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    • 1. 发明申请
    • CAPTEUR OPTIQUE POUR MESURER LA DEFORMATION AU COURS DU TEMPS D'UNE STRUCTURE PLANE DEFORMABLE
    • 用于测量可变平面结构时间的变形的光学传感器
    • WO2009060041A1
    • 2009-05-14
    • PCT/EP2008/065086
    • 2008-11-06
    • THALESMERLET, ThomasRENAULT, MichelGRANGER, PierreLESUEUR, GuillaumeGIRARD, SylvainGILLES, Hervé
    • MERLET, ThomasRENAULT, MichelGRANGER, PierreLESUEUR, GuillaumeGIRARD, SylvainGILLES, Hervé
    • G01B11/16G01B11/24H01Q3/26
    • G01B11/16G01B11/24
    • La présente invention concerne les mesures relatives à la déformation de surfaces planes de grandes dimensions exposées à des conditions environnementales susceptibles d'altérer leur planéité. Le dispositif de mesure selon l'invention comporte une source optique laser éclairant un miroir conique disposé sur la surface à mesurer, en un point de référence, agencé pour former un plan optique de référence dont l'orientation par rapport au plan de l'antenne est connue. Il comporte également des capteurs optiques linéiques, transparents aux ondes radioélectriques, répartis sur la surface de l'antenne, chaque capteur étant configuré pour intercepter le faisceau optique matérialisant le plan de référence et pour fournir à des moyens de traitement, un signal optique fonction de la zone du capteur ayant intercepté le faisceau optique. La variation de position du point d'interception sur le capteur permet de mesurer la variation de position, par rapport au plan optique, du point de la surface sur lequel il est positionné. Elle s'applique plus particulièrement aux mesures des déformations mécaniques affectant la surface rayonnante d'antennes radar à balayage électronique de grande dimension.
    • 本发明涉及暴露于可能损害其平坦度的环境条件的大尺寸平面表面的变形的测量。 本发明的测量装置包括一激光光源,该激光光源照射设在待测表面上的锥形镜,该参考点被布置为限定相对于天线平面具有已知定向的光学参考平面。 它还包括对无线电波而透明并分布在天线表面上的线性光学传感器,每个传感器适于拦截限定参考平面的光束,并将基于该区域的光信号发送到处理装置 的传感器已经拦截了光束。 传感器上的截取点的位置变化用于测量相对于其所在的表面点的光学平面的位置变化。 本发明特别可用于测量大型电子扫描雷达天线辐射表面的机械变形。
    • 2. 发明申请
    • HETERODYNE DETECTION DEVICE FOR IMAGING AN OBJECT BY RE-INJECTION
    • 异体检测装置,用于通过重新注射成像物体
    • WO2009063145A3
    • 2009-07-16
    • PCT/FR2008001226
    • 2008-09-03
    • CENTRE NAT RECH SCIENTECOLE NATIONALE SUPERIEURE D IGIRARD SYLVAINGILLES HERVELAROCHE MATHIEU
    • GIRARD SYLVAINGILLES HERVELAROCHE MATHIEU
    • G01Q20/02G01Q60/18
    • G01Q20/02G01Q60/22
    • The invention relates to a detection device (1) for imaging an object (10), that comprises: a laser cavity (3) for transmitting an original light signal (3) at an original wavelength towards the object (10) in order to generate an evanescent wave at the surface of the object (10); a conversion means (11) adapted for converting the evanescent wave into a progressive signal; a re-injection means (12) adapted for injecting the progressive signal into the laser cavity in order to generate interference inside the laser cavity between the progressive signal and the original light signal; a detection means adapted for detecting the interference in order to determine the characteristics of the object; characterised in that the device includes a wavelength modification means (7) adapted so that the wavelength of the progressive signal injected into the laser cavity is different from the original wavelength.
    • 本发明涉及一种用于对物体(10)成像的检测装置(1),其包括:激光腔(3),用于将原始波长的原始光信号(3)朝向物体(10)发射以产生 物体(10)表面处的渐逝波; 转换装置(11),适用于将渐逝波转换为渐进信号; 重新注入装置(12),其适于将渐进信号注入激光腔以在渐进信号和原始光信号之间在激光腔内产生干涉; 检测装置,适于检测干扰以确定物体的特性; 其特征在于,所述装置包括波长修改装置(7),所述波长修改装置适于使得注入所述激光腔中的所述逐行信号的波长不同于所述原始波长。
    • 6. 发明申请
    • CAPTEUR POLARIMÉTRIQUE POUR LA MESURE DE LA DÉFORMATION SUBIE PAR UNE SURFACE
    • 用于测量由表面形成的变形的极性传感器
    • WO2010012843A1
    • 2010-02-04
    • PCT/EP2009/060057
    • 2009-08-03
    • THALESCENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUELESUEUR, GuilllaumeMERLET, ThomasQUEGUINER, MorganGILLES, HervéGIRARD, Sylvain
    • LESUEUR, GuilllaumeMERLET, ThomasQUEGUINER, MorganGILLES, HervéGIRARD, Sylvain
    • G01B11/16H01Q1/28H01Q3/26
    • G01B11/168H01Q15/147H01Q21/061
    • La présente invention à la mesure des déformations subies par des surfaces planes, de grandes dimensions exposées, à des conditions environnementales susceptibles d'altérer leur planéité. Elle consiste en un dispositif comportant des moyens pour produire une nappe lumineuse d'épaisseur E, présentant un axe de polarisation dont l'orientation varie suivant l'épaisseur E, s'étendant au-dessus de la surface mesurée et occupant une position fixe par rapport à un plan de référence. Le dispositif comporte en outre des capteurs d'ondes lumineuses disposés en différents endroits de la surface, configurés et agencés de façon à intercepter l'onde lumineuse constituant la nappe à des distances fixes connues au-dessus de la surface. Chaque capteur est configuré pour transformer l'onde lumineuse interceptée en deux ondes lumineuses présentant des polarités orthogonales et dont les intensités sont fonction de l'orientation de l'axe de polarisation de l'onde interceptée par rapport à une référence. L'analyse des intensités permet de déterminer l'orientation de l'onde interceptée et donc la position, pour le capteur considéré, du point d'interception de l'onde lumineuse dans la nappe. On en déduit la distance séparant, à l'endroit du capteur, la surface mesurée et la nappe lumineuse et par suite l'amplitude de la déformation subie par la surface à cet endroit.
    • 本发明涉及暴露于易于劣化其平坦度的环境条件下的大平坦表面所经历的变形的测量。 它包括一种装置,该装置包括用于生产厚度为E的光片的装置,其偏振轴的取向沿厚度E变化,在测量的表面上方延伸并且占据相对于参考点的固定位置。 该装置还包括放置在表面上的各个点处的光束传感器,它们被构造和布置成以在表面上方已知的固定距离截取构成片材的光束。 每个传感器被配置为将截取的光束转换成具有正交偏振的两个光束,所述两个光束的强度取决于截取的光束的偏振轴相对于参考的取向。 通过分析强度,可以确定被截取的光束的取向,并因此确定所讨论的传感器的位置,以便将光束截取在片材中。 从此推导出在传感器的点处距离光源的测量表面的距离,并因此推导出在该点处由表面经历的变形的幅度。