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    • 1. 发明申请
    • SONDE, INSBESONDERE ZUR OPTISCHEN RASTEMAHFELDMIKROSKOPIE
    • 探头,特别适用于光学RASTEMAHFELDMIKROSKOPIE
    • WO2008025491A1
    • 2008-03-06
    • PCT/EP2007/007452
    • 2007-08-24
    • MAX-PLANCK-GESELLSCHAFTEN ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V.ISSA, NaderGUCKENBERGER, ReinhardKEILMANN, Fritz
    • ISSA, NaderGUCKENBERGER, ReinhardKEILMANN, Fritz
    • G12B21/06G01N13/14
    • G01Q60/22
    • Die Erfindung betrifft eine Sonde, insbesondere zur optischen Rasternahfeldmikroskopie, mit einer Metallspitze (1), auf deren Mantelfläche Oberflächen-Plasmon-Polaritonen (8) ausbreitungsfähig sind und an deren Ende eine Lichtfokussierung erfolgt, einer hinter der Metallspitze (1) befindlichen Anregungsseite (4), von der Anregungslicht (5) eingekoppelt wird, das die Oberflächen-Plasmon-Polaritonen (8) auf der Mantelfläche der Metallspitze (1) anregt, und einer vor der Metallspitze (1) befindlichen Probenseite (3), auf der sich eine Probe befindet, wobei zwischen der Probenseite (3) und der Anregungsseite (4) ein Metallschirm (2) angeordnet ist, der die Probenseite (3) von der Anregungsseite (4) abschirmt, und der Metallschirm (2) mindestens einen Schlitz (6) aufweist, um das von der Anregungsseite (4) kommende Anregungslicht (5) auf die Mantelfläche der Metallspitze (1) einzukoppeln und dadurch die Oberflächen-Plasmon-Polaritonen (8) auf der Mantelfläche der Metallspitze anzuregen.
    • 本发明涉及一种探针,特别是用于光学Rasternahfeldmikroskopie,与金属尖端(1),所述侧表面上,表面等离子体激元(8)能够传播的并发生聚焦光在其中的端部,一个位于电极头(1)激发侧后面(4- ),(来自激发光5)耦合,其中激励电极头(1)的外表面上的表面等离子体激元(8),以及对金属尖端的样品侧(1)位于(3),在其上的样品 位于,其中金属丝网(2)在样品侧(3)和激励侧(4)被布置,其屏蔽了样品侧之间设置(3)的激励侧(4),和金属屏蔽的(2)具有至少一个狭槽(6) 于激励侧(4)下的激发光耦合(5)上的金属尖端(1)的外表面,并由此在表面等离子体激元(8)上的金属尖端anzure的外表面 根。
    • 2. 发明申请
    • 光プローブ
    • 光学探头
    • WO2007018230A1
    • 2007-02-15
    • PCT/JP2006/315723
    • 2006-08-09
    • 国立大学法人大阪大学片岡俊彦山内良昭
    • 片岡俊彦山内良昭
    • G01N13/14G01N13/10G02B6/26G11B7/135
    • G01Q60/22G02B6/1226G11B7/1387
    •  近接場光顕微鏡や光メモリへの応用に適した光プローブを提供する。  光プローブは、隔壁部1aを挟んで相対向する,1対の円形の穴3a,3bが形成された金属膜からなる導波路部材1と、石英からなる光導入部材2とを備えている。導波路部材1は、比誘電率の実数部が負の値となる導電体媒質であるプラズモン活性媒質によって構成されている。2つの穴3a,3bの間の隔壁部1aの最小壁厚ΔSが極めて小さいときには、光によって励起される高密度の表面プラズモンが導波路部材1の隔壁部1aの壁面を伝わり、導波路部材1の下方に光の局在化した部分が生じる。
    • 提供适用于近场光学显微镜和光存储器应用的光学探头。 该光学探针包括由金属膜制成的波导部件1,该波导部件1具有隔着分隔壁1a彼此相对的一对圆形孔3a和3b以及由石英制成的光引入部件2。 波导部件1由作为相对介电常数的实部成为负值的导电介质的等离子体激活介质构成。 两个孔3a,3b中的时候之间的隔壁部1a的最小壁厚ΔS是很小的,通过光激发致密表面等离子体通过所述波导部件1,波导部件1的分隔壁1a的壁表面透射 光的局部部分是在光线下产生的。
    • 6. 发明申请
    • 赤外光集光装置
    • 红外聚焦装置
    • WO2004003519A1
    • 2004-01-08
    • PCT/JP2003/005104
    • 2003-04-22
    • 科学技術振興事業団小宮山 進生嶋 健司
    • 小宮山 進生嶋 健司
    • G01N13/14
    • G01Q60/22
    • サブミクロン以下の微細な領域に数十ミクロン以上の波長を持つ赤外光を高い効率で集中でき、サブミクロン以下の微細な領域の近接場を高い効率で取り出せ、かつ、走査像を得ることができる赤外光集光装置であり、入射光(8)または出射光(9)を高効率でアンテナに結合させる高屈折率媒質からなるソリッドイマージョンレンズ(2)と、ソリッドイマージョンレンズ(2)の底面(3)上に配設した被測定試料(6)と、この底面(3)から有効波長の1/4位かの距離を離して配設され入射光(8)または出射光(9)を幾何学的に共鳴させる平面ダイポールアンテナ(12)または平面スロットアンテナ(16)で成るアンテナ(4)と、アンテナ(4)から突出した先鋭な突端を有する棒状導電体であるプローブ(4b)と、カンチレバー(5)を介してプローブ(4b)の位置を制御するXYZ−3軸メカニカルステージ(23)の如き位置制御手段とを有する。入射光(8)または出射光(9)のアンテナ(4)との結合を高誘電率媒質側で行うようにし、幾何学的に共鳴の生ずるアンテナを使用して効率を高めた。
    • 可以在精细的亚微米区域中高效浓缩至少几十微米的波长的红外线的红外聚焦装置以高效率接收细微的亚微米以内的接近场 并且产生扫描图像,并且其包括由高折射率介质组成的固体浸没透镜(2),用于以高效率耦合入射光(8)或具有天线的出射光​​(9), 设置在固体摄像透镜(2)的底面(3)上的要测量的样品(6),设置有距离底表面(3)的1/4有效波长的天线(4),并且包括 平面偶极天线(12)或用于使出射光(9)上的入射光(8)几何谐振的平缝天线(16),作为从天线(4)突出的棒状导体的探针(4b)和 具有尖端,以及作为用于控制p的XYZ-三轴机械台(23)的位置控制装置 通过悬臂(5)探测探针(4b)。 通过将入射光(8)或出射光(9)与天线(4)耦合在高介电常数介质侧并通过使用产生几何谐振的天线来提高效率。