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1. 发明专利

TWI596353B 雜訊源分析方法有权
简体标题：噪声源分析方法
公开(公告)号：TWI596353B
公开(公告)日：2017-08-21
申请号：TW104126351
申请日：2015-08-13
申请人：東芝三菱電機產業系統股份有限公司 , TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION
发明人：松田茂彦 , MATSUDA, SHIGEHIKO , 鈴木理 , SUZUKI, NORIHIRO , 前畑典之 , MAEHATA, NORIYUKI
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R29/26 , G01R29/00 , G01R29/08 , G01R29/0878

2. 发明专利

TW201534934A 用於對由受測試電子裝置所輻射出之電磁場進行高解析度空間掃描之掃描器系統與方法审中-公开
简体标题：用于对由受测试电子设备所辐射出之电磁场进行高分辨率空间扫描之扫描仪系统与方法
公开(公告)号：TW201534934A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW104103076
申请日：2015-01-29
申请人：艾斯肯公司 , EMSCAN CORPORATION
发明人：派頓羅斯卡 , PATTON, RUSKA , 鄒怡平 , ZHOU, YIPING , 蒙泰格吉爾 , MONTAG, GIL , 修羅伯特 , XUE, ROBERT
IPC分类号： G01R29/08 , G01R31/00
CPC分类号： G01R29/0814 , G01R1/07 , G01R1/073 , G01R23/16 , G01R29/08 , G01R29/0878 , G01R31/00 , G01R31/001
摘要：本發明提供一種可操作用於對由一受測試電子裝置(DUT)所輻射出之一電磁場進行高解析度空間掃描之掃描器系統與方法。使用包括複數個空間上分隔之切換式探針、一分析器及一電腦之一探針陣列來量測由該DUT輻射出之該電磁場位準。一致動器使該探針陣列相對於該DUT之位置改變小於或等於該等探針之間之分隔距離之一距離，且再次量測與儲存該電磁場位準。
简体摘要：本发明提供一种可操作用于对由一受测试电子设备(DUT)所辐射出之一电磁场进行高分辨率空间扫描之扫描仪系统与方法。使用包括复数个空间上分隔之切换式探针、一分析器及一电脑之一探针数组来量测由该DUT辐射出之该电磁场位准。一致动器使该探针数组相对于该DUT之位置改变小于或等于该等探针之间之分隔距离之一距离，且再次量测与存储该电磁场位准。

3. 发明专利

TWI495189B 天線支架失效
简体标题：天线支架
公开(公告)号：TWI495189B
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW101128354
申请日：2012-08-07
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：何小練 , HE, XIAO-LIAN
IPC分类号： H01Q1/12
CPC分类号： H01Q3/02 , G01R29/0878

4. 发明专利

TW201641951A 雜訊源分析方法审中-公开
简体标题：噪声源分析方法
公开(公告)号：TW201641951A
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：TW104126351
申请日：2015-08-13
申请人：東芝三菱電機產業系統股份有限公司 , TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION
发明人：松田茂彦 , MATSUDA, SHIGEHIKO , 鈴木理 , SUZUKI, NORIHIRO , 前畑典之 , MAEHATA, NORIYUKI
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R29/26 , G01R29/00 , G01R29/08 , G01R29/0878
摘要：本發明之雜訊源分析方法係包含：以經互相時間同步的電壓感測器2a、2b來測定雜訊；以及根據電壓感測器2a、2b所分別測定出之雜訊的資料，進行用以將雜訊的產生原因之雜訊源予以特定的分析。
简体摘要：本发明之噪声源分析方法系包含：以经互相时间同步的电压传感器2a、2b来测定噪声；以及根据电压传感器2a、2b所分别测定出之噪声的数据，进行用以将噪声的产生原因之噪声源予以特定的分析。

5. 发明专利

TW201415518A 電漿處理系統中用來偵測方位角不均勻性之方法與設備审中-公开
简体标题：等离子处理系统中用来侦测方位角不均匀性之方法与设备
公开(公告)号：TW201415518A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：TW102120744
申请日：2013-06-11
申请人：蘭姆研究公司 , LAM RESEARCH CORPORATION
发明人：瑪瑞卡塔諾艾力西 , MARAKHTANOV, ALEXEI , 漢沙羅金德 , DHINDSA, RAJINDER
IPC分类号： H01J37/32
CPC分类号： H01J37/32935 , G01R19/0061 , G01R29/0878 , H01J37/32091 , H01J37/32174 , H01J37/32577 , H01J37/3299
摘要：本發明揭露估計RF回流電流之方位角均勻性的裝置及方法。複數非線性實質上包覆RF電流感測器係圍繞電漿處理腔室之中心軸而方位角地設置。當在電漿處理腔室中激起電漿時，RF回流電流係於該複數非線性實質上包覆RF電流感測器中加以感測、並受到分析以確定RF回流電流之方位角均勻性是否可接受。
简体摘要：本发明揭露估计RF回流电流之方位角均匀性的设备及方法。复数非线性实质上包覆RF电流传感器系围绕等离子处理腔室之中心轴而方位角地设置。当在等离子处理腔室中激起等离子时，RF回流电流系于该复数非线性实质上包覆RF电流传感器中加以传感、并受到分析以确定RF回流电流之方位角均匀性是否可接受。

6. 发明专利

TW201405935A 天線支架失效
简体标题：天线支架
公开(公告)号：TW201405935A
公开(公告)日：2014-02-01
申请号：TW101128354
申请日：2012-08-07
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：何小練 , HE, XIAO-LIAN
IPC分类号： H01Q1/12
CPC分类号： H01Q3/02 , G01R29/0878
摘要：一種天線支架，包括一底座、兩對相對地固定於該底座的立柱、連接於每對立柱之間的一橫桿、滑動地套設於每一橫桿上的一滑動件、安裝於兩滑動件之間的一天線支桿及裝設於該天線支桿的天線，每一立柱滑動地設有一滑動模組，每一橫桿的兩端分別連接於對應的滑動模組，每一滑動模組由一第一馬達驅動而沿對應的立柱滑動以調節兩橫桿的高度進而調節該天線支架的高度及傾斜的角度，每一滑動件由一第二馬達驅動而沿對應的橫桿移動以調節該天線沿水平方向的位置。
简体摘要：一种天线支架，包括一底座、两对相对地固定于该底座的立柱、连接于每对立柱之间的一横杆、滑动地套设于每一横杆上的一滑动件、安装于两滑动件之间的一天线支杆及装设于该天线支杆的天线，每一立柱滑动地设有一滑动模块，每一横杆的两端分别连接于对应的滑动模块，每一滑动模块由一第一马达驱动而沿对应的立柱滑动以调节两横杆的高度进而调节该天线支架的高度及倾斜的角度，每一滑动件由一第二马达驱动而沿对应的横杆移动以调节该天线沿水平方向的位置。

7. 发明专利

TW329557B 靜電放電感測器及其用法失效
简体标题：静电放电传感器及其用法
公开(公告)号：TW329557B
公开(公告)日：1998-04-11
申请号：TW086104628
申请日：1997-04-10
申请人：摩托羅拉公司
发明人：克里夫M.佛勒 , 威廉V.當肯
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R29/0878 , G01R29/12
摘要：一種靜電放電感測器，包括配置在一基底上各具不同厚度之數個介質材料層，一個配置在與數個介質材料層鄰接之第一接觸面及在各個介質材料層上各配置一個之數個第二接觸面。各個別介質材料層形成各自不同之厚度，以提供一特定之電壓，在此一電壓下，當在第一接觸面與第二接觸面間出現靜電放電時，第一及第二接觸面間便發生電氣短路，如此感測器便提供了電壓範圍顯示之功用。
简体摘要：一种静电放电传感器，包括配置在一基底上各具不同厚度之数个介质材料层，一个配置在与数个介质材料层邻接之第一接触面及在各个介质材料层上各配置一个之数个第二接触面。各个别介质材料层形成各自不同之厚度，以提供一特定之电压，在此一电压下，当在第一接触面与第二接触面间出现静电放电时，第一及第二接触面间便发生电气短路，如此传感器便提供了电压范围显示之功用。

8. 发明专利

TWI603592B 射頻干擾抑制裝置及包含射頻干擾抑制裝置的射頻測試設備有权
简体标题：射频干扰抑制设备及包含射频干扰抑制设备的射频测试设备
公开(公告)号：TWI603592B
公开(公告)日：2017-10-21
申请号：TW105108596
申请日：2016-03-18
申请人：捷普電子(新加坡)公司 , JABIL CIRCUIT (SINGAPORE)PTE LTD.
发明人：黃志明 , OOI, JOSHUA TZE-MENG , 蔡凱祥 , CHUA, RAYMOND KHAI SIANG
IPC分类号： H04B1/10 , H04B1/16
CPC分类号： H03H1/0007 , G01R29/0878 , G01R29/10

9. 发明专利

TWI422838B 多頻道無吸收器之近場測量系統有权
简体标题：多频道无吸收器之近场测量系统
公开(公告)号：TWI422838B
公开(公告)日：2014-01-11
申请号：TW096103590
申请日：2007-01-31
申请人：艾斯肯公司 , EMSCAN CORPORATION
发明人：亞帝賽蘇奈夏達 , NYSHADHAM, ADISESHU , 茹絲卡派頓 , PATTON, RUSKA , 金建江 , JIN, JASON
IPC分类号： G01R29/08
CPC分类号： G01R29/0878 , H01Q21/062

10. 发明专利

TW201300790A 電磁干擾測試裝置审中-公开
简体标题：电磁干扰测试设备
公开(公告)号：TW201300790A
公开(公告)日：2013-01-01
申请号：TW100123472
申请日：2011-07-04
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：何小練 , HE, XIAO-LIAN
IPC分类号： G01R29/08
CPC分类号： G01R29/0814 , G01R29/0878
摘要：一種電磁干擾測試裝置，用以測試電子裝置的輻射強度是否超出預定的電磁輻射標準，所述電磁干擾測試裝置包括用以承載電子裝置的轉臺、預測試分析儀、終測試分析儀以及天線陣列，所述天線陣列實現同時於不同高度分別接收待測裝置發出的不同極性的訊號，所述預測試分析儀篩選出上述接收到的不同極性訊號中超出預定電磁輻射標準的頻率點，該天線陣列再配合終測試分析儀確認電子裝置於上述頻率點所產生的訊號強度是否超出上述電磁輻射標準。
简体摘要：一种电磁干扰测试设备，用以测试电子设备的辐射强度是否超出预定的电磁辐射标准，所述电磁干扰测试设备包括用以承载电子设备的转台、预测试分析仪、终测试分析仪以及天线数组，所述天线数组实现同时于不同高度分别接收待测设备发出的不同极性的信号，所述预测试分析仪筛选出上述接收到的不同极性信号中超出预定电磁辐射标准的频率点，该天线数组再配合终测试分析仪确认电子设备于上述频率点所产生的信号强度是否超出上述电磁辐射标准。

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