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61. 发明公开

KR1020130077498A 이물질 제거장치 无效
标题翻译：除尘装置
公开(公告)号：KR1020130077498A
公开(公告)日：2013-07-09
申请号：KR1020110146232
申请日：2011-12-29
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 장영배 , 임쌍근 , 고승규
IPC分类号： B08B3/02 , G02F1/13 , B08B5/02
摘要： PURPOSE: Equipment for removing foreign substance is provided to remove foreign substance not with suction force but with jet force, thereby having no need for a large amount of vacuum flow and reducing manufacturing cost. CONSTITUTION: Equipment for removing foreign substance comprises a discharging unit, a first showerhead (120) and a second showerhead (130). The discharging unit is arranged so that a free end, which is formed to be open, is adjacent to a glass substrate. The first showerhead is formed around the surface of the discharging unit. The first showerhead is formed so that fluid is ejected towards one part of the glass substrate facing the free end of the discharging unit. The first showerhead ejects foreign substance transferred along the fluid through the discharging unit. The first showerhead comprises a body unit (121), a housing unit (122) and a guide portion (123). The second showerhead is included in the first showerhead. The one end of the second showerhead is exposed to the outside and spays the fluid on the glass substrate.
摘要翻译：目的：提供除去异物的设备，以除去吸力而是用喷射力去除异物，从而不需要大量的真空流动并降低制造成本。构成：用于除去异物的设备包括排放单元，第一喷头（120）和第二喷头（130）。放电单元布置成使得形成为开放的自由端与玻璃基板相邻。第一喷头形成在排放单元的表面周围。第一喷头形成为使得流体朝向与排放单元的自由端相对的玻璃基板的一部分喷射。第一个喷头喷出通过排放单元沿着流体传送的异物。第一喷淋头包括主体单元（121），壳体单元（122）和引导部分（123）。第一个淋浴头包括在第一个淋浴喷头。第二个喷头的一端暴露在外面，并将流体喷在玻璃基板上。

62. 发明公开

KR1020130026922A 반도체소자 검사장치 无效
标题翻译：半导体芯片测试设备
公开(公告)号：KR1020130026922A
公开(公告)日：2013-03-14
申请号：KR1020110090384
申请日：2011-09-06
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 임쌍근 , 이상윤 , 유준호 , 송교혁
IPC分类号： G01N21/88 , H01L21/66
摘要： PURPOSE: An inspection apparatus for semiconductor device is provided to reliably detect a fault of semiconductor device by filtering a first wavelength light in a filter and by irradiating a third wavelength light different from the first wavelength light to a photographic unit. CONSTITUTION: An inspection apparatus(100) for semiconductor device comprises a first light source(110), a reflective member(120), a second light source(130), a filter(140), and a photographic unit(150). The first light source irradiates first wavelength light to a predetermined position. The reflective member is separated from an object in an upper direction and reflects light irradiated from the first light source to the object. The second light source is adjacent to the object and irradiates second wavelength light different from the first wavelength light to the object. The filter is separated from the reflective member in the upper direction and filters the first wavelength light between the first wavelength light and third wavelength light. The photographic unit is separated from the filter in the upper direction and is irradiated the third wavelength light passing through the filter.
摘要翻译：目的：提供一种用于半导体器件的检查装置，通过对滤波器中的第一波长光进行滤波，并将不同于第一波长光的第三波长光照射到照相单元来可靠地检测半导体器件的故障。构成：用于半导体器件的检查装置（100）包括第一光源（110），反射构件（120），第二光源（130），过滤器（140）和照相单元（150）。第一光源将第一波长的光照射到预定位置。反射构件在上方向与物体分离，并将从第一光源照射的光反射到物体。第二光源与物体相邻，并将与第一波长光不同的第二波长光照射到物体上。滤光器在上方向与反射构件分离，并对第一波长光和第三波长光之间的第一波长光进行滤波。照相单元在上方向与滤光片分离，照射通过滤光器的第三波长光。

63. 发明授权

KR101230396B1 ＬＥＤ어레이 검사장치 有权
标题翻译：检测LED阵列的装置
公开(公告)号：KR101230396B1
公开(公告)日：2013-02-15
申请号：KR1020100087161
申请日：2010-09-06
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 강민구 , 이현민 , 송준호 , 한원섭 , 이상윤 , 임쌍근
IPC分类号： G01M11/02 , G01N21/88 , G01B11/25
摘要： 본 발명은 카메라로 2차원 영상 및 3차원 모아레 영상을 획득하고, 사이드 카메라를 이용하여 단차를 갖는 LED칩의 들뜸, 경사짐의 유무, 커넥터의 솔더링 상태 등을 동시에 점검할 수 있도록 하는 LED어레이 검사장치에 관한 것으로, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 LED어레이가 장착되는 카세트와, 상기 카세트를 수평방향과 수직방향으로 이송시키는 카세트 구동드라이버와, 상기 LED어레이의 이상여부를 판단하기 위한 상기 LED어레이의 영상을 획득하는 영상획득모듈과, 상기 영상획득모듈을 전후좌우로 이송시키는 영상획득모듈 구동드라이버와, 상기 영상획득모듈로부터 전송되는 영상을 해석하여 LED어레이를 검사하는 영상처리수단으로 이루어진 LED어레이 검사장치에 있어서, 상기 영상획득모듈은 상기 LED어레이의 영상을 획득하도록 상기 LED어레이의 수직 상방에 배치하는 메인카메라와, 상기 LED어레이의 영상을 획득하도록 상기 LED어레이를 향해 경사지도록 배치되는 사이드 카메라와, 상기 LED어레이를 향해 빛을 조사하는 조명수단을 포함하도록 구성된다.

64. 发明授权

KR101230397B1 영상 데이터 고속 송/수신 방법 및 장치 有权
标题翻译：用于高速传输/接收图像数据的方法和装置
公开(公告)号：KR101230397B1
公开(公告)日：2013-02-07
申请号：KR1020100094734
申请日：2010-09-29
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 강민구 , 구자철 , 이상윤 , 임쌍근
IPC分类号： G06T1/60 , H04N5/77
CPC分类号： G06F3/005 , G06T1/60 , H04N5/765
摘要： 본 발명은 이미지 센서에서 출력되는 영상 데이터를 전송 채널의 대역폭에 상응하는 속도로 하나 이상의 전송 채널을 통해 순차적으로 전송하는 단계와, 하나 이상의 전송 채널을 통해 수신되는 영상 데이터를 하나 이상의 전송 채널 각각의 대역폭을 합한 전체 대역폭에 해당하는 속도로 프레임 스토어에 순차적으로 기록하는 단계를 포함하는 영상 데이터 고속 송수신 방법과 이를 구현하기 위한 장치이다.

65. 发明公开

KR1020110061335A 발광다이오드 패키지 검사 장치 有权
标题翻译：检测发光二极管的装置
公开(公告)号：KR1020110061335A
公开(公告)日：2011-06-09
申请号：KR1020090117952
申请日：2009-12-01
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 임쌍근 , 고승규 , 권대갑 , 안주훈
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2635 , G01R31/2867 , G01R31/2887 , G01R31/2893 , G01R31/2896 , G01R31/311
摘要： PURPOSE: An apparatus for inspecting a light emitting diode package is provided to automate an inspecting operation and a marking operation with respect to bad light emitting packages. CONSTITUTION: A loading part(110) loads the array type group of light emitting diodes into a cassette. An inspecting part(120) inspects defects in the group of the light emitting diodes through a visual inspection process. A marking part(130) implements a marking process with respect to bad light emitting diodes based on the inspection result of the inspecting part. An unloading part(140) loads a vacant cassette in order to receive the group of the light emitting diode packages.
摘要翻译：目的：提供一种用于检查发光二极管封装的装置，用于自动执行关于不良发光封装的检查操作和标记操作。构成：装载部件（110）将阵列型组的发光二极管装载到盒中。检查部（120）通过目视检查处理检查发光二极管组的缺陷。基于检查部件的检查结果，标记部件（130）针对不良发光二极管实施标记处理。卸载部件（140）装载空盒，以便接收一组发光二极管封装。

66. 发明授权

KR101028335B1 와이어 검사 장치 有权
标题翻译：电线检查设备
公开(公告)号：KR101028335B1
公开(公告)日：2011-04-11
申请号：KR1020090070904
申请日：2009-07-31
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 임쌍근 , 이상윤 , 강성용 , 이효중
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： H01L2224/78 , H01L2224/85 , H01L2224/859 , H01L2924/10162 , H01L2924/00012
摘要： 본 발명의 일 양상에 따른 와이어 검사 장치는 칩 패키지의 와이어 검사 장치에 있어서, 칩 패키지 수직축에 대하여 소정 입사각으로 조명광을 조사하여 와이어 그림자를 생성하는 조명부의 입사각과, 와이어 그림자를 포함하는 칩 패키지 표면 영상을 획득하는 촬상부의 수광각이 전반사 영상을 획득하도록 조명부와 촬상부를 배치하고, 획득된 영상에서 와이어와 와이어 그림자 사이의 거리 정보를 이용하여 와이어의 높이를 산출하고 와이어의 불량 여부를 판단한다.
와이어, 불량, 높이, 전반사, 그림자
摘要翻译：根据本发明的一个方面，提供了一种用于芯片封装的线检查设备，所述线检查设备包括：芯片封装封装，其包括芯片封装表面，所述芯片封装表面包括线阴影，用于获得图像，以获得全反射图像放置一个照明单元和图像接受角成像单元，并且通过使用金属丝和金属丝的阴影之间的距离信息在导线的所获取的图像计算出的高度，并确定如果导线的失败。

67. 发明公开

KR1020110029569A 광학식 영상 측정 시스템 및 그를 이용한 측정 방법 有权
标题翻译：用于测量物体的光学形状的系统及其测量方法
公开(公告)号：KR1020110029569A
公开(公告)日：2011-03-23
申请号：KR1020090087307
申请日：2009-09-16
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 임쌍근 , 이상윤 , 강민구 , 구자철 , 한원섭
IPC分类号： G01B11/24
摘要： PURPOSE: A system for optically measuring an image and a measuring method using the same are provided to reduce an image taking time by freely controlling the exposed waveform of a camera. CONSTITUTION: A system for optically measuring an image comprises a camera(10), a lighting device(11), a lighting controller(12), an image capturing unit(24), an image signal processing unit(25), a control unit(22), a data input unit(21), and a sync signal generator(23). The camera takes an image of a subject on a given area. The lighting device lights the given area. The lighting controller controls the lighting device. The image capturing unit captures the image taken by the camera. The image signal processing unit processes the image captured by the image capturing unit as an image signal. Measuring mode based value is programmed on the control unit. The data Input part inputs a control signal to the control unit.
摘要翻译：目的：提供用于光学测量图像的系统和使用其的测量方法，以通过自由地控制相机的曝光波形来减少图像拍摄时间。构成：用于光学测量图像的系统包括照相机（10），照明装置（11），照明控制器（12），图像捕获单元（24），图像信号处理单元（25），控制单元（22），数据输入单元（21）和同步信号发生器（23）。相机拍摄给定区域的拍摄对象的图像。照明设备点亮给定区域。照明控制器控制照明设备。图像拍摄单元拍摄照相机拍摄的图像。图像信号处理单元将由图像捕获单元捕获的图像作为图像信号进行处理。在控制单元上编程基于测量模式的值。数据输入部分向控制单元输入控制信号。

68. 发明公开

KR1020110012965A 와이어 검사 장치 有权
标题翻译：检查电线
公开(公告)号：KR1020110012965A
公开(公告)日：2011-02-09
申请号：KR1020090070904
申请日：2009-07-31
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 임쌍근 , 이상윤 , 강성용 , 이효중
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： H01L2224/78 , H01L2224/85 , H01L2224/859 , H01L2924/10162 , H01L2924/00012
摘要： PURPOSE: A wire inspection apparatus is provided to determine whether the wire is defective or not by calculating the height of the wire using the distance information between the wire and the shadow of the wire. CONSTITUTION: A lighting unit(10) emits the illuminating light having the predetermined incident angle(θ1) for the perpendicular axis of a chip package(40) to cast the shadow of the wire. A photographing unit(20) is arranged with the predetermined accepting angle(θ2) for the perpendicular axis of the chip package in order to get the total reflection image of the chip package surface.
摘要翻译：目的：提供一种线检测装置，通过使用导线和线阴影之间的距离信息计算导线的高度来确定导线是否有缺陷。构成：照明单元（10）发射具有用于芯片封装（40）的垂直轴的预定入射角（＆amp; 1）的照明光，以铸造线的阴影。为了获得芯片封装表面的全反射图像，拍摄单元（20）以芯片封装的垂直轴线的预定接收角度（＆amp; 2）布置。

69. 发明公开

KR1020100039965A 5면 비전 검사 시스템 有权
标题翻译：五面视觉检测系统
公开(公告)号：KR1020100039965A
公开(公告)日：2010-04-19
申请号：KR1020080098970
申请日：2008-10-09
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 임쌍근 , 이상윤 , 주병권 , 손동규
IPC分类号： G01B11/24 , H01L21/66 , H05K13/08
摘要： PURPOSE: A vision inspection system for five surfaces is provided to inspect not only two surfaces for semiconductor wafer or PCB but also five surfaces for solid state drive and to improve work efficiency by automatic inspecting five surfaces. CONSTITUTION: A vision inspection system for five surfaces(1000) comprises a main body(100), a first loader(200a), a second loader(200b), a first convey rail(300a), a second convey rail(300b), and a first vision inspecting unit(400). The first loader and the second loader are installed in the front both side of the main body and load a plurality of trays, wherein measured objects are loaded, to moves upwards and downwards. The first convey rail and the second convey rail are installed in the rear both side of the each loader and transfer the trays to the backward and forward. The first vision inspecting unit is installed between the convey rails and includes a first image acquisition part(410) and a second image acquisition part(420).
摘要翻译：目的：提供五面视觉检测系统，不仅可以检查半导体晶片或PCB的两个表面，还可以检查固态驱动的五个表面，并通过自动检查五个表面来提高工作效率。构成：用于五个表面（1000）的视觉检查系统包括主体（100），第一装载器（200a），第二装载器（200b），第一传送轨道（300a），第二传送轨道（300b）和第一视觉检查单元（400）。第一装载机和第二装载机安装在主体的前两侧，并装载多个托盘，其中测量对象被加载，以向上和向下移动。第一输送轨道和第二输送轨道安装在每个装载机的后部两侧，并将托盘向后和向前传送。第一视觉检查单元安装在传送轨道之间，并且包括第一图像获取部分（410）和第二图像获取部分（420）。

70. 发明公开

KR1020100039956A 픽커용 그립퍼 어셈블리 无效
标题翻译：一个抓斗人员组装
公开(公告)号：KR1020100039956A
公开(公告)日：2010-04-19
申请号：KR1020080098961
申请日：2008-10-09
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 임쌍근 , 이상윤 , 주병권 , 손동규
IPC分类号： H01L21/68
CPC分类号： H01L21/67721 , H01L21/67288
摘要： PURPOSE: A gripper assembly for a picker is provided to improve the productivity by separating a grip rod based on the shape and the size of an object to be gripped. CONSTITUTION: A picker body(220) is elevated by an elevation unit(210). A picker head(230) is combined to the lower side of the picker body. A detection sensor(240) is vertically combined to the center of the picker head and detects an object to be gripped by a contact. A transfer screw rotates by a motor. A transfer block(260) is combined to the transfer screw. A gripper(100) which is combined to the transfer block grips the object.
摘要翻译：目的：提供一种用于拾取器的夹持器组件，用于通过基于被夹持物体的形状和尺寸分离握柄来提高生产率。构成：拾取器主体（220）由升降单元（210）升高。拾取头（230）组合到拾取器主体的下侧。检测传感器（240）垂直地组合到拾取器头部的中心，并检测由接触件夹持的物体。转印螺杆由电机旋转。传送块（260）组合到转印螺杆。与传送块组合的夹具（100）夹住物体。

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