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    • 1. 发明申请
    • DISPOSITIF OPTIQUE DE MESURE D'UN PARAMÈTRE PHYSIQUE ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
    • 用于测量物理参数和相关方法的光学装置
    • WO2015004026A1
    • 2015-01-15
    • PCT/EP2014/064349
    • 2014-07-04
    • INSTITUT NATIONAL POLYTECHNIQUE DE TOULOUSECENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE
    • BOSCH, ThierryBONY, FrancisLUNA ARRIAGA, Antonio
    • G01B9/02
    • G01J9/02G01B9/02083G01B9/02092
    • L'invention concerne un dispositif (10) optique pour la détermination d'un paramètre physique comportant : - une diode laser (11) pour émettre un faisceau en direction d'une cible, - un moyen de détection (13) d'un signal interférométrique SM(t) comportant l'information sur le paramètre physique à déterminer, et généré par une interférence entre le faisceau émis et un faisceau lumineux réfléchi par la cible, - des moyens de conversion (15) du signal SM(t) obtenu par le moyen de détection (13) en une mesure du paramètre physique, lesdits moyens de conversion (15) comportant : - des premiers moyens (17) de suppression d'une composante continue Off(t) du signal interférométrique SM(t), - des seconds moyens (18) de détermination de pics interférométriques du signal interférométrique SM(t) obtenus à partir du signal obtenu en sortie des premiers moyens (17). L'invention est également relative à un procédé associé. Ce procédé est particulièrement adapté à des signaux interférométriques présentant du speckle.
    • 本发明涉及一种用于确定物理参数的光学装置(10),其包括:激光二极管(11),用于朝向目标发射光束; 用于检测(13)干涉信号SM(t)的装置,其包括关于要确定的物理参数的信息,并且由发射的光束和由目标反射的光束之间的干扰产生; 用于将由检测装置(13)获得的信号SM(t)转换为物理参数的测量值的装置,所述转换装置包括:用于抑制连续分量Off(t)的第一装置(17) 的干涉信号SM(t); 用于确定从在第一装置(17)的输出处获得的信号获得的干涉信号SM(t)中的干涉峰值的第二装置(18)。 本发明还涉及一种相关联的方法。 所述方法特别适用于散斑干涉信号。