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热词
    • 1. 发明公开
    • 노광 장치
    • 曝光装置
    • KR1020170089761A
    • 2017-08-04
    • KR1020170000700
    • 2017-01-03
    • 가부시기가이샤 디스코
    • 세키야가즈마
    • G03F7/20
    • G03F7/70058G03F7/2002G03F7/2022G03F7/2035
    • (과제) 노광장치를저렴한것으로한다. (해결수단) 노광장치로서, 광원 (3) 과, 조명광학계 (4) 와, 마스크와, 투영광학계 (5) 를포함하고, 마스크는, 1 개의디바이스를구성하는패턴이복수의영역으로분할된소패턴으로이루어지는소마스크 (60A ∼ 60D) 가복수형성되어구성된다. 투영광학계 (5) 는, 소마스크 (60A ∼ 60D) 에대응한크기로구성되어, 소패턴이기판에축소투영된다. 수차의정밀도가요구되어고가의렌즈로이루어지는투영광학계가불필요해지고, 투영면적이작아수차의영향이적은소형의렌즈로이루어지는투영광학계를사용하는것이가능해져, 노광장치를저비용으로제공할수 있다.
    • [问题]使曝光装置便宜。 曝光设备包括光源3,照明光学系统4,掩模和投影光学系统5,掩模是将构成一个器件的图案分成多个区域的图案 并且由小图案制成的小掩模60A至60D通过以不规则的方式形成而形成。 投影光学系统5具有与小掩模60A至60D相对应的尺寸,使得小图案以减小的尺寸投影在基板上。 需要像差的精度,并且不需要由昂贵的透镜构成的投影光学系统,并且可以使用由具有小投影面积且几乎没有像差影响的小透镜构成的投影光学系统,并且可以以低成本提供曝光装置。
    • 4. 发明授权
    • RTR 노광 시스템
    • KR101869821B1
    • 2018-07-19
    • KR1020170117725
    • 2017-09-14
    • 주식회사 넥서스원황병문
    • 황병문
    • G03F7/20G03F7/24G03F9/00
    • G03F7/2035G03F7/24G03F9/7003
    • 연성회로기판의베이스소재로사용되는필름형상의기재에관한노광처리공정에서기재의장력상태를최적으로유지시킬수 있는 RTR 노광시스템에관한것으로, 광원및 조명광학계를구비한노광부재, 상기노광부재를향해기재를공급하는공급부재, 상기노광부재에의해처리된기재를감는감기부재, 상기노광부재에의한노광처리를위해상기공급부재에서공급된상기기재를흡착하여유지시키는스테이지부재, 상기기재의상태를감지하는감지부재, 상기감지부재에서감지된기재의상태에따라상기공급부재, 감기부재및 스테이지부재의작동상태를제어하는제어수단을포함하고, 상기감지부재는상기공급부재와감기부재에각각마련되고, 상기공급부재에서공급되는기재의인장력과상기감기부재에서감기는기재의인장력을감지함과동시에공급부재에서공급되는기재의상태와감기부재에감긴기재의상태를감지하는구성을마련하여, 기재에관한노광작업을최적화하여실행할수 있다.
    • 8. 发明授权
    • 탐침 현미경을 이용한 리소그래피 장치 및 그 방법
    • 使用扫描探针显微镜进行光刻的方法和装置
    • KR100882555B1
    • 2009-02-12
    • KR1020070104876
    • 2007-10-18
    • 한양대학교 산학협력단
    • 이해원정정주한철수권광민
    • G01Q80/00G03F7/20H01J37/26
    • G01Q80/00G03F7/2035H01J37/2955H01L21/0334
    • A lithography apparatus and a method using a probe microscope are provided to draw the mathematical model by building the lithography result according to the specific condition to database. A voltage applying unit(110) is controlled by center control units(100). The voltage applying unit performs the lithography by authorizing the voltage to the sample. Current detection units(120) measure the micro current generated by the voltage of the voltage applying unit. The current detection units deliver the measured value to the center control units. An environmental control unit(130) controls the temperature and humidity of the lithography computational environment. A surface measuring unit(140) measures the change amount of the surface height of sample.
    • 提供光刻设备和使用探针显微镜的方法,通过根据具体的数据库建立光刻结果绘制数学模型。 电压施加单元(110)由中央控制单元(100)控制。 电压施加单元通过授权对样品的电压进行光刻。 电流检测单元(120)测量由电压施加单元的电压产生的微电流。 当前检测单元将测量值传送给中央控制单元。 环境控制单元(130)控制光刻计算环境的温度和湿度。 表面测量单元(140)测量样品的表面高度的变化量。