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    • 10. 发明专利
    • 異物検査装置
    • 外部检验设备
    • JP2015028465A
    • 2015-02-12
    • JP2014053808
    • 2014-03-17
    • 日新電子工業株式会社Nissin Electronics Co Ltd
    • KANAZAWA MASAOOMIYA TADASHI
    • G01N23/04G01N27/72G01V5/00
    • 【課題】金属検出とX線異物検査が可能な装置を小型化すること。【解決手段】磁界を発生させる送信手段23と磁界が鎖交する受信手段24a,24bとを有し、被検査物に混入した金属性異物を磁界に基づいて検出する金属検出部23,24a,24bと、金属検出部23,24a,24bの上流側および下流側の少なくとも一方に一体的に形成された遮蔽フード22e,22fを有し且つ送信手段23と受信手段24a,24bを収容する筐体部22aと、遮蔽フード22e,22fを含む筐体部22aよりも内側且つ金属検出部23,24a,24bよりも外側に形成されたX線通過部22c,22dと、を有する金属検出手段22と、X線通過部22c,22dを通過するX線15により被検査物に混入した異物を検出するX線検査手段13,14と、を備えた異物検査装置。【選択図】図2
    • 要解决的问题:减少能够进行金属检测和X射线异物检查的装置的尺寸。解决方案:外部检查装置设有金属检测装置22和X射线检查装置13,14。 金属检测装置22包括:用于产生磁场的发送装置23; 接收装置24a,24b,其中磁场彼此相互连接; 金属检测部件23,24a,24b,用于基于磁场检测混入被检体内的金属杂质; 壳体部分22a,其具有一体地形成在金属检测部件23,24a,24b的上游侧和下游侧中的至少一个并且容纳发送装置23和接收装置24a,24b的屏蔽罩22e,22f; 以及形成在位于包括遮蔽罩22e,22f的壳体部22a内的位于金属检测部23,24a,24b外侧的位置的X射线通过部22c,22d。 X射线检查装置13,14检测通过X射线通过部22c,22d的X射线15混入待检查物体中的异物。