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热词
    • 2. 发明公开
    • 3차원 반도체 장치
    • 三维半导体存储器件
    • KR1020120017966A
    • 2012-02-29
    • KR1020100080954
    • 2010-08-20
    • 삼성전자주식회사
    • 장성일박영우설광수
    • H01L27/108H01L21/8242H01L29/78
    • H01L27/11551H01L27/11556H01L27/11578H01L29/66825H01L29/66833H01L29/7889H01L29/7926H01L27/10841
    • PURPOSE: A 3D semiconductor device is provided to implement a body erase of a memory cell by electrically connecting a semiconductor pattern and a substrate with a semiconductor connecting layer. CONSTITUTION: An electrode structure includes conductive patterns(230) laminated on a substrate. The semiconductor pattern includes channel regions adjacent to the conductive patterns and vertical adjacent regions between the channel regions and passes through the electrode structure. A semiconductor connecting layer(191) is protruded from an outer wall of the semiconductor pattern and connects the semiconductor pattern and the substrate. Memory elements include a horizontal pattern(220) and a vertical pattern and are arranged between the channel regions and the conductive patterns.
    • 目的:提供一种3D半导体器件,通过用半导体连接层电连接半导体图案和衬底来实现存储单元的体擦除。 构成:电极结构包括层叠在基板上的导电图案(230)。 半导体图案包括与导电图案相邻的沟道区域和沟道区域之间的垂直相邻区域并且穿过电极结构。 半导体连接层(191)从半导体图案的外壁突出并连接半导体图案和基板。 存储元件包括水平图案(220)和垂直图案,并且布置在沟道区域和导电图案之间。
    • 3. 发明公开
    • 반도체소자 및 그 제조방법
    • 半导体器件及其制造方法
    • KR1020100061017A
    • 2010-06-07
    • KR1020080119886
    • 2008-11-28
    • 삼성전자주식회사
    • 김주형강창석장성일박영우최정달
    • H01L21/336H01L29/78
    • H01L29/42324H01L21/28273H01L21/28282H01L29/4234
    • PURPOSE: A semiconductor device and a fabrication method thereof are provided to improve an erase operation of a flash memory device by reducing an electron back-tunneling due to electric filed at the edge of a conductive pattern. CONSTITUTION: A first dielectric pattern(5a), a data storage pattern(10a), and a second dielectric pattern(15a) are successively laminated on a semiconductor substrate(1). A first conductive pattern(20b) is formed on the second dielectric pattern. The second conductive pattern(25a) is formed on the first conductive pattern. The second conductive pattern has the width bigger than the first conductive pattern. The second dielectric pattern has the width bigger than the first conductive pattern. The first and second conductive patterns comprise different conductive material films.
    • 目的:提供半导体器件及其制造方法,以通过减少由导电图案的边缘处的电场引起的电子反向隧穿来改善闪存器件的擦除操作。 构成:在半导体衬底(1)上依次层叠第一电介质图案(5a),数据存储图案(10a)和第二电介质图案(15a)。 第一导电图案(20b)形成在第二电介质图案上。 第二导电图案(25a)形成在第一导电图案上。 第二导电图案的宽度大于第一导电图案。 第二电介质图案的宽度大于第一导电图案。 第一和第二导电图案包括不同的导电材料膜。
    • 4. 发明公开
    • 베이크 장치
    • 包装设备
    • KR1020040075562A
    • 2004-08-30
    • KR1020030011107
    • 2003-02-21
    • 삼성전자주식회사
    • 이규명장성일
    • H01L21/027
    • PURPOSE: A bake apparatus is provided to remove a defect due to misalignment of a wafer on a heating plate by preventing collision between a bracket of a lift pin and a chamber cover. CONSTITUTION: A wafer is loaded on an upper surface of a heating plate(110). A plurality of lift pins(122) are installed at the heating plate in order to load/unload into/from the heating plate. A chamber cover(132) is used for covering the heating plate. The first elevation unit is used for elevating the lift pins. The second elevation unit is used for elevating the chamber cover. A detection unit detects a contact state between the chamber cover and the lift pins.
    • 目的:提供一种烘烤设备,用于通过防止提升销的支架与室盖之间的碰撞而消除由于加热板上的晶片不对准导致的缺陷。 构成:将晶片装载在加热板(110)的上表面上。 多个提升销(122)安装在加热板上以加载/卸载加热板。 室盖(132)用于覆盖加热板。 第一升降单元用于升降升降销。 第二高度单元用于升高室盖。 检测单元检测室盖和提升销之间的接触状态。
    • 9. 发明公开
    • MOSFET 소자들의 레이아웃들 및 수직 구조들
    • MOSFET器件的层级和垂直结构
    • KR1020150145606A
    • 2015-12-30
    • KR1020140075863
    • 2014-06-20
    • 삼성전자주식회사
    • 이재훈주녹현양형모장성일이찬호
    • H01L29/78H01L21/336
    • H01L29/0692H01L27/0207H01L27/088H01L27/11582H01L29/41758H01L29/41775H01L29/4238H01L29/78H01L29/7834H01L29/7848
    • 제1 활성영역, 상기제1 활성영역을 Y 방향으로가로질러연장하여제1 소스영역및 제1 드레인영역을정의하는제1 게이트전극, 상기제1 게이트전극상에상기 Y 방향으로연장하는가상의제1 게이트통과선상에정렬되도록배치된제1 게이트컨택들, 상기제1 소스영역상에상기 Y 방향으로연장하는가상의제1 소스통과선상에정렬되도록배치된제1 소스컨택들, 및상기제1 드레인영역상에상기 Y 방향으로연장하는가상의제1 드레인통과선상에정렬되도록배치된제1 드레인컨택들을포함하고, 상기제1 드레인컨택들중 적어도하나는상기제1 소스컨택들의사이를지나상기 Y 방향과수직하는 X 방향으로평행하게연장하는가상의제1 X-직선들중 어느하나상에정렬되도록배치된레이아웃을갖는 MOSFET 소자가설명된다.
    • 公开了一种MOSFET器件,包括:第一有源区; 第一栅电极,沿Y方向延伸穿过所述第一有源区,并且限定第一源区和第一漏区; 第一栅极触点设置成布置在沿着Y方向在第一栅电极上延伸的虚拟第一栅极通过线上; 第一源触点设置成布置在沿Y方向在第一源区域中延伸的虚拟第一源极线上; 以及第一漏极触点,其设置成布置在沿着Y方向在第一漏极区域中延伸的虚拟第一漏极通过线上。 所述第一漏极接触件中的至少一个具有通过所述第一源极触点之间的布置,并布置成布置在沿相对于Y方向垂直的X方向上水平延伸的虚拟第一X线性线中的任一个上。
    • 10. 发明授权
    • 터치스크린 및 그 제조방법
    • 触摸屏及其制造方法
    • KR101366358B1
    • 2014-02-25
    • KR1020100132507
    • 2010-12-22
    • 삼성전자주식회사
    • 김진한이영섭정석홍이명섭문대승오경석우정훈이동철임종현장성일조용구고형준김경훈김정은김현범노대빈박재영백은진이충희정성호조재욱
    • G06F3/044G06F3/041
    • 본 발명에 따른 터치스크린은 상부 기판, 상기 상부 기판의 하면에 형성되며 제1 단위 투명 도전 패턴 및 제2 단위 투명 도전 패턴이 상기 상부 기판의 하면에 제1 방향으로 제1 간격을 두고 교대로 배열되어 전기적으로 연결되도록 형성된 상부 투명 도전 패턴들을 복수 개 포함하고 상기 복수의 상부 투명 도전 패턴들이 차례로 제2 간격을 두고 평행하게 배열되는 상부 투명 도전층, 상기 상부 투명 도전층의 가장자리에 형성되며 상기 복수의 상부 투명 도전 패턴들의 일단에 각각 전기적으로 연결된 상부 전극 패턴들을 갖는 상부 전극, 상기 상부 투명 도전층 및 상기 상부 전극의 하면에 형성된 유전층, 상기 유전층의 하면에 형성되며 제3 단위 투명 도전 패턴 및 제4 단위 투명 도전 패턴이 상기 유전층의 하면에 제2 방향으로 제2 간격을 두고 교대로 배열되어 전기적으로 연결되도록 형성된 하부 투명 도전 패턴들을 복수 개 포함하고 상기 복수의 하부 투명 도전 패턴들이 차례로 제1 간격을 두고 평행하게 배열되는 하부 투명 도전층, 상기 하부 투명 도전층의 가장자리에 형성되며 상기 복수의 하부 투명 도전 패턴들의 일단에 각각 전기적으로 연결된 하부 전극 패턴들을 갖는 하부 전극, 및 상기 하부 투명 도전층 및 상기 하부 전극의 하면에 접착되는 디스플레이 패널을 포함하고, 두께가 얇으면서 감도가 우수한 터치스크린을 제공한다.