专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

KR101611355B1 적응형 샘플링 기법을 적용한 이동통신 시스템 자동측정 장치 및 방법 有权
标题翻译：自动测量装置和应用自适应采样算法的移动通信系统的方法
公开(公告)号：KR101611355B1
公开(公告)日：2016-04-26
申请号：KR1020150012037
申请日：2015-01-26
申请人： 유니트론 주식회사 , 한양대학교 산학협력단
发明人： 최병도 , 배석주
IPC分类号： G01R31/317 , G01R23/00 , G06F17/18 , H04B15/00
CPC分类号： G01R31/31708 , G06F17/18 , H04B15/00
摘要： 본발명은계측데이터간의상관관계를기반으로하나의주파수대역의계측데이터를활용하여다른주파수대의데이터를예측하거나혹은샘플링검사를통해전수검사를시행하지않더라도전체제품의품질을보증할수 있는적응형샘플링기법을적용한이동통신시스템자동측정장치및 방법에관한것이다.본발명은이동통신시스템에서선택가능한주파수대역의각 항목들에대한데이터를확인하여데이터베이스로구축하는단계와; 측정된주파수대역의항목의측정값으로미측정된주파수대역의항목들의측정값을예측하기위한회귀모형을구축하는단계와; 회귀모형에베이지안분석기법(Bayesian Analysis)을적용함으로써주파수대역의항목결과의사후분포를추정하는단계; 및검사대상의이동통신시스템중에서표본에대한주파수대역의항목별대표값을측정하여양품데이터에적합하면나머지주파수대역의항목값을회귀모형으로예측하는단계;를포함한다.
摘要翻译：本发明涉及一种自动测量具有自适应采样方案的移动通信系统的装置和方法。即使通过利用测量数据之间的相关性利用另一个频带的测量数据来预测一个频带中的数据，或者通过抽样检查不进行批次测试，也可以确保整个产品的质量。根据本发明的方法包括以下步骤：确定关于在移动通信系统中可选择的频带的每个项目的数据，以及将数据构建为数据库; 构建用于通过使用测量频带中的项目的测量值来预测非测量频带中的项目的测量值的回归模型; 通过将贝叶斯分析方案应用于回归模型，估计项目的后果分布导致频带; 以及相对于要检查的移动通信系统中的样本测量频带中的项目代表值，并且当项目代表值适合于公平的质量数据时，通过回归模型预测剩余频带中的项目值。

2. 发明授权

KR100960118B1 클럭 지터 발생 장치 및 이를 포함하는 시험 장치 失效
标题翻译：用于在其中产生具有抖动和测试装置的时钟信号的装置
公开(公告)号：KR100960118B1
公开(公告)日：2010-05-27
申请号：KR1020070132802
申请日：2007-12-17
申请人： 한국전자통신연구원
发明人： 유봉국 , 김은태 , 김형중 , 조권도
IPC分类号： H03L7/00
CPC分类号： G01R31/31708 , H03L7/099 , H03L2207/06
摘要： 본 발명은 클럭 지터 발생 장치 및 이를 포함하는 시험 장치에 관한 것이다. 본 클럭 지터 발생 장치는 기준 신호에 따라 발진 신호를 발생하는 PLL 회로부, PLL 회로부에 전원을 인가하는 전원 회로부, 및 전원 회로부의 출력 신호에 임의의 파형을 더하는 파형 발생기를 포함한다. 본 발명에 따르면, 파형 발생기에서 출력하는 임의의 파형이 더해진 신호를 PLL 회로부에 전원 신호로 인가함으로써 DAC 모듈, 및 필터 등을 포함하지 않는 간단한 구조의 클럭 지터 발생 장치를 제공할 수 있다.
클럭 지터, 발진기, PLL(Phase Locked Loop) 회로

3. 发明公开

KR1020090124934A 반도체 집적 회로 및 그 제어 방법, 및 정보 처리 장치 失效
标题翻译：半导体集成电路及其控制方法及信息处理装置
公开(公告)号：KR1020090124934A
公开(公告)日：2009-12-03
申请号：KR1020090041976
申请日：2009-05-14
申请人： 후지쯔 가부시끼가이샤
发明人： 야마모토다카시 , 이시즈카다카하루 , 우에키도시카즈 , 오와키다케시 , 모로사와아츠시
IPC分类号： G11C7/00 , G11C11/413
CPC分类号： G01R31/31708 , G01R31/3004 , G01R31/31721 , G06F11/22
摘要： PURPOSE: A semiconductor IC, a control method thereof, and an information processing apparatus are provided to interpret a data pattern, power noise, and correlation between the data pattern and power noise in a data error state by detecting data of a bus and a noise amount before/after a detection timing of an error. CONSTITUTION: A circuit block(210) is connected to an operation processing unit through a bus. Power noise data signal generation units(220,230,231,232) converts an analog signal of power noise, generated from power for operating the circuit block, into a digital signal. The power noise data signal generation units generate a power noise data signal. An error detecting unit(260) detects an error of data outputted from the circuit block to the bus. A write control unit(250) controls an operation of writing data on the bus and power noise information, based on the power noise data signal, in a recording unit(280). According to a detection timing of the error, the write control unit stops the writing operation.
摘要翻译：目的：提供半导体IC及其控制方法以及信息处理装置，通过检测总线的数据和噪声来解释数据模式，功率噪声以及数据模式与功率噪声之间的相关性在错误的检测定时之前/之后的量。构成：电路块（210）通过总线连接到操作处理单元。功率噪声数据信号发生单元（220,230,231,232）将由用于操作电路块的功率产生的功率噪声的模拟信号转换为数字信号。功率噪声数据信号产生单元产生功率噪声数据信号。误差检测单元（260）检测从电路块输出到总线的数据的错误。写入控制单元（250）控制在记录单元（280）中基于功率噪声数据信号在总线上写入数据和功率噪声信息的操作。根据错误的检测定时，写入控制单元停止写入操作。

4. 发明公开

KR1020170021073A 반도체 칩, 테스트 시스템 및 반도체 칩의 테스트 방법 审中-实审
标题翻译：半导体芯片测试系统和半导体芯片的测试方法
公开(公告)号：KR1020170021073A
公开(公告)日：2017-02-27
申请号：KR1020150115418
申请日：2015-08-17
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 이선규 , 임정돈 , 강대운 , 정병훈 , 김상록 , 이태성
IPC分类号： G01R31/26
CPC分类号： G01R31/318392 , G01R31/31708
摘要： 반도체칩, 테스트시스템및 반도체칩의테스트방법이개시된다. 일실시예에따른반도체칩(semiconductor chip)은테스트요청에응답하여, 테스트펄스(test pulse)를생성하는펄스생성기(pulse generator); 직렬로연결되어, 각각, 상기테스트펄스를순차적으로전달하는다수의로직(logic)을포함하는로직체인(logic chain); 및상기로직체인의다수의로직각각의출력의레벨을검출하여, ISI(Inter Symbol Interference)의정도를나타내는검출결과를출력하는검출기를포함한다.
摘要翻译：半导体芯片，测试系统和测试半导体芯片的方法。半导体芯片包括：脉冲发生器，被配置为响应于测试请求产生测试脉冲; 逻辑链，包括彼此串联连接并顺次传送测试脉冲的多个逻辑器件; 以及检测器，被配置为检测每个逻辑器件的输出信号的逻辑电平，并输出指示符号间干扰程度（ISI）的检测结果。

5. 发明公开

KR1020160073656A 시간과 주파수 영역 채널 추정 방법 및 이를 이용하는 추정 시스템 有权
标题翻译：时间和频域信道估计方法和使用该方法的系统
公开(公告)号：KR1020160073656A
公开(公告)日：2016-06-27
申请号：KR1020140182225
申请日：2014-12-17
申请人： 한국교통대학교산학협력단
发明人： 문철 , 김윤경
IPC分类号： H04B1/74 , H04B17/309
CPC分类号： G01R31/31708 , H04B1/00
摘要： 본발명은시간과주파수영역채널추정기법에관한것으로, 보다상세하게는무선통신시스템에서고차변조(higher order modulation)방식으로고속이동중에신호를전송시에성능을향상시킬수 있는시간과주파수영역채널추정방법및 이를이용하는추정시스템에관한것이다. 본발명에의하면, 고속이동시 고차변조(higher order modulation)의에러성능을향상시킬수 있는시간과주파수영역채널추정방법및 이를이용하는채널추정시스템을제공할수 있다. 또한, 본발명에의하면, IEEE 802.11p에따르는 WAVE 장치의성능을개선시킬수 있는효율적인시간과주파수영역채널추정방법및 이를이용하는채널추정시스템을제공할수 있다
摘要翻译：本发明涉及一种时频信道估计技术，更具体地说，涉及一种能够在无线通信系统中以较高阶调制的高速移动期间发送信号时提高性能的时频信道估计方法，以及使用该估计系统的估计系统。本发明可以提供能够在高速移动期间解决高阶调制的误差性能的时频信道估计方法，以及使用其的估计系统。此外，本发明可以提供能够提高根据IEEE 802.11p的WAVE设备的性能的有效的时域和频域信道估计方法，以及使用其的估计系统。所述估计系统包括：数据导频开始信道估计单元; 时区可靠性测试单元; 和频率区域插值器。

6. 发明公开

KR1020160057942A 주파수 측정 장치 및 방법 有权
标题翻译：用于频率测量的装置和方法
公开(公告)号：KR1020160057942A
公开(公告)日：2016-05-24
申请号：KR1020140159205
申请日：2014-11-14
申请人： 삼성중공업 주식회사
发明人： 안대찬
IPC分类号： G01R23/12 , G01R23/167
CPC分类号： G01R23/12 , G01R19/252 , G01R23/165 , G01R23/167 , G01R31/31708
摘要： 본발명이해결하려는과제는주파수측정장치및 방법을제공하는것이다. 상기주파수측정장치는아날로그의입력신호를제1 주기마다샘플링한샘플링신호로변환하는아날로그디지털컨버터, 상기샘플링신호의각각의위상을측정하고, 측정된상기위상을이용하여위상변화를계산하는알고리즘연산부, 복수의상기샘플링신호를포함하는제2 주기동안의상기위상변화를이용하여평균위상변화를계산하는이동평균필터, 및상기평균위상변화와, 상기제2 주기당샘플링수를이용하여주파수를계산하는주파수연산부를포함한다.
摘要翻译：本发明的目的在于提供一种频率测量装置和方法。频率测量装置包括：模拟数字转换器，其将模拟输入信号转换为每第一周期采样的采样信号; 一个算法运算符，用于测量采样信号的相位，并用测量相位来计算相位变化; 移动平均滤波器，其通过使用包含采样信号的第二周期的相位变化来计算平均相位变化; 以及频率算子，其通过使用每个第二周期的平均相位变化和采样次数来计算频率。

7. 实用新型

KR200380114Y1 전원 노이즈 검출 회로 失效
标题翻译：电源噪声检测电路源
公开(公告)号：KR200380114Y1
公开(公告)日：2005-03-25
申请号：KR2020050001312
申请日：2005-01-15
申请人： (주)코맨텍
发明人： 장민호 , 이현서
IPC分类号： H02M1/12
CPC分类号： G01R31/31708 , H03K19/00346
摘要： 본 고안은 전원 노이즈 검출 회로에 있어서, 특히 센서 출력단과 전원잡음 증폭단을 비교하여 일정 기준이상의 신호 노이즈라고 판단되면 이를 배제토록 함으로서 정해진 기준범위에서만 마이컴이 동작토록 하는 것을 특징으로 하는 전원 노이즈 검출회로에 관한 것으로,
제 1 전원 증폭단(100)과; 제 2 전원 증폭단(200)과; 2개의 비교기(310, 320)로 이루어져 노이즈의 폭을 설정하여 상기 제 2 전원 증폭단(200)을 통과한 신호로부터 노이즈 신호를 추출하는 상기 양단 제한 검출기(300)와; 상기 양단 제한 검출기의 출력단에 연결되어 전류의 역류를 차단하는 역류 차단용 다이오드(610, 620)와; 외부 물리량을 감지하고 이를 전기적 신호로 변환하여 출력하는 센서 회로부와(400)와; 상기 센서회로부(400) 및 양단 제한 검출기(300)로부터 신호를 입력받아 양단 제한 검출기(300)로 부터 노이즈 신호가 입력되면 센서 회로부(400)로부터 출력되는 신호를 무시하고, 양단 제한 검출기(300)로 부터 노이즈 신호가 입력되지 않으면 센서 회로부(400)의 신호를 정상 처리하는 신호처리부(500)를 포함하여 구성함이 특징이다.

8. 发明公开

KR1020150113302A 노이즈 검출 회로 및 이를 이용한 반도체 시스템 审中-实审
标题翻译：噪声检测电路和使用相同的半导体系统
公开(公告)号：KR1020150113302A
公开(公告)日：2015-10-08
申请号：KR1020140036214
申请日：2014-03-27
申请人： 에스케이하이닉스 주식회사
发明人： 강태욱
IPC分类号： G11C5/14 , G11C7/22
CPC分类号： G11C29/50004 , G01R29/26 , G01R31/3004 , G01R31/31708 , G06F11/1004 , G11C29/52 , G11C2029/5004
摘要： 본기술은클럭신호및 부(negative) 클럭신호를분주하여제 1 분주신호및 제 2 분주신호를생성하도록구성되는분주기; 전원레벨변동을상기제 1 분주신호및 상기제 2 분주신호에반영하여제 1 기준신호및 제 2 기준신호를생성하도록구성되는노이즈검출기준블록; 상기제 1 기준신호및 상기제 2 기준신호에응답하여상기클럭신호의제 1 듀티정보및 제 2 듀티정보를생성하도록구성되는듀티감지부; 및상기제 1 듀티정보및 상기제 2 듀티정보에응답하여노이즈검출신호를생성하도록구성되는검출부를포함할수 있다.
摘要翻译：噪声检测电路技术领域本发明涉及一种噪声检测电路，其包括：分频器，用于通过去除时钟信号和负时钟信号来产生第一频率分量信号和第二频率分量信号; 噪声检测标准块，用于通过将电源电平变化反映到第一解复用信号和第二解复用信号来产生第一标准信号和第二标准信号; 用于响应于第一标准信号和第二标准信号产生时钟信号的第一占空比信息和第二占空信息的占空传感单元; 以及检测单元，用于响应于第一占空比信息和第二占空比信息产生噪声检测信号。

9. 发明公开

KR1020130076029A 집적 회로의 커플링 효과 해석 방법 无效
标题翻译：分析电路耦合效应的方法
公开(公告)号：KR1020130076029A
公开(公告)日：2013-07-08
申请号：KR1020110144426
申请日：2011-12-28
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 윤여일 , 민성욱 , 박상호
IPC分类号： G01R31/3183
CPC分类号： G01R27/28 , G01R29/26 , G01R31/2853 , G01R31/31708 , G01R31/31717
摘要： PURPOSE: A method for analyzing a coupling effect of an integrated circuit is provided to precisely calculate the coupling effect of sacrifice wires in the integrated circuit. CONSTITUTION: An integrated circuit selects second wires having effective coupling capacitance between a first wire and wires around the first wire (S100). The integrated circuit selects test signal patterns of the first wire and the second wires from signal patterns (S200). The integrated circuit calculates a coupling noise of the first wire or a coupling transition delay based on the test signal patterns (S300). [Reference numerals] (AA) Start; (BB) End; (S100) Select second wires having effective coupling capacitance between a first wire and wires around the first wire; (S200) Select test signal patterns of the first wire and the second wires from signal patterns; (S300) Calculate a coupling noise of the first wire or a coupling transition delay based on the test signal patterns
摘要翻译：目的：提供一种用于分析集成电路耦合效应的方法，以精确计算集成电路中牺牲线的耦合效应。构成：集成电路选择在第一线和第一线周围的线之间具有有效耦合电容的第二线（S100）。集成电路从信号图案中选择第一布线和第二布线的测试信号图案（S200）。集成电路基于测试信号模式计算第一线的耦合噪声或耦合转变延迟（S300）。（附图标记）（AA）开始; （BB）结束; （S100）选择在第一线和第一线周围的线之间具有有效耦合电容的第二线; （S200）从信号图案中选择第一根导线和第二根导线的测试信号图案; （S300）基于测试信号模式计算第一线的耦合噪声或耦合转换延迟

10. 发明授权

KR101044707B1 신호 측정 장치 및 시험 장치 失效
标题翻译：信号测量装置和测试装置
公开(公告)号：KR101044707B1
公开(公告)日：2011-06-28
申请号：KR1020097018331
申请日：2008-03-04
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 바바,타다히코 , 오하시,마사토시
IPC分类号： G11C7/10 , G11C29/00 , G11C7/22 , G11C8/00
CPC分类号： G01R31/31937 , G01R31/31708 , G01R31/31922
摘要： 제1 입력 신호 및 제2 입력 신호를 측정하는 신호 측정 장치에 있어서, 측정 사이클의 각 사이클 내에 복수 배치된 스트로브 타이밍에 제1 입력 신호를 측정하는 제1 측정부와, 측정 사이클의 각 사이클 내에 복수 배치된 스트로브 타이밍에 제2 입력 신호를 측정하는 제2 측정부와, 제1 측정부 및 제2 측정부에서의 측정 결과에 기초하여 각 측정 사이클에서의 제1 입력 신호 및 제2 입력 신호의 위상차를 산출하는 위상차 산출부와, 위상차 산출부가 각 측정 사이클에서 산출한 위상차의 분포 정보를 생성하는 분포 생성부를 포함하는 신호 측정 장치를 제공한다.
시험 장치, 신호 측정 장치, 지터, 위상차

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式