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1. 发明专利

TW201428244A 固有振動測定裝置审中-公开
简体标题：固有振动测定设备
公开(公告)号：TW201428244A
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：TW102144407
申请日：2013-12-04
申请人：阪東化學股份有限公司 , BANDO CHEMICAL INDUSTRIES, LTD.
发明人：宮田博文 , MIYATA, HIROFUMI , 脇坂嘉一 , WAKIZAKA, YOSHIKAZU , 千田廉 , CHIDA, YASUSHI
IPC分类号： G01H17/00 , G01L5/04
CPC分类号： G01H13/00 , G01L5/106 , G01P15/00 , G01P15/125
摘要：一種測定皮帶(101)之固有振動數的固有振動測定裝置，其具備：加速度感測器(11)，該加速度感測器(11)安裝在皮帶(101)位於相鄰的帶輪(102,103)間的部分，並檢測來自於該皮帶(101)之振動的加速度；以及測定器(13)，該測定器(13)根據由加速度感測器(11)檢測出的加速度來測定皮帶(101)之固有振動數。
简体摘要：一种测定皮带(101)之固有振动数的固有振动测定设备，其具备：加速度传感器(11)，该加速度传感器(11)安装在皮带(101)位于相邻的带轮(102,103)间的部分，并检测来自于该皮带(101)之振动的加速度；以及测定器(13)，该测定器(13)根据由加速度传感器(11)检测出的加速度来测定皮带(101)之固有振动数。

2. 发明专利

TWI404942B 扭轉共振頻率測量裝置及方法有权
简体标题：扭转共振频率测量设备及方法
公开(公告)号：TWI404942B
公开(公告)日：2013-08-11
申请号：TW098142228
申请日：2009-12-10
申请人：財團法人工業技術研究院 , INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：桂人傑 , GUEY, ZEN JEY , 張永源 , CHANG, YUN YUAN
IPC分类号： G01R23/16 , G01M7/02 , G01H1/10
CPC分类号： G01H13/00

3. 发明专利

TWI325050B 量測石英晶體微天平（ＱＣＭ）反應頻率及延遲時間之系統有权
简体标题：量测石英晶体微天平（ＱＣＭ）反应频率及延迟时间之系统
公开(公告)号：TWI325050B
公开(公告)日：2010-05-21
申请号：TW096104045
申请日：2007-02-05
申请人：大同股份有限公司
发明人：李昭法 , 顏聰榮 , 郭正興
IPC分类号： G01H , G01N
CPC分类号： G01H13/00
摘要：本發明係有關於一種量測石英晶體微天平反應頻率及延遲時間之系統，其包含一電晶體振盪電路、一開關電路、一比較器電路及一控制電路。電晶體振盪電路包含一石英振盪器，用以產生一原始振盪訊號。開關電路耦合至電晶體振盪電路，當開關電路接收一開始訊號時，致能電晶體振盪電路，以產生原始振盪訊號。比較器電路耦合至電晶體振盪電路，以將該原始振盪訊號轉換為一方波振盪訊號。控制電路耦合至該比較器電路，以接收該方波振盪訊號，俾決定該石英晶體微天平之反應頻率及延遲時間。【創作特點】本發明之一目的係在提供一種量測石英晶體微天平反應頻率及延遲時間之系統，俾可可準確地測量振盪訊號的頻率，以計算振盪頻率的變化量，進而推算石英晶體微天平(QCM)所吸附物質的質量。
本發明之另一目的係在提供一種量測石英晶體微天平反應頻率及延遲時間之系統，可測量在振盪訊號的振幅及頻率趨於穩定前的延遲時間，並進而推算和石英晶體微天平(QCM)所檢測物質的性質及吸附量，而改善習知技術疏漏之處。
為達成前述之目的，本發明係提出一種量測石英晶體微天平反應頻率及延遲時間之系統，其包含一電晶體振盪電路、一開關電路、一比較器電路及一控制電路。該電晶體振盪電路包含一石英振盪器，用以產生一原始振盪訊號；該開關電路耦合至該電晶體振盪電路，當該開關電路接收一開始訊號時，致能該電晶體振盪電路，以產生該原始振盪訊號；該比較器電路耦合至該電晶體振盪電路，以將該原始振盪訊號轉換為一方波振盪訊號；該控制電路耦合至該比較器電路，以接收該方波振盪訊號，俾決定該石英晶體微天平之反應頻率及延遲時間。
简体摘要：本发明系有关于一种量测石英晶体微天平反应频率及延迟时间之系统，其包含一晶体管振荡电路、一开关电路、一比较器电路及一控制电路。晶体管振荡电路包含一石英振荡器，用以产生一原始振荡信号。开关电路耦合至晶体管振荡电路，当开关电路接收一开始信号时，致能晶体管振荡电路，以产生原始振荡信号。比较器电路耦合至晶体管振荡电路，以将该原始振荡信号转换为一方波振荡信号。控制电路耦合至该比较器电路，以接收该方波振荡信号，俾决定该石英晶体微天平之反应频率及延迟时间。【创作特点】本发明之一目的系在提供一种量测石英晶体微天平反应频率及延迟时间之系统，俾可可准确地测量振荡信号的频率，以计算振荡频率的变化量，进而推算石英晶体微天平(QCM)所吸附物质的质量。本发明之另一目的系在提供一种量测石英晶体微天平反应频率及延迟时间之系统，可测量在振荡信号的振幅及频率趋于稳定前的延迟时间，并进而推算和石英晶体微天平(QCM)所检测物质的性质及吸附量，而改善习知技术疏漏之处。为达成前述之目的，本发明系提出一种量测石英晶体微天平反应频率及延迟时间之系统，其包含一晶体管振荡电路、一开关电路、一比较器电路及一控制电路。该晶体管振荡电路包含一石英振荡器，用以产生一原始振荡信号；该开关电路耦合至该晶体管振荡电路，当该开关电路接收一开始信号时，致能该晶体管振荡电路，以产生该原始振荡信号；该比较器电路耦合至该晶体管振荡电路，以将该原始振荡信号转换为一方波振荡信号；该控制电路耦合至该比较器电路，以接收该方波振荡信号，俾决定该石英晶体微天平之反应频率及延迟时间。

4. 发明专利

TW200624780A 應用薄膜體聲波共振器之感測裝置 FBAR-BASED SENSING APPARATUS 失效
简体标题：应用薄膜体声波共振器之传感设备 FBAR-BASED SENSING APPARATUS
公开(公告)号：TW200624780A
公开(公告)日：2006-07-16
申请号：TW093140886
申请日：2004-12-28
申请人：台達電子工業股份有限公司 DELTA ELECTRONICS, INC.
发明人：吳宗穎 WU, TSUNG YING , 邢泰剛 SHING, TAI KANG
IPC分类号： G01H , H03H , H01L
CPC分类号： G01H13/00
摘要：一種應用薄膜體聲波共振器之感測裝置，包括一薄膜體聲波共振結構(FBAR)，具有一體聲波波速值(Vb)以及與其相對應之一共振頻率值(f)，其中，薄膜體聲波共振結構受到外力而產生形變，改變體聲波波速值，相對應地改變共振頻率值，得到一頻率偏移量，藉由計算頻率偏移量即可推得外力之大小。
简体摘要：一种应用薄膜体声波共振器之传感设备，包括一薄膜体声波共振结构(FBAR)，具有一体声波波速值(Vb)以及与其相对应之一共振频率值(f)，其中，薄膜体声波共振结构受到外力而产生形变，改变体声波波速值，相对应地改变共振频率值，得到一频率偏移量，借由计算频率偏移量即可推得外力之大小。

5. 发明专利

TW201632853A 基於振動或聲學特性分析的晶圓夾具偵測审中-公开
简体标题：基于振动或声学特性分析的晶圆夹具侦测
公开(公告)号：TW201632853A
公开(公告)日：2016-09-16
申请号：TW104143754
申请日：2015-12-25
申请人：艾克塞利斯科技公司 , AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.
发明人：佐藤修 , SATOH, SHU
IPC分类号： G01L1/10 , G01L5/00 , H01L21/687
CPC分类号： G01N29/34 , G01H13/00 , G01N29/09 , G01N29/12 , G01N29/2418 , G01N2291/014 , G01N2291/018 , G01N2291/028 , H01L21/67259 , H01L21/67288 , H01L21/6831 , H01L22/10
摘要：本發明提供一種用於偵測一夾緊裝置之夾緊狀態的工件夾緊狀態偵測系統及方法。一夾緊裝置具有一夾緊表面，該夾緊裝置被配置成用以選擇性地夾緊一工件至該夾緊表面。該夾緊裝置可以為一靜電式夾盤或是一機械式夾具，用以選擇性地將一半導體晶圓固定至該處。一振動誘發機制會進一步被提供，其中，該振動誘發機制被配置成用以選擇性地振動該夾緊裝置與工件中的一或更多者。一振動感測機制也會被提供，其中，該振動感測機制被配置成用以偵測該夾緊裝置與工件中的一或更多者的振動。夾緊狀態的偵測運用聲學特性的變化(例如，自然共振頻率或聲學阻抗的偏移)來決定工件的夾緊條件。一控制器會進一步被配置成用以決定和該工件夾緊至該夾緊表面相關聯的夾緊狀態，其中，該夾緊狀態和該夾緊裝置與工件中的一或更多者之被偵測到的振動相關聯。
简体摘要：本发明提供一种用于侦测一夹紧设备之夹紧状态的工件夹紧状态侦测系统及方法。一夹紧设备具有一夹紧表面，该夹紧设备被配置成用以选择性地夹紧一工件至该夹紧表面。该夹紧设备可以为一静电式夹盘或是一机械式夹具，用以选择性地将一半导体晶圆固定至该处。一振动诱发机制会进一步被提供，其中，该振动诱发机制被配置成用以选择性地振动该夹紧设备与工件中的一或更多者。一振动传感机制也会被提供，其中，该振动传感机制被配置成用以侦测该夹紧设备与工件中的一或更多者的振动。夹紧状态的侦测运用声学特性的变化(例如，自然共振频率或声学阻抗的偏移)来决定工件的夹紧条件。一控制器会进一步被配置成用以决定和该工件夹紧至该夹紧表面相关联的夹紧状态，其中，该夹紧状态和该夹紧设备与工件中的一或更多者之被侦测到的振动相关联。

6. 发明专利

TW201531672A 用於認證裝置的方法及系統审中-公开
简体标题：用于认证设备的方法及系统
公开(公告)号：TW201531672A
公开(公告)日：2015-08-16
申请号：TW103129007
申请日：2014-08-22
申请人：西克帕控股有限公司 , SICPA HOLDING SA
发明人：卡勒嘉里安德雅 , CALLEGARI, ANDREA , 迪寇克斯艾瑞克 , DECOUX, ERIC
IPC分类号： G01H13/00 , G04B18/02 , G04D7/00
CPC分类号： G04D7/1207 , G01H13/00 , G04B18/02 , G04C5/00 , G04D7/001 , G04D7/003 , G04D7/1228
摘要：用於認證時計之方法包含以下步驟：量測由該時計發射之聲振動以獲得指示量級資訊之一電訊號，該量級資訊包含該等量測的聲振動之量級隨時間的變化。該電訊號包含與該時計中之石英諧振器之存在相關聯的至少一個特定音調。方法進一步包含以下步驟：進行電訊號至頻域之變換以獲得指示電訊號之功率隨頻率變化的頻域功率譜；處理該頻域功率譜以便顯示頻域功率譜中對應於該至少一個特定音調的至少一個狹窄尖峰；及擷取對應於該至少一個狹窄尖峰的至少一個諧振頻率。方法進一步包含以下步驟：將所擷取至少一個諧振頻率與至少一個參考諧振頻率進行比較；以及決定該時計之正宗性。
简体摘要：用于认证时计之方法包含以下步骤：量测由该时计发射之声振动以获得指示量级信息之一电信号，该量级信息包含该等量测的声振动之量级随时间的变化。该电信号包含与该时计中之石英谐振器之存在相关联的至少一个特定音调。方法进一步包含以下步骤：进行电信号至频域之变换以获得指示电信号之功率随频率变化的频域功率谱；处理该频域功率谱以便显示频域功率谱中对应于该至少一个特定音调的至少一个狭窄尖峰；及截取对应于该至少一个狭窄尖峰的至少一个谐振频率。方法进一步包含以下步骤：将所截取至少一个谐振频率与至少一个参考谐振频率进行比较；以及决定该时计之正宗性。

7. 发明专利

TW201209398A 以圓柱實心桿件試體長軸與橫截面共振頻率量測材料動卜松比之檢測技術 A TESTING TECHNIQUE FOR DETERMINATION OF DYNAMIC POISSON'S RATIO OF MATERIAL WITH AXIAL AND CROSS-SECTIONAL RESONANT FREQUENCIES OF CIRCULAR SOLID ROD SPECIMEN 审中-公开
简体标题：以圆柱实心杆件试体长轴与横截面共振频率量测材料动卜松比之检测技术 A TESTING TECHNIQUE FOR DETERMINATION OF DYNAMIC POISSON'S RATIO OF MATERIAL WITH AXIAL AND CROSS-SECTIONAL RESONANT FREQUENCIES OF CIRCULAR SOLID ROD SPECIMEN
公开(公告)号：TW201209398A
公开(公告)日：2012-03-01
申请号：TW099127309
申请日：2010-08-16
申请人：國立臺灣科技大學
发明人：張大鵬 , 王金圳
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01H13/00
摘要：一種以圓柱實心桿件試體檢測材料動卜松比的方法，至少包括下列之步驟：1.將待檢測之材料製成圓柱實心桿件試體；2.量測圓柱實心桿件試體的直徑及長度；3.經試驗求得圓柱實心桿件試體的基本長軸共振頻率及基本橫截面向共振頻率；4.經由本發明提供的公式計算此材料的動卜松比；5.經由本發明提供的公式檢驗圓柱實心桿件試體的規定尺寸。
简体摘要：一种以圆柱实心杆件试体检测材料动卜松比的方法，至少包括下列之步骤：1.将待检测之材料制成圆柱实心杆件试体；2.量测圆柱实心杆件试体的直径及长度；3.经试验求得圆柱实心杆件试体的基本长轴共振频率及基本横截面向共振频率；4.经由本发明提供的公式计算此材料的动卜松比；5.经由本发明提供的公式检验圆柱实心杆件试体的规定尺寸。

8. 发明专利

TW200809169A 振動波檢測方法及裝置 VIBRATIONAL WAVE DETECTION METHOD, AND VIBRATIONAL WAVE DETECTOR 审中-公开
简体标题：振动波检测方法及设备 VIBRATIONAL WAVE DETECTION METHOD, AND VIBRATIONAL WAVE DETECTOR
公开(公告)号：TW200809169A
公开(公告)日：2008-02-16
申请号：TW096123309
申请日：2007-06-27
申请人：國立大學法人東京大學 THE UNIVERSITY OF TOKYO , 東京威力科創股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED
发明人：安藤繁 ANDO, SHIGERU , 小野順貴 ONO, NOBUTAKA , 藤田悠哉 FUJITA, YUYA , 池內直樹 IKEUCHI, NAOKI
IPC分类号： G01H
CPC分类号： G01H11/08 , G01H13/00
摘要：本發明係提供一種振動波檢測方法及裝置,其可即時地作為瞬時値獲得希伯特轉換對輸出。該振動波檢測方法係使振動波傳播至在互不相同之特定頻率共振之複數個共振樑51~5m,將共振樑51~5m之各個振動作為電信號,在設於各個共振樑51~5m之壓阻61~6m進行檢測者,其將共振樑51~5m排列成使各個共振子之位置呈與該等共振頻率之對數成比例之對數線形,設N為2以上之整數,每隔N-1根選擇共振樑5l~5m,輸出對其壓阻61~6m之輸出進行加法運算所得之複數個信號。再者,較好的是,前述N為3以上之整數,特別是共振樑51~5m為使每隔N-1根之共振樑5l~5m之共振頻率之比一定,設定並排列共振頻率。
简体摘要：本发明系提供一种振动波检测方法及设备,其可实时地作为瞬时値获得希伯特转换对输出。该振动波检测方法系使振动波传播至在互不相同之特定频率共振之复数个共振梁51~5m,将共振梁51~5m之各个振动作为电信号,在设于各个共振梁51~5m之压阻61~6m进行检测者,其将共振梁51~5m排列成使各个共振子之位置呈与该等共振频率之对数成比例之对数线形,设N为2以上之整数,每隔N-1根选择共振梁5l~5m,输出对其压阻61~6m之输出进行加法运算所得之复数个信号。再者,较好的是,前述N为3以上之整数,特别是共振梁51~5m为使每隔N-1根之共振梁5l~5m之共振频率之比一定,设置并排列共振频率。

9. 发明专利

TW201423072A 皮帶張力計算程式及皮帶固有頻率計算程式與彼等之方法及裝置审中-公开
简体标题：皮带张力计算进程及皮带固有频率计算进程与彼等之方法及设备
公开(公告)号：TW201423072A
公开(公告)日：2014-06-16
申请号：TW102137731
申请日：2013-10-18
申请人：阪東化學股份有限公司 , BANDO CHEMICAL INDUSTRIES, LTD.
发明人：宮田博文 , MIYATA, HIROFUMI , 脇坂嘉一 , WAKIZAKA, YOSHIKAZU , 千田廉 , CHIDA, YASUSHI
IPC分类号： G01L5/04
CPC分类号： G01L5/042 , F16H57/01 , G01H13/00
摘要：本發明之目的在於更正確地求取皮帶之張力或進行張力設定時的皮帶之目標固有頻率。皮帶張力計算程式係使電腦執行：接收皮帶之固有頻率及跨距的處理；根據所述固有頻率、所述跨距、以及從記憶體讀出的所述皮帶之單位質量，利用規定的計算式進行求取所述皮帶之張力的計算的處理；以及，使顯示器顯示所述張力的處理。當所述跨距在與所述皮帶相對應之規定範圍內時，所述規定的計算式被校正為使得起因於所述皮帶之彎曲剛性的誤差變小。
简体摘要：本发明之目的在于更正确地求取皮带之张力或进行张力设置时的皮带之目标固有频率。皮带张力计算进程系使电脑运行：接收皮带之固有频率及跨距的处理；根据所述固有频率、所述跨距、以及从内存读出的所述皮带之单位质量，利用规定的计算式进行求取所述皮带之张力的计算的处理；以及，使显示器显示所述张力的处理。当所述跨距在与所述皮带相对应之规定范围内时，所述规定的计算式被校正为使得起因于所述皮带之弯曲刚性的误差变小。

10. 发明专利

TW200834076A 量測石英晶體微天平(QCM)反應頻率及延遲時間之系統审中-公开
简体标题：量测石英晶体微天平(QCM)反应频率及延迟时间之系统
公开(公告)号：TW200834076A
公开(公告)日：2008-08-16
申请号：TW096104045
申请日：2007-02-05
申请人：大同股份有限公司 TATUNG CO., LTD.
发明人：李昭法 , 顏聰榮 , 郭正興
IPC分类号： G01N , G01G
CPC分类号： G01H13/00
摘要：本發明係有關於一種量測石英晶體微天平反應頻率及延遲時間之系統,其包含一電晶體振盪電路、一開關電路、一比較器電路及一控制電路。電晶體振盪電路包含一石英振盪器,用以產生一原始振盪訊號。開關電路耦合至電晶體振盪電路,當開關電路接收一開始訊號時,致能電晶體振盪電路,以產生原始振盪訊號。比較器電路耦合至電晶體振盪電路,以將該原始振盪訊號轉換為一方波振盪訊號。控制電路耦合至該比較器電路,以接收該方波振盪訊號,俾決定該石英晶體微天平之反應頻率及延遲時間。
简体摘要：本发明系有关于一种量测石英晶体微天平反应频率及延迟时间之系统,其包含一晶体管振荡电路、一开关电路、一比较器电路及一控制电路。晶体管振荡电路包含一石英振荡器,用以产生一原始振荡信号。开关电路耦合至晶体管振荡电路,当开关电路接收一开始信号时,致能晶体管振荡电路,以产生原始振荡信号。比较器电路耦合至晶体管振荡电路,以将该原始振荡信号转换为一方波振荡信号。控制电路耦合至该比较器电路,以接收该方波振荡信号,俾决定该石英晶体微天平之反应频率及延迟时间。

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