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1. 发明授权

KR101885686B1 전자 부품들을 테스트하기 위한 네스트 有权
公开(公告)号：KR101885686B1
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：KR1020147016519
申请日：2012-12-05
申请人： 이스메카 세미컨덕터 홀딩 에스.아.
发明人： 비에노실뱅 , 비베흐쥬필립 , 스카르펠라마시모 , 로아필립
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/04 , G01R31/26
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R31/2635 , G01R31/2865 , G01R31/2893
摘要： 본발명에따른네스트는고정부(3) 및이동부(5)를포함하는네스트(1)로서, 상기고정부(3) 및이동부(5)는전자부품(25)의적어도일부를수용할수 있는포켓(7)을정의하기위해서협력하도록구성되며, 이동부(5)는제 1 및제 2 위치사이를이동할수 있으며, 제 1 위치에서포켓(7)은개방될 수있어서전자부품의적어도일부는포켓(7)으로이동할수 있고, 제 2 위치에서포켓(7)은폐쇄될 수있어서포켓내에위치된전자부품(25)의적어도일부는포켓내에고정되고, 상기네스트(1)는제 2 위치쪽으로이동부(5)를편향시킬수 있도록배열된편향수단(9)을더 포함한다. 본발명에따른네스트들에부품을고정하는방법은, 네스트, 및편향수단의힘에대항하여제 1 위치로이동부를이동하는단계; 포켓에부품의적어도일부를위치하는단계; 및이동부를편향수단의편향력을사용해서제 2 위치로이동시키며이동부가포켓내에부품을고정하기위해서부품과마찰결합하여부품에인접하는단계; 를포함한다.

2. 发明授权

KR101861823B1 유기 발광 표시 장치 검사 장비, 및 이를 이용한 유기 발광 표시 장치 제조 시스템 有权
公开(公告)号：KR101861823B1
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：KR1020110093640
申请日：2011-09-16
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김성국 , 양경호 , 최진호 , 권상혁 , 조용신
IPC分类号： H01L51/56 , G01R1/067
CPC分类号： G01R31/2635 , G01R31/2893 , G09G3/006 , H01L51/0031
摘要： 본발명의일 실시예는, 유기발광부를갖는복수개의셀이형성된제1기판과상기유기발광부를덮도록상기제1기판상에배치되는제2기판을갖는유기발광표시장치를검사하는유기발광표시장치의검사장비에있어서, 상기제1기판이투입되거나유출되는검사챔버와, 상기검사챔버내에배치되며, 상기검사챔버내로투입된상기제1기판을고정하는스테이지와, 상기셀들각각과접촉되어상기셀들각각에외부신호를인가하는프로브블록을갖는프로브바와, 상기프로브바와결합하고, 상기프로브바를상기스테이지에대하여이동시키는프로브바 이동부와, 복수개의상기프로브바를갖는프로브바 공급부를구비하며, 상기프로브바 이동부는상기프로브바 공급부로이동하여상기프로브바를교체할수 있으며, 상기제1기판상에상기제2기판이배치되기전에상기제1기판을검사할수 있는유기발광표시장치의검사장비를제공한다.

3. 发明公开

KR20180036833A 유기 발광 표시 장치 및 이의 오픈 쇼트 검사방법 审中-公开
标题翻译：有机发光显示装置及其开路测试方法
公开(公告)号：KR20180036833A
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：KR20160126421
申请日：2016-09-30
IPC分类号： H01L27/32 , G01R31/02 , G01R31/28 , H01L51/00 , H01L51/52 , H01L51/56
CPC分类号： H01L51/0031 , G01R31/025 , G01R31/2635 , H01L27/3262 , H01L27/3265 , H01L27/3276 , H01L51/56 , H01L2251/5392
摘要： 본발명의일 실시예에따른유기발광표시장치는, 기판, 기판의상부에배치되는반도체패턴, 반도체패턴과다른층에배치되는도전성라인, 도전성라인및 반도체패턴의상부에배치되는화소전극및 화소전극과동일층에배치되는연결전극을포함하고, 연결전극은반도체패턴및 도전성라인과연결된다.
摘要翻译：一种有机发光显示装置，包括衬底，设置在所述衬底上的半导体图案，设置在与所述半导体图案不同的层中的导线，设置在所述导线上和所述半导体图案上的像素电极以及设置在所述半导体图案上的连接电极在与像素电极相同的层中。连接电极可以连接到半导体图案和导线。

4. 发明授权

KR101632624B1 광원 검사장치 및 광원 검사방법과 이를 이용한 발광소자 패키지, 발광모듈 및 조명장치의 제조방법 有权
标题翻译：光源测试装置测试方法的光源和制造方法的发光装置包装发光模块和照明装置使用它
公开(公告)号：KR101632624B1
公开(公告)日：2016-06-23
申请号：KR1020140089793
申请日：2014-07-16
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 김수성 , 문성현
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2635 , H01L2224/16245 , H01L2224/1703 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/48257 , H01L2224/49107 , H01L2224/73265 , H01L2924/181 , H01L2924/00012 , H01L2924/00014
摘要： 본발명의일 실시예는, 검사대상이되는광원을구동하는단계와, 상기광원으로부터방출된빛을수광하여수광된빛의광특성을제1 차측정하는단계와, 상기제1 차측정시점으로부터기 설정된시간이경과한이후상기광원으로부터방출된빛을수광하여수광된빛의광특성을제2 차측정하는단계및 상기제1 차및 제2 차측정에서얻어진광특성을비교하여상기광원의불량여부를판단하는단계를포함하는광원검사방법을제공한다.

5. 发明公开

KR1020160043239A 유기 발광 다이오드의 품질 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 유기 발광 다이오드의 품질 검사 장치 审中-实审
标题翻译：有机发光二极管质量检测方法及有机发光二极管检测装置的实施方法
公开(公告)号：KR1020160043239A
公开(公告)日：2016-04-21
申请号：KR1020140137014
申请日：2014-10-10
申请人： 삼성디스플레이 주식회사 , 고려대학교 산학협력단
发明人： 양정진 , 송원준 , 윤문채 , 김규태 , 윤태웅
IPC分类号： H01L51/56 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2635 , H01L51/0031
摘要： 유기발광다이오드의검사방법은유기발광다이오드에입력전압을인가하여상기유기발광다이오드의양단에걸리는유기발광다이오드전압및 상기유기발광다이오드에흐르는유기발광다이오드전류를측정하는단계, 상기유기발광다이오드전류및 상기유기발광다이오드전압을이용하여, 상기유기발광다이오드의파라미터를추정하는단계및 상기파라미터를이용하여, 상기유기발광다이오드의물리적특성을추출하는단계를포함한다.
摘要翻译：一种用于检查有机发光二极管的方法包括以下步骤：向有机发光二极管施加输入电压以测量有机发光二极管两端的电压和有机发光二极管的电流; 通过使用有机发光二极管的电流和电压来估计有机发光二极管的参数; 并使用该参数提取有机发光二极管的物理性质。本发明的目的是以简化的程序提供有机发光二极管的方法。

6. 发明授权

KR101605300B1 유기 EL 소자의 수명 추정 방법, 수명 추정 장치 및 제조 방법, 그리고 발광 장치 有权
标题翻译：用于生产生命预测装置和发光装置的有机EL元件寿命估计方法
公开(公告)号：KR101605300B1
公开(公告)日：2016-03-21
申请号：KR1020157032149
申请日：2014-11-28
申请人： 지세다이 가가쿠자이료효카 기쥬츠겡큐구미아이
发明人： 츠츠이데츠오 , 스기모토가즈노리 , 요시오카도시히로 , 미야구치사토시
IPC分类号： H01L51/56 , H01L51/00 , G09G3/00
CPC分类号： G01R31/2642 , G01K7/00 , G01R31/2635 , G09G3/006 , G09G3/3208 , G09G2320/041 , G09G2320/048 , H01L51/0031 , H01L51/52 , H01L51/56
摘要： 본발명은, 1 쌍의전극과, 그 1 쌍의전극간에배치된유기층을구비하는유기 EL 소자의수명추정방법으로서, 유기 EL 소자에대한인가전류밀도및/또는유기 EL 소자의분위기온도를변화시켰을때의, 유기 EL 소자의소자특성의시간경과적변화데이터를취득하는데이터취득스텝과, 시간경과적변화데이터의피팅함수를구하고, 그피팅함수로부터인가전류밀도및/또는분위기온도에있어서의소자특성의시간경과적변화를특징짓는시간경과적변화파라미터를추출하는파라미터추출스텝과, 인가전류밀도및/또는분위기온도에있어서의유기층의발광시의온도상승치를이용하여시간경과적변화파라미터의온도의존성을산출하고, 유기 EL 소자의수명추정식을설정하는추정식설정스텝과, 수명추정식을이용하여유기 EL 소자의수명을추정하는수명추정스텝을구비하는, 유기 EL 소자의수명추정방법을제공한다.

7. 发明授权

KR101527733B1 광 스위치를 통한 전류 누설의 검출 有权
标题翻译：通过光开关检测电流泄漏
公开(公告)号：KR101527733B1
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：KR1020090004444
申请日：2009-01-20
申请人： 바이오센스 웹스터 인코포레이티드
发明人： 메이어에이탄
IPC分类号： G01R31/327 , G01R19/00 , G01R19/165
CPC分类号： G01R31/025 , G01R27/025 , G01R31/2635 , G01R31/275 , G01R31/2853
摘要： 광스위치의시험장치는전원과광 스위치의입력사이에결합된제 1 감지저항기와, 광스위치의출력에결합된제 2 감지저항기를포함한다. 시험회로가제 1 감지저항기를통해흐르는제 1 전류와제 2 감지저항기를통해흐르는제 2 전류를감지하고제 1 및제 2 전류사이의관계에응답하여시험신호를발생시키도록결합된다. 제어기는시험신호를수신하고시험신호가미리결정된한계를초과할때 보호작용을수행하도록결합된다.

8. 发明公开

KR1020140124417A 다중 디밍 인터페이스들을 갖는 조명 구동기 审中-实审
标题翻译：具有多个激光接口的照明驱动器
公开(公告)号：KR1020140124417A
公开(公告)日：2014-10-24
申请号：KR1020147023276
申请日：2013-01-21
申请人： 오스람 실바니아 인코포레이티드
发明人： 지쓰에거,베른하르트 , 브로이어,크리스티안 , 군다,아비나쉬
IPC分类号： H05B37/02 , H05B33/08
CPC分类号： H02M7/06 , G01R31/028 , G01R31/2633 , G01R31/2635 , G01R31/40 , G01R31/44 , H01L25/0753 , H01L25/167 , H01L27/156 , H01L33/62 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/48247 , H01L2924/12032 , H01L2924/12044 , H01L2924/1301 , H01L2924/13033 , H01L2924/1305 , H01L2924/13091 , H05B33/0803 , H05B33/0806 , H05B33/0812 , H05B33/0815 , H05B33/0821 , H05B33/0827 , H05B33/083 , H05B33/0845 , H05B33/0848 , H05B33/0851 , H05B33/086 , H05B33/0884 , H05B33/0893 , H05B37/02 , H05B37/0209 , H05B41/39 , Y02B20/343 , Y02B20/345 , Y02B20/346 , Y02B20/347 , Y10T307/615 , H05B33/0809 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
摘要： 조명 제어 기술들, 그리고 대응하는 구동기들 및 안정기들이 기재된다. 몇몇 실시예들에서, 구동기 또는 안정기는 다수의 디밍 입력들을 수신하고, 다수의 디밍 인터페이스들을 가지며, 상기 다수의 디밍 인터페이스들은 초기 디밍 신호들 또는 레벨들을 생성한다. 초기 디밍 신호들이 제어기에 의해 조작되어, 최종 출력 디밍 신호 또는 레벨이 생성되며, 상기 최종 출력 디밍 신호 또는 레벨은 수신된 디밍 신호들에 기초하고, 부착된 광원들을 따라서 디밍시킨다. 제어기에 의해 수행되는 조작들은 다양한 연산들, 예컨대 초기 디밍 신호들의 비교들 및 곱을 계산하는 것을 포함할 수 있다. 몇몇 실시예들에서, 기술들은, 형광 및 다른 방전 광원들에 대한 발광 다이오드(LED) 구동기들 또는 안정기들에 적용될 수 있고, 스마트 그리드 및 피크 전력 쉐이핑 애플리케이션들에서 사용될 수 있다.

9. 发明公开

KR1020140102658A 분류 장치 및 컴포넌트들을 분류하는 방법 无效
标题翻译：分类装置和分配组件的方法
公开(公告)号：KR1020140102658A
公开(公告)日：2014-08-22
申请号：KR1020147014519
申请日：2012-10-18
申请人： 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드
发明人： 페더센노르만메릴 , 가르시아더글러스제이.
IPC分类号： G01R31/01 , G01R31/26
CPC分类号： G01R31/2635 , B07C5/342 , B07C5/344 , B07C5/38 , G01R31/2893
摘要： 분류 장치는 이동 경로를 따라 컴포넌트를 운반하도록 구성된 컴포넌트 캐리어, 제1 분류통, 제2 분류통, 제1 이송 위치에서 컴포넌트 캐리어로부터의 컴포넌트를 이동 경로를 따라 제1 분류통으로 이송하도록 구성된 제1 이송 스테이션, 및 제2 이송 위치에서 컴포넌트 캐리어로부터의 컴포넌트를 이동 경로를 따라 제2 분류통으로 이송하도록 구성된 제2 이송 스테이션을 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 제1 이송 위치와 제2 이송 위치 사이의 거리는 제1 분류통 및 제2 분류통 중 적어도 하나의 폭보다 작을 수 있다.

10. 发明授权

KR101303602B1 비접촉식 발광다이오드 검사장치 有权
标题翻译：发光二极管非接触式检测装置
公开(公告)号：KR101303602B1
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：KR1020110118907
申请日：2011-11-15
申请人： 주식회사 미르기술
发明人： 이동호 , 안보혁
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R31/265 , G01R31/2635
摘要： 본 발명의 일 실시예에 따른 비접촉식 발광다이오드 검사장치는 발광다이오드를 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 대상 이미지와 비교하여 발광다이오드의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 장치로서, 상기 발광다이오드를 탑재하고, 상기 발광다이오드를 검사위치에 고정 또는 이송시키는 스테이지부; 상기 스테이지부의 상부에 위치하며, 상기 발광다이오드에 청색 이하 파장 영역의 가시광을 조사하는 제1 조명부와 상기 제1 조명부 상부에 위치하고 상기 발광다이오드에 녹색 파장 영역의 가시광을 조사하는 제2 조명부를 구비하는 조명부; 상기 조명부의 상부에 위치하여, 상기 발광다이오드의 영상을 촬영하는 카메라; 상기 카메라에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 발광다이오드의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부; 및 상기 스테이지부 및 상기 카메라부를 제어하는 모션 컨트롤러를 포함하는 제어부를 포함한다.

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