专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

KR101548431B1 모놀리식 적층형 집적 회로 테스팅을 위한 회로 및 방법 有权
标题翻译：用于单片堆叠集成电路测试的电路和方法
公开(公告)号：KR101548431B1
公开(公告)日：2015-08-28
申请号：KR1020130152918
申请日：2013-12-10
申请人： 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드
发明人： 고엘샌딥쿠마
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/318513 , G01R31/2882 , G01R31/31707 , G01R31/31718
摘要： 모놀리식적층형집적회로(IC)는기지의-양호한-층(KGL) 경로지연테스트회로및 그 IC의층들중 하나내의임계경로의적어도일부를구비한다. 테스트회로는복수의입력들, 출력들, 상기임계경로의적어도일부에커플링된플립-플롭및 상기플립-플롭에그리고상기 IC의제 2 층에커플링된멀티플렉서를포함한다. 테스트회로는제어엘리먼트들을더 포함하고, 그에따라 IC의경로지연테스팅이층별(layer-by-layer) 기반으로실시될수 있을것이다.

2. 发明公开

KR1020150013351A 검사 데이터와 조합하여 설계 데이터를 활용하는 방법 및 시스템 有权
公开(公告)号：KR1020150013351A
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：KR1020157000055
申请日：2006-11-20
申请人： 케이엘에이-텐코 코포레이션
发明人： 쿨카니아쇽 , 더피브라이언 , 마야카이스 , 로우즈고든 , 자파쿠람 , 크케어사가 , 창엘리스 , 팍알렌 , 로즈피터
IPC分类号： G06F17/30
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N2021/8854 , G01R31/31718 , G06T7/001 , G06T2207/30148 , H01L22/12 , H01L2924/0002 , H01L2924/00 , G06F17/30005 , G06F17/30067
摘要： 검사 데이터와 조합하여 설계 데이터를 활용하는 각종 방법 및 시스템이 제공된다. 설계 데이터 스페이스 내의 검사 데이터의 위치를 결정하기 위한 하나의 컴퓨터-구현 방법은, 웨이퍼 상의 정렬 사이트에 대해 검사 시스템에 의해 취득된 데이터를 소정의 정렬 사이트에 대한 데이터와 정렬하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 설계 데이터 스페이스 내의 소정의 정렬 사이트의 위치에 기초하여 설계 데이터 스페이스 내의 웨이퍼 상의 정렬 사이트의 위치를 결정하는 단계를 또한 포함한다. 또한, 상기 방법은 설계 데이터 스페이스 내의 웨이퍼 상의 정렬 사이트의 위치에 기초하여 설계 데이터 스페이스 내의 검사 시스템에 의해 웨이퍼에 대하여 취득된 검사 데이터의 위치를 결정하는 단계를 또한 포함한다. 일 실시예에서, 검사 데이터의 위치는 서브-픽셀 정확도로 결정된다.

3. 发明公开

KR1020140091575A 검사 데이터와 조합하여 설계 데이터를 활용하는 방법 및 시스템 有权
标题翻译：与检验数据组合使用设计数据的方法和系统
公开(公告)号：KR1020140091575A
公开(公告)日：2014-07-21
申请号：KR1020147015035
申请日：2006-11-20
申请人： 케이엘에이-텐코 코포레이션
发明人： 쿨카니아쇽 , 더피브라이언 , 마야카이스 , 로우즈고든 , 자파쿠람 , 크케어사가 , 창엘리스 , 팍알렌 , 로즈피터
IPC分类号： H01L21/66 , G06F17/30
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N2021/8854 , G01R31/31718 , G06T7/001 , G06T2207/30148 , H01L22/12 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 검사 데이터와 조합하여 설계 데이터를 활용하는 각종 방법 및 시스템이 제공된다. 설계 데이터 스페이스 내의 검사 데이터의 위치를 결정하기 위한 하나의 컴퓨터-구현 방법은, 웨이퍼 상의 정렬 사이트에 대해 검사 시스템에 의해 취득된 데이터를 소정의 정렬 사이트에 대한 데이터와 정렬하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 설계 데이터 스페이스 내의 소정의 정렬 사이트의 위치에 기초하여 설계 데이터 스페이스 내의 웨이퍼 상의 정렬 사이트의 위치를 결정하는 단계를 또한 포함한다. 또한, 상기 방법은 설계 데이터 스페이스 내의 웨이퍼 상의 정렬 사이트의 위치에 기초하여 설계 데이터 스페이스 내의 검사 시스템에 의해 웨이퍼에 대하여 취득된 검사 데이터의 위치를 결정하는 단계를 또한 포함한다. 일 실시예에서, 검사 데이터의 위치는 서브-픽셀 정확도로 결정된다.

4. 发明授权

KR101176858B1 인지된 양호한 다이를 산출하기 위한 테스트 방법 失效
标题翻译：用于焊接已知良好的模具的测试方法
公开(公告)号：KR101176858B1
公开(公告)日：2012-08-23
申请号：KR1020047020546
申请日：2003-06-16
申请人： 폼팩터, 인크.
发明人： 밀러찰스에이. , 쿠퍼티모시이. , 하쯔까노요시까즈
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/2831 , G01R31/2886 , G01R31/31718 , G11C29/006 , G11C29/56016
摘要： 반도체 웨이퍼는 웨이퍼 상에 형성된 집적 회로 다이를 개별화하기 위해 절단된다. 그 후, 다이 픽 기계는 캐리어 베이스 상에 개별화된 다이를 위치 및 배향시켜서, 각각의 다이의 표면 상에 형성된 신호, 전력 및 접지 패드는 다이 픽 기계가 광학적으로 확인하는 캐리어 베이스 상의 랜드마크에 대해 미리 결정된 위치에 존재한다. 다이들이 캐리어 베이스 상의 적소에 일시적으로 보유된 상태로, 다이들은 일련의 테스트와 다른 처리 단계를 거치게 된다. 각각의 다이의 신호 패드는 미리 결정된 위치에 있으므로, 다이는 테스트 중에 패드로의 신호 접근성을 테스트 장비에 제공하는 적절히 정렬된 프로브에 의해 접근될 수 있다. 각 테스트 후에, 다이 픽 기계는 테스트에 실패한 임의의 다이를 또 다른 다이로 교체함으로써, 후속 테스트 및 다른 처리 수단의 효율을 개선한다.
반도체 웨이퍼, 집적 회로 다이, 캐리어 베이스, 신호, 접지 패드, 테스트

5. 发明公开

KR1020100003820A 리첵크 모드를 가지는 테스트 핸들러의 자동 소켓 온 오프방법 有权
标题翻译：具有自动插座模式的测试处理器的自动插座开/关方法
公开(公告)号：KR1020100003820A
公开(公告)日：2010-01-12
申请号：KR1020080063828
申请日：2008-07-02
申请人： (주)테크윙
发明人： 김진국
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2867 , G01R1/0433 , G01R31/31718 , H01L21/67271 , H01L21/677
摘要： PURPOSE: A method for an auto socket on/off of a test handler having a recheck mode is provided to automatically determines the malfunction of a socket without management of a user. CONSTITUTION: Test mode and a reference according to the test modes are set(S100). A socket off use mode and a socket off usage mode standard according to the socket off use mode are set(S120). A socket on use mode and a socket on usage mode standard according to the socket on use mode are set(S140). A socket off manual / automatic mode is performed(S200), and a socket off manual / auto mode setting is determined(S210). The socket appointed to the manual mode is passively switched off(S270). One is determined from an absolute/relative/continue/mixed mode(S220-S250). The socket with the malfunction is turned off automatically through a test(S280).
摘要翻译：目的：提供具有重新检查模式的测试处理器的自动插座开/关的方法，以在不管理用户的情况下自动确定插座的故障。构成：设置测试模式和根据测试模式的参考值（S100）。设置插座关闭使用模式和根据插座关闭使用模式的插座关闭使用模式标准（S120）。设置使用模式下的插座和使用模式下插座使用模式标准的插座（S140）。执行插座手动/自动模式（S200），并确定插座关闭手动/自动模式设置（S210）。指定为手动模式的插座被动关闭（S270）。一个是从绝对/相对/继续/混合模式确定的（S220-S250）。带有故障的插座通过测试自动关闭（S280）。

6. 发明公开

KR1020090056599A 반도체 장치의 테스트 방법 无效
标题翻译：测试包装集成电路的方法
公开(公告)号：KR1020090056599A
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：KR1020070123820
申请日：2007-11-30
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 김성옥 , 정애용 , 조세래 , 이철민 , 이은석
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/01 , G01R31/2894 , G01R31/31718
摘要： A method of testing packaged integrated circuits is provided to increase product yield by retesting a semiconductor chip which is determined as inconsistence. A handler(200) comprises a first tray shed(210) and a second tray shed(270), and a first tray shed keeps a tray on which semiconductors are arranged to be tested arranged. A second tray shed(211) keeps a tray on which semiconductors are arranged to be tested arranged. A handler comprises a loaders transferring semiconductor chips to the test chamber(240) and an unloader the tested semiconductor chips.
摘要翻译：提供一种测试封装集成电路的方法，以通过重新测试被确定为不一致的半导体芯片来提高产品产量。处理器（200）包括第一托盘棚（210）和第二托盘棚（270），并且第一托盘棚保持其上布置有待测试布置的半导体的托盘。第二托盘棚（211）保持其上布置有待测试的半导体布置的托盘。处理器包括将半导体芯片传送到测试室（240）的装载器和卸载器测试的半导体芯片。

7. 发明公开

KR1020080040712A 디바이스 식별 방법, 디바이스 제조 방법, 및 전자디바이스 失效
标题翻译：装置识别方法，装置制造方法和电子装置
公开(公告)号：KR1020080040712A
公开(公告)日：2008-05-08
申请号：KR1020087003696
申请日：2005-08-18
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트 , 고쿠리츠 다이가쿠 호진 도호쿠 다이가쿠
发明人： 오카야스토시유키 , 스가와시게토시 , 테라모토아키노부
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC分类号： H01L23/544 , G01R31/31718 , G11C2029/4402 , H01L21/76254 , H01L22/14 , H01L2223/5444 , H01L2924/0002 , Y10T29/49004 , H01L2924/00
摘要： Provided is a device identifying method for identifying an electronic device having an actually operating circuit which operates during actual operation of the electronic device and a testing circuit which has a plurality of testing elements and operates at the time of testing the electronic device. The device identifying method is provided with a characteristic measuring step wherein the electrical characteristics of the testing elements are measured; an identifying information storing step wherein the electrical characteristics of each of the testing elements are stored as identifying information of the electronic device; an identifying information acquiring step wherein the electrical characteristics of the testing elements included in the electronic device are measured so as to identify a desired electronic device, and the identifying information of the electronic device is acquired; and a matching step wherein the identifying information acquired in the identifying information acquiring step is compared with the identifying information stored in the identifying information storing step, and when the two kinds of identifying information match, the electronic devices are judged identical.
摘要翻译：提供了一种用于识别具有在电子设备的实际操作期间操作的实际操作电路的电子设备的设备识别方法和具有多个测试元件并且在测试电子设备时操作的测试电路。设备识别方法具有特征测量步骤，其中测量测试元件的电特性; 识别信息存储步骤，其中每个测试元件的电特性被存储为电子设备的识别信息; 识别信息获取步骤，其中测量包括在电子设备中的测试元件的电特性，以便识别期望的电子设备，并且获取电子设备的识别信息; 以及匹配步骤，其中将在所述识别信息获取步骤中获取的识别信息与存储在所述识别信息存储步骤中的识别信息进行比较，并且当所述两种识别信息匹配时，所述电子设备被判断为相同。

8. 发明授权

KR100591757B1 이디에스 검사 시스템 有权
标题翻译： IDE检测系统
公开(公告)号：KR100591757B1
公开(公告)日：2006-06-22
申请号：KR1020030061090
申请日：2003-09-02
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 배준수
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R31/3004 , G01R31/2894 , G01R31/31718
摘要： 본 발명은 반도체 칩을 검사하기 위한 EDS(Electrical Die sorting) 검사 시스템에 관한 것으로, 구체적으로 EDS(Electrical Die sorting) 검사 시스템을 구성하고 있는 프로버 시스템 내 전원공급부의 전압을 실시간으로 측정하여 모니터링할 수 있는 복수개의 표시부를 갖는 전압기에 관한 것이다. 이와 같이, 실시간으로 전압을 모니터링함으로써, 전압 측정을 위한 불필요한 시간 및 인력 낭비를 막을 수 있고 따라서 생산성을 향상시킬 수 있다는 장점을 갖는다.
EDS(Electrical Die sorting) 검사 시스템, 프로버 시스템, 전압
摘要翻译：本发明涉及到EDS（电气模具分拣）检查系统用于检查半导体芯片，具体而言，EDS（电气模具分选），以通过实时电源探测器系统组成测试系统内的监视电压来测量本发明涉及具有多个显示部分的电压发生器。以这种方式，通过实时监测的电压，并且它可以防止的时间和人力不必要的浪费用于电压测量，因此具有的优点是生产率提高。

9. 发明公开

KR1020050014864A 인지된 양호한 다이를 산출하기 위한 테스트 방법 失效
标题翻译：产生感知良好死亡的测试方法
公开(公告)号：KR1020050014864A
公开(公告)日：2005-02-07
申请号：KR1020047020546
申请日：2003-06-16
申请人： 폼팩터, 인크.
发明人： 밀러찰스에이. , 쿠퍼티모시이. , 하쯔까노요시까즈
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/2831 , G01R31/2886 , G01R31/31718 , G11C29/006 , G11C29/56016
摘要： 반도체 웨이퍼는 웨이퍼 상에 형성된 집적 회로 다이를 개별화하기 위해 절단된다. 그 후, 다이 픽 기계는 캐리어 베이스 상에 개별화된 다이를 위치 및 배향시켜서, 각각의 다이의 표면 상에 형성된 신호, 전력 및 접지 패드는 다이 픽 기계가 광학적으로 확인하는 캐리어 베이스 상의 랜드마크에 대해 미리 결정된 위치에 존재한다. 다이들이 캐리어 베이스 상의 적소에 일시적으로 보유된 상태로, 다이들은 일련의 테스트와 다른 처리 단계를 거치게 된다. 각각의 다이의 신호 패드는 미리 결정된 위치에 있으므로, 다이는 테스트 중에 패드로의 신호 접근성을 테스트 장비에 제공하는 적절히 정렬된 프로브에 의해 접근될 수 있다. 각 테스트 후에, 다이 픽 기계는 테스트에 실패한 임의의 다이를 또 다른 다이로 교체함으로써, 후속 테스트 및 다른 처리 수단의 효율을 개선한다.

10. 发明公开

KR1020000077202A 반도체 장치 검사 장치 및 반도체 장치 검사 방법 失效
标题翻译：半导体器件检查装置和半导体器件检查方法
公开(公告)号：KR1020000077202A
公开(公告)日：2000-12-26
申请号：KR1020000024827
申请日：2000-05-10
申请人： 르네사스 일렉트로닉스 가부시키가이샤
发明人： 나까노마사히또
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/31908 , G01R31/01 , G01R31/2851 , G01R31/2893 , G01R31/31718 , G01R35/005
摘要： 핸들러부(handler section)와측정부를포함하는반도체장치핸들러는기준샘플을측정부에제공된복수의 DUT부에탑재하기위한기준샘플순차탑재수단, 상기기준샘플의규정된검사항목을저장하기위한제1 저장수단, 상기기준샘플과관련하여검사항목을측정하고측정결과를저장하기위한제2 저장수단, DUT부의각각에서의기준샘플의측정값과상기제1 저장수단에저장된기준샘플의규정된검사항목의값간의차분값을연산하고, DUT부의각각에대한보정값을결정하기위한차분값연산수단, 각 DUT부에서각 피검사반도체장치유닛에대한규정된검사처리를실행할때에각 DUT에대하여설정된보정값을사용하여반도체장치각각에대해규정된특성값을결정하기위한검사수단, 및검사결과에따라피검사장치를규정된카테고리로분류하기위한저장수단을갖는다.

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式