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1. 发明申请

WO2016017866A1 미소 캔틸레버 제조방법 审中-公开
标题翻译：制造微型CANTILEVER的方法
公开(公告)号：WO2016017866A1
公开(公告)日：2016-02-04
申请号：PCT/KR2014/012112
申请日：2014-12-10
申请人： 서강대학교 산학협력단
发明人： 이정철 , 송정기 , 이일
IPC分类号： G01Q70/16
CPC分类号： G01Q70/16
摘要： 캔틸레버 및 캔틸레버 상에 제공되는 탐침을 갖는 미소 캔틸레버의 제조방법은, 탐침을 위한 액상의 탐침용 용액이 수용되며, 탐침의 형상에 대응하는 그루브를 갖는 탐침 몰드를 제공하는 단계, 탐침의 위치에 대응하여 캔틸레버를 그루브가 형성된 탐침 몰드에 접촉시키는 단계, 캔틸레버를 탐침 몰드에 접촉시킨 상태에서 그루브 내에 수용된 탐침용 용액을 경화시켜 캔틸레버 상에 탐침을 형성시키는 단계, 및 캔틸레버를 탐침 몰드에서 분리하는 단계를 포함할 수 있다.
摘要翻译：用于制造具有悬臂的悬臂的悬臂的方法和设置在悬臂上的探针可以包括以下步骤：提供具有槽的探针模具，该探针模具容纳用于探针的液态探针溶液并且对应于探针的形状 ; 使悬臂与探针位置相对应的具有槽的探针模具接触; 通过在悬臂与探针模具接触的状态下固化容纳在槽中的探针溶液，在悬臂上形成探针; 并从探针模具分离悬臂。

2. 发明申请

WO2013055823A1 AFM-COUPLED MICROSCALE RADIOFREQUENCY PROBE FOR MAGNETIC RESONANCE IMAGING AND SPECTROSCOPY 审中-公开
标题翻译：用于磁共振成像和光谱的AFM耦合微结构无线电探头
公开(公告)号：WO2013055823A1
公开(公告)日：2013-04-18
申请号：PCT/US2012/059602
申请日：2012-10-10
申请人： PURDUE RESEARCH FOUNDATION
发明人： NEU, Corey, P. , ZIAIE, Babak , MALEKI-JAFARABADI, Teimour , MOUSOULIS, Charilaos
IPC分类号： G01R33/46
CPC分类号： G01R33/4808 , G01N24/08 , G01Q20/04 , G01Q30/02 , G01Q60/08 , G01Q60/52 , G01Q70/16 , G01R33/341 , G01R33/46
摘要： The present disclosure is discloses the development of a new device, system, and method that combines advantages of magnetic resonance and atomic force microscopy technologies, and the utility of the new device, system, and method for a wide range of biomedical and clinical researchers. According to one aspect of the present disclosure, a device for micro-scale spectroscopy is disclosed. The micro-scale spectroscopy device includes a beam having a distal end, a proximal end, a top surface and a bottom surface, where the beam is attached to an anchor at the proximal end and further includes a tip extending substantially perpendicular from the bottom surface at or near the distal end, and a coil having at least one turn mounted to the top surface of the beam at or near the distal end opposite the tip, where the coil is capable of both transmitting and sensing electromagnetic radiation.
摘要翻译：本公开公开了一种结合磁共振和原子力显微技术的优点的新器件，系统和方法的开发，以及用于广泛的生物医学和临床研究者的新器件，系统和方法的实用性。根据本公开的一个方面，公开了一种用于微尺度光谱的装置。微型光谱装置包括具有远端，近端，顶表面和底表面的光束，其中光束附接到近端处的锚固件，并且还包括从底表面基本垂直延伸的尖端在远端处或附近，以及具有至少一个匝的线圈，其安装到梁的顶表面处，或者与尖端相对的远端附近，其中线圈能够传输和感测电磁辐射。

3. 发明申请

WO2010016257A1 先鋭化針状ダイヤモンド、およびそれを用いた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源审中-公开
标题翻译：闪光钻针，使用扫描探针显微镜，光电校正探头和电子束源
公开(公告)号：WO2010016257A1
公开(公告)日：2010-02-11
申请号：PCT/JP2009/003765
申请日：2009-08-06
申请人：並木精密宝石株式会社 , AGDマテリアル株式会社 , 小山浩司 , 澤邊厚仁 , 安藤豊
发明人：小山浩司 , 澤邊厚仁 , 安藤豊
IPC分类号： C30B33/12 , C01B31/06 , C30B29/04 , C30B29/62 , G01N13/16 , H01J1/304 , H01J9/02
CPC分类号： H01J9/025 , C01B32/25 , G01Q70/14 , G01Q70/16 , H01J1/3044
摘要：　【課題】　効率良く量産可能であり、走査プローブ顕微鏡において高分解能観察や高精度微細加工が可能な先端半径と、高アスペクト比構造観察に十分な長さの針をもち、且つ、先端の耐摩耗性に優れたダイヤモンド探針と、これを備えた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源を提供すること。【解決手段】　反応性イオンエッチング等では作製困難な長さを有する針状ダイヤモンドを、熱化学加工法によって作製し、プラズマ中でエッチングもしくはマイクロ波プラズマＣＶＤ成長により先端部分を先鋭化することで、効率良く量産可能な先鋭化針状ダイヤモンドを得ることができる。先鋭化針状ダイヤモンドのうち少なくとも一本もしくは複数本を、走査プローブ顕微鏡用カンチレバーの探針として備える。
摘要翻译：提供了一种金刚石探针，包括扫描探针显微镜的悬臂，光掩模校正探针和电子束源。可以大量高效地生产金刚石探针。金刚石探头具有尖端直径，允许扫描探针显微镜以高精度执行高分辨率和微细加工的观察。金刚石探针包括具有足够长度的针，用于以高纵横比执行结构化观察。金刚石探头的尖端是耐磨的。通过热化学处理制造具有难以通过例如反应离子蚀刻制造的长度的金刚石针，并且通过等离子体蚀刻或通过用微波生长尖端部分来研磨金刚石针的尖端部分等离子体CVD。因此，可以获得能够大量有效地制造的金刚石针。用于扫描探针显微镜的悬臂包括至少一个或多个锋利的金刚石针作为探针。

4. 发明申请

WO2007037998A1 MULTIFUNCTIONAL PROBE ARRAY SYSTEM 审中-公开
标题翻译：多功能探头阵列系统
公开(公告)号：WO2007037998A1
公开(公告)日：2007-04-05
申请号：PCT/US2006/035826
申请日：2006-09-14
申请人： THE BOARD OF TRUSTEES OF THE UNIVERSITY OF ILLINOIS , WANG, Xuefeng , LIU, Chang
发明人： WANG, Xuefeng , LIU, Chang
IPC分类号： G01N13/10 , G12B21/02 , G03F7/20
CPC分类号： G01Q70/16 , G01Q70/06 , G01Q70/14 , G01Q80/00 , G01R1/06727 , G01R3/00 , G03F7/0002 , G03F7/2049
摘要： A probe array for includes a handle, a first probe and a second probe. The first probe has a first shank, connected to the handle, and a first tip; and the second probe has a second shank, connected to the handle, and second tip. The first tip contains a different material from the second tip. The probe array may be used to write on a surface by contacting the first tip with a surface, where a first ink is on the first tip. This writing method may further include lifting the first tip from the surface and contacting the second tip with the surface.
摘要翻译：用于包括手柄，第一探针和第二探针的探针阵列。第一探针具有连接到手柄的第一柄和第一尖端; 并且第二探针具有连接到手柄的第二柄和第二杆。第一个尖端包含与第二个尖端不同的材料。探针阵列可以用于通过使第一尖端与第一墨水在第一尖端上的表面接触来在表面上书写。这种书写方法还可以包括从表面提起第一尖端并使第二尖端与表面接触。

5. 发明申请

WO2005015570A1 透明基板を用いるプローブ顕微鏡のプローブ、その製造方法およびプローブ顕微鏡装置审中-公开
标题翻译：使用透明基板的探针显微镜探针，其制造方法和探针显微镜装置
公开(公告)号：WO2005015570A1
公开(公告)日：2005-02-17
申请号：PCT/JP2004/011351
申请日：2004-08-06
申请人：独立行政法人科学技術振興機構 , 小林大 , 川勝英樹
发明人：小林大 , 川勝英樹
IPC分类号： G12B21/08
CPC分类号： G01Q70/16 , G01Q20/02
摘要：光学的に透明な基板の表面にカンチレバーを形成したプローブを使用し、しかも、のぞき窓の機能を併せ持つ小型で精度が向上した透明基板を用いるプローブ顕微鏡のプローブ、その製造方法およびプローブ顕微鏡装置を提供する。可視光または近赤外光に対して透明な材質からなる透明基板１２０１，１２０３の片方の表面に該表面から所定の間隔を保持して支持されている薄膜からなる１個または複数のカンチレバー１２０２，１２０４を有するプローブを備え、前記透明基板１２０１は、容器の内外の環境を仕切りながら光学的な観察や測定を可能にするのぞき窓の機能を併せ持つとともに、前記カンチレバー１２０２，１２０４を前記透明基板１２０１，１２０３の裏面から光学的に観察または計測し、また光学的に駆動可能に構成する。
摘要翻译：用于探针显微镜的探针，具有形成在具有观察窗口的功能的光学透明基板的表面上的悬臂的探针的尺寸小，并且具有提高的精度。还提供了一种生产探针和探针显微镜装置的方法。探针显微镜具有在每个透明基板（1201,1203）的一个表面上具有一个或多个悬臂（1202,1204）的探针，所述透明基板由对可见光或近红外光透明的材料形成，所述悬臂被从表面预定距离地支撑并由薄膜形成。透明基板（1201）分隔容器内外的环境，具有能够进行光学观察和测量的观察窗的功能。可以从透明基板（1201,1203）的后表面光学地观察或测量悬臂（1202,1204），并且可以被光学驱动。

6. 发明申请

WO99056176A1 LOW-COST PHOTOPLASTIC CANTILEVER 审中-公开
标题翻译：低成本光电卡通
公开(公告)号：WO99056176A1
公开(公告)日：1999-11-04
申请号：PCT/IB1999/000765
申请日：1999-04-28
IPC分类号： G01B7/34 , G03F7/00 , G03F7/20
CPC分类号： G01Q70/14 , G01Q70/16 , G03F7/2049 , Y10S977/879
摘要： A method of manufacturing a cantilever with tip comprising the steps of forming a tip-like indent in a substrate, depositing a photoresist layer which fills said tip-like indent and covers at least a part of said substrate, and photolithographically structuring said photoresist layer to form said cantilever with tip out of said photoresist.
摘要翻译：一种制造具有尖端的悬臂的方法，包括以下步骤：在衬底中形成尖端状凹陷，沉积填充所述尖端状凹陷并覆盖所述衬底的至少一部分的光致抗蚀剂层，以及将所述光致抗蚀剂层光刻地构造成用所述光致抗蚀剂的尖端形成所述悬臂。

7. 发明申请

WO1998005920A1 MACROSCOPICALLY MANIPULABLE NANOSCALE DEVICES MADE FROM NANOTUBE ASSEMBLIES 审中-公开
标题翻译：来自纳米管组件的宏观可操作的纳米结构器件
公开(公告)号：WO1998005920A1
公开(公告)日：1998-02-12
申请号：PCT/US1997013896
申请日：1997-08-08
申请人： WILLIAM MARSH RICE UNIVERSITY , COLBERT, Daniel, T. , DAI, Hongjie , HAFNER, Jason, H. , RINZLER, Andrew, G. , SMALLEY, Richard, E.
发明人： WILLIAM MARSH RICE UNIVERSITY
IPC分类号： G01B07/34
CPC分类号： G01Q70/12 , C01B32/152 , C01B32/162 , C01B32/174 , C01B2202/02 , C01B2202/06 , C01B2202/08 , C01B2202/24 , C01B2202/34 , G01Q70/16 , G11B9/1409 , G11B11/007 , G11C13/025 , G11C2213/81 , H01J2201/30469 , Y10S977/70 , Y10S977/75 , Y10S977/789 , Y10S977/843 , Y10S977/845 , Y10T428/249977 , Y10T428/2918
摘要： Macroscopically manipulable nanoscale devices made from nanotube assemblies are disclosed. The article of manufacture comprises a macroscopic mounting element capable of being manipulated or observed in a macroscale environment, and a nanoscale nanotube assembly attached to the mounting element. The article permits macroscale information to be provided to or obtained from a nanoscale environment. A method for making a macroscopically manipulable nanoscale devices comprises the steps of (1) providing a nanotube-containing material; (2) preparing a nanotube assembly device having at least one carbon nanotube for attachment; and (3) attaching said nanotube assembly to a surface of a mounting element.
摘要翻译：公开了由纳米管组件制成的宏观可操纵的纳米级器件。该制品包括能够在宏观环境中操纵或观察的宏观安装元件，以及附接到安装元件的纳米级纳米管组件。该文章允许向纳米级环境提供宏观信息或从纳米级环境中获得宏观信息。一种用于制造宏观可操纵的纳米级器件的方法包括以下步骤：（1）提供含纳米管的材料; （2）制备具有至少一个用于附着的碳纳米管的纳米管组装装置; 和（3）将所述纳米管组件附接到安装元件的表面。

8. 发明申请

WO1992022783A1 MICROPROBE FOR SURFACE-SCANNING MICROSCOPES 审中-公开
标题翻译：用于表面扫描显微镜的微阵列
公开(公告)号：WO1992022783A1
公开(公告)日：1992-12-23
申请号：PCT/GB1992001060
申请日：1992-06-12
申请人： BRITISH TECHNOLOGY GROUP LTD. , BUSER, Rudolf, Alfred , BRUGGER, Juergen , LINDER, Christian
发明人： BRITISH TECHNOLOGY GROUP LTD.
IPC分类号： G01B07/34
CPC分类号： G01Q70/10 , G01Q70/16
摘要： The invention provides, for a surface-scanning microscope, a probe having comparable stiffness in respect of deflections in two different directions, namely the direction towards and away from the surface and a direction in a plane parallel to the surface. For that purpose the probe, which comprises a support body, a resilient arm or cantilever having one end supported by the support body and another, free, end having thereon a sharp tip or stylus, has its arm or cantilever meander-shaped. The invention further provides a method of making such a probe, having its support body and tip or stylus as integral parts, from a wafer of crystalline material by etching.
摘要翻译：本发明为表面扫描显微镜提供了一种针对两个不同方向上的偏转方面具有相当刚度的探针，即朝向和远离表面的方向以及平行于该表面的平面中的方向。为此目的，包括支撑体，弹性臂或悬臂的探针具有由支撑体支撑的一个端部和其上具有尖锐尖端或触针的另一个自由端具有其臂或悬臂曲折形状。本发明还提供一种通过蚀刻从晶片的晶片制造这种探针的方法，该探针具有其支撑体和尖端或触针作为整体部分。

9. 发明申请

WO2019101570A1 VERFAHREN ZUM BEREITSTELLEN EINER SONDENEINRICHTUNG FÜR DIE RASTERSONDENMIKROSKOPIE 审中-公开
公开(公告)号：WO2019101570A1
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：PCT/EP2018/081016
申请日：2018-11-13
申请人： NANOTOOLS GMBH
发明人： IRMER, Bernd
IPC分类号： G01Q30/04 , G01Q70/10 , G01Q70/16
CPC分类号： G01Q30/04 , G01Q70/10 , G01Q70/14 , G01Q70/16
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bereitstellen einer Sondeneinrichtung (2) für die Rastersondenmikroskopie, insbesondere für die Rasterkraftmikroskopie, wobei ein Rastersondenmikroskop mit Hilfe einer auf einem Ausleger (3) der Sondeneinrichtung (2) angeordneten Spitze (1) mit einer Spitzengeometrie zur Vermessung einer Probe verwendet wird. Erfindungsgemäß wird in einem dem die Spitze (1) produzierenden Herstellungsprozess vorgelagerten Schritt die Spitzengeometrie ausgehend von einer ausgewählten Spitzengrundform hinsichtlich definierter, geforderter Messeigenschaften optimiert wird, indem die Spitzengeometrie bezüglich dieser Messeigenschaften rechnergestützt simuliert (9), bewertet (10) und in Abhängigkeit der Bewertung (10) die Spitzengeometrie verändert (11). Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Sondeneinrichtung (2) für die Rastersondenmikroskopie, insbesondere für die Rasterkraftmikroskopie, mit einem Ausleger (3) sowie eine auf dem Ausleger (3) ausgebildete Spitze (1) im Nanometerbereich, mit der zu vermessende Proben abtastbar sind.

10. 发明申请

WO2014074374A1 INDENTED MOLD STRUCTURES FOR DIAMOND DEPOSITED PROBES 审中-公开
标题翻译：钻石沉积探头的模具结构
公开(公告)号：WO2014074374A1
公开(公告)日：2014-05-15
申请号：PCT/US2013/067642
申请日：2013-10-31
申请人： RAVE LLC
发明人： BRINKLEY, David , WHITE, Roy L.
IPC分类号： G01Q70/16 , G01Q70/08
CPC分类号： G01Q70/16 , G01Q70/14
摘要： The present invention discloses a method of fabricating a scanning probe microscopy probe including positioning a pattern probe over a mold substrate; indenting the pattern probe into the mold substrate material to form a mold pit; depositing a film onto the mold substrate including the mold pit; removing a portion of the deposited film to form a probe, and releasing the probe from the mold substrate material.
摘要翻译：本发明公开了一种制造扫描探针显微镜探针的方法，包括在模具基底上定位图案探针; 将图案探针压入模具基底材料中以形成模具凹坑; 在包括模具凹坑的模具基板上沉积膜; 去除沉积膜的一部分以形成探针，并将探针从模具基底材料上释放出来。

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