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1. 发明专利

JPWO2014192889A1 Ｘ線エネルギー別画像再構成装置及び方法並びにＸ線三次元測定装置及び方法有权
标题翻译：由图像重构装置和方法以及X射线三维测量设备和方法的X射线能量
公开(公告)号：JPWO2014192889A1
公开(公告)日：2017-02-23
申请号：JP2015519944
申请日：2014-05-29
申请人：地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
发明人：亮紋川 , 正一中西 , 真也阿部 , 幹也近藤 , 晃原田
IPC分类号： G01N23/22 , G01N23/04 , G01N23/223
CPC分类号： G06T11/008 , G01B15/04 , G01N23/046 , G01N2223/076 , G01N2223/408 , G01N2223/423 , G06K9/52 , G06T7/0004 , G06T2207/10081 , G06T2207/10116 , G06T2207/30108 , H04N5/23293 , H04N13/004 , H04N13/0203
摘要：より高精度の画像再構成を実現することができる、X線エネルギー別画像再構成装置及び方法を提供する。撮像対象試料2にX線を照射するX線源1と、撮像対象試料2から発生する特性X線を検出するエネルギー分散型検出器4と、検出器4で検出された特性X線のピークを数値化する信号処理手段と、信号処理手段からの信号を基に画像を再構成する画像再構成手段と、を備える、X線エネルギー別画像再構成装置である。
摘要翻译：它能够实现更高精度的图像重建，由图像重构装置及方法，提供一种X射线能量。的X射线源1照射X射线到成像目标样本2中，用于检测特征X射线从成像目标样品2，所检测到的特性X射线中的检测器4的峰值产生的能量分散型检测器4 信号处理装置，用于数字化包括用于重建基于信号的图像的图像重建装置从所述信号处理装置，并且通过所述图像重构的X射线能量。

2. 发明专利

JP6422573B2 画像処理装置及び画像処理方法及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP6422573B2
公开(公告)日：2018-11-21
申请号：JP2017515418
申请日：2016-03-08
申请人：富士フイルム株式会社
发明人：村上治
IPC分类号： G01N23/18 , G01N23/04
CPC分类号： G01N23/04 , G01N23/18 , G01N2223/401 , G01N2223/408 , G01N2223/646 , G06T3/40 , G06T5/50 , G06T7/001 , G06T11/001 , G06T11/008 , G06T11/60 , G06T2207/10116 , G06T2207/30164

4. 发明专利

JP2017514632A レーザー・コンプトンＸ線源を用いた二色放射線撮影の方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017514632A
公开(公告)日：2017-06-08
申请号：JP2016566988
申请日：2015-05-07
申请人：ローレンスリバモアナショナルセキュリティー, エルエルシー , ローレンスリバモアナショナルセキュリティー, エルエルシー
发明人：ピー．ジェイ．バーティ，クリストファー , ピー．ジェイ．バーティ，クリストファー
IPC分类号： A61B6/00
CPC分类号： G01N23/087 , A61B6/06 , A61B6/405 , A61B6/4241 , A61B6/481 , A61B6/482 , G01N2223/206 , G01N2223/408 , G01N2223/423 , G01N2223/501 , G01V5/0008 , G01V5/0041 , G06T5/50 , G06T2207/10116 , G21K1/02 , G21K1/043 , H05G2/00 , H05G2/008
摘要：レーザー・コンプトンX線源によるスキャン照射により、高コントラストサブトラクションX線画像を生成する。レーザー・コンプトン散乱プロセスにおけるスペクトルと角の相関関係、および特別に設計した開口部および/または検出器を用いて、高エネルギーのX線である軸上領域と、わずかに低いエネルギーのX線であるその周辺領域とからスペクトルが成る細いX線ビームを生成/記録する。前記レーザー・コンプトン源の終端エネルギーは、前記高エネルギーX線領域が、撮像対象内の特定の造影剤または特定物質のK殻吸収端(K端)を超える光子を含み、前記外側領域が前記造影剤または特定物質のK端未満のエネルギーの光子から成るように設定される。このビームでスキャンし照射することにより、前記対象のK端を超える吸収反応およびK端未満の吸収反応を同時に記録しマッピングする。

5. 发明专利

JP2018533731A 高いコンピュータ断層撮影ピッチでの画像再構成のためのシステムおよび方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018533731A
公开(公告)日：2018-11-15
申请号：JP2018520123
申请日：2016-10-13
申请人：エルスリー・セキュリティー・アンド・ディテクション・システムズ・インコーポレイテッド , L−3 Communications Security and Detection Systems,Inc.
发明人：アンドリュー・ディー・フォーランド , ボリス・オレパー , マイケル・シュミット
IPC分类号： G01N23/10 , G01N23/046
CPC分类号： G01N23/046 , G01N2223/401 , G01N2223/408 , G01N2223/419 , G01N2223/643 , G06T11/006 , G06T2211/424 , G06T2211/436
摘要：容積データおよび容積画像再構成の取得を容易にする方法、システム、装置、および非一時的コンピュータ可読媒体について、本明細書で説明する。画像化システムが、古典的に完全なジオメトリのカバレージには不十分な測定データが収集されるようなX線ソースの走査経路に対する速度でオブジェクトをトランスポートするように構成され得る。オブジェクトの少なくとも一部分の測定済み容積データに基づいて、容積画像を生成するために、反復画像再構成技法が使用され得る。

6. 发明专利

JPWO2016174926A1 画像処理装置及び画像処理方法及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JPWO2016174926A1
公开(公告)日：2018-04-05
申请号：JP2017515418
申请日：2016-03-08
申请人：富士フイルム株式会社
发明人：村上治
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/18
CPC分类号： G01N23/04 , G01N23/18 , G01N2223/401 , G01N2223/408 , G01N2223/646 , G06T3/40 , G06T5/50 , G06T7/001 , G06T11/001 , G06T11/60 , G06T2207/10116 , G06T2207/30164
摘要：被検査体に含まれる可能性がある欠陥の状況と分布を迅速かつ確実に把握することを可能にする画像処理装置及び画像処理方法及びプログラムを提供する。放射線が照射された被検査体を撮影して得られた放射線画像を取得する。取得した放射線画像と同一の撮影条件で撮影された正常な被検査体の放射線画像である基準画像を基準画像記憶部に記憶させる。放射線画像取得部が取得した放射線画像と、基準画像記憶部に記憶されている基準画像との対応画素間での画素値の差分値を検出する。差分値検出部の検出結果に基づき、放射線画像と基準画像との差分領域を、差分領域における差分値の正負を判別可能に表示部に表示させる。

7. 发明专利

JP2017207372A X線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP2017207372A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：JP2016099916
申请日：2016-05-18
申请人：株式会社リガク
发明人：姫田章宏
IPC分类号： G01N23/20
CPC分类号： G01N23/20 , G01N23/207 , G01N2223/052 , G01N2223/303 , G01N2223/408 , G01N2223/61 , G01N23/20016
摘要：【課題】選択されるX線光学系の測定をユーザが容易に理解することが可能なX線分析の操作ガイドシステム、操作ガイド方法、及び操作ガイドプログラムの提供。【解決手段】試料の情報と、複数のX線測定光学系部品それぞれの情報を取得する、測定情報取得手段と、試料を拡大して表示する拡大倍率を取得する、試料拡大倍率取得手段と、光軸方向に垂直な平面において入射X線の形状が拡大倍率に応じて拡大される、入射X線のデフォルメ形状を決定する、入射X線形状変形手段と、光軸方向に垂直な平面において散乱X線の形状が拡大倍率に応じて拡大される、散乱X線のデフォルメ形状を決定する、散乱X線形状変形手段と、試料の形状が拡大倍率に応じて拡大される試料の変形形状、入射X線のデフォルメ形状、及び散乱X線のデフォルメ形状を、モデリングする、X線測定光学系モデリング手段と、を備える。【選択図】図1

8. 发明专利

JP2013036861A X-ray stress measurement device 有权
标题翻译： X射线应力测量装置
公开(公告)号：JP2013036861A
公开(公告)日：2013-02-21
申请号：JP2011173472
申请日：2011-08-08
申请人： Rigaku Corp , 株式会社リガク
发明人： YASUKAWA SHOICHI , IWATA TOMOYUKI
IPC分类号： G01N23/20
CPC分类号： G01N23/207 , G01L1/25 , G01N2223/3303 , G01N2223/408 , G01N2223/607
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray stress measurement device that allows a user to easily, intuitively and accurately know material characteristic information on each portion of a sample.SOLUTION: An X-ray stress measurement device includes: a camera 7 for taking an optical image of a sample S; a display 17 for displaying the optical image; an input device 18 where a point on a screen of the display 17 can be input; an X-ray source 11 for generating X-rays; a table 4 for moving the sample S; an X-ray detector 12 for detecting X-rays R2 having passed through the sample S; a measurement program for determining a measuring point of the sample S on the basis of the point specified by the input device 18 and performing measurement at the determined measuring point of the sample S; a stress calculation program for calculating stress at the measuring point of the sample S on the basis of a signal output from the X-ray detector 12; and an image formation program 22 for displaying the optical image and measuring point of the sample S, an absolute value of the stress, and a stress direction on the same screen of the display 17.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种X射线应力测量装置，其允许用户容易地，直观地和准确地知道样品的每个部分上的材料特性信息。解决方案：X射线应力测量装置包括：摄像机7，用于拍摄样品S的光学图像; 用于显示光学图像的显示器17; 可以输入显示器17的画面上的点的输入装置18; 用于产生X射线的X射线源11; 用于移动样品S的工作台4; 用于检测通过样品S的X射线R2的X射线检测器12; 用于根据由输入装置18指定的点确定样本S的测量点并在确定的样本S的测量点进行测量的测量程序; 应力计算程序，用于根据从X射线检测器12输出的信号计算样本S的测量点处的应力; 以及图像形成程序22，用于在显示器17的同一屏幕上显示样品S的光学图像和测量点，应力的绝对值和应力方向。（C）2013，JPO和INPIT

9. 发明专利

KR102230737B1 KR102230737B1 - Method for determine the atom using 4-color x-ray equipment 有权
公开(公告)号：KR102230737B1
公开(公告)日：2021-03-22
申请号：KR1020200077771A
申请日：2020-06-25
申请人： 대한민국
发明人： 전제환 , 이현우 , 류태인
IPC分类号： G01N23/083 , G01N23/10 , G01V5/00
CPC分类号： G01N23/083 , G01N23/10 , G01V5/0008 , G01N2223/403 , G01N2223/408
摘要： 본 발명은 물질을 구성하는 원자들 중 원자번호가 가장 큰 원자가 주기율표에서 어느 집단에 소속되어 있는 원자인지를 판별할 수 있는, 4색 X-ray 장비를 이용한 원자의 판별 방법에 대하여 개시한다.
본 발명에 따른 4색 X-ray 장비를 이용한 원자의 판별 방법은 4색 영상을 나타내는 X-ray 장비로 원자들을 검사하여, 주기율표에서 원자번호 1~10번의 원자를 포함하는 제1집단은 제1색으로 표시되고, 원자번호 12~18번의 원자를 포함하는 제2집단은 제2색으로 표시되고, 원자번호 20~40번의 원자를 포함하는 제3집단은 제3색으로 표시되고, 원자번호 42번 이상의 원자를 포함하는 제4집단은 제4색으로 표시되도록 분류한 후, 상기 4색 영상을 나타내는 X-ray 장비로 분자단위를 포함하는 물질을 검사 시, 상기 물질에 포함되는 원자들 중에서 원자번호가 가장 큰 원자를 포함하는 집단의 색으로 표시되어, 상기 원자번호가 가장 큰 원자가 상기 제1집단 내지 제4집단 중에서 어느 집단에 해당되는 원자인지를 판별한다.

10. 发明专利

JP6258845B2 X線検査方法及び装置有权
公开(公告)号：JP6258845B2
公开(公告)日：2018-01-10
申请号：JP2014257691
申请日：2014-12-19
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：中尾敏之 , 浦野雄太 , 張開鋒 , 笹澤秀明
IPC分类号： G01B15/00 , G01N23/083 , G01B15/08 , G01N23/04
CPC分类号： G01N23/04 , G01N23/044 , G01N23/083 , G01N23/18 , G01N2223/3306 , G01N2223/401 , G01N2223/408 , G01N2223/6116 , G01N2223/646 , G01N2223/6462

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