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1. 发明授权

KR101138296B1 시험 장치, 드라이버 컴퍼레이터 칩, 응답 측정 장치, 교정 방법 및 교정 장치 失效
标题翻译：测试仪，驱动器比较器芯片，响应测量装置，校准方法和校准装置
公开(公告)号：KR101138296B1
公开(公告)日：2012-04-24
申请号：KR1020097010698
申请日：2007-10-09
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 마츠바라야수오
IPC分类号： G01R31/319 , G01R31/3183 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31932 , G01R35/00
摘要： 드라이버(14)의 출력단 및 컴퍼레이터(16)의 입력단이 전송 경로(30)를 통해 접지 전위에 종단된 상태에서, 상승 엣지를 갖는 제1 출력 파형과 하강 엣지를 갖는 제2 출력 파형을 출력시키는 드라이버 제어부(32)와, 제1 출력 파형의 상승 엣지를 컴퍼레이터(16)가 검출하고 나서 제1 출력 파형이 종단에 의해 반사된 제1 반사 파형의 하강 엣지를 컴퍼레이터(16)가 검출할 때까지의 제1 시간과, 제2 출력 파형의 하강 엣지를 컴퍼레이터(16)가 검출하고 나서 제2 출력 파형이 종단에 의해 반사된 제2 반사 파형의 상승 엣지를 컴퍼레이터(16)가 검출할 때까지의 제2 시간의 차분에 기초하여 응답 시간의 차를 산출하는 차분 산출부(38)를 구비하는 응답 측정 장치(20)를 제공한다.

2. 发明授权

KR100983251B1 드라이버 회로, 시험 장치, 및 조정 방법 有权
标题翻译：驱动电路，测试装置和调整方法
公开(公告)号：KR100983251B1
公开(公告)日：2010-09-20
申请号：KR1020087012703
申请日：2006-10-26
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 마츠모토나오키 , 세키노타카시 , 아와지토시아키
IPC分类号： H03K19/00
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31924
摘要： 피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 피시험 디바이스에 공급하여야 할 시험 신호를 생성하는 시험 신호 생성부, 시험 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 드라이버 회로, 및 피시험 디바이스가 시험 신호에 따라 출력하는 출력 신호에 기초하여 피시험 디바이스의 양부를 판정하는 판정부를 포함하며, 드라이버 회로는, 시험 신호에 따른 구동 신호를 각각 출력하는 메인 드라이버 및 서브 드라이버, 서브 드라이버가 출력하는 구동 신호를 미분한 미분 신호를 출력하는 미분 회로, 및 메인 드라이버가 출력하는 구동 신호에 미분 신호를 더해서 얻어지며 시험 신호에 따른 파형을 가지는 신호를 피시험 디바이스에 공급하는 가산부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.
드라이버 회로, 시험 장치, 조정 방법, 메인 드라이버, 서브 드라이버, 미분 회로
摘要翻译：一种用于测试被测器件的测试装置，包括：测试信号发生器，用于产生要提供给被测器件的测试信号;驱动器电路，用于向被测器件提供测试信号; 该驱动器电路包括：主驱动器和副驱动器，用于根据测试信号分别输出驱动信号;以及差分电路，用于对从副驱动器输出的驱动信号进行差分，一个用于输出信号的差分电路，以及一个加法器，用于将差分信号加到从主驱动器输出的驱动信号上，并将具有与测试信号相应的波形的信号提供给被测器件。

3. 发明公开

KR1020080070702A 드라이버 회로, 시험 장치, 및 조정 방법 有权
标题翻译：驱动电路，测试装置和调整方法
公开(公告)号：KR1020080070702A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：KR1020087012703
申请日：2006-10-26
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 마츠모토나오키 , 세키노타카시 , 아와지토시아키
IPC分类号： H03K19/00
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31924
摘要： A test device for testing a device under test includes: a test signal generation unit for generating a test signal to be supplied to the device under test; a driver circuit for supplying the test signal to the device under test; and a judgment unit for judging whether the device under test is good according to an output signal outputted by the device under test in response to the test signal. The driver circuit has: a main driver and a sub driver for outputting drive signals in accordance with the test signal; a differentiation circuit for outputting a differentiated signal obtained by differentiating the drive signal outputted from the sub driver; and an addition unit for supplying a signal of a waveform based on the test signal obtained by adding the differentiated signal to the drive signal outputted from the main driver.
摘要翻译：用于测试被测设备的测试设备包括：测试信号产生单元，用于产生要提供给被测设备的测试信号; 用于将测试信号提供给被测器件的驱动器电路; 以及判断单元，用于根据被测设备输出的响应于测试信号的输出信号来判定被测设备是否良好。驱动电路具有：主驱动器和副驱动器，用于根据测试信号输出驱动信号; 微分电路，用于输出通过对从副驱动器输出的驱动信号进行微分而获得的微分信号; 以及加法单元，用于基于通过将微分信号加到从主驱动器输出的驱动信号而获得的测试信号来提供波形的信号。

4. 发明公开

KR20070079019A METHODS AND APPARATUS USING A SERVICE TO LAUNCH AND/OR MONITOR DATA FORMATTING PROCESSES 审中-公开
标题翻译：使用服务启动和/或监视数据格式化过程的方法和装置
公开(公告)号：KR20070079019A
公开(公告)日：2007-08-03
申请号：KR20070009372
申请日：2007-01-30
申请人： VERIGY PTE LTD SINGAPORE
发明人： HAYHOW REID , CONNALLY CARLI , AKERS JERROLD W
IPC分类号： G06F11/26 , G06F7/00 , G06F11/34
CPC分类号： G01R31/31928
摘要： A method for operating a plurality of data formatters, and a service and a device implemented by a computer are provided to enable all data formatters to format test results simultaneously with generation of the test results. Execution of a test processor is interrupted in a tester generating the test result of at least one DUT(Device Under Test) and interruption is informed to a user(102). While the test process is interrupted, the execution of the data formatters for formatting the test result is started by reading configuration data for identifying the data formatters to be started(104). If the data formatters are successfully started, interruption is released(106). Each step is started when the tester is executed and before the test process is executed. If the data formatters are not successfully started, the user is guided to override the interruption. If the user requests override, the interruption is released.
摘要翻译：提供了一种用于操作多个数据格式化器的方法，以及由计算机实现的服务和设备，以使得所有数据格式器能够在产生测试结果的同时格式化测试结果。测试处理器的执行在产生至少一个DUT（被测设备）的测试结果的测试仪中被中断，并向用户通知中断（102）。当测试过程中断时，通过读取用于识别要启动的数据格式化器的配置数据，开始用于格式化测试结果的数据格式化器的执行（104）。如果数据格式化程序成功启动，则中断被释放（106）。当测试仪执行并且在执行测试过程之前，每个步骤都将启动。如果数据格式化程序未成功启动，则指导用户覆盖中断。如果用户请求覆盖，则中断被释放。

5. 发明公开

KR1020070067110A 파형 정형 회로 및 이 파형 정형 회로를 구비한 반도체시험 장치 无效
标题翻译：具有波形形状电路的波形形成电路和半导体测试装置
公开(公告)号：KR1020070067110A
公开(公告)日：2007-06-27
申请号：KR1020077007031
申请日：2005-09-21
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 오찌아이,가쯔미
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/31928
摘要： A semiconductor testing apparatus for surely detecting only opened edges that affect a test pattern and hence truly requires an error warning or the like. This semiconductor testing apparatus comprises real time selectors (40) and open detectors (50). The real time selectors (40) receive a plurality of waveform data outputted from a waveform memory (30) and a plurality of timing data outputted from a timing generator (20) and select and output predetermined waveform data and timing data. If an edge of the waveform data is followed by an edge of the same polarity with an interval therebetween that is shorter than a close-in limit time, then the real time selectors (40) open the following edge and output open signals. The open detectors (50) receive the waveform data, timing data and open signals outputted from the real time selectors (40) and output a fail signal if there exists an edge, which has the opposite polarity to the opened edge, within the close-in limit time preceding the foregoing opened edge.
摘要翻译：一种用于可靠地检测影响测试图案的开放边缘的半导体测试装置，因此真正需要错误警告等。该半导体测试装置包括实时选择器（40）和开放检测器（50）。实时选择器（40）接收从波形存储器（30）输出的多个波形数据和从定时发生器（20）输出的多个定时数据，并选择并输出预定的波形数据和定时数据。如果波形数据的边缘之后是相同极性的边缘，其间隔处于短于接近限制时间，则实时选择器（40）打开随后的边沿并输出开路信号。打开检测器（50）接收从实时选择器（40）输出的波形数据，定时数据和开路信号，并且如果存在具有与打开的边缘相反极性的边缘，则输出失效信号。在上述开口边缘之前的限制时间。

6. 发明授权

KR100545440B1 반도체 시험장치 有权
标题翻译：半导体测试仪器
公开(公告)号：KR100545440B1
公开(公告)日：2006-01-24
申请号：KR1020037007760
申请日：2002-11-14
申请人： 가부시키가이샤 아드반테스트
发明人： 사토,카즈히코
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/31919 , G01R31/31924 , G01R31/31928 , G11C2029/2602
摘要： A semiconductor testing apparatus capable of reducing time required for testing or repairing a plurality of semiconductor devices. The semiconductor testing apparatus performs test for a plurality of DUT in parallel and performs repair for the plurality of DUT in parallel. For this, the apparatus includes an ALPG, a PDS, an AFM, a driver pin processor, an IO pin processor, a driver channel, and an IO channel. The IO pin processor has a plurality of sub-FC units. When test is performed simultaneously for a plurality of DUT, an individual pattern waveform is generated corresponding to individual information.

7. 发明公开

KR1020030074652A 반도체 시험장치 有权
公开(公告)号：KR1020030074652A
公开(公告)日：2003-09-19
申请号：KR1020037007760
申请日：2002-11-14
申请人： 가부시키가이샤 아드반테스트
发明人： 사토,카즈히코
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/31919 , G01R31/31924 , G01R31/31928 , G11C2029/2602
摘要： 복수개의 반도체 디바이스에 대해서 시험이나 구제를 행하는 시간을 단축할 수 있는 반도체 시험장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. 반도체 시험장치는 복수개의 DUT(9)에 대한 시험을 병행하여 수행하며, 이들 복수개의 DUT(9)에 대한 구제 동작을 병행하여 수행하기 위해, ALPG(1), PDS(2), AFM(3), 드라이버핀 처리부(4), IO핀처리부(5), 드라이버 채널(6), IO채널(7)을 포함한다. IO핀처리부(5)는 복수개의 서브FC부(58)를 갖고 있어, 복수개 DUT(9)에 대해서 동시에 시험을 수행할 때에 개별정보에 대응하는 개별패턴파형을 생성한다.

8. 发明公开

KR1020030022873A 좁은 출력 펄스를 갖는 자동 테스트 장치 有权
标题翻译： 좁은출력펄스를갖는자동테스트장치
公开(公告)号：KR1020030022873A
公开(公告)日：2003-03-17
申请号：KR1020037001189
申请日：2001-07-17
申请人： 테라다인 인코퍼레이티드
发明人： 사르체프로날드에이.
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31922
摘要： 고속의 반도체 디바이스를 테스트 하기에 적당한 자동 테스트 장치. 테스트 장치는, 세팅과 리세팅을 제어하는 에지신호가 오버랩될 때에도 소망하는 포맷으로 출력을 만드는 플립플롭을 가진 포매터 회로를 포함한다. 플립플롭은 테스트 시스템이 좁은 펄스를 가지는 출력을 발생시키도록 하고, 제어 에지신호보다 더 좁은 출력 펄스를 발생시킬 수 있다.
摘要翻译：自动测试设备适用于测试高速半导体器件。测试设备包括一个带有触发器的格式化器电路，即使控制触发器的设置和复位的边沿信号重叠，该触发器也可以产生所需格式的输出。触发器允许测试系统以窄脉冲产生输出，并且可以产生比控制边沿信号更窄的输出脉冲。

9. 发明授权

KR100208043B1 시험 패턴 발생기 失效
标题翻译：测试图形发生器
公开(公告)号：KR100208043B1
公开(公告)日：1999-07-15
申请号：KR1019960706234
申请日：1996-01-12
申请人： 가부시키가이샤 아드반테스트
发明人： 후지사키겐이치
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G01R31/31813 , G01R31/31919 , G01R31/31928 , G01R31/3193 , G11C29/36 , G11C29/56
摘要： 블록 기록 기능 시험을 고속으로 행할 수 있는 시험 패턴 발생기를 염가에 제공한다. 이를 위해, 제어 신호 발생부(15)로부터의 제1기록 신호에 의해, 데이터 발생부(13)로부터의 데이터 신호를 입력하는 데이터 레지스터(41)를 설치한다. 어드레스 발생부(12)에서 발생한 어드레스로부터 특정한 비트를 취출하는 어드레스 셀렉터(44)를 설치한다. 그리고, 제어 신호 발생부(15)로부터의 제2기록 신호에 의해, 지정된 영역으로 입력하는 마스크 데이터 레지스터 파일(42)을 설치한다. 제어 신호 발생부(15)로부터의 제3기록 신호에 의해, 지정된 영역으로 입력하는 기록 데이터 레지스터 파일(43)을 설치한다. 그리고, 상기 각 신호에 의해, 해당 데이터 레지스터(41)의 출력 데이터인지, 해당 데이터 발생기(13)의 출력 데이터인지를 합성 출력하는 데이터 포맷터(60)를 설치하여 시험 패턴 발생기를 구성한다.

10. 发明公开

KR1020090088416A 시험장치 및 시험모듈 无效
标题翻译：测试设备和测试模块
公开(公告)号：KR1020090088416A
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：KR1020097012914
申请日：2007-11-15
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 미츠하시,나오후미
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R29/02 , G01R19/165 , G01R31/26
CPC分类号： G01R31/31917 , G01R31/31928
摘要： Provided is a test device for testing a device under test (DUT). The test device includes: a signal supply unit which supplies a test signal to a DUT; an input unit which inputs an output signal outputted from the DUT in accordance with the test signal as a signal to be measured; a cyclic pulse generation unit which generates a cyclic pulse having a pulse width corresponding to one cycle of the signal to be measured according to a sample clock specifying the timing to sample the signal to be measured; a conversion unit which outputs a voltage corresponding to the width of the cyclic pulse; an AD converter which converts a voltage into a digital voltage value; a pulse width calculation unit which calculates a digital pulse width indicating a pulse width of the cyclic pulse from the digital voltage value; and an adjusting unit which adjusts a conversion parameter used to perform conversion from the digital voltage value to a digital pulse width. ® KIPO & WIPO 2009
摘要翻译：提供了一种用于测试被测器件（DUT）的测试设备。测试装置包括：向DUT提供测试信号的信号提供单元; 输入单元，其根据测试信号输入从DUT输出的输出信号作为待测信号; 循环脉冲产生单元，根据指定要测量的信号的定时的采样时钟，生成具有对应于待测信号的一个周期的脉冲宽度的循环脉冲; 转换单元，其输出与循环脉冲的宽度相对应的电压; 将电压转换为数字电压值的AD转换器; 脉冲宽度计算单元，从数字电压值计算指示循环脉冲的脉冲宽度的数字脉冲宽度; 以及调整单元，其将用于执行从数字电压值的转换的转换参数调整到数字脉冲宽度。 ®KIPO＆WIPO 2009

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