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1. 发明公开

KR1020080085011A 측정 장치, 측정 방법, 및 전송 회로 失效
标题翻译：测量仪器，测量方法和传输电路
公开(公告)号：KR1020080085011A
公开(公告)日：2008-09-22
申请号：KR1020087016501
申请日：2006-12-13
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 와타나베다이스케 , 오카야스토시유키
IPC分类号： H04B10/00 , H04L1/00 , H04L7/00 , G01M11/00
CPC分类号： H03F3/08
摘要： A mesuring instrument for measuring the characteristics of a transmission circuit for transmitting a signal, wherein the transmission circuit comprises an electric signal transmitting section for transmitting a transmission signal, an electrooptical converting section for converting the transmission signal into an optical signal, a section for transmitting the optical signal, a photoelectric conversion circuit for converting an optical signal into an electric signal, a level measuring section for detecting the data value of an electric signal by comparing the strength of an electric signal outputted from the photoelectric conversion circuit with a predetermined reference level, an electric signal receiving section for detecting the data value of the electric signal, and a timing control section for controlling the latching timing at which the electric signal receiving section detects the data value of the electric signal. The measuring instrument comprises a comparing section for comparing the data value of an electric signal taken in at the electric signal receiving section with a predetermined expected value, a setting control section for varying a reference level and a latch timing sequentially, and a section for storing the comparison results from the comparing section for each reference level and latch timing.
摘要翻译：一种用于测量用于发送信号的发送电路的特性的测量仪器，其中所述发送电路包括用于发送发送信号的电信号发送部分，用于将所述发送信号转换为光信号的电光转换部分，用于发送的部分光信号，用于将光信号转换为电信号的光电转换电路;电平测量部，用于通过将从光电转换电路输出的电信号的强度与预定参考电平进行比较来检测电信号的数据值，用于检测电信号的数据值的电信号接收部分，以及用于控制电信号接收部分检测电信号的数据值的锁定定时的定时控制部分。该测量仪器包括比较部分，用于将在电信号接收部分拍摄的电信号的数据值与预定的期望值进行比较，一个用于改变参考电平的设置控制部分和一个锁存定时顺序;以及一个存储部分每个参考电平和锁存时序的比较部分的比较结果。

2. 发明授权

KR100970148B1 측정 장치, 측정 방법, 및 전송 회로 失效
标题翻译：测量仪器，测量方法和传输电路
公开(公告)号：KR100970148B1
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：KR1020087016501
申请日：2006-12-13
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 와타나베다이스케 , 오카야스토시유키
IPC分类号： H04B10/00 , H04L1/00 , H04L7/00 , G01M11/00
CPC分类号： H03F3/08
摘要： 신호를 전송하는 전송 회로의 특성을 측정하는 측정 장치에 있어서, 전송 회로는, 송신 신호를 송신하는 전기 신호 송신부, 송신 신호를 광신호로 변환하는 전광 변환부, 광신호를 전송하는 광신호 전송부, 광신호를 전기 신호로 변환하는 광전 변환 회로, 광전 변환 회로가 출력하는 전기 신호의 강도와 미리 정해지는 참조 레벨을 비교함으로써 전기 신호의 데이타값을 검출하는 레벨 측정부, 전기 신호의 데이타값을 검출하는 전기 신호 수신부, 및 전기 신호 수신부가 전기 신호의 데이타값을 검출하는 래치 타이밍을 제어하는 타이밍 제어부를 포함하며, 측정 장치는 전기 신호 수신부가 취득한 전기 신호의 데이타값을 미리 정해진 기대치와 비교하는 비교부, 참조 레벨 및 래치 타이밍을 순차 변화시키는 설정 제어부, 및 비교부에서의 비교 결과를 참조 레벨 및 래치 타이밍마다 저장하는 결과 저장부를 포함하는 측정 장치를 제공한다.
측정 장치, 전송 회로, 전광 변환, 광신호, 광전 변환, 전기 신호

3. 发明公开

KR1020090053908A 역치 전압 제어 장치, 시험 장치 및 회로 디바이스 有权
标题翻译：阈值电压控制装置，测试装置和电路装置
公开(公告)号：KR1020090053908A
公开(公告)日：2009-05-28
申请号：KR1020097005315
申请日：2007-05-28
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 와타나베다이스케 , 오카야스토시유키
IPC分类号： G01R31/3163 , G01R31/3177
CPC分类号： G01R31/3191 , G01R31/31924 , G01R31/31932
摘要： 레벨 비교기에 대하여 역치 전압을 제어하는 역치 전압 제어 장치에 있어서, 각각 실질적으로 동일한 주기로 각각 다른 위상의 주기 신호를 생성하는 복수의 타이밍 발생기, 종속 접속된 복수의 플립플롭을 포함하며 제1 타이밍 발생기가 출력하는 제1의 주기 신호에 따라 논리 패턴의 각 데이타를 복수의 플립플롭 간에 순차적으로 전파시키는 시프트 레지스터부, 제1 타이밍 발생기 이외의 타이밍 발생기와 일대일 대응하며 또한 종속 접속되어 설치되며 미리 정해진 하나의 플립플롭이 출력하는 데이타를 대응하는 타이밍 발생기가 출력하는 주기 신호에 따라 순차적으로 전파하는 복수의 레지스터, 및 복수의 플립플롭이 출력하는 데이타값 및 복수의 레지스터가 출력하는 데이타값에 기초하여 레벨 비교기에 공급하는 역치 전압을 생성하는 역치 전압 생성부를 포함하는 역치 전압 제어 장치를 제공한다.
시험 장치, 회로 디바이스, 역치 전압 제어, 타이밍 발생기, 시프트 레지스터, 주기 신호

4. 发明公开

KR1020080040712A 디바이스 식별 방법, 디바이스 제조 방법, 및 전자디바이스 失效
标题翻译：装置识别方法，装置制造方法和电子装置
公开(公告)号：KR1020080040712A
公开(公告)日：2008-05-08
申请号：KR1020087003696
申请日：2005-08-18
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트 , 고쿠리츠 다이가쿠 호진 도호쿠 다이가쿠
发明人： 오카야스토시유키 , 스가와시게토시 , 테라모토아키노부
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC分类号： H01L23/544 , G01R31/31718 , G11C2029/4402 , H01L21/76254 , H01L22/14 , H01L2223/5444 , H01L2924/0002 , Y10T29/49004 , H01L2924/00
摘要： Provided is a device identifying method for identifying an electronic device having an actually operating circuit which operates during actual operation of the electronic device and a testing circuit which has a plurality of testing elements and operates at the time of testing the electronic device. The device identifying method is provided with a characteristic measuring step wherein the electrical characteristics of the testing elements are measured; an identifying information storing step wherein the electrical characteristics of each of the testing elements are stored as identifying information of the electronic device; an identifying information acquiring step wherein the electrical characteristics of the testing elements included in the electronic device are measured so as to identify a desired electronic device, and the identifying information of the electronic device is acquired; and a matching step wherein the identifying information acquired in the identifying information acquiring step is compared with the identifying information stored in the identifying information storing step, and when the two kinds of identifying information match, the electronic devices are judged identical.
摘要翻译：提供了一种用于识别具有在电子设备的实际操作期间操作的实际操作电路的电子设备的设备识别方法和具有多个测试元件并且在测试电子设备时操作的测试电路。设备识别方法具有特征测量步骤，其中测量测试元件的电特性; 识别信息存储步骤，其中每个测试元件的电特性被存储为电子设备的识别信息; 识别信息获取步骤，其中测量包括在电子设备中的测试元件的电特性，以便识别期望的电子设备，并且获取电子设备的识别信息; 以及匹配步骤，其中将在所述识别信息获取步骤中获取的识别信息与存储在所述识别信息存储步骤中的识别信息进行比较，并且当所述两种识别信息匹配时，所述电子设备被判断为相同。

5. 发明授权

KR100966479B1 관리 방법 및 관리 장치 失效
标题翻译：控制方法和控制系统
公开(公告)号：KR100966479B1
公开(公告)日：2010-06-29
申请号：KR1020087009200
申请日：2005-09-27
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트 , 고쿠리츠 다이가쿠 호진 도호쿠 다이가쿠
发明人： 오카야스토시유키 , 스가와시게토시 , 테라모토아키노부
IPC分类号： G05B19/418
CPC分类号： G05B19/4184 , G05B2219/31483 , G05B2219/45031 , H01L22/20 , H01L22/34 , H01L2924/0002 , Y02P90/14 , Y02P90/22 , H01L2924/00
摘要： 복수의 제조 공정에 의해 전자 디바이스를 제조하는 피관리 제조 라인에 대해서 각각의 제조 공정에서 이용되는 각각의 제조 장치를 관리하는 관리 방법에 있어서, 복수의 제조 공정을 실행할 수 있는 미리 정해진 기준 제조 라인에 의해 제조된 기준 디바이스의 특성을 취득하는 기준 특성 취득 단계; 복수의 제조 공정 가운데 적어도 하나의 제조 공정을 피관리 제조 라인에 의해 처리하고 다른 제조 공정을 기준 제조 라인에 의해 처리해서 비교 디바이스를 제조하는 비교 디바이스 제조 단계; 비교 디바이스의 특성을 측정하는 비교 특성 측정 단계; 기준 디바이스의 특성과 비교 디바이스의 특성을 비교하는 특성 비교 단계; 및 특성의 차이에 기초하여 비교 디바이스를 처리한 피관리 제조 라인의 제조 공정에서 이용한 제조 장치의 양부를 판정하는 판정 단계를 포함하는 관리 방법을 제공한다.
제조 장치 관리 방법, 제조 장치 관리 장치, 기준 제조 라인, 피관리 제조 라인, 기준 특성 측정부, 비교 특성 측정부

6. 发明授权

KR100932252B1 광수신 장치, 시험 장치, 광수신 방법, 시험 방법, 테스트모듈, 및 반도체 칩 失效
标题翻译： 광수신장치，시험장치，광수신방법，시험방법，테스트모듈，및반도체칩
公开(公告)号：KR100932252B1
公开(公告)日：2009-12-16
申请号：KR1020087002390
申请日：2006-07-19
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 오카야스토시유키 , 와타나베다이스케
IPC分类号： H04B10/60 , H04B10/07 , G01N37/00 , H04L25/03
CPC分类号： H04B10/6932
摘要： 광신호를 수신하고 상기 광신호에 의해 전송되는 디지탈 데이타의 데이타값을 출력하는 광수신 장치에 있어서, 광신호를 수신하고 광신호의 강도에 따른 광전류를 출력하는 수광 소자, 디지탈 데이타의 현재 사이클에 대응하는 광전류를 사이클 내의 소정의 기간 동안 적분하는 현재 사이클 적분기, 현재 사이클의 이전 사이클에 대응하는 광전류를 당해 사이클에서 소정의 기간과 실질적으로 동등한 기간 동안 적분하는 이전 사이클 적분기, 및 현재 사이클 적분기가 적분한 전하량과 이전 사이클 적분기가 적분한 전하량의 차분에 기초하여 디지탈 데이타의 현재 사이클에서의 데이타값을 출력하는 데이타값 식별 회로를 포함하는 광수신 장치를 제공한다.
시험장치, 광신호, 광전류, 수광소자, 광수신장치, 사이클적분기
摘要翻译：提供了一种接收光信号并输出由光信号发送的数字数据的数据值的光接收装置，该光接收装置包括：光接收元件，接收光信号并根据光信号的强度输出光电流;存在该循环积分器在周期内的规定周期内对与数字数据的当前周期相对应的光电流进行积分，前一周期积分器对与当前周期之前的周期相对应的光电流进行积分，该周期基本上等于规定的时间以及数据值识别电路，其基于通过当前周期积分器进行积分而获得的电荷量与通过前一次积分所获得的电荷量之间的差值来输出数字数据的当前周期的数据值周期积分器。

7. 发明公开

KR1020090024633A 전원 안정화 회로, 전자 디바이스, 및 시험 장치 失效
标题翻译：电源稳压电路，电子设备和测试装置
公开(公告)号：KR1020090024633A
公开(公告)日：2009-03-09
申请号：KR1020080086490
申请日：2008-09-02
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 코지마쇼지 , 오카야스토시유키
IPC分类号： G05F1/10
CPC分类号： G01R31/31924 , G01R31/31721 , G06F1/03 , H02M3/07
摘要： A power supply stabilizing circuit, an electronic device, and a test apparatus are provided to compensate for variation of the power voltage due to a current of an operational circuit generated in a power line inside the electronic device. A power supply stabilizing circuit(30) is installed inside a chip of an electronic device and includes a current bypass unit and a current controller. The current bypass unit(32) supplies a bypass current from an auxiliary power line different from a main power line to the main power line supplying a power voltage to an operational circuit(10). The current controller(38) changes an amount of bypass currents supplied to the main power line by a current bypass unit to a predetermined current variation pattern according to the control from the outside when the operational circuit is operated.
摘要翻译：提供电源稳定电路，电子设备和测试装置，以补偿由于在电子设备内部的电力线中产生的运行电路的电流引起的电源电压的变化。电源稳定电路（30）安装在电子设备的芯片的内部，并且包括电流旁路单元和电流控制器。当前旁路单元（32）将不同于主电力线的辅助电力线路的旁路电流提供给向电力电压供给电力电压的主电力线路（10）。当操作电路时，电流控制器（38）根据来自外部的控制将当前旁路单元提供给主电力线的旁路电流量改变为预定的电流变化模式。

8. 发明公开

KR1020080058489A 접속 장치, 접속 시스템, 광도파로, 및 접속 방법 失效
标题翻译：连接设备，连接系统，光波导和连接方式
公开(公告)号：KR1020080058489A
公开(公告)日：2008-06-25
申请号：KR1020087011514
申请日：2006-08-17
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 푸지타카즈히로 , 와타나베다이스케 , 오카야스토시유키
IPC分类号： G02B6/42
CPC分类号： G02B6/4292 , G02B6/4202 , G02B6/4226 , G02B6/423 , G02B6/4246 , H01R43/26
摘要： A connecting system is provided with a connecting apparatus, which has a signal transmission path for transmitting an electric signal or an optical signal and a connecting device for connecting the signal transmission path to a component of an object to be connected, to permit the signal to be transmitted and received. The system is also provided with an apparatus to be connected, which has the component to be connected to the signal transmission path. The connecting device is provided with a moving section, which has a hermetically sealed space inside, moves an end portion of the signal transmission path close to the component to connect the end portion to the component when an internal air pressure is increased, and moves the end portion away from the component when the internal air pressure is reduced.
摘要翻译：连接系统设置有连接装置，其具有用于发送电信号或光信号的信号传输路径和用于将信号传输路径连接到要连接的对象的部件的连接装置，以允许信号被传送和接收。该系统还设置有要连接的装置，其具有要连接到信号传输路径的部件。连接装置设有移动部分，其内部具有气密密封的空间，当内部空气压力增加时，将信号传输路径的端部靠近部件移动以将端部连接到部件，并且使当内部空气压力降低时，远离部件的端部部分。

9. 发明授权

KR101216405B1 시험 장치 및 그 시험 장치를 이용한 디바이스의 제조 방법 失效
标题翻译：使用测试装置的测试装置和装置制造方法
公开(公告)号：KR101216405B1
公开(公告)日：2012-12-28
申请号：KR1020097005716
申请日：2007-08-14
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 와타나베다이스케 , 오카야스토시유키
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31922 , G01R31/31924 , G01R31/31928 , H04B17/0085 , H04B17/21 , H04L25/03114 , H04L25/03343 , Y10T29/49004
摘要： 본발명에관한시험장치는, 피시험디바이스의시험을정확하게실시할수가있다. 본시험장치는피시험디바이스를시험하는시험장치에있어서, 피시험디바이스에인가하는시험신호를생성하는시험신호생성부, 피시험디바이스의단자에전기적으로접속되어시험신호를피시험디바이스의단자에공급하는제1 드라이버, 시험신호가피시험디바이스의단자에도달할때까지발생된시험신호의감쇠를보정하는보정신호를생성하는보정신호생성부, 및피시험디바이스의단자에전기적으로접속되어보정신호를피시험디바이스의단자에공급하는제2 드라이버를포함한다.

10. 发明授权

KR100983555B1 접속 장치, 접속 시스템, 광도파로, 및 접속 방법 失效
标题翻译：连接装置，连接系统，光波导和连接方法
公开(公告)号：KR100983555B1
公开(公告)日：2010-09-27
申请号：KR1020087011514
申请日：2006-08-17
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 푸지타카즈히로 , 와타나베다이스케 , 오카야스토시유키
IPC分类号： G02B6/42
CPC分类号： G02B6/4292 , G02B6/4202 , G02B6/4226 , G02B6/423 , G02B6/4246 , H01R43/26
摘要： 본 발명의 접속 시스템은 전기 신호 또는 광신호를 전송하는 신호 전송로와 신호 전송로를 접속처의 부품과의 신호 송수신이 가능하도록 접속하는 접속 장치를 포함하는 접속측 장치, 및 신호 전송로에 접속되는 부품을 포함하는 피접속측 장치를 포함하며, 접속 장치는 내부에 밀봉된 공간을 가지고 내부의 기압이 높아짐에 따라 신호 전송로의 단부를 부품과 접속하기 위하여 부품에 접근시키며 내부의 기압이 낮아짐에 따라 단부를 부품으로부터 떼어놓는 이동부를 포함한다.
접속 장치, 접속 시스템, 광도파로, 신호 전송로, 이동부

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