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11. 发明专利

TW201040501A 電容性感測 CAPACITIVE SENSING 审中-公开
简体标题：电容性传感 CAPACITIVE SENSING
公开(公告)号：TW201040501A
公开(公告)日：2010-11-16
申请号：TW099106025
申请日：2010-03-02
申请人：愛特梅爾公司
发明人：都伯利約翰史丹利
IPC分类号： G01D
CPC分类号： H03K17/962 , G01D1/00 , G01D5/24 , G01D15/00 , G01D21/00 , G01R29/0878 , H03K17/9622 , H03K2217/960725
摘要：一種多通道電容性感測器，其用於量測複數個感測電極到一系統參考電位的電容。該感測器包括：一取樣電容器，其具有一第一端子和一第二端子；一第一二極體，其具有一耦接到該取樣電容器的該第二端子的第一端子和一耦接到一第一感測電極的第二端子；以及一第二二極體，其具有一耦接到該取樣電容器的該第二端子的第一端子和一耦接到一第二感測電極的第二端子。該取樣電容器和該等二極體耦接到一控制電路，例如實施於微控制器中之控制電路。該控制電路可操作以將一驅動信號(例如，一系列電壓脈衝)施加於該取樣電容器的該第一端子，同時將一偏壓信號施加於該等二極體中的一者或另一者的該第二端子，以防止該二極體傳導該驅動信號。因此，可在共用共同的取樣電容器的同時使用電荷轉移技術量測多個電容。此有助於減少通道間漂移。可藉由提供另外的二極體和對應的感測電極來添加另外的量測通道。對於三個或三個以上通道，該方案每額外通道僅需要一個額外控制電路連接。
简体摘要：一种多信道电容性传感器，其用于量测复数个传感电极到一系统参考电位的电容。该传感器包括：一采样电容器，其具有一第一端子和一第二端子；一第一二极管，其具有一耦接到该采样电容器的该第二端子的第一端子和一耦接到一第一传感电极的第二端子；以及一第二二极管，其具有一耦接到该采样电容器的该第二端子的第一端子和一耦接到一第二传感电极的第二端子。该采样电容器和该等二极管耦接到一控制电路，例如实施于单片机中之控制电路。该控制电路可操作以将一驱动信号(例如，一系列电压脉冲)施加于该采样电容器的该第一端子，同时将一偏压信号施加于该等二极管中的一者或另一者的该第二端子，以防止该二极管传导该驱动信号。因此，可在共享共同的采样电容器的同时使用电荷转移技术量测多个电容。此有助于减少信道间漂移。可借由提供另外的二极管和对应的传感电极来添加另外的量测信道。对于三个或三个以上信道，该方案每额外信道仅需要一个额外控制电路连接。

12. 发明专利

TW201714346A 物件辨識系統及方法（二）审中-公开
简体标题：对象辨识系统及方法（二）
公开(公告)号：TW201714346A
公开(公告)日：2017-04-16
申请号：TW105129122
申请日：2016-09-08
申请人： CPG科技有限責任公司 , CPG TECHNOLOGIES, LLC
发明人：莉莉詹姆士D , LILLY, JAMES D. , 科姆肯尼L , CORUM, KENNETH L. , 科姆詹姆士F , CORUM, JAMES F. , 品尚喬瑟夫F , PINZONE, JOSEPH F.
IPC分类号： H01P3/00 , H04B10/00
CPC分类号： G01R29/0878 , G01S13/75 , G06K7/10 , G06K7/10158 , G06K7/10376 , G08B13/2405 , H01P3/00
摘要：一種物件辨識系統(400)，其包括：導引面波導探針(P)，該導引面波導探針產生導引面波，該導引面波具有頻率依賴性照射區(426)，在該頻率依賴性照射區中，一或多個物件辨識標記(402)係藉由該導引面波供電，且在該頻率依賴性照射區外部，其他物件辨識標記不藉由該導引面波供電；以及在該照射區處之接收器(408)，該接收器接收來自位於該照射區之該一或多個物件辨識標記的返回信號，該等返回信號係藉由該等物件辨識標記發射以作為藉由該導引面波供電的自動化回應。
简体摘要：一种对象辨识系统(400)，其包括：导引面波导探针(P)，该导引面波导探针产生导引面波，该导引面波具有频率依赖性照射区(426)，在该频率依赖性照射区中，一或多个对象辨识标记(402)系借由该导引面波供电，且在该频率依赖性照射区外部，其他对象辨识标记不借由该导引面波供电；以及在该照射区处之接收器(408)，该接收器接收来自位于该照射区之该一或多个对象辨识标记的返回信号，该等返回信号系借由该等对象辨识标记发射以作为借由该导引面波供电的自动化回应。

13. 发明专利

TW201627675A 底材電特性之測量方法、裝置及系統审中-公开
简体标题：底材电特性之测量方法、设备及系统
公开(公告)号：TW201627675A
公开(公告)日：2016-08-01
申请号：TW105101586
申请日：2016-01-19
申请人：索泰克公司 , SOITEC , 法語天主教魯汶大學 , UNIVERSITE CATHOLIQUE DE LOUVAIN
发明人：馬拉坤塞德里克 , 洛斯肯真皮埃爾 , RASKIN, JEAN-PIERRE , 戴斯鮑內埃里克 , DESBONNETS, ERIC
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R31/2822 , G01R29/0878 , G01R29/12 , G01R31/2648 , G01R31/2831 , G01R31/2887 , G01R31/2889
摘要：本發明係關於一底材電特性測量裝置，其包括：一介電材料所製成之一支撐件，其具有一承載面，該支撐件包含一電性測試結構，其具有與該支撐件之承載面齊平之一接觸面，該支撐件之承載面及該電性測試結構之接觸面適合與底材有緊密接觸。該測量裝置亦包括至少一連接凸塊接點，其被形成於該支撐件之另一面，且在電性上連結至該電性測試結構。本發明亦與一底材特性描述系統及一種採用該測量裝置之底材特性測量方法有關。
简体摘要：本发明系关于一底材电特性测量设备，其包括：一介电材料所制成之一支撑件，其具有一承载面，该支撑件包含一电性测试结构，其具有与该支撑件之承载面齐平之一接触面，该支撑件之承载面及该电性测试结构之接触面适合与底材有紧密接触。该测量设备亦包括至少一连接凸块接点，其被形成于该支撑件之另一面，且在电性上链接至该电性测试结构。本发明亦与一底材特性描述系统及一种采用该测量设备之底材特性测量方法有关。

14. 发明专利

TWI540322B 關於近場電磁探針及掃描器之系統，裝置及方法有权
简体标题：关于近场电磁探针及扫描仪之系统，设备及方法
公开(公告)号：TWI540322B
公开(公告)日：2016-07-01
申请号：TW102132242
申请日：2013-09-06
申请人：西凱渥資訊處理科技公司 , SKYWORKS SOLUTIONS, INC.
发明人：黃庭福吳 , HOANG, DINHPHUOC VU , 章國豪 , ZHANG, GUOHAO , 榎本狄恩和夫 , ENOMOTO, DEAN KAZUO , 阮紅孟 , NGUYEN, HOANG MONG , 陳霍華E , CHEN, HOWARD E.
IPC分类号： G01R29/08
CPC分类号： G01R27/32 , G01R1/07 , G01R27/02 , G01R27/04 , G01R29/0821 , G01R29/0871 , G01R29/0878 , G01R29/10 , G01R31/001 , G01R31/002

15. 发明专利

TW201347291A 天線支架审中-公开
简体标题：天线支架
公开(公告)号：TW201347291A
公开(公告)日：2013-11-16
申请号：TW101117257
申请日：2012-05-15
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：楊永升 , YANG, YONG-SHENG
IPC分类号： H01Q1/12
CPC分类号： G01R31/001 , G01R29/0878
摘要：一種天線支架，包括一底座、一垂直設於該底座上的立柱、一可滑動地套設於該立柱的滑動機構及一可沿垂直該滑動機構的滑動方向可調節地裝設於該滑動機構的天線，該天線包括一表面設有齒條的橫桿，該滑動機構包括一外殼及一裝設於該外殼內的馬達，該外殼設有供該橫桿穿過的導孔，該馬達設有一驅動滾輪，該馬達運轉使驅動滾輪與該橫桿的齒條相嚙合而調節該天線沿垂直該滑動機機構的滑動方向的位移。
简体摘要：一种天线支架，包括一底座、一垂直设于该底座上的立柱、一可滑动地套设于该立柱的滑动机构及一可沿垂直该滑动机构的滑动方向可调节地装设于该滑动机构的天线，该天线包括一表面设有齿条的横杆，该滑动机构包括一外壳及一装设于该外壳内的马达，该外壳设有供该横杆穿过的导孔，该马达设有一驱动滚轮，该马达运转使驱动滚轮与该横杆的齿条相啮合而调节该天线沿垂直该滑动机机构的滑动方向的位移。

16. 发明专利

TW200521450A 電磁訊號感測系統 ELECTROMAGNETIC SIGNAL SENSING SYSTEM 审中-公开
简体标题：电磁信号传感系统 ELECTROMAGNETIC SIGNAL SENSING SYSTEM
公开(公告)号：TW200521450A
公开(公告)日：2005-07-01
申请号：TW092136919
申请日：2003-12-25
申请人：財團法人工業技術研究院 INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE
发明人：黃銘杰 HUANG, MING CHIEH , 梁文烈 LIANG, WEN-LIE , 薛文崇 SHAY, WEN TRON
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R29/0878
摘要：本發明之電磁訊號感測系統包含一用以產生一電調制訊號之調制電路、一電氣連接於該調制電路之雷射光源、一耦合於該雷射光源之光調制散射元件、一接收天線、一電氣連接於該接收天線之同步檢測電路以及一電氣連接於該同步檢測電路之訊號處理電路。該雷射光源根據該電調制訊號產生一光調制訊號以調制該光調制散射元件將一電磁訊號轉換成一調制散射波訊號。該調制散射波訊號經該接收天線接收後，由該同步檢測電路根據該調制散射波訊號及該電調制訊號產生具有90度相位差之一第一相位訊號及一第二相位訊號，再由該訊號處理電路計算該電磁訊號之振幅及相位。
简体摘要：本发明之电磁信号传感系统包含一用以产生一电调制信号之调制电路、一电气连接于该调制电路之激光光源、一耦合于该激光光源之光调制散射组件、一接收天线、一电气连接于该接收天线之同步检测电路以及一电气连接于该同步检测电路之信号处理电路。该激光光源根据该电调制信号产生一光调制信号以调制该光调制散射组件将一电磁信号转换成一调制散射波信号。该调制散射波信号经该接收天线接收后，由该同步检测电路根据该调制散射波信号及该电调制信号产生具有90度相位差之一第一相位信号及一第二相位信号，再由该信号处理电路计算该电磁信号之振幅及相位。

17. 发明专利

TWI591683B 電漿處理系統中用來偵測方位角不均勻性之方法與設備有权
简体标题：等离子处理系统中用来侦测方位角不均匀性之方法与设备
公开(公告)号：TWI591683B
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：TW102120744
申请日：2013-06-11
申请人：蘭姆研究公司 , LAM RESEARCH CORPORATION
发明人：瑪瑞卡塔諾艾力西 , MARAKHTANOV, ALEXEI , 漢沙羅金德 , DHINDSA, RAJINDER
IPC分类号： H01J37/32
CPC分类号： H01J37/32935 , G01R19/0061 , G01R29/0878 , H01J37/32091 , H01J37/32174 , H01J37/32577 , H01J37/3299

18. 发明专利

TW201711269A 用於最佳效能的場強監測审中-公开
简体标题：用于最佳性能的场强监测
公开(公告)号：TW201711269A
公开(公告)日：2017-03-16
申请号：TW105128786
申请日：2016-09-06
申请人： CPG科技有限責任公司 , CPG TECHNOLOGIES, LLC
发明人：科姆詹姆士F , CORUM, JAMES F. , 科姆肯尼L , CORUM, KENNETH L. , 莉莉詹姆士D , LILLY, JAMES D. , 品尚喬瑟夫F , PINZONE, JOSEPH F.
IPC分类号： H01P5/00 , H02J50/20
CPC分类号： G01R29/12 , G01R27/32 , G01R29/0871 , G01R29/0878 , G01V3/12 , H01P3/00 , H01Q7/06 , H01Q13/20 , H01Q13/26
摘要：本案揭示用於藉由導引面波導探針產生的電磁場之場強監測的各種實施例。場強計量測該電磁場之該場強。該場強計傳達該所量測場強至耦合至該導引面波導探針之探針控制系統。可根據該所量測場強而對該導引面波導探針之一或多個操作參數做出調整。
简体摘要：本案揭示用于借由导引面波导探针产生的电磁场之场强监测的各种实施例。场强计量测该电磁场之该场强。该场强计传达该所量测场强至耦合至该导引面波导探针之探针控制系统。可根据该所量测场强而对该导引面波导探针之一或多个操作参数做出调整。

19. 发明专利

TW201640836A 射頻干擾抑制裝置及包含射頻干擾抑制裝置的射頻測試設備审中-公开
简体标题：射频干扰抑制设备及包含射频干扰抑制设备的射频测试设备
公开(公告)号：TW201640836A
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：TW105108596
申请日：2016-03-18
申请人：捷普電子(新加坡)公司 , JABIL CIRCUIT (SINGAPORE)PTE LTD.
发明人：黃志明 , OOI, JOSHUA TZE-MENG , 蔡凱祥 , CHUA, RAYMOND KHAI SIANG
IPC分类号： H04B1/10 , H04B1/16
CPC分类号： H03H1/0007 , G01R29/0878 , G01R29/10
摘要：一種射頻干擾抑制裝置包含一平坦介電板，該介電板形成有延伸在其長度方向的兩第一狹槽與兩第二狹槽，該等第一/第二狹槽係以對稱於該介電板的一平行該長度方向的中心線之方式配置，並具有一相關於一第一/第二頻帶的第一/第二長度。一金屬層係貼附於該介電板，並具有一圍繞該等第一狹槽的U形第一圖案、一圍繞該等第二狹槽的U形第二圖案、及一沿該中心線延伸且並將該等第一及第二圖案互相連接的條狀第三圖案。
简体摘要：一种射频干扰抑制设备包含一平坦介电板，该介电板形成有延伸在其长度方向的两第一狭槽与两第二狭槽，该等第一/第二狭槽系以对称于该介电板的一平行该长度方向的中心线之方式配置，并具有一相关于一第一/第二频带的第一/第二长度。一金属层系贴附于该介电板，并具有一围绕该等第一狭槽的U形第一图案、一围绕该等第二狭槽的U形第二图案、及一沿该中心线延伸且并将该等第一及第二图案互相连接的条状第三图案。

20. 发明专利

TW201415039A 關於近場電磁探針及掃描器之系統，裝置及方法审中-公开
简体标题：关于近场电磁探针及扫描仪之系统，设备及方法
公开(公告)号：TW201415039A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：TW102132242
申请日：2013-09-06
申请人：西凱渥資訊處理科技公司 , SKYWORKS SOLUTIONS, INC.
发明人：黃庭福吳 , HOANG, DINHPHUOC VU , 章國豪 , ZHANG, GUOHAO , 榎本狄恩和夫 , ENOMOTO, DEAN KAZUO , 阮紅孟 , NGUYEN, HOANG MONG , 陳霍華E , CHEN, HOWARD E.
IPC分类号： G01R29/08
CPC分类号： G01R27/32 , G01R1/07 , G01R27/02 , G01R27/04 , G01R29/0821 , G01R29/0871 , G01R29/0878 , G01R29/10 , G01R31/001 , G01R31/002
摘要：本發明揭示關於一射頻(RF)模組附近之電磁(EM)場之映射的系統、裝置及方法。在一些實施例中，諸如一磁探針之一小型探針可經組態以獲得該RF模組上之不同區域處的近場量測，其中每一區域小於該RF模組之一總側面積。在一些實施例中，可藉由一掃描系統來執行此等量測。在一些實施中，此掃描系統可用以促進諸如EM屏蔽設計之評估及/或開發的應用。
简体摘要：本发明揭示关于一射频(RF)模块附近之电磁(EM)场之映射的系统、设备及方法。在一些实施例中，诸如一磁探针之一小型探针可经组态以获得该RF模块上之不同区域处的近场量测，其中每一区域小于该RF模块之一总侧面积。在一些实施例中，可借由一扫描系统来运行此等量测。在一些实施中，此扫描系统可用以促进诸如EM屏蔽设计之评估及/或开发的应用。

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