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1. 发明授权

KR102137539B1 배터리 외관 검사장치 有权
公开(公告)号：KR102137539B1
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：KR1020180081219
申请日：2018-07-12
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 이상윤 , 강성용 , 장석준 , 이진호
IPC分类号： G01N21/88 , H01M10/42

2. 发明公开

KR1020170037423A 핫 스탬핑 성형체의 검사장치 有权
标题翻译：热冲压成型品的检验装置
公开(公告)号：KR1020170037423A
公开(公告)日：2017-04-04
申请号：KR1020150137028
申请日：2015-09-25
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 이상윤 , 강성용 , 장석준 , 김대훈
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/25 , G06T7/00
摘要： 본기재의핫 스탬핑성형체의검사장치는핫 스탬핑공정으로제작된성형체가탑재되고, 상기탑재된성형체를고정하는클램프가형성된플레이트와, 상기플레이트에탑재된성형체의수직상부에서상기성형체의상면으로수직조명을조사하는제1조명과, 상기성형체의일측상부에서상기성형체의상면으로경사진슬릿빔(slit beam)을조사하는제2조명및 상기제1조명과동축상에배치되어상기제1조명및/또는제2조명에서조사되고상기성형체에서반사된검사이미지를획득하는카메라로이루어진촬영유닛과, 상기촬영유닛에서획득한검사이미지를통해상기성형체의불량을검출하는판독부와, 선단에상기촬영유닛을고정하여상기촬영유닛을상기성형체의상부에서이송시키는이송부를포함한다.
摘要翻译：根据本发明的热冲压成形品的检查装置包括板，通过热冲压工艺制造的成形体被安装在板上并且夹紧模具被固定在板上，第二照明单元，其用于照射在所述成型体的一侧的上部处向所述成型体的上表面倾斜的狭缝光束;以及第二照明单元，其与所述第一照明单元同轴布置，以及照相机，用于获得由模制物体反射并以第二照明照射的测试图像;读取单元，用于通过由成像单元获取的测试图像来检测模制体的缺陷; 以及用于从成型体上方转移成像单元的转印单元。

3. 发明公开

KR1020140023791A 기판 검사장치 无效
标题翻译：检验基板装置
公开(公告)号：KR1020140023791A
公开(公告)日：2014-02-27
申请号：KR1020120090266
申请日：2012-08-17
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 강민구 , 강성용 , 장석준 , 이현민
IPC分类号： G01N21/88
摘要： The present invention relates to an apparatus for inspecting a substrate which is capable of conducting a full inspection of a substrate by adjusting only the angle of a mirror while a camera is fixed. The apparatus for inspecting a substrate includes: a stage where a substrate is mounted; an inspection camera which is arranged on top of the substrate and inspects the substrate by area; a mirror which is arranged in between the stage and the inspection camera to convert the pathway of light emitted from the substrate and deliver the light to the inspection camera; and a control unit which adjusts the inclination of the mirror and changes the imaging area of the substrate which is input to the inspection camera.
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查基板的装置，该基板能够通过仅调整相机固定时的反射镜的角度来对基板进行全面的检查。用于检查基板的装置包括：安装基板的台阶; 检查照相机，其设置在基板的顶部，并按面积检查基板; 布置在台架和检查照相机之间的反射镜，以转换从基板发射的光的路径并将光传送到检查照相机; 以及控制单元，其调整反射镜的倾斜度并改变输入到检查照相机的基板的成像区域。

4. 发明授权

KR101766377B1 핫 스탬핑 성형체의 검사장치 有权
公开(公告)号：KR101766377B1
公开(公告)日：2017-08-09
申请号：KR1020150137028
申请日：2015-09-25
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 이상윤 , 강성용 , 장석준 , 김대훈
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/25 , G06T7/00
摘要： 본기재의핫 스탬핑성형체의검사장치는핫 스탬핑공정으로제작된성형체가탑재되고, 상기탑재된성형체를고정하는클램프가형성된플레이트와, 상기플레이트에탑재된성형체의수직상부에서상기성형체의상면으로수직조명을조사하는제1조명과, 상기성형체의일측상부에서상기성형체의상면으로경사진슬릿빔(slit beam)을조사하는제2조명및 상기제1조명과동축상에배치되어상기제1조명및/또는제2조명에서조사되고상기성형체에서반사된검사이미지를획득하는카메라로이루어진촬영유닛과, 상기촬영유닛에서획득한검사이미지를통해상기성형체의불량을검출하는판독부와, 선단에상기촬영유닛을고정하여상기촬영유닛을상기성형체의상부에서이송시키는이송부를포함한다.

5. 发明公开

KR1020170075357A 화상을 이용한 H빔의 크기 측정 방법 및 그 시스템 有权
标题翻译：利用图像测量H光束尺寸的方法和系统
公开(公告)号：KR1020170075357A
公开(公告)日：2017-07-03
申请号：KR1020150184910
申请日：2015-12-23
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 이상윤 , 강성용 , 장석준 , 김대훈
IPC分类号： G01B11/00 , G01B11/25 , G01B11/02 , G01B21/32 , G06T7/00 , G06T7/60 , G03B3/10
摘要： H빔의각 부위크기를정확히측정할수 있는 H빔크기측정방법및 그시스템이제공된다. 화상을이용한 H빔의크기측정방법은중심축을기준으로상하좌우에영상촬영장치를설치하되, 각영상촬영장치가동일한지점을바라보도록각 영상촬영장치를중심축을향해틀어서설치하는단계, 영상촬영장치들의중심에 H빔을배치하되, 각영상촬영장치가 H빔의정면과해당영상촬영장치가배치된면을동시에촬영하도록배치하는단계, H빔의정면과상하좌우면중 어느한 면에레이저가걸치도록레이저를반복조사하여, H빔의모서리전체에선형레이저가조사되도록하되, 레이저가조사되는부위의서로접하는두 면의경계가구분될수 있도록조사부위에맞추어각도를틀어서레이저를조사하는단계, 영상촬영장치로레이저가조사된 H빔의모서리부위화상을획득하고, 조사된레이저에의해나타난두 면의경계점들을연결하여 H빔의상하좌우각 모서리정보를획득하는단계, H빔의상하좌우각 모서리정보를이용하여 H빔의형상을복원하는단계, 획득된형상을이용하여 H빔의크기를측정하는단계를포함할수 있다.
摘要翻译：提供了一种H型光束尺寸测量方法和系统，其能够精确地测量H型光束的每个部分的尺寸。包括：在所述H-光束与图像的尺寸的测量方法，在上安装的成像装置，向下，向左，和向右的中心轴，以寻找每个视频图像拍摄装置的，该装置的同一点朝向每个视频图像拍摄装置的中心轴线布置，所述图像拍摄装置但放置H型钢的中心，每一个视频图像中的激光步骤拍摄装置中，H型钢前面和侧面设置拍摄的前部和视频图像在同一时间在H型钢的排列拍摄装置的一侧的表面中的任一面和激光重复跨越调查，但使得在边缘处的线状激光辐射整个H型钢，所述方法包括：将激光与激光束照射，根据照射区域为彼此在该区域两个表面区分在接触到被照射边界打好角度，获得H-光束激光器的边缘图像区域被照射到图像拍摄装置中，通过连接双方由H型钢包括的激光照射侧指示的边界点：获得每个角的信息，H型钢和右侧，并通过使用还原H-束的形状的相位相应边缘信息左，所获取的形状可以包括测量所述H-束的尺寸的步骤。

6. 发明公开

KR1020160108069A 슬릿빔을 이용한 오토포커싱 장치 및 이를 이용한 오토포커싱 방법 有权
标题翻译：自动聚焦装置使用SLITBEAM和自动聚焦方法使用它
公开(公告)号：KR1020160108069A
公开(公告)日：2016-09-19
申请号：KR1020150031936
申请日：2015-03-06
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 강민구 , 강성용
IPC分类号： G01N21/88 , G03B3/10
CPC分类号： G01N21/8806 , G01N2201/102 , G01N2201/12715 , G03B3/10
摘要： 본발명은슬릿빔과다단으로단차진반사수단을이용하여피검체의높이를파악하고, 검사용카메라의위치를조절하는슬릿빔을이용한오토포커싱장치및 이를이용한오토포커싱방법이개시된다. 본발명은슬릿빔을출력하는광원과, 상기광원에서출력된슬릿빔을피검체의표면으로반사시켜전달하되, 상기슬릿빔의라인을따라다단으로단차지게형성되어, 상기피검체에복수의슬릿빔으로분할하여조사하는제1반사수단과, 상기피검체에서반사된라인이미지를획득하는이미지센서와, 상기이미지센서에서획득한라인이미지의결상위치에따라피검체의높이를판단하는분석부와, 상기분석부에서판단된피검체의높이와대응하여상기검사용카메라와피검체의간격을조절하는거리조절부를포함하는슬릿빔을이용한오토포커싱장치및 이를이용한오토포커싱방법에관한것이다.
摘要翻译：本发明涉及一种自动对焦装置，其使用多级和阶梯式反射装置的狭缝光束来识别检查目标的高度并调整检查照相机的位置以及使用其的自动聚焦方法。根据本发明，自动对焦装置包括：输出狭缝光束的光源; 将从光源输出的狭缝光束反射到检查对象的表面的第一反射装置形成为沿着狭缝光束的多个台阶阶梯状，并且向检查对象发射多个分裂狭缝光束; 获取从检查对象反射的线法师的图像传感器; 分析单元，其根据从图像传感器获得的行图像的成像位置确定检查对象的高度; 以及距离调节装置，其调整检查照相机和检查对象之间的间隙，以对应于由分析单元确定的检查对象的高度。

7. 发明授权

KR101436574B1 ＬＥＤ 백라이트 유닛의 검사장치 및 방법 有权
标题翻译： LED背光单元的检查装置和方法
公开(公告)号：KR101436574B1
公开(公告)日：2014-09-01
申请号：KR1020130007611
申请日：2013-01-23
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 고승규 , 장성민 , 강성용 , 강민구
IPC分类号： G02F1/13 , G02F1/13357 , G01N21/88
摘要： 본 발명은 LED 모듈에 전원을 인가하여 발광되도록 한 후 LED 모듈에서 출력된 광을 촬영하여 LED 모듈을 구성하는 LED칩과 렌즈의 정렬 및 형광층의 분포상태를 검사하는 LED 백라이트 유닛의 검사장치 및 방법에 관한 것으로, LED 모듈에 전원을 공급하는 전원공급부와, 상기 LED 모듈의 상부에 배치되고, 상기 LED 모듈에서 출력된 영상을 획득하는 이미지 획득수단과, 상기 이미지 획득수단을 이동시키는 이동수단과, 상기 이미지 획득수단과 LED 모듈 사이에 배치되는 디퓨저를 포함한다.

8. 发明公开

KR1020140094937A ＬＥＤ 백라이트 유닛의 검사장치 및 방법 有权
标题翻译： LED背光单元的检查装置和方法
公开(公告)号：KR1020140094937A
公开(公告)日：2014-07-31
申请号：KR1020130007611
申请日：2013-01-23
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 고승규 , 장성민 , 강성용 , 강민구
IPC分类号： G02F1/13 , G02F1/13357 , G01N21/88
CPC分类号： G02F1/1309 , G01N21/88 , G02F1/1336
摘要： The present invention relates to an apparatus and a method for inspecting an LED backlight unit, capable of inspecting the distribution state of a fluorescent layer and the arrangement of a lens and an LED chip constituting an LED module by photographing light outputted from the LED module after power is applied to the LED module to emit light. The present invention includes a power supply unit which supplies power to the LED module, an image obtaining unit which is arranged on the upper side of the LED module and obtains an image outputted from the LED module, a moving unit which moves the image obtaining unit, and a diffuser which is arranged between the image obtaining unit and the LED module.
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查LED背光单元的装置和方法，该装置和方法能够通过在LED模块之后拍摄从LED模块输出的光来检查荧光层的分布状态以及构成LED模块的透镜和LED芯片的布置电源施加到LED模块发光。本发明包括向LED模块供电的电源单元，配置在LED模块的上侧并获得从LED模块输出的图像的图像获取单元，使图像获取单元移动的移动单元以及布置在图像获取单元和LED模块之间的扩散器。

9. 发明公开

KR1020140031687A 기판 표면 검사 시스템 및 검사 방법 无效
标题翻译：一种光学检查系统和基片表面方法
公开(公告)号：KR1020140031687A
公开(公告)日：2014-03-13
申请号：KR1020120098308
申请日：2012-09-05
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 강민구 , 강성용 , 주병권 , 이상윤 , 최이배 , 유준호 , 이현민
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/30
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N21/8851 , G01N21/956 , G01N2021/9513 , G06T7/0004
摘要： The present invention relates to a device and a method for inspecting abnormal conditions on an LCD or an OLED substrate and, more particularly, to an inspecting system for the surface of a substrate and an inspecting method thereof, which improve an yield rate by improving the accuracy of inspection for abnormal conditions on an LCD or an OLED substrate using an optical image measuring system. The inspecting system for the surface of a substrate is an optical inspecting system by comprising: a camera which outputs by photographing a lighting device and a substrate; a control unit which captures the image photographed by the camera and treats the captured image in order to determine a fair quality product or a defective product; and a washing device which washes the surface of the substrate. The camera comprises a first camera and an additional second camera. The washing device is an air spraying device for spraying air and is installed between the first and the second cameras. Meanwhile, the inspecting method for the surface of a substrate includes a step of photographing an image reflected by light emitted from a lighting device to a substrate, and treats and determines the photographed image. When the substrate is determined to have foreign materials in the step of treating and determining the photographed image, the inspecting method the surface of a substrate can further include a step of spraying air onto the substrate using an air spraying device as a washing device, and a step of determining again by photographing an image after spaying air.
摘要翻译：本发明涉及一种用于检查LCD或OLED基板上的异常状况的装置和方法，更具体地，涉及用于基板表面的检查系统及其检查方法，其通过改善使用光学图像测量系统对LCD或OLED基板上的异常状况的检查精度。基板表面的检查系统是光学检查系统，包括：照相机，其通过拍摄照明装置和基板输出; 控制单元，其捕获由照相机拍摄的图像，并处理所拍摄的图像，以便确定公平的质量产品或有缺陷的产品; 以及洗涤基板表面的洗涤装置。相机包括第一相机和附加的第二相机。洗涤装置是用于喷射空气并安装在第一和第二相机之间的空气喷射装置。同时，基板表面的检查方法包括将从照明装置发射的光反射的图像拍摄到基板的步骤，并处理并确定所拍摄的图像。当在处理和确定拍摄图像的步骤中确定基板具有异物时，基板的表面的检查方法还可以包括使用空气喷射装置作为清洗装置将空气喷射到基板上的步骤，以及通过在喷射空气之后拍摄图像来再次确定的步骤。

10. 发明授权

KR102199313B1 커버 글라스 검사장치 有权
公开(公告)号：KR102199313B1
公开(公告)日：2021-01-06
申请号：KR1020180164771
申请日：2018-12-19
申请人： (주) 인텍플러스
发明人： 이상윤 , 강성용 , 이현식
IPC分类号： G01N21/958 , G01N21/88
摘要： 본발명은커버글라스검사장치에관한것이다. 제1 촬상기기는검사대상인커버글라스의상방에서원점으로부터스텝단위로하강하면서커버글라스에대한영상을획득한다. 제2 촬상기기는제1 촬상기기와함께스텝단위로하강하면서커버글라스에대한영상을동시에획득한다. 컨트롤러는제2 촬상기기에의해획득된영상정보를기초로커버글라스의최상단위치를검출하고, 검출된커버글라스의최상단위치정보와제1 촬상기기에의해획득된영상정보를기초로커버글라스의불량위치를검출하여진성불량여부를판정한다.

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