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1. 发明申请

WO2004017019A1 VERFAHREN ZUR ÖRTLICH HOCHAUFGELÖSTEN, MASSENSPEKTROSKOPISCHEN CHARAKTERISIERUNG VON OBERFLÄCHEN MITTELS EINER RASTERSONDENTECHNIK 审中-公开
标题翻译： FOR当地的方法解决了，质谱表面特性通过网格探针技术手段
公开(公告)号：WO2004017019A1
公开(公告)日：2004-02-26
申请号：PCT/DE2003/002493
申请日：2003-07-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KNEBEL, Detlef , AMREIN, Matthias
发明人： KNEBEL, Detlef , AMREIN, Matthias
IPC分类号： G01B7/34
CPC分类号： G01Q30/02 , G01Q60/22 , H01J49/04 , Y10S977/849 , Y10S977/86 , Y10S977/863
摘要： Die Erfindung betrifft ein kombiniertes Verfahren, bei dem eine hochaufgelöste Abbildung einer Probenoberfläche mittels der Rasterkraftmikroskopie erfaßt wird und eine hierzu korrelierte, örtlich hochaufgelöste, chemische Natur der Probenoberfläche mittels der Massenspektroskopie gemessen wird. Die chemische Analyse der Oberfläche erfolgt nach Laserdesorption eines eingeschränkten Oberflächenbereichs. Hierzu wird die Oberfläche impulsartig an jeder interessierenden Stelle nach dem optischen Nahfeldprinzip beleuchtet. Das optische Nahfeldprinzip garantiert eine Analyse mit einer nicht beugungslimitierten Ortsauflösung. Eine Hohlspitze der verwendeten Meßsonde erlaubt eine eindeutige Zuordnung der chemischen Analyse zu einem ausgewählten Oberflächenbereich. Die hochsymmetrische Anordnung erlaubt eine hohe Transmission der erzeugten molekularen Ionen.
摘要翻译：本发明涉及在其中检测和与其相关的由原子力显微镜的装置的样品表面的高分辨率成像，样品表面的空间上的高分辨率的化学性质通过质谱法来测量的组合过程。表面的化学分析是通过激光解吸受限表面积进行。为此目的，表面被以脉冲方式在感兴趣的光Nahfeldprinzip每个位置照亮。光学Nahfeldprinzip保证与非衍射限制的空间分辨率的分析。探针的中空尖端使用的，允许所选择的表面区域上的化学分析的一个明确的指配。的高度对称的布置允许产生分子离子的高透射率。

2. 发明申请

WO03028037A2 DEVICE AND METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE 审中-公开
标题翻译： DEVICE AND METHOD FOR的扫描探针显微镜
公开(公告)号：WO03028037A2
公开(公告)日：2003-04-03
申请号：PCT/DE0203688
申请日：2002-09-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KNEBEL DETLEF , JAEHNKE TORSTEN , SUENWOLDT OLAF
发明人： KNEBEL DETLEF , JAEHNKE TORSTEN , SUENWOLDT OLAF
IPC分类号： G01B21/00 , G01B21/30 , G01Q20/02 , G01Q60/06 , G12B21/08 , G12B21/22
CPC分类号： G01Q20/02 , Y10S977/868
摘要： The invention concerns a device and a method for a scanning probe microscope, in particular, an atomic force scanning microscope. The invention is characterized in that it comprises a measuring device (100) including a lateral displacement mechanism (1) for displacing a measuring probe (5) in a plane, a vertical displacement mechanism (4) for displacing the measuring probe in a plane perpendicular to said plane, and sample-holder (11) for receiving a sample to be measured (6). An optical path (10) of the condenser is formed through the measuring device (100), so that the sample-holder (11) is arranged in the region of one end of the optical path (10) of the condenser.
摘要翻译：本发明涉及一种用于扫描探针显微镜的装置和方法，特别是具有用于在一个平面上，用于移动（5）的垂直移动装置（4）发布的测量探头的测量装置（100），横向位移装置（1）的扫描力显微镜包括垂直于该平面和用于接收测试样品（6）的样品载体（11）的方向上的测量探头（5）。由通过冷凝器的测量装置（100）（10）形成，使得样品载体（11）被布置在所述冷凝器的光路（10）的一个端部的区域中。

3. 发明申请

WO2008138329A1 VERFAHREN ZUM RASTERSONDENMIKROSKOPISCHEN UNTERSUCHEN EINER MESSPROBE, MESSSYSTEM UND MESSSONDENSYSTEM 审中-公开
标题翻译：方法GRID探针显微镜检查测量探头测量系统和探头系统的
公开(公告)号：WO2008138329A1
公开(公告)日：2008-11-20
申请号：PCT/DE2008/000824
申请日：2008-05-16
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , JAEHNKE, Torsten
发明人： JAEHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N13/10 , G12B21/02
CPC分类号： G01Q70/06
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum rastersondenmikroskopischen Untersuchen einer Meßprobe. Bei dem Verfahren werden eine erste und eine zweite rastersondenmikroskopische Messung an der Messprobe mit einem Messsondensystem, bei dem eine Messsonde und eine andere Messsonde an einer gemeinsamen Messsondenaufnahme gebildet sind, ausgeführt, wobei während der ersten Messung relativ zu der Messprobe die Messsonde in einer ersten Messstellung und die andere Messsonde in einer anderen Nicht-Messstellung gehalten werden und die Messprobe mit der Messsonde rastersondenmikroskopisch untersucht wird, nach der ersten Messung mittels Verlagern relativ zur Messprobe die Messsonde aus der Messstellung in eine Nicht-Messstellung und die andere Messsonde aus der anderen Nicht-Messstellung in eine andere Messstellung gebracht werden und während der zweiten Messung relativ zu der Messprobe die Messsonde in der Nicht-Messstellung und die andere Messsonde in der anderen Messstellung gehalten werden und die Messprobe mit der anderen Messsonde rastersondenmikroskopisch untersucht wird. Des weiteren betrifft die Erfindung ein Messsondensystem für ein Rastersondenmikroskop.
摘要翻译：本发明涉及一种用于测量样品的扫描探针显微镜检查的方法和装置。在该方法中，第一和在其上形成上执行与探针系统测试样品的第二扫描探针显微镜测量的测量探头和另一探针到公共探针容器，其中第一测量相对于测量样品，在第一位置测量所述测量探针的过程中而另一测量探头在不同的非测量位置被保持和测量样品是通过扫描探针显微镜用探针研究，所述第一测量装置相对于测量样品置换后，从其他非在非测量位置的测量位置，而另一测量探头的测量探头测量位置移动到一个不同的测量位置和非测量位置的测量探针和在其它测量位置的另一个探针是相对于第二测量，并与其他探头的测定试样期间保持的测定试样是通过扫描探针显微镜研究。本发明还涉及一种用于扫描探针显微镜的探针系统。

4. 发明申请

WO2007041976A1 VERFAHREN ZUM UNTERSUCHEN EINES MESSOBJEKTES UND VORRICHTUNG 审中-公开
标题翻译：方法进行调查测量物件与装置
公开(公告)号：WO2007041976A1
公开(公告)日：2007-04-19
申请号：PCT/DE2006/001131
申请日：2006-06-30
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , JÄHNKE, Torsten
发明人： JÄHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N13/10 , G12B21/20 , G12B21/22
CPC分类号： G01Q10/06 , G01Q30/025 , G01Q30/06
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen eines Meßobjektes (2, 12), bei dem das Meßobjekt (2, 12) mit einer Meßsonde (10) einer Rastersondenmeßeinrichtung rastersondenmikroskopisch untersucht wird und bei dem zumindest ein Teilabschnitt (1) des Meßobjektes (2, 12) in einem optischen Meßsystem zugeordneten Beobachtungsbereich optisch mit dem optischen Meßsystem untersucht wird, wobei eine durch die rastersondenmikroskopische Untersuchung verursachte Verlagerung des zumindest einen Teilabschnittes (1) des Meßobjektes (2, 12) aus dem Beobachtungsbereich heraus korrigiert wird, derart, daß der zumindest eine verlagerte Teilabschnitt (1) des Meßobjektes (2, 12) mit Hilfe einer Nachstelleinrichtung, welche die Verlagerung charakterisierende Datensignale verarbeitet, wieder in dem Beobachtungsbereich angeordnet wird.
摘要翻译：本发明涉及一种方法，用于检查测量对象（2，12），其中具有Rastersondenmeßeinrichtung的测量探头（10）的测量对象（2，12）由扫描型探针显微镜观察，并且其中至少一部分部分（1）的测量对象（2，12 在光学测量系统观察区域相关联）在光学上与光学测量系统，其特征在于，由在至少一个部分截面的扫描探针显微镜检查位移观察（1）从所述观察区域出测量对象（2，12）的进行校正，使得所述至少一个移测量对象（2，12）通过一调节装置，其处理的位移数据表征信号的装置的一部分（1）被再次置于在观察区域。

5. 发明申请

WO2007036222A2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM POSITIONIEREN EINES VERLAGERBAREN BAUTEILS IN EINEM UNTERSUCHUNGSSYSTEM 审中-公开
标题翻译：用于在调查系统中定位可发布组件的方法和设备
公开(公告)号：WO2007036222A2
公开(公告)日：2007-04-05
申请号：PCT/DE2006/001722
申请日：2006-09-29
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
发明人： KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N1/00
CPC分类号： G01Q70/04 , G01N35/04 , G01N2035/0491 , G01Q10/04
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Positionieren eines verlagerbaren Bauteils in einem Untersuchungssystem, insbesondere einem Meß- oder Analysesystem, wobei bei dem Verfahren das verlagerbare Bauteil mit Hilfe eines an das verlagerbare Bauteil gekoppelten Aktorelementes aus einer Ausgangsstellung in eine Endstellung verlagert wird, indem das Aktorelement mittels einer Antriebskraft bewegt wird, und das verlagerbare Bauteil über ein mit dem verlagerbaren Bauteil in Verbindung stehendes Feststellbauteil mit einer das verlagerbare Bauteil in der Endstellung feststellenden Feststellkraft beaufschlagt wird, indem das Feststellbauteil zumindest teilweise in einen Vorrat eines Mediums eintaucht und in dem Medium mittels Überführen des Mediums aus einem flüssigen Zustand in einen verfestigten Zustand fixiert wird, wobei das Medium mittels Beaufschlagen mit einer Stellgröße aus dem flüssigen Zustand in den verfestigten Zustand überführt wird.
摘要翻译：
本发明涉及一种用于在检查系统，尤其是我ROAD定位可移位的部件的方法和装置 - 或分析系统，其特征在于，借助可移动部件加上移动部件中的一个的过程致动器元件从一个起始位置移动到由致动器元件通过一个驱动力而移动，并用与该移动部件在端部位置宣告可移动部件锁定部件将关联的可移动部件的端部位置，锁紧力是由所施加的锁定构件至少部分地浸入在介质中的储存器并且在由导航用途的装置中的介质是固定拉尔状态到凝固的状态，其中通过将所述介质的操作＆oUML ;; Berf导航用途带领介质出从FL导航中使用的FL导航用途ROAD的 ssigen状态在d 固化状态。

6. 发明申请

WO2003028038A3 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM MESSEN EINER PROBE MIT HILFE EINES RASTERSONDENMIKROSKOPS 审中-公开
公开(公告)号：WO2003028038A3
公开(公告)日：2003-04-03
申请号：PCT/DE2002/003690
申请日：2002-09-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KAMPS, Jörn
发明人： KAMPS, Jörn
IPC分类号： G12B21/08
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen einer Messprobe mit Hilfe eines Rastersondenmikroskops, insbesondere eines Rasterkraftmikroskops, bei dem zum Messen einer Messprobe (6) eine Messsonde (5) mit Hilfe einer lateralen und einer vertikalen Verlagerungseinheit (1) relativ zu der Messprobe (6) verlagert wird; Messlichtstrahlen (21) mit Hilfe einer Lichtquelle (20) erzeugt und auf eine an der Messsonde angeordnete Reflexionseinrichtung (91) gelenkt werden; die Messlichtstrahlen (21) an der Reflexionseinrichtung (91) reflektiert werden, so dass reflektierte Messlichtstrahlen (21a) gebildet werden; und die reflektierten Messlichtstrahlen (21a) zum Erzeugen eines Messsignals mit Hilfe einer Korrekturlinse (47) auf eine Empfängerfläche (32) einer Empfängeeinrichtung (27) gelenkt werden, wobei die Korrekturlinse (47) in einem Abstand, welcher im wesentlichen gleich einer Fokuslänge der Korrekturlinse (47) ist, von der Empfängerfläche (32) angeordnet ist.

7. 发明申请

WO2009012765A2 MESSONDENVORRICHTUNG FÜR EIN SONDENMIKROSKOP, MESSZELLE SOWIE RASTERSONDENMIKROSKOP 审中-公开
标题翻译： MESSONDENVORRICHTUNG的探测显微镜，测量单元和探针显微镜GRID
公开(公告)号：WO2009012765A2
公开(公告)日：2009-01-29
申请号：PCT/DE2008/001202
申请日：2008-07-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
发明人： JÄHNKE, Torsten , MÜLLER, Torsten , POOLE, Kathryn, Anne , KNEBEL, Detlef
IPC分类号： G01N13/16 , G12B21/22 , B01L3/00
CPC分类号： G01Q30/14 , B01L3/5025 , B01L3/5085 , B01L2300/0819 , B01L2300/0851 , B01L2300/10 , G01Q60/42
摘要： Die Erfindung betrifft eine Messsondenvorrichtung für ein Sondenmikroskop, insbesondere ein Rastersondenmikroskop, mit einer Messsondenaufnahme und einer an der Messsondenaufnähme angeordneten Messsonde, die für eine sondenmikroskopische Untersuchung einer Probe eingerichtet ist, wobei an der Messsondenaufnahme eine die Messsonde wenigstens teilweise aufnehmende und auf einer von der Messsondenaufnahme abgewandten Seite offene Messsondenkammer gebildet ist, die konfiguriert ist, eine Flüssigkeit die Messsonde umgebend aufzunehmen. Des weiteren betrifft die Erfindung eine Messzelle zum Aufnehmen einer flüssigen Probe für ein Sondenmikroskop, ein Rastersondenmikroskop mit einer Messsondenvorrichtung sowie ein Rastersondenmikroskop mit einer Messzelle.
摘要翻译：本发明涉及一种探针装置用于探针显微镜，尤其是扫描探针显微镜，具有测量探针插座和，布置在其适于样品的探针显微镜检查Messsondenaufnähme测量探针，在所述测量探头接收测量探头至少部分地接收和测量探头插座的一个从测量探头腔背向开口侧形成有被配置成接收围绕所述探针的液体。此外，本发明涉及一种测量细胞用于保持液体样本的探测显微镜，具有探测装置和具有测量单元的扫描探针显微镜的扫描探针显微镜。

8. 发明申请

WO2008011849A1 VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINER EINE RASTERSONDENMIKROSKOPEINRICHTUNG AUFWEISENDEN MESSANORDNUNG UND MESSANORDNUNG 审中-公开
标题翻译：一种用于操作的扫描探针显微镜DEVICE HAVING测量装置和测量装置
公开(公告)号：WO2008011849A1
公开(公告)日：2008-01-31
申请号：PCT/DE2006/001648
申请日：2006-09-19
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , POOLE, Kate , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
发明人： POOLE, Kate , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten
IPC分类号： G01N13/16 , G12B21/02
CPC分类号： G01Q10/02 , G01Q30/14 , G01Q60/42
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben einer eine Rastersondenmikroskopeinrichtung aufweisenden Meßanordnung, wobei bei dem Verfahren mit einer Verlagerungseinrichtung (50, 52) eine in einem Meßsondenabschnitt mit mindestens einer Sondensubstanz (10, 20) beladene Meßsonde (1) der Rastersondenmikroskopeinrichtung und eine Aufnahme für eine Probe (4; 30), mit der die mindestens eine Sondensubstanz (10, 20) bei einer rastersondenmikroskopischen Messung in Wechselwirkung tritt, innerhalb eines von mehreren, mit Hilfe der Verlagerungseinrichtung (50, 52) einnehmbaren Relativpositionen von Meßsonde (1) und Aufnahme aufgespannten Verlagerungsbereiches relativ zueinander bewegt werden und die Meßsonde (1) nach Gebrauch bei der rastersondenmikroskopischen Messung in dem Verlagerungsbereich verbleibend gereinigt wird.
摘要翻译：本发明涉及一种用于操作一个光栅探针显微镜装置，包括测量装置，在该方法中有位移装置（50,52），一个在一个Meßsondenabschnitt与加载至少一个探针物质（10，20）的探针（1）的扫描探针显微镜装置和用于容器的（4; 30）与所述至少一个探针物质（10，20）样品发生在扫描探针显微镜测量的多个之一内相互作用摄取，与所述位移装置（50，52）的测量探头（1）和记录所跨越的相对位置的辅助位移范围内相对地移动，并在左移位部分在扫描探针显微镜测量使用后的测量探针（1）进行清洗。

9. 发明申请

WO2007036222A3 METHOD AND DEVICE FOR POSITIONING A MOVABLE PART IN A TEST SYSTEM 审中-公开
标题翻译： METHOD AND APPARATUS FOR在测定系统中定位移动部件
公开(公告)号：WO2007036222A3
公开(公告)日：2007-09-07
申请号：PCT/DE2006001722
申请日：2006-09-29
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , KNEBEL DETLEF , JAEHNKE TORSTEN
发明人： KNEBEL DETLEF , JAEHNKE TORSTEN
IPC分类号： G01N1/00 , G01Q10/04 , G01Q70/04 , G12B5/00
CPC分类号： G01Q70/04 , G01N35/04 , G01N2035/0491 , G01Q10/04
摘要： The invention relates to a method and a device for positioning a movable part in a test system, particularly a measuring system or analysis system. According to said method, the movable part is displaced from a starting position into a final position with the aid of an actuating element that is coupled to the movable part by moving the actuating element by means of a driving force, and the movable part is impinged upon by a locking force that locks the movable part in the final position via a locking part connected to the movable part by dipping the locking part at least in part into a supply of a medium and fixing the locking part in the medium by converting the medium from a liquid state into a solid state, the medium being converted from the liquid state into the solid state by impinging the same with a manipulated variable.
摘要翻译：本发明涉及一种用于在检验系统，特别是测量或分析的系统，其特征在于，可移动部件是由一联接到从起始位置可移动部件的致动器元件的装置移动到结束位置的过程中定位可移位的部件的方法和装置由致动器元件通过一个驱动力移动，并且可移动部件被通过一个相关的施加与所述移动部件锁定部件与所述移动部件在端部位置由锁定构件至少部分地浸入在介质中的贮存器和在锁定力宣告由其中所述介质是通过从所述液体状态施加操纵变量到凝固状态的装置传送的介质的变换手段的介质从液体状态固定成凝固状态。

10. 发明申请

WO2006012893A1 VORRICHTUNG ZUM AUFNEHMEN EINER MESSPROBE 审中-公开
标题翻译：设备，用于取得的测量探头
公开(公告)号：WO2006012893A1
公开(公告)日：2006-02-09
申请号：PCT/DE2005/001395
申请日：2005-08-04
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , SÜNWOLDT, Olaf , KNEBEL, Detlef
发明人： SÜNWOLDT, Olaf , KNEBEL, Detlef
IPC分类号： G02B21/34
CPC分类号： G01Q30/14 , G01N21/03 , G01N21/0303 , G01N21/0332
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Aufnehmen einer Messprobe, insbesondere Probenhalter, für eine kombinierte Untersuchung der Messprobe mit einem Messverfahren und einem anderen Messverfahren, welches von dem Messverfahren verschieden ist, mit einem flächigen Präpartionsbauteil (1) aus einem transparenten Material mit einer Präparationsfläche, auf die die Messprobe aufpräparierbar ist, wobei auf einer Seite des Präparationsbauteils (1) ein Messweg zum heranführen einer das Messverfahren ausführenden Messeinrichtung und auf einer gegenüberliegenden Seite des Präparationsbauteils (1) ein anderer Messweg zum Heranführen einer das andere Messverfahren ausführenden anderen Messeinrichtung an die Messprobe gebildet sind und wobei auf der einen Seite gegen das Präparationsbauteil (1) ein Stütz- und Abdeckelement (3a) gedrückt ist, welches eine Öffnung (5) aufweist, durch die hindurch der Messweg gebildet ist.
摘要翻译：本发明涉及一种装置，用于接收一个测量样本，特别是样品保持器，用于与测量方法和其它测量方法，它是从具有平面的测量方法不同的样品的组合检查Präpartionsbauteil（1）由具有预备区域的透明材料的到该测定用试样是aufpräparierbar，其中，在所述制备构件的一侧（1）具有引入的测量方法导出测量装置和对润滑剂组分的相对侧上的测量路径（1）用于推进一个其它测量方法导出其它测量装置到不同的测量路径测定样品中形成，并且其中，关于对组分（1）的制备一侧和支撑盖（3A）被压，其具有（5）形成，通过该测量路径中的开口。

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