.

8. 发明授权

KR100600202B1 저인덕턴스집적회로패키지 失效
标题翻译：低噪音球网阵列包
公开(公告)号：KR100600202B1
公开(公告)日：2006-09-22
申请号：KR1019980045092
申请日：1998-10-27
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 허드슨제임스씨 , 험프리타미오제이
IPC分类号： H01L23/48
CPC分类号： H01L2224/05553 , H01L2224/49171 , H01L2924/14 , H01L2924/19041 , H01L2924/30107
摘要： 볼 그리드 어레이와 같은 저인덕턴스 집적 회로 패키지(10)가 개시된다. 패키지에 장착된 집적 회로로 인한 전자기 방해(EMI)를 줄이기 위하여, 필터링 디바이스(30)가 집적회로에 공급되는 전력 루프(40) 및 접지 루프(42)중 적어도 하나에 접속된다. 바람직한 실시예에서, 다수의 필터링 커패시터(30)가 패키지의 캐비티(20)에 있거나 또는 캐비티(20) 근방에 있는 전력 루프(40)와 접지 루프(42) 사이에 접속된다.

9. 发明公开

KR1020060085208A 시퀀서 및 시퀀싱 방법 无效
标题翻译：一个热计算机代码
公开(公告)号：KR1020060085208A
公开(公告)日：2006-07-26
申请号：KR1020060006387
申请日：2006-01-20
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 우드글렌 , 리팅마이클
IPC分类号： G06F7/00
CPC分类号： G01R31/3177
摘要： 본 발명에 따른 시퀀싱 방법 및 장치는 리플식 조합의 시퀀싱 소자를 포함하는데, 각 시퀀싱 소자는 단일 리소스 싸이클에 걸쳐 디-멀티플렉싱되는 인입 데이터의 서브세트를 처리한다. 각 시퀀싱 소자는 시퀀서 카운터를 나타내는 하나의 핫 카운터 프록시를 처리한다.

10. 发明授权

KR100585543B1 프로젝션디스플레이 有权
标题翻译：投影显示器的光源
公开(公告)号：KR100585543B1
公开(公告)日：2006-07-25
申请号：KR1019980023062
申请日：1998-06-19
申请人： 애질런트 테크놀로지스, 인크.
发明人： 하이츠롤란트하
IPC分类号： H04N5/74
摘要： 본 발명은 프로젝션 디스플레이에 관한 것으로, 본 발명의 프로젝션 디스플레이는 작고 에너지 효율이 좋으며, 비교적 순수한 적, 녹 및 청색의 광원을 근거로 해서 생성할 수가 있다. 컬러 광원의 출력 광빔은 적어도 하나의 공간 광 변조기에 의해 수광된다. 공간 광 변조기에 의해 변조된 출력 광 빔은 시준되고 조합된다. 프로젝션 렌즈는 시준되고 조합된 출력 광빔을 수광하여 이를 프로젝션 스크린으로 직사시킨다. 상술한 구성 요소는 모두 하우징에 수용되어 소형 경량의 프로젝션 디스플레이를 제공하게 된다.

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