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1. 发明专利

JP2020053272A 荷電粒子線装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020053272A
公开(公告)日：2020-04-02
申请号：JP2018181729
申请日：2018-09-27
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：高橋範次 , 榊原慎 , 鈴木誠 , 山崎実
IPC分类号： H01J37/21 , H01J37/12 , H01J37/28 , H01J37/153
摘要：【課題】照射される電子線の収差や焦点ずれを補正するともに、静電レンズの電場の変動が偏向器に与える影響を抑制することを目的とする。【解決手段】試料に照射される荷電粒子線を偏向する偏向器と、前記荷電粒子線を前記試料の上で集束させる対物レンズと、を備える荷電粒子線装置であって、前記対物レンズの一部を含み、前記荷電粒子線の収差や焦点ずれを補正するための電圧が印加される静電レンズと、前記偏向器と前記静電レンズとの間に設けられ、前記静電レンズに印加される電圧と同符号であって一定の電圧が印加される電場固定電極と、をさらに備えることを特徴とする。【選択図】図3

2. 发明专利

JP2020047476A 荷電粒子ビームシステム审中-公开
公开(公告)号：JP2020047476A
公开(公告)日：2020-03-26
申请号：JP2018175123
申请日：2018-09-19
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：門井涼 , 李ウェン , 石垣直也
IPC分类号： H01J19/78 , G01R31/12 , H01J37/24
摘要：【課題】荷電粒子ビーム装置において、簡易な構成で放電が起こった位置を検出する。【解決手段】荷電粒子ビーム装置101と検出回路114とを備えた荷電粒子ビームシステムである。荷電粒子ビーム装置101は第1の共振周波数を有する第1のアンテナ102と第2の共振周波数を有する第2のアンテナ103を有する。検出回路114は第1のフィルタ107を通過した後の信号の第1の振幅を検出する第1の振幅検出部110と第2フィルタ108を通過した後の信号の第2の振幅を検出する第2の振幅検出部11と、第1の振幅と第2の振幅とを比較する振幅比較部113とを有する。【選択図】図1

3. 发明专利

JP2020046377A 自動分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020046377A
公开(公告)日：2020-03-26
申请号：JP2018176761
申请日：2018-09-21
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：山下太一郎 , 大草武徳 , 坂入進
IPC分类号： G01N35/02
摘要：【課題】構造が簡単で小型化が可能な自動分析装置を提供する。【解決手段】本開示の自動分析装置は、試薬を収容する試薬容器を保持する試薬庫と、鉛直方向に平行な第1の方向及び第1の方向に垂直な第2の方向に移動可能に構成された蓋開閉部材を備える蓋開閉装置と、を備える。蓋開閉部材は、試薬容器の蓋を開放する第1の部材と、蓋を閉じる第2の部材と、を一体で備え、試薬容器の上方の位置である第1の位置と、第1の位置から蓋開閉部材の底面が試薬容器に接するまで第1の方向に下降した位置である第2の位置とを互いに移動可能に構成され、第2の位置と、第2の位置から第2の方向に移動した位置である第3の位置とを互いに移動可能に構成され、第2の位置から第3の位置に移動する際に、第1の部材により蓋を開放し、第3の位置から第2の位置に移動する際に、第2の部材により蓋を閉じることを特徴とする。【選択図】図5

4. 外观设计

JPD1573205S カラム管失效
公开(公告)号：JPD1573205S
公开(公告)日：2020-03-23
申请号：JPD201618333
申请日：2016-08-29
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
设计人：中川裕章村松健吾

5. 发明专利

JPWO2019008736A1 薄膜デバイス保管装置,保管方法及び生体分子計測方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2019008736A1
公开(公告)日：2020-03-19
申请号：JP2017024927
申请日：2017-07-07
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：松井一真 , 藤岡満 , 後藤佑介
IPC分类号： G01N27/00 , C12M1/00
摘要： Siを含んだ厚さ100nm以下の絶縁性の薄膜を有する薄膜デバイス3と,薄膜に接液する溶液と,溶液を密封する槽を有する容器とを備え,溶液は下記(1)乃至(3)のいずれかの条件を満たす溶液である,薄膜デバイス保管装置。 (1)体積比0%以上30%以下の水を含む溶液 (2)凝固点以上15℃未満に冷却維持された溶液 (3)濃度1mol/L以上飽和濃度以下の塩を含み,凝固点以上25℃未満に冷却維持された溶液

6. 发明专利

JP2020041968A 電解質濃度測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020041968A
公开(公告)日：2020-03-19
申请号：JP2018171277
申请日：2018-09-13
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：岸岡淳史 , 小野哲義
IPC分类号： G01N27/333 , G01N27/416 , G01N27/26
摘要：【課題】装置を稼働させつつも装置の各種の異常予兆を的確に検知することができ、キャリブレーション頻度を適正化することが可能になると共に、実質的なスループットを向上させる電解質濃度測定装置を提供する。【解決手段】この電解質濃度測定装置10は、液体を供給されるイオン選択性電極101と、電位の基準となる比較電極102と、イオン選択性電極の電位を取得する電位測定部171と、電位測定部にて取得した電位から液体中に含まれるイオンの濃度を算出する濃度算出部172と、イオン選択性電極の電位を継続的に監視して電位応答曲線を生成する電位監視部181と、各種動作のタイミングに関するタイミング信号を取得するタイミング信号取得部182と、電位応答曲線及びタイミング信号の関連性に基づき装置の異常予兆を検知する電位応答曲線解析部183とを備える。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2020035282A パターン検査システム审中-公开
公开(公告)号：JP2020035282A
公开(公告)日：2020-03-05
申请号：JP2018162607
申请日：2018-08-31
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：トウショヨウ , 篠田伸一 , 豊田康隆 , 新藤博之
IPC分类号： G06T7/00
摘要：【課題】学習データの真値作成作業の手間を省き、学習データの少量化を図ることで、学習時間の短期間化を可能とするパターン検査システムを提供する。【解決手段】電子デバイスの検査対象パターンの画像102と、検査対象パターンを製造するために使用するデータ101に基づき、機械学習により構成された識別器302を用いて検査対象パターンの画像を検査するパターン検査システムであって、電子デバイスの複数のパターン画像と前記電子デバイスのパターンを製造するために使用するパターンデータ101を格納する記憶部と、記憶部に格納されたパターンデータ101とパターン画像に基づき、前記複数のパターン画像から機械学習に用いる学習用パターン画像を選択する画像選択部103と、を備える。【選択図】図1

8. 发明专利

JP2020034449A 電解質濃度測定装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020034449A
公开(公告)日：2020-03-05
申请号：JP2018161955
申请日：2018-08-30
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：竹内孝憲 , 小沢理
IPC分类号： G01N27/416 , G01N27/26
摘要：【課題】ユーザの介在なしにいつでも校正ができ、作業効率を向上させて電解質濃度測定装置を提供する。【解決手段】この電解質濃度測定装置は、イオンを含むイオン溶液を供給されるイオン選択性電極と、比較電極液を供給される比較電極と、前記イオン選択性電極と比較電極との間の電位差を測定する測定部と、装置の校正のための電解質標準液を生成する電解質標準液生成部とを備える。前記電解質標準液生成部は、陽イオンの濃度と陰イオンの濃度とを調整可能に構成されて前記電解質標準液を生成する。【選択図】図1

9. 发明专利

JP2020031557A 生体分子分析装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020031557A
公开(公告)日：2020-03-05
申请号：JP2018159481
申请日：2018-08-28
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：赤堀玲奈 , 後藤佑介 , 柳至 , 青木真由
IPC分类号： G01N27/02 , C12Q1/6869 , C12M1/00
摘要：【課題】生体分子の搬送制御を行いつつも、合成開始点の制御も的確に実行する。【解決手段】この生体分子分析装置は、ナノポアを有する薄膜と、前記薄膜に接して配置され電解質溶液を含む液槽と、前記液槽に接する電極と、前記電極に接続される測定部と、前記測定部の測定結果に従い、前記電極に印加する電圧を制御する制御部とを備え、前記電解質溶液には、生体分子が導入され、前記生体分子の第1の端部には制御鎖、及び分子モータが接続され、前記制御鎖は、その上流においてプライマと結合され、その下流にスペーサを有することを特徴とする。【選択図】図1

10. 发明专利

JP2020030089A 分析システム审中-公开
公开(公告)号：JP2020030089A
公开(公告)日：2020-02-27
申请号：JP2018155321
申请日：2018-08-22
申请人：株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人：島田賢史 , 山崎功夫 , 西田正治
IPC分类号： G01N35/00 , G01N35/10
摘要：【課題】簡便な構成で分析装置の機械異常を検出することを課題とする。【解決手段】液体を吸引及び吐出するプローブと、プローブと、分注流路Tを介して接続するプランジャ114と、プローブの位置を移動させる上下回転動作部112と、プローブと、プランジャ114とを結ぶ分注流路Tの途中、かつ、分注流路Tにおいて、上下回転動作部112によりプローブと一体となって移動する部分よりもプランジャ114に近い位置に設けられており、分注流路T内の液体の圧力を検知する圧力センサPと、を有する分析装置と、圧力センサPで検知された圧力データに基づいて、圧力データを取得したタイミングで行われていた動作について、異常の有無についての解析を行う異常判定部203と、を有することを特徴とする。【選択図】図2

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