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1. 发明申请

WO2003028037A3 VORRICHTUNG UND VERFAHREN FÜR EIN RASTERSONDENMIKROSKOP 审中-公开
公开(公告)号：WO2003028037A3
公开(公告)日：2003-04-03
申请号：PCT/DE2002/003688
申请日：2002-09-24
申请人： JPK Instruments AG , KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten , SÜNWOLDT, Olaf
发明人： KNEBEL, Detlef , JÄHNKE, Torsten , SÜNWOLDT, Olaf
IPC分类号： G12B21/08
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung und ein Verfahren für ein Rastersondenmikroskop, insbesondere ein Rasterkraftmikroskop mit einer Messanordnung (100), welche eine laterale Verlagerungseinrichtung (1) zum Verlagen einer Messsonde (5) in einer Ebene, eine vertikale Verlagerungseinrichtung (4) zum Verlagern der Messsonde (5) in einer Richtung senkrecht zur Ebene und einen Probenträger (11) zum Aufnehmen einer Messprobe (6) umfasst. Durch die Messanordnung (100) hindurch ist ein Kondensorlichtweg (10) gebildet, so dass der Probenträger (11) im Bereich eines Endes des Kondensorlichtwegs (10) angeordnet ist.

2. 发明申请

WO2006012893A1 VORRICHTUNG ZUM AUFNEHMEN EINER MESSPROBE 审中-公开
标题翻译：设备，用于取得的测量探头
公开(公告)号：WO2006012893A1
公开(公告)日：2006-02-09
申请号：PCT/DE2005/001395
申请日：2005-08-04
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , SÜNWOLDT, Olaf , KNEBEL, Detlef
发明人： SÜNWOLDT, Olaf , KNEBEL, Detlef
IPC分类号： G02B21/34
CPC分类号： G01Q30/14 , G01N21/03 , G01N21/0303 , G01N21/0332
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Aufnehmen einer Messprobe, insbesondere Probenhalter, für eine kombinierte Untersuchung der Messprobe mit einem Messverfahren und einem anderen Messverfahren, welches von dem Messverfahren verschieden ist, mit einem flächigen Präpartionsbauteil (1) aus einem transparenten Material mit einer Präparationsfläche, auf die die Messprobe aufpräparierbar ist, wobei auf einer Seite des Präparationsbauteils (1) ein Messweg zum heranführen einer das Messverfahren ausführenden Messeinrichtung und auf einer gegenüberliegenden Seite des Präparationsbauteils (1) ein anderer Messweg zum Heranführen einer das andere Messverfahren ausführenden anderen Messeinrichtung an die Messprobe gebildet sind und wobei auf der einen Seite gegen das Präparationsbauteil (1) ein Stütz- und Abdeckelement (3a) gedrückt ist, welches eine Öffnung (5) aufweist, durch die hindurch der Messweg gebildet ist.
摘要翻译：本发明涉及一种装置，用于接收一个测量样本，特别是样品保持器，用于与测量方法和其它测量方法，它是从具有平面的测量方法不同的样品的组合检查Präpartionsbauteil（1）由具有预备区域的透明材料的到该测定用试样是aufpräparierbar，其中，在所述制备构件的一侧（1）具有引入的测量方法导出测量装置和对润滑剂组分的相对侧上的测量路径（1）用于推进一个其它测量方法导出其它测量装置到不同的测量路径测定样品中形成，并且其中，关于对组分（1）的制备一侧和支撑盖（3A）被压，其具有（5）形成，通过该测量路径中的开口。

3. 发明申请

WO2003028036A1 VORRICHTUNG ZUM HALTEN EINER MESSSONDE FÜR EIN RASTERSONDENMIKROSKOP 审中-公开
标题翻译： DEVICE用于保持测量探针来扫描探针显微镜
公开(公告)号：WO2003028036A1
公开(公告)日：2003-04-03
申请号：PCT/DE2002/003689
申请日：2002-09-24
申请人： JPK INSTRUMENTS AG , SÜNWOLDT, Olaf , HASCHKE, Heiko
发明人： SÜNWOLDT, Olaf , HASCHKE, Heiko
IPC分类号： G12B21/00
CPC分类号： G01Q30/14 , G01Q70/02
摘要： Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zum Halten einer Messsonde (207) für ein Rastersondenmikroskop, insbesondere ein Rasterkraftmikroskop, mit einem Haltebauteil (200) zur Montage in einer Messanordnung eines Rastersondenmikroskops. Die Messsonde (207) ist mit Hilfe eines Klemmbauteils (201) an dem Haltebauteil (200) lösbar befestigt, wobei das Klemmbauteil (201) selbstarretierend an dem Haltebauteil (200) befestigt ist.
摘要翻译：本发明涉及一种装置，用于保持测量探针（207），用于扫描探针显微镜，尤其是扫描力显微镜，具有用于在扫描探针显微镜的测量装置安装的保持部件（200）。测量探针（207）可拆卸地通过在夹紧构件（201）的紧固，所述保持构件（200），其中所述夹紧构件（201）附连到所述保持构件（200）上自锁。

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