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1. 发明申请

WO2016109844A1 REFERENCE SIGNAL FILTER FOR INTERFEROMETRIC SYSTEM 审中-公开
标题翻译：用于干涉系统的参考信号滤波器
公开(公告)号：WO2016109844A1
公开(公告)日：2016-07-07
申请号：PCT/US2016/012002
申请日：2016-01-01
申请人： HOGAN, Joshua, Noel
发明人： HOGAN, Joshua, Noel
IPC分类号： G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02059 , A61B3/10 , A61B5/0066 , A61B5/14532 , G01B9/02025 , G01B9/02034 , G01B9/02038 , G01B9/02091
摘要： The invention provides a method and apparatus for applying spatial filtering the optical beam interferometric systems, particularly of a free space optical coherence tomography (OCT) system substantially without problematic reflections back to the optical source. The invention teaches spatially filtering the reference beam of an OCT system which is typically designed to provide isolation of the optical source from undesirable optical feed-back, thereby achieving spatial filtering without generating undesirable reflections back to the optical source. Various embodiments are taught.
摘要翻译：本发明提供一种用于将光束干涉测量系统特别是空间光学相干断层摄影（OCT）系统的空间滤波应用于基本上没有有问题的反射回光源的方法和装置。本发明教导对OCT系统的参考光束进行空间滤波，该系统通常被设计为提供光源与不期望的光学反馈的隔离，由此实现空间滤波而不产生不期望的反射回到光源。教授各种实施例。

2. 发明申请

WO2014142958A1 OPTICAL PRESSURE SENSOR ASSEMBLY 审中-公开
标题翻译：光压传感器总成
公开(公告)号：WO2014142958A1
公开(公告)日：2014-09-18
申请号：PCT/US2013/032011
申请日：2013-03-15
申请人： AVINGER, INC.
发明人： SMITH, Peter H. , KANKARIA, Manish
IPC分类号： A61B5/021 , G01B9/02
CPC分类号： A61B5/0084 , A61B5/0066 , A61B5/02154 , A61B5/6852 , A61B5/7278 , A61B2560/0238 , A61B2560/0475 , A61B2562/0233 , A61B2562/0238 , A61B2562/0247 , A61B2576/00 , G01B9/02025 , G01B9/02057 , G01B9/02091 , G01L9/0077
摘要： Optical pressure sensor assemblies that can be used with existing catheters and imaging systems. Pressure sensors may be compatible with atherectomy and occlusion-crossing catheters, where intravascular pressure measurements at various vessel locations are needed to determine treatment efficacy. The pressure sensors may employ an optical pressure measurement mechanism using optical interferometry, and may be integrated with existing imaging modalities such as OCT. The pressure sensor assemblies may include a movable membrane that deflects in response to intravascular pressure; an optical fiber that transmits light to the movable membrane and receives light reflected or scattered back from the movable membrane into the fiber; and a processor or controller configured to determine the distance traveled by the light received in the fiber from the movable membrane, where the distance traveled is proportional to the intravascular pressure exerted against the membrane.
摘要翻译：可用于现有导管和成像系统的光学压力传感器组件。压力传感器可能与粥样斑块切除术和阻塞交叉导管相容，其中需要各种血管位置处的血管内压力测量来确定治疗功效。压力传感器可以使用光学干涉测量的光学压力测量机构，并且可以与诸如OCT的现有成像模式集成。压力传感器组件可以包括响应于血管内压力而偏转的可移动膜; 将光透射到可移动膜并接收从可移动膜反射或散射回到光纤中的光; 以及处理器或控制器，其被配置为确定由可移动膜在纤维中接收的光行进的距离，其中所行进的距离与施加在膜上的血管内压力成正比。

3. 发明申请

WO2007059206A2 SPECTRAL DOMAIN PHASE MICROSCOPY (SDPM) DUAL MODE IMAGING SYSTEMS AND RELATED METHODS AND COMPUTER PROGRAM PRODUCTS 审中-公开
标题翻译：光谱相位显微镜（SDPM）双模成像系统及相关方法和计算机程序产品
公开(公告)号：WO2007059206A2
公开(公告)日：2007-05-24
申请号：PCT/US2006/044332
申请日：2006-11-15
申请人： BIOPTIGEN, INC. , BUCKLAND, Eric L. , WOO, Seungbum , IZATT, Joseph A. , BROWN, William J.
发明人： BUCKLAND, Eric L. , WOO, Seungbum , IZATT, Joseph A. , BROWN, William J.
IPC分类号： G01B9/04 , G01N21/47 , G02B21/00 , A61B5/00
CPC分类号： A61B3/13 , A61B3/102 , A61B5/0066 , A61B5/0073 , G01B9/02018 , G01B9/02021 , G01B9/02025 , G01B9/02044 , G01B9/02083 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01N21/4795
摘要： Some embodiments of the present invention provide optical coherence tomography systems including an OCT engine and a processor. The OCT engine is configured to provide both standard OCT imaging and spectral domain phase microscopy (SDPM) imaging. The processor is coupled to the OCT engine and is configured to use a first signal processing method when the OCT engine is configured to provide standard OCT imaging and a second signal processing method when the OCT engine is configured to provide SDPM imaging. Related methods and computer program products are also provided.
摘要翻译：本发明的一些实施例提供包括OCT引擎和处理器的光学相干断层扫描系统。 OCT引擎配置为提供标准OCT成像和光谱相位显微镜（SDPM）成像。处理器耦合到OCT引擎，并且被配置为当OCT引擎被配置为提供标准OCT成像时使用第一信号处理方法，并且当OCT引擎被配置为提供SDPM成像时，使用第二信号处理方法。还提供了相关方法和计算机程序产品。

4. 发明申请

WO2015011243A1 METHOD AND APPARATUS FOR OPTICALLY CHECKING BY INTERFEROMETRY THE THICKNESS OF AN OBJECT BEING MACHINED 审中-公开
标题翻译：通过干涉测量对象物体的厚度进行光学检查的方法和装置
公开(公告)号：WO2015011243A1
公开(公告)日：2015-01-29
申请号：PCT/EP2014/065963
申请日：2014-07-24
申请人： MARPOSS SOCIETA' PER AZIONI
发明人： PARESCHI, Stefano
IPC分类号： G01B9/02 , G01B11/06 , B24B49/12 , H01L21/66
CPC分类号： G01B11/06 , B24B37/013 , B24B49/12 , G01B9/02021 , G01B9/02025 , G01B9/02044 , G01B9/0209 , G01B11/0675 , H01L22/12 , H01L22/26
摘要： A method for optically checking by interferometry the thickness of an object (2) being machined comprises a phase of direct checking wherein the spectrum of the result of interference between primary reflected radiations (R1) generated by reflection of incident radiations (I) on an external surface (16) and secondary reflected radiations (R2) generated by reflection on an internal surface of discontinuity (17) of the object is analysed, and a preliminary phase wherein information relative to the variation of a virtual thickness (D) delimited and defined by a reference surface (18) and the external surface of the object, indicative of thickness variations of the object being machined. In the preliminary phase, the processing is based on the analysis of the spectrum of the result of interference between primary reflected radiations and reference reflected radiations (Rref) generated by the reflection of the incident radiations on the reference surface, that defines the length of a reference optical path. An apparatus that implements such method for optically checking includes an optical probe (6) that receives and detects the primary, secondary and reference reflected radiations, and a spectrometer (5) that analyses the spectrum of the result of interference.
摘要翻译：用于通过干涉测量来对被加工物体（2）的厚度进行光学检查的方法包括直接检查的相位，其中通过在外部的入射辐射（I）的反射产生的主反射辐射（R1）之间的干涉结果的频谱分析通过在物体的不连续（17）的内表面上的反射产生的表面（16）和二次反射辐射（R2），以及初步阶段，其中相对于虚拟厚度（D）的变化的信息被界定和限定参考表面（18）和物体的外表面，指示被加工物体的厚度变化。在初步阶段，处理是基于主反射辐射与参考反射辐射之间的干涉结果的频谱分析（Rref），其通过参考表面上的入射辐射的反射而产生，其定义为参考光路。实现这种用于光学检查的方法的装置包括接收和检测初级，次级和参考反射辐射的光学探头（6）和分析干扰结果的光谱的光谱仪（5）。

5. 发明申请

WO2011139468A3 MULTI-GAP INTERFEROMETRIC SENSORS 审中-公开
标题翻译：多通道干涉仪传感器
公开(公告)号：WO2011139468A3
公开(公告)日：2011-12-29
申请号：PCT/US2011031402
申请日：2011-04-06
申请人： BAKER HUGHES INC , CHILDERS BROOKS A , HARMAN ROBERT M , HOMA DANIEL S , BECKNER LANCE A
发明人： CHILDERS BROOKS A , HARMAN ROBERT M , HOMA DANIEL S , BECKNER LANCE A
IPC分类号： E21B47/06 , E21B47/12 , G01K11/32 , G01V8/16
CPC分类号： G01V8/02 , G01B9/02023 , G01B9/02025 , G01B2290/25 , G01D5/268 , G01K5/48 , G01K11/3206
摘要： An apparatus for estimating a property includes a hollow core tube and an input light guide disposed at least partially within hollow core tube. The apparatus also includes a second gap disposed within the hollow core tube and separated from the input light guide by an air gap width. The second gap is formed of a first solid material and has a second gap width. The apparatus also includes a third gap disposed at least partially within the hollow core tube and being further from the input light guide than the second gap. The third gap is formed of a second solid material and has a third gap width.
摘要翻译：用于估计特性的装置包括中空芯管和至少部分地设置在中空芯管内的输入光导。该设备还包括设置在中空芯管内的第二间隙，并且通过气隙宽度与输入光导分离。第二间隙由第一固体材料形成并具有第二间隙宽度。该装置还包括至少部分地设置在中空芯管内并且比第二间隙更远离输入光导的第三间隙。第三间隙由第二固体材料形成并且具有第三间隙宽度。

6. 发明申请

WO2004013565A3 FRINGE PATTERN DISCRIMINATOR FOR GRAZING INCIDENCE INTERFEROMETER 审中-公开
标题翻译：用于消除发生干扰的FRINGE模式识别器
公开(公告)号：WO2004013565A3
公开(公告)日：2004-04-29
申请号：PCT/US0323664
申请日：2003-07-28
申请人： CORNING TROPEL CORP
发明人： LEE CHRISTOPHER A , TRONOLONE MARK J , KULAWIEC ANDREW W
IPC分类号： G01B9/02 , G01B11/06 , G01B11/30 , G01B11/02
CPC分类号： G01B11/06 , G01B9/02022 , G01B9/02025 , G01B9/02032 , G01B9/02084
摘要： Flatness and thickness variation information concerning transmissive plane-parallel test plates (12) is obtained from a grazing incidence interferometer (10) modified to distinguish between interference patterns containing both types of information. The grazing angle of the interferometer is varied (30, 32), and unique modulation frequencies of local fringe intensities within the superimposed interference patterns are identified. The local fringe intensities attributable to the different interference patterns are distinguished by their respective modulation frequencies.
摘要翻译：关于透射平面平行测试板（12）的平坦度和厚度变化信息是从被修改为区分包含两种类型的信息的干涉图案的掠入射干涉仪（10）获得的。干涉仪的掠角变化（30,32），并且识别叠加干涉图案内的局部边缘强度的独特调制频率。归因于不同干涉图案的局部边缘强度通过它们各自的调制频率来区分。

7. 发明申请

WO2013111090A1 FAST MEASUREMENT OF OCULAR AXIAL LENGTH 审中-公开
标题翻译：快速测量轴向长度
公开(公告)号：WO2013111090A1
公开(公告)日：2013-08-01
申请号：PCT/IB2013/050621
申请日：2013-01-24
申请人： VISIA IMAGING S.R.L.
发明人： FOGGI, Alessandro , PEZZATI, Luca
IPC分类号： A61B3/10 , G01B9/02
CPC分类号： A61B3/1005 , A61B3/0025 , A61B3/0075 , A61B3/102 , A61B3/14 , G01B9/02025 , G01B9/02028 , G01B9/02077 , G01B9/0209
摘要： The present invention concerns a Michelson-type interferometer (1) for measuring the intraocular axial length (AL) comprising: an arrangement (7) able to move apart and come near with respect to an emitting light source (5), said arrangement (7) comprising at least a first (8) and second (9) at least partially reflecting surface arranged at a pre-determined mutual distance (d); a motorized driving system (500) to command the movement of the reflecting arrangement (7); wherein said motorized driving system (500) is controlled in such a way that the scanning is completed in a single translation stroke in a direction starting from an initial position in which the first surface (8) generates the first interference peak at the beginning of the translation and with such a fixed distance (d) between the plates that afterwards during said translation the second plate (9) generates the second interference peak.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测量眼内轴向长度（AL）的迈克尔逊型干涉仪（1），包括：能够相对于发射光源（5）移动分开并接近的装置（7），所述装置）包括以预定的相互距离（d）布置的至少第一（8）和第二（9）至少部分反射表面; 用于指示反射装置（7）的运动的电动驱动系统（500）; 其特征在于，所述电动驱动系统（500）以这样的方式进行控制，使得扫描在从初始位置开始的方向以单个平移行程完成，其中第一表面（8）在其初始位置产生第一干涉峰并且在板之间具有这样的固定距离（d）之后，在所述平移期间，第二板（9）产生第二干涉峰。

8. 发明申请

WO2013038242A1 VERFAHREN ZUM RÄUMLICHEN VERMESSEN VON GEWEBESTRUKTUREN 审中-公开
标题翻译：法测量组织的空间结构
公开(公告)号：WO2013038242A1
公开(公告)日：2013-03-21
申请号：PCT/IB2012/001670
申请日：2012-08-30
申请人： IMA INTEGRATED MICROSYSTEMS AUSTRIA GMBH , DJINOVIC, Zoran , TOMIC, Milos , STOJKOVIC, Marljana
发明人： DJINOVIC, Zoran , TOMIC, Milos , STOJKOVIC, Marljana
IPC分类号： A61B3/12 , G01B11/24 , G01N21/47 , A61B5/00 , A61B3/10 , G01B9/02 , A61B5/107 , A61B3/117 , A61B3/16
CPC分类号： A61B5/6803 , A61B3/165 , A61B5/0066 , A61B5/1072 , A61B5/1075 , G01B9/02021 , G01B9/02025 , G01B9/02027 , G01B9/0209
摘要： Bei einem Verfahren zum räumlichen Vermessen einer Mehrzahl von hintereinander liegenden biologischen Gewebestrukturen in einem Organ, insbesondere in einem Auge (1), durch Auswertung von Interferogrammen erhalten aus reflektiertem, kohärentem Licht aus einer auf einen Referenzreflektor (3) gerichteten Referenzsonde (6) und zumindest einer Messsonde (7), wird bei bekannter räumlicher Erstreckung einer ersten Gewebestruktur des Organs sowohl die Referenzsonde als auch die zumindest eine Messsonde auf das Organ gerichtet, wobei der Wegunterschied (ΔL) zwischen den beiden Sonden konstant gehalten wird.
摘要翻译：在用于通过从反射，相干光而获得的干涉评价空间测量多个连续的生物组织结构中的主体，特别是在一个眼睛（1）从一个到参考反射镜的方法（3）针对参考探针（6）和至少的测量探头（7），在器官组织的第一结构的已知的空间范围的至少定向，无论所述参考探针作为测量探针与器官，其中所述路径差（deltal）被保持在两个探针之间恒定。

9. 发明申请

WO2011083544A1 干渉を用いた膜厚計測装置及び干渉を用いた膜厚計測方法审中-公开
标题翻译：使用干涉的薄膜厚度测量装置和使用干涉测量薄膜厚度的方法
公开(公告)号：WO2011083544A1
公开(公告)日：2011-07-14
申请号：PCT/JP2010/007439
申请日：2010-12-22
申请人：パナソニック株式会社 , 追風寛歳 , 浦島毅吏
发明人：追風　寛歳 , 浦島　毅吏
IPC分类号： G01B11/02
CPC分类号： G01B11/0625 , G01B9/02025 , G01B9/02088 , G01B9/0209 , G01B11/0675
摘要：　本発明の膜厚計測装置は、透明膜（１６）が表面に形成された基板（１０３）を載置部（１００）に載置し、ハーフミラー（１０２）で光源（１０１）からの光を分岐して基板表面及び参照面に照射させると共に基板表面及び参照面からの反射光を重ね合わせて干渉光を形成し、干渉光を撮像装置（１０５）で撮像し、その撮像結果に基づいて透明膜の膜厚を演算装置（１０６）で算出する。演算装置は、透明膜への入射光と反射光との間の第１位相スペクトルの変化量を予めデータベース化して作成されたスペクトル変化量データベース（１０６ｓ）と、撮像装置で撮像した透明膜の干渉信号をフーリエ変換して透明膜の第２位相スペクトルを算出する第２位相スペクトル算出部（１０６ｂ）と、第２位相スペクトルと最も一致度の高い第１位相スペクトルをデータベースから選択し、選択した第１位相スペクトルを用いて透明膜の膜厚を計測する膜厚算出部（１０６ｄ）とを有する。
摘要翻译：公开了一种膜厚度测量装置，其中将表面上具有透明膜（16）的基板（103）放置在台（100）上，从光源（101）发射的光被半反射镜（102））并且通过混合来自基板的表面的反射光和基准面而形成干涉光，并且利用图像拾取装置（105）对干涉光进行成像，并照射到基板的表面和参考表面上，并且基于成像结果，通过处理单元（106）计算透明膜的膜厚度。处理单元包括频谱变化数据库（106s），其通过预先编入入射到透明薄膜和从光透射薄膜反射的光的第一相位谱的变化的数据库而产生;第二相位谱计算单元（106b），计算第二相位谱通过对由图像拾取装置成像的透明膜的干涉信号进行傅立叶变换，并通过选择第一相位谱来测量透明膜的膜厚度的膜厚度计算单元（106d）其与数据库中的第二相位频谱具有最高程度的一致性，并且使用所选择的第一相位谱。

10. 发明申请

WO99051938A1 INTERFEROMETRICAL, OPTICAL RETROREFLECTION WITH LOW COHERENCE SOURCE 审中-公开
标题翻译：具有低相干源的干涉光学光学重新选择
公开(公告)号：WO99051938A1
公开(公告)日：1999-10-14
申请号：PCT/EP1999/002264
申请日：1999-04-01
IPC分类号： G01B9/02 , G01B9/04 , G01B11/02
CPC分类号： G01B11/026 , G01B9/02021 , G01B9/02025 , G01B9/02057 , G01B9/0209 , G01B9/02092 , G01B11/06
摘要： Carrying out measurements of distances and thicknesses also in the presence of optical/electronic disturbances and noises and in industrial environments by means of interferometric optical retroreflection using incoherent light with superluminescent diodes.
摘要翻译：在存在光学/电子干扰和噪声的情况下以及在工业环境中通过使用具有超发光二极管的非相干光的干涉光学逆向反射来执行距离和厚度的测量。

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