专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明申请

WO2011121097A2 METHOD AND DEVICE FOR ANALYSING MOLECULAR BONDS 审中-公开
标题翻译：方法和设备进行调查分子键
公开(公告)号：WO2011121097A2
公开(公告)日：2011-10-06
申请号：PCT/EP2011055062
申请日：2011-03-31
申请人： UNIV MUENCHEN TECH , GEISLER MICHAEL , HUGEL THORSTEN , NETZ ROLAND
发明人： GEISLER MICHAEL , HUGEL THORSTEN , NETZ ROLAND
IPC分类号： G01Q60/28
CPC分类号： G01Q60/42 , C12Q1/6816 , G01Q60/28 , C12Q2565/601
摘要： A scanning force microscope (1) is used for a measurement process in order to analyse the molecular bond to a probe molecule (5) of individual molecules which are in a solution. To this end, the bond parameters can be determined for the adsorbed state of the probe molecule (5), wherein the probe molecule (5) is adsorbed on an adsorption surface (7), or for a desorbed state of the probe molecule (5).
摘要翻译：原子力显微镜（1）用于测定的方法来研究的分子结合，在溶液中单分子可用的探针分子（5）。结合参数可以为探针（5），其中，所述探针分子吸附在吸附面（7）（5）的吸附状态来确定，或者对于所述探针的解吸状态（5）。

2. 发明申请

WO2006097800A2 METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING MATERIAL PROPERTIES 审中-公开
标题翻译：用于确定材料性质的方法和装置
公开(公告)号：WO2006097800A2
公开(公告)日：2006-09-21
申请号：PCT/IB2006000274
申请日：2006-02-10
申请人： UNIV KARLSRUHE TH FORSCHUNGSUN , SCHIMMEL THOMAS , MUELLER MATTHIAS
发明人： SCHIMMEL THOMAS , MUELLER MATTHIAS
IPC分类号： G01Q10/00 , G01Q60/24 , G01Q60/26 , G01Q60/28
CPC分类号： G01Q60/26 , G01Q60/28
摘要： A method of determining material properties of a contact formed between a measurement tip (3) of a microscopic probe (2) and a sample surface (7) of a sample material (6). According to the method, a distance modulation (DM) is applied for modulating a distance (d) between a support (4) of the microscopic probe (2) end the sample surface (7) in a direction (z) essentially normal to the sample surface (7) and wherein a normal force signal indicative of a normal force is measured and demodulated. In said method it is proposed that said material properties be determined using measurement data comprised in the demodulated normal force signal and related to a (concave) buckling deformation of the microscopic probe (2) relative to and away from the sample surface (7).
摘要翻译：确定在微观探针（2）的测量端（3）和样品材料（6）的样品表面（7）之间形成的接触材料性质的方法。根据该方法，施加距离调制（DM）以在基本上垂直于样品表面（7）的方向（z）处调制位于样品表面（7）的微观探针（2）的支撑体（4）之间的距离（d）样品表面（7），并且其中测量和解调表示法向力的法向力信号。在所述方法中，建议使用包含在解调的法向力信号中并与微观探针（2）相对于和远离样品表面（7）的（凹））屈曲变形相关的测量数据来确定所述材料特性。

3. 发明申请

WO2017100482A1 A METHOD TO MEASURE NANOSCALE MECHANICAL PROPERTIES USING ATOMIC FORCE MICROSCOPY WITHOUT INITIALLY CHARACTERIZING CANTILEVER TIP GEOMETRY 审中-公开
标题翻译：用原子力显微镜测量纳米级力学性能的方法，而没有初步描述悬臂尖端几何形状
公开(公告)号：WO2017100482A1
公开(公告)日：2017-06-15
申请号：PCT/US2016/065673
申请日：2016-12-08
申请人： CANTRELL, Sean, A. , MURDOCK, Sean, J.
发明人： CANTRELL, Sean, A. , MURDOCK, Sean, J.
IPC分类号： G01Q10/06 , G01B5/28 , G01Q10/00 , G01Q20/00 , G01Q30/04 , G01Q30/06
CPC分类号： G01Q30/06 , G01Q10/06 , G01Q60/28
摘要： The atomic force microscope has evolved from purely a qualitative apparatus that measures the topography of a sample into a quantitative tool that also measures mechanical properties of a sample at the nanoscale. Prior technologies that attempt to measure the bulk parameters must characterize the geometry of the atomic force microscope cantilever tip in a separate experiment before being able to measure the mechanical properties of the sample. This is the single biggest obstruction to the accuracy and expediency of quantitative atomic force microscopy methodologies. Present techniques are also unable to probe the full set of viscoelastic properties of a material as they do not include any method to measure the damping of samples. We propose a method herein that simultaneously circumvents the need for a separate experiment to characterize the tip geometry and measures the full set of viscoelastic properties of a material.
摘要翻译：原子力显微镜已经从纯粹的定性设备发展而来，该设备可以测量样品的形貌，进而定量测量纳米级样品的力学性能。试图测量体积参数的现有技术必须在能够测量样品的机械性能之前在单独的实验中表征原子力显微镜悬臂尖端的几何形状。这是定量原子力显微镜方法的准确性和便利性的最大障碍。目前的技术也无法探测材料的整套粘弹性特性，因为它们不包括任何测量样品阻尼的方法。我们在此提出了一种方法，它同时避免了需要单独的实验来表征尖端几何形状并测量材料的整套粘弹性性能。

4. 发明申请

WO2016085927A1 EXPLOITATION OF SECOND-ORDER EFFECTS IN ATOMIC FORCE MICROSCOPY 审中-公开
标题翻译：在原子力显微镜中利用二级效应
公开(公告)号：WO2016085927A1
公开(公告)日：2016-06-02
申请号：PCT/US2015/062320
申请日：2015-11-24
申请人： TUFTS UNIVERSITY
发明人： DOKUKIN, Maxim , SOKOLOV, Igor
IPC分类号： G01Q10/06 , G01Q60/34 , G01N3/42
CPC分类号： G01Q30/04 , G01Q60/28 , G01Q60/32
摘要： A processing system cooperates with an atomic force microscope operating in ramp mode at a ramp frequency is configured to collect data indicative of at least one of physical and chemical properties of a sample. The system collects data indicative of probe movement at a frequency that is higher than the ramp frequency. This data comprises a second-order portion of the probe's signal. Based at least in part on the second-order portion, the processor obtains a parameter that is indicative at least one of a physical and a chemical property of a sample.
摘要翻译：处理系统与以斜坡频率工作在斜坡模式的原子力显微镜配合以收集指示样品的物理和化学特性中的至少一个的数据。系统以高于斜坡频率的频率收集指示探头移动的数据。该数据包括探头信号的二阶部分。至少部分地基于二阶部分，处理器获得指示样品的物理和化学性质中的至少一个的参数。

5. 发明申请

WO2008081044A1 VORRICHTUNG UND VERFAHREN FÜR DIE ERFASSUNG VON KRÄFTEN IM SUBMICRONEWTON-BEREICH 审中-公开
标题翻译： DEVICE AND METHOD FOR部队在SUBMICRONEWTON区域检测
公开(公告)号：WO2008081044A1
公开(公告)日：2008-07-10
申请号：PCT/EP2008/050075
申请日：2008-01-05
申请人： TECHNISCHE UNIVERSITÄT MÜNCHEN , HUGEL, Thorsten , GEISLER, Michael
发明人： HUGEL, Thorsten , GEISLER, Michael
IPC分类号： G01N13/16 , G12B21/08
CPC分类号： G01N33/54373 , G01Q30/04 , G01Q60/28 , G01Q60/42
摘要： Ein Kraftmikroskop (1) für die Erfassung von Kräften im Submikronewton-Bereich weist einen Messkopf (3) auf, mit dem eine Relativbewegung bezüglich einer Probenaufnahme (4) ausführbar ist und an den ein Trägermolekül (9) angebracht ist, an das Sondenmoleküle (10) angesetzt sind.
摘要翻译：原子力显微镜（1），用于在Submikronewton区域中的检测力的具有测量头（3），利用该相对于样品架（4）的相对运动可以被执行，并且，其上连接一个载体分子（9），（到探针分子10 ）的认可。

6. 发明申请

WO2015108641A1 MEASUREMENT OF SURFACE ENERGY COMPONENTS AND WETTABILITY OF RESERVOIR ROCK UTILIZING ATOMIC FORCE MICROSCOPY 审中-公开
标题翻译：表面能量组分的测量和使用原子力显微镜的储层岩石的湿度
公开(公告)号：WO2015108641A1
公开(公告)日：2015-07-23
申请号：PCT/US2014/070260
申请日：2014-12-15
申请人： SCHLUMBERGER CANADA LIMITED , SERVICES PETROLIERS SCHLUMBERGER , SCHLUMBERGER HOLDINGS LIMITED , SCHLUMBERGER TECHNOLOGY B.V. , PRAD RESEARCH AND DEVELOPMENT LIMITED , SCHLUMBERGER TECHNOLOGY CORPORATION , SAUDI ARABIAN OIL COMPANY
发明人： GMIRA, Ahmed , ADBALLAH, Wael , STUKAN, Mikhail , BUITING, Johannes J.M.
IPC分类号： G01Q60/24
CPC分类号： G01Q60/38 , G01Q30/04 , G01Q30/14 , G01Q60/24 , G01Q60/28 , G01Q70/02 , G01Q70/08 , G01Q70/14 , G01Q70/16
摘要： An instrument (and corresponding method) performs AFM techniques to characterize properties of a sample of reservoir rock. The AFM instrument is configured to have a probe with a tip realized from reservoir rock that corresponds to the reservoir rock of the sample. The AFM instrument is operated to derive and store data representing adhesion forces between the tip and the sample at one or more scan locations in the presence of a number of different fluids disposed between the tip and the sample. The AFM instrument is further configured to perform computational operations that process the data representing the adhesion forces for a given scan location in order to characterize at least one property of the rock sample at the given scan location. The properties can include total surface energy of the rock sample as well as wettability of the rock sample.
摘要翻译：仪器（和相应的方法）执行AFM技术来表征储层岩石样品的性质。 AFM仪器被配置为具有从储层岩石实现的具有对应于样品的储层岩石的尖端的探针。操作AFM仪器以在存在位于尖端和样品之间的许多不同流体的情况下在一个或多个扫描位置导出和存储表示尖端和样品之间的粘附力的数据。 AFM仪器还被配置为执行计算操作，其处理表示给定扫描位置的粘附力的数据，以便表征给定扫描位置处的岩石样品的至少一个性质。这些性质可以包括岩石样品的总表面能以及岩石样品的润湿性。

7. 发明申请

WO2011138564A1 PROCEDES DE MESURE ET DE MODIFICATION DE SURFACE PAR MICROSCOPIE A SONDE LOCALE FONCTIONNANT EN MODE CONTINU CURVILIGNE, MICROSCOPE A SONDE LOCALE ET DISPOSITIF PERMETTANT LEURS MISES EN OEUVRE 审中-公开
标题翻译：表面测量方法和本地探针显微镜在连续光纤模式下的操作，本地探测显微镜和设备实现方法的实现
公开(公告)号：WO2011138564A1
公开(公告)日：2011-11-10
申请号：PCT/FR2011/051024
申请日：2011-05-05
申请人： CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE - CNRS , UNIVERSITE DU MAINE (LE MANS) , NOEL, Olivier , MAZERAN, Pierre-Emmanuel , NASRALLAH, Hussein
发明人： NOEL, Olivier , MAZERAN, Pierre-Emmanuel , NASRALLAH, Hussein
IPC分类号： G01Q60/26 , G01Q60/28
CPC分类号： G01Q60/26 , B82Y35/00 , G01Q60/28
摘要： L'invention porte sur des procédés de modification de surface et sur des procédés de mesures de forces d'adhésion et de différentes forces d'interactions (forces de frottement, forces d'adhésion) par microscopie à sonde locale fonctionnant en mode continu « curviligne » ainsi que sur un microscope à sonde locale et un dispositif permettant la mise en œuvre desdits procédés.
摘要翻译：本发明涉及表面改性的方法，通过在连续“曲线”模式下操作的局部探针显微镜测量粘附力和各种相互作用力（摩擦力，粘附力）的方法以及局部探针显微镜和设备实现所述方法。

8. 发明申请

WO2004018963A3 METHOD FOR DETERMINING TRIBOLOGICAL PROPERTIES OF A SAMPLE SURFACE USING A SCANNING MICROSCOPE (SEM) AND ASSOCIATED SCANNING MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译：一种用于确定样品表面的摩擦学性能BY原子力显微镜（AFM）和相关RKM
公开(公告)号：WO2004018963A3
公开(公告)日：2004-08-12
申请号：PCT/EP0309054
申请日：2003-08-14
申请人： FRAUNHOFER GES FORSCHUNG , REINSTAEDTLER MICHAEL , RABE UTE , ARNOLD WALTER
发明人： REINSTAEDTLER MICHAEL , RABE UTE , ARNOLD WALTER
IPC分类号： G01B21/30 , G01H3/00 , G01N29/22 , G01N29/34 , G01Q60/26 , G01Q60/28 , G12B21/20 , G01H3/12 , G01N29/06 , G01N29/24 , G12B21/22
CPC分类号： G01Q60/28 , G01H3/00 , G01N29/22 , G01N29/346 , G01N2291/02827 , G01N2291/101 , G01Q60/26
摘要： The invention concerns a method for examining the surface of samples using a scanning microscope (SEM) comprising a flexible beam with longitudinal extension, whereof the longitudinal measuring tip is arranged precisely relative to a sample surface by means of a fixing device, the spatial position of said measuring tip being sensed by a sensing unit. The microscope is further equipped with at least one ultrasound generator which initiates an oscillation at a give excitation frequency between the sample surface and the flexible beam, whereof the measuring tip is in contact with the sample surface, such that the oscillations imparted to the measuring tip are oriented laterally to the sample surface and perpendicularly to the length of the flexible beam. The torsional oscillations of the flexible beam are sensed and analyzed by means of an evaluation unit. The invention is characterized in that the generation of oscillations is such that the oscillations produced by the measuring tip have a higher harmonic vibration relative to the excitation frequency, the oscillation generation is produced at amplitudes which provoke torsional amplitudes in the flexible beam. Those torsional amplitudes have maximum values which form a substantially constant plateau, even when the torsional amplitudes increase, and, in the range of maximum values, said torsional amplitudes have resonance spectra which develop a dispersion capable of being determined by a plateau width. The method for examining a sample surface consists in using the resonance spectra and, preferably, the plateau value, the plateau width and/or the corresponding resonance spectra increase.
摘要翻译：公开了一种用于使用原子力显微镜（AFM），其具有超过一个测量末端沿其安装在所述悬臂的纵向延伸的操作性测定样品表面的方法，该位于相对于具体地约球样品表面装置和其空间位置由传感器单元检测，并且提供至少，与所述样品表面和探头末端之间的预定激发频率的振动激励的发起的超声波发生器，被带入与所述样品表面，以悬臂，使得探头尖端被激励在横向于样品表面并正交于所述悬臂取向振荡的纵向延伸和接触是在形成由评估单元检测和分析扭转振动的弹性梁。本发明的特征在于 - 所述振动激励发生，使得由具有激励频率的高次谐波分量，测量末端进行振荡， - 所述振荡激发与激发幅度，该悬臂Torsionsamplituden其Torsionsamplitudenmaxima内导致尽管增加的激励幅值进行接受大致恒定的平稳值，并找到他们的共振谱，其中通过平稳宽度决定Torsionsamplitudenmaxima的光谱谐振加宽的范围内，以及 - 对于所述样品表面的检查中，共振谱，优选平稳值，高原宽度和/或各自的共振谱的斜率用于是。

9. 发明申请

WO2004018963A2 VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG TRIBOLOGISCHER EIGENSCHAFTEN EINER PROBENOBERFLÄCHE MITTELS EINES RASTERKRAFTMIKROSKOPS (RKM) SOWIE EIN DIESBEZÜGLICHES RKM 审中-公开
标题翻译：一种用于确定样品表面的摩擦学性能BY原子力显微镜（AFM）和相关RKM
公开(公告)号：WO2004018963A2
公开(公告)日：2004-03-04
申请号：PCT/EP2003/009054
申请日：2003-08-14
申请人： FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG e. V. , REINSTÄDTLER, Michael , RABE, Ute , ARNOLD, Walter
发明人： REINSTÄDTLER, Michael , RABE, Ute , ARNOLD, Walter
IPC分类号： G01B7/00
CPC分类号： G01Q60/28 , G01H3/00 , G01N29/22 , G01N29/346 , G01N2291/02827 , G01N2291/101 , G01Q60/26
摘要： Beschrieben wird ein Verfahren zur Untersuchung einer Probenoberfläche mittels eines Rasterkraftmikroskops (RKM), das einen über eine Längserstreckung verfügenden Federbalken aufweist, längs dessen eine Messspitze angebracht ist, die über Steilmittel relativ zur Probenoberfläche gezielt angeordnet und deren räumliche Lage mit einer Sensoreinheit erfasst wird, sowie wenigstens einen Ultraschallwellengenerator vorsieht, der mit einer vorgebbaren Anregungsfrequenz eine Schwingungsanregung zwischen der Probenoberfläche und dem Federbalken, dessen Messspitze in Kontakt mit der Probenoberfläche gebracht wird, derart initiiert, dass die Messspitze in lateral zur Probenoberfläche und orthogonal zur Längserstreckung des Federbalkens orientierte Oszillationen angeregt wird und dass in dem Federbalken sich ausbildende Torsionsschwingungen erfasst und mittels einer Auswerteeinheit analysiert werden. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, - dass die Schwingungsanregung derart erfolgt, dass die von der Messspitze ausgeführten Oszillationen höher harmonische Schwingungsanteile zur Anregungsfrequenz aufweisen, - dass die Schwingungsanregung mit Anregungsamplituden durchgeführt wird, die innerhalb des Federbalkens zu Torsionsamplituden führen, deren Torsionsamplitudenmaxima trotz zunehmenden Anregungsamplituden einen weitgehend konstanten Plateauwert annehmen und deren Resonanzspektren im Bereich der Torsionsamplitudenmaxima eine spektrale resonante Verbreiterung erfahren, die durch eine Plateaubreite bestimmbar ist, und - dass zur Untersuchung der Probenoberfläche die Resonanzspektren, vorzugsweise der Plateauwert, die Plateaubreite und/oder die Steigung der jeweiligen Resonanzspektren verwendet werden.
摘要翻译：
描述的是用于测定Probenoberfl＆AUML的方法;枝装置原子力显微镜（AFM），其具有导航用途包括收缩弹簧梁，L＆AUML的;计算值的L BEAR纵向延伸设有其中一个探针尖端附接到导航用途NGS，所述过球装置相对于Probenoberfl＆AUML;枝针对性和其R＆AUML; umliche位置与传感器单元，以及提供至少设置有Probenoberfl＆AUML之间的预定激发频率的振动激励的超声波发生器检测;枝和弹簧条，其测量尖端与接触被带到澈，在这样一种方式，测量末端侧向给Probenoberfl BEAR启动;所述Probenoberfl＆AUML表面且垂直于L＆AUML;面向所述悬臂振荡的纵向延伸被激发并在形成扭转及由评估单元分析的弹簧束检测。本发明的特征在于 - 所述振动激励发生，使得从所述测量末端导航用途执行艰辛振荡H＆ouml;所述具有用于所述激励频率的谐波分量， - 所述振动激励用的激励幅值进行导航用途是HRT，悬臂到Torsionsamplituden˚F导航使用的内部 ;铅其Torsionsamplitudenmaxima尽管增加的激励幅值假定基本恒定的平稳值，找到在由一高原宽度决定Torsionsamplitudenmaxima的光谱谐振加宽的范围其共振谱，以及 - 对于Probenoberfl＆AUML的调查;枝共振谱，优选平稳值，该可以使用平台宽度和/或各个共振谱的斜率。

10. 发明申请

WO00040946A1 METHOD AND DEVICE FOR SIMULTANEOUSLY DETERMINING THE ADHESION, FRICTION, AND OTHER MATERIAL PROPERTIES OF A SAMPLE SURFACE 审中-公开
标题翻译：方法和装置分子，样品表面的摩擦和其它材料性质的同时测定
公开(公告)号：WO00040946A1
公开(公告)日：2000-07-13
申请号：PCT/DE2000/000003
申请日：2000-01-04
IPC分类号： G01N13/00 , G01N19/02 , G01N19/04 , G01Q20/02 , G01Q60/26 , G01Q60/28 , G01N13/16 , G01N19/00
CPC分类号： G01Q60/26 , G01N19/02 , G01N19/04 , G01Q20/02 , G01Q60/28
摘要： The invention relates to a method for the location-resolved, simultaneous detection of adhesion and friction and optionally of other material properties of a sample surface (30) to be examined. To this end a raster probe (1) is used which comprises a raster probe microscope. Said raster probe (1) and/or the sample (25) with the sample surface (30) to be examined are displaced until the raster probe (1), at a position (34) of the sample surface (30) to be examined, interacts in a defined manner with the same. The raster probe (1) and/or the sample (25) are subjected to a vertical oscillation and a measuring signal is recorded which characterizes the deformation of the raster probe (1). In addition, a second measuring signal is recorded which characterizes the deformation of the raster probe (1), whereby the raster probe (1) and/or the sample (25) are subjected to a horizontal and/or vertical oscillation. The desired material properties are now determined from both of these measuring signals using an appropriate evaluation device. The raster probe (1) and/or the sample (25) are displaced once again in order to record the entire surface area to be examined, and are brought into contact with the sample surface (30) in the above-described manner in order to repeat the described measuring procedure at the next position to be examined. The invention also relates to a suitable raster probe microscope for carrying out this method.
摘要翻译：本发明涉及一种用于粘附和摩擦和样品表面（30）的其它材料性质任选的位置分辨，同时检测的方法来进行检查。为此光栅探针（1）的使用包括扫描探针显微镜。所述扫描探针（1）和/或所述样品（25）与所述样品表面（30）要被检查被移动，直到光栅探针（1），在样品表面的一个位置（34）（30）要被检查，间作用在具有相同限定的方式。扫描探针（1）和/或所述样品（25）进行上下方向的振动和测量信号被记录表征光栅探针（1）的变形。此外，第二测量信号被记录表征光栅探针（1），由此所述扫描探针（1）和/或所述样品（25）进行的水平和/或垂直振荡的变形。期望的材料属性现在确定性使用在适当的评价装置两者论文测量信号的开采。扫描探针（1）和/或所述样品（25），以便记录的整个表面区域再次移位到被检查，并且被带入，以便所述样品表面（30）在上述方式接触重复在下一个位置描述的测量程序进行审查。因此本发明涉及到一个合适的扫描探针显微镜用于执行该方法。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式