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    • 92. 发明公开
    • 메모리 컨트롤러 및 그것의 동작 방법
    • 存储器控制器及其操作方法
    • KR1020150024141A
    • 2015-03-06
    • KR1020130101223
    • 2013-08-26
    • 삼성전자주식회사
    • 설창규공준진소혜정손홍락
    • G11C16/34G11C16/06
    • G11C11/5621G06F12/0246G06F2212/72
    • 비휘발성 메모리 장치의 신뢰도를 향상시키기 위한 스테이트 셰이핑 동작을 수행하는 스테이트 셰이핑 엔진을 포함하는 메모리 컨트롤러가 제공된다. 메모리 컨트롤러는 MLC 비휘발성 메모리 장치로 프로그램될 데이터의 변경 구간 정보를 제공하는 스테이트 셰이핑 맵핑 정보를 구동하는 램, 그리고, 스테이트 세이핑 맵핑 정보에 따라서, MLC 비휘발성 메모리 장치로 제공될 오리지널 데이터의 프로그램 스테이트를 바꾸는 스테이트 셰이핑 인코더를 포함한다. 스테이트 셰이핑 인코더는 프로그램될 데이터의 최상위 프로그램 스테이트에 해당하는 데이터의 개수를 감소시킨다. 그리고 스테이트 셰이핑 맵핑 정보는 데이터를 변경할 MLC 비휘발성 메모리 장치의 로직컬 페이지 구간을 포함한다.
    • 提供了一种存储器控制器,其包括状态整形引擎,其执行用于提高非易失性存储器件的可靠性的状态整形操作。 存储器控制器包括:RAM,被配置为提供向MLC非易失性存储器件提供要编程的数据的改变部分信息的状态整形映射信息; 以及状态整形编码器,被配置为基于状态整形映射信息来改变要提供给MLC非易失性存储器件的原始数据的编程状态。 状态整形编码器减少与要编程的数据的顶部编程状态相对应的数据的数量,并且状态整形映射信息包括MLC非易失性存储器件的逻辑页面部分以改变数据。
    • 99. 发明公开
    • 반도체 저장 장치 및 시스템
    • 半导体存储器件和系统
    • KR1020130045016A
    • 2013-05-03
    • KR1020110109429
    • 2011-10-25
    • 삼성전자주식회사
    • 설창규공준진손홍락
    • G11C7/10G11C16/06
    • G06F13/00G11C7/04G11C16/0483G11C16/26G11C29/021G11C29/028G11C29/42G11C29/52G11C2029/0411
    • PURPOSE: A semiconductor storage device and a system are provided to obtain a read level correction value through one reading operation at a read level. CONSTITUTION: A calculating unit(CAL) calculates a difference between the number of first state values of sample data recorded in a memory and the number of the first state values of read data in the memory. A correction value calculating unit(CPC) calculates a read level correction value corresponding to the difference between the number of the first state values of the sample data recorded in the memory and the number of the first state values of the read data in the memory. A generating unit generates the sample data. The data recorded in the memory is the sample data generated by the generating unit.
    • 目的:提供半导体存储装置和系统以通过读取级别的一次读取操作来获得读取电平校正值。 构成:计算单元(CAL)计算记录在存储器中的采样数据的第一状态值的​​数量与存储器中的读取数据的第一状态值的​​数量之间的差。 校正值计算单元(CPC)计算与记录在存储器中的采样数据的第一状态值的​​数量和存储器中的读取数据的第一状态值的​​数量之间的差对应的读取电平校正值。 生成单元生成样本数据。 记录在存储器中的数据是由生成单元生成的采样数据。