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1. 发明专利

TW201534934A 用於對由受測試電子裝置所輻射出之電磁場進行高解析度空間掃描之掃描器系統與方法审中-公开
简体标题：用于对由受测试电子设备所辐射出之电磁场进行高分辨率空间扫描之扫描仪系统与方法
公开(公告)号：TW201534934A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：TW104103076
申请日：2015-01-29
申请人：艾斯肯公司 , EMSCAN CORPORATION
发明人：派頓羅斯卡 , PATTON, RUSKA , 鄒怡平 , ZHOU, YIPING , 蒙泰格吉爾 , MONTAG, GIL , 修羅伯特 , XUE, ROBERT
IPC分类号： G01R29/08 , G01R31/00
CPC分类号： G01R29/0814 , G01R1/07 , G01R1/073 , G01R23/16 , G01R29/08 , G01R29/0878 , G01R31/00 , G01R31/001
摘要：本發明提供一種可操作用於對由一受測試電子裝置(DUT)所輻射出之一電磁場進行高解析度空間掃描之掃描器系統與方法。使用包括複數個空間上分隔之切換式探針、一分析器及一電腦之一探針陣列來量測由該DUT輻射出之該電磁場位準。一致動器使該探針陣列相對於該DUT之位置改變小於或等於該等探針之間之分隔距離之一距離，且再次量測與儲存該電磁場位準。
简体摘要：本发明提供一种可操作用于对由一受测试电子设备(DUT)所辐射出之一电磁场进行高分辨率空间扫描之扫描仪系统与方法。使用包括复数个空间上分隔之切换式探针、一分析器及一电脑之一探针数组来量测由该DUT辐射出之该电磁场位准。一致动器使该探针数组相对于该DUT之位置改变小于或等于该等探针之间之分隔距离之一距离，且再次量测与存储该电磁场位准。

2. 发明专利

TWI459000B 均勻域測試裝置及測試方法失效
简体标题：均匀域测试设备及测试方法
公开(公告)号：TWI459000B
公开(公告)日：2014-11-01
申请号：TW100149655
申请日：2011-12-29
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：何小練 , HE, XIAO-LIAN
IPC分类号： G01R29/08
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R1/07 , G01R29/0814

3. 发明专利

TWI409481B 探針裝置及試驗裝置有权
简体标题：探针设备及试验设备
公开(公告)号：TWI409481B
公开(公告)日：2013-09-21
申请号：TW099131671
申请日：2010-09-17
申请人：愛德萬測試股份有限公司 , ADVANTEST CORPORATION
发明人：甲元芳雄 , KOMOTO, YOSHIO
IPC分类号： G01R31/302 , G01R1/073
CPC分类号： G01R1/07 , G01R31/2886 , G01R31/3025

4. 发明专利

TW200701415A IC晶片封裝及執行包容於該晶片封裝內晶片功能測試之測試設備及介面 IC CHIP PACKAGE, TEST EQUIPMENT AND INTERFACE FOR PERFORMING A FUNCTIONAL TEST OF A CHIP CONTAINED WITHIN SAID CHIP PACKAGE 审中-公开
简体标题： IC芯片封装及运行包容于该芯片封装内芯片功能测试之测试设备及界面 IC CHIP PACKAGE, TEST EQUIPMENT AND INTERFACE FOR PERFORMING A FUNCTIONAL TEST OF A CHIP CONTAINED WITHIN SAID CHIP PACKAGE
公开(公告)号：TW200701415A
公开(公告)日：2007-01-01
申请号：TW095108486
申请日：2006-03-13
申请人：英飛凌科技股份有限公司 INFINEON TECHNOLOGIES AG
发明人：約爾格.法拉斯 JOERG VOLLRATH , 拉爾法.許耐德爾 RALF SCHNEIDER , 馬爾金.吉內特 MARCIN GNAT
IPC分类号： H01L , G01R , G06K
CPC分类号： G11C29/56 , G01R1/07 , G01R31/2889 , G01R31/318533 , G01R31/31905 , G11C29/48 , G11C2029/5602 , H01L2224/4824
摘要：本案提供一種介於一積體電路晶片測試存取埠與一測試設備間的介面,其設計以執行該晶片的功能測試。該介面包括在該晶片與該測試設備一側上的電襯墊。該襯墊在一測試資料信號輸入至該襯墊其中之一時,利用電容耦合的方式進行交互作用。較佳的是,該兩襯墊根據該資料流的方向而與一接收器或一驅動器連接。與該晶片側有關的電襯墊可以配置在一晶片封裝的佈線基板中,特別是沿著具有形成球狀柵矩陣的基板邊緣部分,並圍繞該基板內側部分。本發明在應用於測試動態隨機存取記憶體(DRAM)模組實是特別有利的,其具有密集封裝的積體電路封裝。其中,對於球狀柵矩陣插拴的電存取無法簡單的完成。根據本發明,到目前為止在該佈線基板上的未使用部分可以用來接收該電襯墊,並在測試期間形成電容器電極。
简体摘要：本案提供一种介于一集成电路芯片测试存取端口与一测试设备间的界面,其设计以运行该芯片的功能测试。该界面包括在该芯片与该测试设备一侧上的电衬垫。该衬垫在一测试数据信号输入至该衬垫其中之一时,利用电容耦合的方式进行交互作用。较佳的是,该两衬垫根据该数据流的方向而与一接收器或一驱动器连接。与该芯片侧有关的电衬垫可以配置在一芯片封装的布线基板中,特别是沿着具有形成球状栅矩阵的基板边缘部分,并围绕该基板内侧部分。本发明在应用于测试动态随机存取内存(DRAM)模块实是特别有利的,其具有密集封装的集成电路封装。其中,对于球状栅矩阵插拴的电存取无法简单的完成。根据本发明,到目前为止在该布线基板上的未使用部分可以用来接收该电衬垫,并在测试期间形成电容器电极。

5. 发明专利

TW201415039A 關於近場電磁探針及掃描器之系統，裝置及方法审中-公开
简体标题：关于近场电磁探针及扫描仪之系统，设备及方法
公开(公告)号：TW201415039A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：TW102132242
申请日：2013-09-06
申请人：西凱渥資訊處理科技公司 , SKYWORKS SOLUTIONS, INC.
发明人：黃庭福吳 , HOANG, DINHPHUOC VU , 章國豪 , ZHANG, GUOHAO , 榎本狄恩和夫 , ENOMOTO, DEAN KAZUO , 阮紅孟 , NGUYEN, HOANG MONG , 陳霍華E , CHEN, HOWARD E.
IPC分类号： G01R29/08
CPC分类号： G01R27/32 , G01R1/07 , G01R27/02 , G01R27/04 , G01R29/0821 , G01R29/0871 , G01R29/0878 , G01R29/10 , G01R31/001 , G01R31/002
摘要：本發明揭示關於一射頻(RF)模組附近之電磁(EM)場之映射的系統、裝置及方法。在一些實施例中，諸如一磁探針之一小型探針可經組態以獲得該RF模組上之不同區域處的近場量測，其中每一區域小於該RF模組之一總側面積。在一些實施例中，可藉由一掃描系統來執行此等量測。在一些實施中，此掃描系統可用以促進諸如EM屏蔽設計之評估及/或開發的應用。
简体摘要：本发明揭示关于一射频(RF)模块附近之电磁(EM)场之映射的系统、设备及方法。在一些实施例中，诸如一磁探针之一小型探针可经组态以获得该RF模块上之不同区域处的近场量测，其中每一区域小于该RF模块之一总侧面积。在一些实施例中，可借由一扫描系统来运行此等量测。在一些实施中，此扫描系统可用以促进诸如EM屏蔽设计之评估及/或开发的应用。

6. 发明专利

TW201326837A 均勻域測試裝置及測試方法失效
简体标题：均匀域测试设备及测试方法
公开(公告)号：TW201326837A
公开(公告)日：2013-07-01
申请号：TW100149655
申请日：2011-12-29
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：何小練 , HE, XIAO-LIAN
IPC分类号： G01R29/08
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R1/07 , G01R29/0814
摘要：一種均勻域測試裝置，適用於電磁場輻射抗擾度均勻域測試。該均勻域測試裝置包括測試架與安裝於測試架的若干場強探頭。該若干場強探頭位於同一平面內並呈陣列排布，位於同一行或同一列的相鄰的場強探頭的間距不小於電磁場輻射抗擾度均勻域測試中相鄰測試點的最小間距。同時提供一種使用該均勻域測試裝置進行電磁場輻射抗擾度均勻域測試的方法。
简体摘要：一种均匀域测试设备，适用于电磁场辐射抗扰度均匀域测试。该均匀域测试设备包括测试架与安装于测试架的若干场强探头。该若干场强探头位于同一平面内并呈数组排布，位于同一行或同一列的相邻的场强探头的间距不小于电磁场辐射抗扰度均匀域测试中相邻测试点的最小间距。同时提供一种使用该均匀域测试设备进行电磁场辐射抗扰度均匀域测试的方法。

7. 发明专利

TWI384227B 主動式非接觸之探針卡有权
简体标题：主动式非接触之探针卡
公开(公告)号：TWI384227B
公开(公告)日：2013-02-01
申请号：TW098129457
申请日：2009-09-01
申请人：日月光半導體製造股份有限公司 , ADVANCED SEMICONDUCTOR ENGINEERING, INC.
发明人：陳明坤 , CHEN, MING KUN , 林義隆 , LIN, YI LUNG
IPC分类号： G01R1/07 , G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2891 , G01R1/07

8. 发明专利

TW550385B 電容耦合之射頻電壓探針失效
简体标题：电容耦合之射频电压探针
公开(公告)号：TW550385B
公开(公告)日：2003-09-01
申请号：TW090131383
申请日：2001-12-18
申请人：東京威力科創有限公司
发明人：喬凡傑堤克 , 安德瑞密卓維克
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R15/16 , G01R1/06772 , G01R1/07 , G01R1/24 , G01R31/312
摘要：一種電壓探針包括具有內導體與外導體之傳輸線。電極是與外導體隔開。一種介體是配置在電極與外導體之間，鄰接外導體的內表面。一種阻抗電壓探針的示範性方法可包括配置介體以鄰接外導體。配置藉由介體與外導體分離且定位鄰接至介體之電極。信號是量測自顯示傳輸線中之傳輸電壓之電極。
简体摘要：一种电压探针包括具有内导体与外导体之传输线。电极是与外导体隔开。一种介体是配置在电极与外导体之间，邻接外导体的内表面。一种阻抗电压探针的示范性方法可包括配置介体以邻接外导体。配置借由介体与外导体分离且定位邻接至介体之电极。信号是量测自显示传输线中之传输电压之电极。

9. 发明专利

TW201625964A 電壓檢測裝置审中-公开
简体标题：电压检测设备
公开(公告)号：TW201625964A
公开(公告)日：2016-07-16
申请号：TW104128295
申请日：2015-08-28
申请人：日置電機股份有限公司 , HIOKI DENKI KABUSHIKI KAISHA
发明人：柳沢浩一 , YANAGISAWA, KOICHI
IPC分类号： G01R15/16 , G01R19/165
CPC分类号： G01R15/16 , G01N27/90 , G01R1/07
摘要：即使檢測對象與檢測電極之間絕緣體存在的情況下，也以非接觸檢測檢測對象的電壓。包括檢測電極11，接觸覆蓋檢測對象52的絕緣體51而配設；振動體13，使絕緣體51振動；電流電壓轉換電路14，規定第1輸入端子為基準電壓，連接第2輸入端子至檢測電極11，且第2輸入端子與輸出端子之間連接回饋電阻14b，在使絕緣體51振動的狀態下，從檢測對象52經由檢測電極11流向基準電壓的同時，根據檢測對象電壓V1與基準電壓之間的電位差Vdi，具有轉換與調變振幅的絕緣體51的振動同步的檢測電流I為檢測電壓信號V2之運算放大器14a；以及檢波電路16，根據檢測電壓信號V2檢測顯示電位差Vdi的檢波輸出V3。
简体摘要：即使检测对象与检测电极之间绝缘体存在的情况下，也以非接触检测检测对象的电压。包括检测电极11，接触覆盖检测对象52的绝缘体51而配设；振动体13，使绝缘体51振动；电流电压转换电路14，规定第1输入端子为基准电压，连接第2输入端子至检测电极11，且第2输入端子与输出端子之间连接回馈电阻14b，在使绝缘体51振动的状态下，从检测对象52经由检测电极11流向基准电压的同时，根据检测对象电压V1与基准电压之间的电位差Vdi，具有转换与调制振幅的绝缘体51的振动同步的检测电流I为检测电压信号V2之运算放大器14a；以及检波电路16，根据检测电压信号V2检测显示电位差Vdi的检波输出V3。

10. 发明专利

TW201142328A 探針裝置及試驗裝置审中-公开
简体标题：探针设备及试验设备
公开(公告)号：TW201142328A
公开(公告)日：2011-12-01
申请号：TW099131671
申请日：2010-09-17
申请人：愛德萬測試股份有限公司
发明人：甲元芳雄
IPC分类号： G01R
CPC分类号： G01R1/07 , G01R31/2886 , G01R31/3025
摘要：一種探針裝置，是在與對象元件之間傳送信號之試驗裝置，其具備：接觸部，其利用與對象元件的端子接觸，而被電性連接於對象元件；非接觸部，其在未與對象元件的端子接觸的狀態下，與對象元件傳送信號；以及保持部，其用以保持接觸部和非接觸部，可在連結非接觸部和對象元件的對應端子的連接方向，改變接觸部和非接觸部的相對位置。
简体摘要：一种探针设备，是在与对象组件之间发送信号之试验设备，其具备：接触部，其利用与对象组件的端子接触，而被电性连接于对象组件；非接触部，其在未与对象组件的端子接触的状态下，与对象组件发送信号；以及保持部，其用以保持接触部和非接触部，可在链接非接触部和对象组件的对应端子的连接方向，改变接触部和非接触部的相对位置。

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