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1. 发明专利

TW201531728A 利用頻域內校正之時域測量方法审中-公开
简体标题：利用频域内校正之时域测量方法
公开(公告)号：TW201531728A
公开(公告)日：2015-08-16
申请号：TW104100800
申请日：2015-01-09
申请人：羅森伯格高頻技術公司 , ROSENBERGER HOCHFREQUENZTECHNIK GMBH AND CO. KG
发明人：奇茲克里斯欽 , ZIETZ, CHRISTIAN
IPC分类号： G01R35/00
CPC分类号： G01R19/2509 , G01R27/32 , G01R35/005
摘要：本發明係一種利用頻域內校正之時域測量方法，主要係利用時域測量設備，在校正平面之時域測定導線傳輸高頻訊號之電壓u(t)與電流i(t)的方法，其中校正平面與一待測物件導電連接；在測量步驟中，由訊號輸入端經定向耦合器傳至校正平面之第一高頻訊號中，可利用該定向耦合器擷取其第一部分訊號v3 (t)，然後傳至時域測量設備之第一測量輸入端上，並在第一測量平面上量測；同時，由校正平面經定向耦合器傳至訊號輸入端之第二高頻訊號中，可利用該定向耦合器擷取其第二部分訊號v4 (t)，然後傳至時域測量設備之第二測量輸入端上，並在第二測量平面上量測。這些部分訊號v3 (t)、v4 (t)可藉由一第一數學運算轉換至頻域內，接著再利用校正參數求出頻域內於校正平面上的絕對波值，最後再利用一第二數學運算，將求得之絕對波值換算成高頻訊號於時域內在校正平面上之電壓u(t)與電流i(t)。於一預先的校正步驟中，利用一校正設備可在時域測量設備上至少一測量輸入端上，測得隨著頻率與反射係數變化之校正參數，且在測量步驟中，使用校正參數(e00,r (Γ3 ,Γ4 ),e01,r (Γ3 ,Γ4 ),e10,r (Γ3 ,Γ4 ),e11,r (Γ3 ,Γ4 ))可求得絕對波值，其中Γ3 與Γ4 為時域測量設備上輸入端之反射係數。
简体摘要：本发明系一种利用频域内校正之时域测量方法，主要系利用时域测量设备，在校正平面之时域测定导线传输高频信号之电压u(t)与电流i(t)的方法，其中校正平面与一待测对象导电连接；在测量步骤中，由信号输入端经定向耦合器传至校正平面之第一高频信号中，可利用该定向耦合器截取其第一部分信号v3 (t)，然后传至时域测量设备之第一测量输入端上，并在第一测量平面上量测；同时，由校正平面经定向耦合器传至信号输入端之第二高频信号中，可利用该定向耦合器截取其第二部分信号v4 (t)，然后传至时域测量设备之第二测量输入端上，并在第二测量平面上量测。这些部分信号v3 (t)、v4 (t)可借由一第一数学运算转换至频域内，接着再利用校正参数求出频域内于校正平面上的绝对波值，最后再利用一第二数学运算，将求得之绝对波值换算成高频信号于时域内在校正平面上之电压u(t)与电流i(t)。于一预先的校正步骤中，利用一校正设备可在时域测量设备上至少一测量输入端上，测得随着频率与反射系数变化之校正参数，且在测量步骤中，使用校正参数(e00,r (Γ3 ,Γ4 ),e01,r (Γ3 ,Γ4 ),e10,r (Γ3 ,Γ4 ),e11,r (Γ3 ,Γ4 ))可求得绝对波值，其中Γ3 与Γ4 为时域测量设备上输入端之反射系数。

2. 实用新型

TWM348941U 非接觸式測量系統及校準基板失效
简体标题：非接触式测量系统及校准基板
公开(公告)号：TWM348941U
公开(公告)日：2009-01-11
申请号：TW097213520
申请日：2008-07-31
申请人：羅森伯格高頻技術公司 ROSENBERGER HOCHFREQUENZTECHNIK GMBH & CO. KG
发明人：湯瑪士.查爾德 THOMAS ZELDER
IPC分类号： G01B
CPC分类号： G01R1/07 , G01R1/24 , G01R27/32 , G01R31/2822 , G01R31/312 , G01R31/315 , G01R35/005
摘要：本創作係在提供一種非接觸式測量系統及校準基板,具有至少一測量探針,該測量探針形成一耦合結構的一部份,該耦合結構係以非接觸方式將一在訊號導波管上行進的訊號退耦,其中該訊號導波管係為傳導路徑,且為電路板上電子電路的一部份;另校準基板,其具有至少一測量探針,該測量探針形成一耦合結構的一部份,該耦合結構係以非接觸方式將一在訊號導波管上行進的訊號退耦,且在該校準基板上設有至少一校準元件,特別是短路標準、空轉標準、電阻標準、導線標準,該至少一校準元件係與至少一訊號導波管電性連接,特別是微帶管線或同平面管線。
简体摘要：本创作系在提供一种非接触式测量系统及校准基板,具有至少一测量探针,该测量探针形成一耦合结构的一部份,该耦合结构系以非接触方式将一在信号导波管上行进的信号退耦,其中该信号导波管系为传导路径,且为电路板上电子电路的一部份;另校准基板,其具有至少一测量探针,该测量探针形成一耦合结构的一部份,该耦合结构系以非接触方式将一在信号导波管上行进的信号退耦,且在该校准基板上设有至少一校准组件,特别是短路标准、空转标准、电阻标准、导线标准,该至少一校准组件系与至少一信号导波管电性连接,特别是微带管线或同平面管线。

3. 发明专利

TW200807601A 向量網路分析器校準之補正方法 LINE-REFLECT-REFLECT MATCH CALIBRATION 审中-公开
简体标题：矢量网络分析器校准之补正方法 LINE-REFLECT-REFLECT MATCH CALIBRATION
公开(公告)号：TW200807601A
公开(公告)日：2008-02-01
申请号：TW096126082
申请日：2007-07-18
申请人：卡斯凱德微科技公司 CASCADE MICROTECH, INC.
发明人：海登 HAYDEN, LEONARD
IPC分类号： H01L
CPC分类号： G01R27/32 , G01R35/005
摘要：一種向量網路分析器校準之補正方法,包含對至少一對端口進行校準,以決定與各端口關聯之錯誤項,其中至少一錯誤項是基於從一組潛在値選擇載錄標準之電抗,使得參考電抗誤差減少。
简体摘要：一种矢量网络分析器校准之补正方法,包含对至少一对端口进行校准,以决定与各端口关联之错误项,其中至少一错误项是基于从一组潜在値选择载录标准之电抗,使得参考电抗误差减少。

4. 发明专利

TW200600802A 測定誤差之修正方法及電子構件特性測定裝置审中-公开
简体标题：测定误差之修正方法及电子构件特性测定设备
公开(公告)号：TW200600802A
公开(公告)日：2006-01-01
申请号：TW094102017
申请日：2005-01-24
申请人：村田製作所股份有限公司 MURATA MANUFACTURING CO., LTD.
发明人：森太一 MORI, TAICHI , 神谷岳 KAMITANI, GAKU , 友廣宏 TOMOHIRO, HIROSHI
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R35/005 , G01R27/32 , Y10T29/49764
摘要：本發明提供一種可以高精確度對應具有非訊號線埠，藉由夾具而電氣特性變化之電子構件之測定誤差之修正方法及電子構件特性測定裝置。其具備：第一步驟，其係在將修正資料取得用試料安裝於可測定非訊號線埠之測試夾具之狀態，及安裝於無法測定非訊號線埠之基準夾具狀態下，測定電氣特性；第二步驟，其係在測試夾具安裝狀態與基準夾具安裝狀態下測定電性連接有訊號線埠與非訊號線埠之通過裝置；第三步驟，其係決定自測試夾具安裝狀態之測定結果算出在基準夾具安裝狀態下測定時之電氣特性之估計值用之公式；第四步驟，其係在測試夾具安裝狀態下測定任意之電子構件；及第五步驟，其係使用決定之公式來算出在基準夾具安裝狀態下之電氣特性估計值。
简体摘要：本发明提供一种可以高精确度对应具有非信号线端口，借由夹具而电气特性变化之电子构件之测定误差之修正方法及电子构件特性测定设备。其具备：第一步骤，其系在将修正数据取得用试料安装于可测定非信号线端口之测试夹具之状态，及安装于无法测定非信号线端口之基准夹具状态下，测定电气特性；第二步骤，其系在测试夹具安装状态与基准夹具安装状态下测定电性连接有信号线端口与非信号线端口之通过设备；第三步骤，其系决定自测试夹具安装状态之测定结果算出在基准夹具安装状态下测定时之电气特性之估计值用之公式；第四步骤，其系在测试夹具安装状态下测定任意之电子构件；及第五步骤，其系使用决定之公式来算出在基准夹具安装状态下之电气特性估计值。

5. 发明专利

TW201724698A 偵測在電力傳輸網路中對阻抗波峰給予提升之共振頻率的裝置及方法审中-公开
简体标题：侦测在电力传输网络中对阻抗波峰给予提升之共振频率的设备及方法
公开(公告)号：TW201724698A
公开(公告)日：2017-07-01
申请号：TW105116048
申请日：2016-05-24
申请人： ARM股份有限公司 , ARM LIMITED
发明人：沃特莫保羅尼可拉斯 , WHATMOUGH, PAUL NICHOLAS , 達斯西哈沙 , DAS, SHIDHARTHA , 布爾大衛麥克 , BULL, DAVID MICHAEL
IPC分类号： H02J13/00
CPC分类号： G01R23/07 , G01R23/02 , G01R23/04 , G01R27/04 , G01R27/26 , G01R27/32
摘要：本案提供一種偵測在用於提供供應電壓之電力傳輸網路中對阻抗波峰給予提升之共振頻率的於裝置及方法。該裝置包括共振頻率偵測電路系統，其包含測試頻率控制電路系統及負載電路。該測試頻率控制電路系統經配置以産生控制信號以指示測試頻率序列。負載電路係由該控制信號控制且自該供應電壓操作。具體而言，響應於由該控制信號指示之各測試頻率，該負載電路在彼測試頻率下汲取工作循環電流負載通過該電力傳輸網路。該負載電路之操作産生可量測特性，其值取決於該供應電壓而變化，因此允許該共振頻率由彼可量測特性之值中之一變化決定。
简体摘要：本案提供一种侦测在用于提供供应电压之电力传输网络中对阻抗波峰给予提升之共振频率的于设备及方法。该设备包括共振频率侦测电路系统，其包含测试频率控制电路系统及负载电路。该测试频率控制电路系统经配置以产生控制信号以指示测试频率串行。负载电路系由该控制信号控制且自该供应电压操作。具体而言，响应于由该控制信号指示之各测试频率，该负载电路在彼测试频率下汲取工作循环电流负载通过该电力传输网络。该负载电路之操作产生可量测特性，其值取决于该供应电压而变化，因此允许该共振频率由彼可量测特性之值中之一变化决定。

6. 发明专利

TW201330547A 線驅動裝置之校準审中-公开
简体标题：线驱动设备之校准
公开(公告)号：TW201330547A
公开(公告)日：2013-07-16
申请号：TW101141649
申请日：2012-11-08
申请人： LM艾瑞克生(PUBL)電話公司 , TELEFONAKTIEBOLAGET L M ERICSSON (PUBL)
发明人：艾瑞克森可拉斯 , ERICSON, KLAS , 艾密達漢瑞 , ALMEIDA, HENRIK , 伯格米格爾 , BERG, MIGUEL , 博杰森坡歐拉 , 佛特那安東尼 , FERTNER, ANTONI , 林奎斯特費瑞克 , LINDQVIST, FREDRIK
IPC分类号： H04L12/24 , H04B3/46 , G01R31/11
CPC分类号： H04B3/46 , G01R27/32 , G01R35/005 , H04M3/304 , H04M11/062
摘要：本發明揭示用於具有一線埠之一線驅動裝置(諸如一DSLAM)之校準之方法、配置及裝置。該方法包括導出一第一參數向量PVinf，舉例而言Hinf。藉由當該線驅動裝置上之該線埠係開路時在一第一位點處對該線驅動裝置執行一回波量測而導出該參數向量PVinf。該方法進一步包括基於該第一參數向量PVinf及一第二參數向量PVref校準該線驅動裝置，該第二參數向量係基於關於對至少一個參考線驅動裝置所執行之回波量測之資訊。
简体摘要：本发明揭示用于具有一线端口之一线驱动设备(诸如一DSLAM)之校准之方法、配置及设备。该方法包括导出一第一参数矢量PVinf，举例而言Hinf。借由当该线驱动设备上之该线端口系开路时在一第一位点处对该线驱动设备运行一回波量测而导出该参数矢量PVinf。该方法进一步包括基于该第一参数矢量PVinf及一第二参数矢量PVref校准该线驱动设备，该第二参数矢量系基于关于对至少一个参考线驱动设备所运行之回波量测之信息。

7. 发明专利

TW201232015A 接近偵測 PROXIMITY DETECTION 审中-公开
简体标题：接近侦测 PROXIMITY DETECTION
公开(公告)号：TW201232015A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：TW100137919
申请日：2011-10-19
申请人：愛特梅爾公司
发明人：猶瓦瑞丹尼爾亞瑟
IPC分类号： G01V , H03K
CPC分类号： G01B7/14 , G01N22/00 , G01R23/00 , G01R27/00 , G01R27/04 , G01R27/2605 , G01R27/32 , H03K17/955 , H03K2017/9606
摘要：為進行接近偵測，在一或多個物體移動而接近或不接近一感測元件時量測該感測元件之對接地電容。
简体摘要：为进行接近侦测，在一或多个物体移动而接近或不接近一传感组件时量测该传感组件之对接地电容。

8. 发明专利

TWI364546B 測量裝置、測量方法、校正裝置以及校正方法 MEASURING APPARATUS, MEASURING METHOD, CALIBRATION APPARATUS, AND CALIBRATION METHOD 失效
简体标题：测量设备、测量方法、校正设备以及校正方法 MEASURING APPARATUS, MEASURING METHOD, CALIBRATION APPARATUS, AND CALIBRATION METHOD
公开(公告)号：TWI364546B
公开(公告)日：2012-05-21
申请号：TW096148192
申请日：2007-12-17
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：春田將人 , 中山喜和
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R27/32 , G01R35/005
摘要：一種測量裝置，測量將對應被賦予的設定值而具有規定電力及規定頻率的輸出信號加以輸出的被測量器的輸出反射係數，該測量裝置具備：輸入反射係數可變部、電力測量裝置、以及輸出反射係數計算部，其中，上述輸入反射係數可變部在上述被測量器的規定頻率時，以至少四個不同的輸入反射係數而連接於上述被測量器；上述電力測量裝置與上述輸入反射係數可變部以上述至少由個輸入反射係數之每一個而連接於上述被測量器的各個狀態相對應，來測量從上述被測量器輸出的輸出信號的電力；上述輸出反射係數計算部根據上述規定電力、上述電力測量裝置所測量的電力測量值、以及上述至少四個輸入反射係數，來計算上述被測量器的輸出反射係數。
简体摘要：一种测量设备，测量将对应被赋予的设置值而具有规定电力及规定频率的输出信号加以输出的被测量器的输出反射系数，该测量设备具备：输入反射系数可变部、电力测量设备、以及输出反射系数计算部，其中，上述输入反射系数可变部在上述被测量器的规定频率时，以至少四个不同的输入反射系数而连接于上述被测量器；上述电力测量设备与上述输入反射系数可变部以上述至少由个输入反射系数之每一个而连接于上述被测量器的各个状态相对应，来测量从上述被测量器输出的输出信号的电力；上述输出反射系数计算部根据上述规定电力、上述电力测量设备所测量的电力测量值、以及上述至少四个输入反射系数，来计算上述被测量器的输出反射系数。

9. 实用新型

TWM421654U 交互調變測量設備失效
简体标题：交互调制测量设备
公开(公告)号：TWM421654U
公开(公告)日：2012-01-21
申请号：TW100219013
申请日：2011-10-11
申请人：羅森伯格高頻技術公司
发明人：恩茲菲爾那克理斯提昂
IPC分类号： H04L
CPC分类号： G01R23/20 , G01R27/32 , G01R31/2822
摘要：本創作係在提供一種交互調變測量設備，特別指2-Tor被動式交互調變分析儀，具有一第一訊號產生器、一第二訊號產生器、一連結單元與一複式濾波器；該連結單元利用第一訊號傳輸線路與第二訊號傳輸線路接收第一訊號產生器與第二訊號產生器所產生之訊號，並連結入第三訊號傳輸線路；該複式濾波器以一第一複式濾波埠接收經由上述的第三訊號傳輸線路傳入之訊號，並將其傳輸至一第二複式濾波埠，且於該第二複式濾波埠上接收預設之交互調變訊號後經由一第三複式濾波埠輸出；於第三訊號傳輸線路上具有一第三隔離開關，該第三隔離開關切換於第一位置時，可連結該連結單元與第一複式濾波器以傳輸訊號，切換於第二位置時，則切斷上述連結；具有一第五訊號傳輸線路，當第一隔離開關切換於第二位置時，可連結第一訊號產生器與額外設置之訊號輸出埠以傳輸訊號。
简体摘要：本创作系在提供一种交互调制测量设备，特别指2-Tor被动式交互调制分析仪，具有一第一信号产生器、一第二信号产生器、一链接单元与一复式滤波器；该链接单元利用第一信号传输线路与第二信号传输线路接收第一信号产生器与第二信号产生器所产生之信号，并链接入第三信号传输线路；该复式滤波器以一第一复式滤波端口接收经由上述的第三信号传输线路传入之信号，并将其传输至一第二复式滤波端口，且于该第二复式滤波端口上接收默认之交互调制信号后经由一第三复式滤波端口输出；于第三信号传输线路上具有一第三隔离开关，该第三隔离开关切换于第一位置时，可链接该链接单元与第一复式滤波器以传输信号，切换于第二位置时，则切断上述链接；具有一第五信号传输线路，当第一隔离开关切换于第二位置时，可链接第一信号产生器与额外设置之信号输出端口以传输信号。

10. 发明专利

TWI595242B 具頻寬校正之時距測量方法有权
简体标题：具带宽校正之时距测量方法
公开(公告)号：TWI595242B
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：TW102110031
申请日：2013-03-21
申请人：羅森伯格高頻技術公司 , ROSENBERGER HOCHFREQUENZTECHNIK GMBH & CO. KG
发明人：奇茲克里斯欽 , ZIETZ, CHRISTIAN , 阿姆布萊希特古納爾 , ARMBRECHT, GUNNAR
IPC分类号： G01R19/00
CPC分类号： G01R19/25 , G01R19/2509 , G01R27/32 , G01R35/005

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