专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JP2018179718A 残留応力測定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018179718A
公开(公告)日：2018-11-15
申请号：JP2017078700
申请日：2017-04-12
申请人：株式会社神戸製鋼所
发明人：福井利英 , 高枩弘行
IPC分类号： G01L1/00
CPC分类号： G01L1/00 , G01L1/25
摘要：【課題】音弾性法によって被検査体の残留応力の絶対値を算出するのに必要な被検査体の事前測定をすることなく、比較的短時間で被検査体の残留応力の絶対値を測定することが可能な残留応力測定方法を提供すること。【解決手段】残留応力測定方法であって、X線回折法によって、被検査体(1)又は被試験体の特定の部位の残留応力の値である残留応力値を測定する残留応力値測定工程と、音弾性法によって、前記特定の部位の応力の値であって残留応力値と相関を有する換算応力値を測定する換算応力値測定工程と、残留応力値測定工程で測定された残留応力値と換算応力値測定工程で測定された換算応力値とに基づいて換算応力値を残留応力値に変換する校正係数を算出する校正係数算出工程と、被検査体(1)の複数の部位を音弾性法で測定することにより得られた各換算応力値を校正係数に基づいてそれぞれ残留応力値に校正する校正工程と、を含むこと。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2018066629A ロードセル审中-公开
公开(公告)号：JP2018066629A
公开(公告)日：2018-04-26
申请号：JP2016204940
申请日：2016-10-19
申请人：太陽誘電株式会社
发明人：宮澤冬樹 , 小山勝弘 , 松田勲 , 萩原康仁 , 浜本貴樹
IPC分类号： G01G3/12 , G01L1/04
CPC分类号： G01L1/22 , G01L1/04 , G01L1/06 , G01L1/2206 , G01L1/24 , G01L1/25
摘要：【課題】計測精度の更なる向上を図ることができるロードセルを提供する。【解決手段】本技術の一形態に係るロードセルは、起歪体と、第1の光学ユニットと、第2の光学ユニットと、検出器と、演算部とを具備する。上記第1の光学ユニットは、光源と、上記光源からの光が入射する第1の回折格子と、受光部とを有する。上記第1の光学ユニットは、上記起歪体の第1の端部に固定され、上記起歪体の中空部に配置される。上記第2の光学ユニットは、上記第1の回折格子から出射した回折光が入射することにより、上記受光部で受光される干渉光を生成する第2の回折格子を有する。上記第2の光学ユニットは、上記起歪体の第2の端部に固定され、上記中空部に配置される。上記検出器は、上記干渉光を検出する。上記演算部は、上記検出器により得られる信号に基づいて上記第1の回折格子に対する上記第2の回折格子の相対変位量を演算する【選択図】図3

3. 发明专利

JPWO2014102919A1 表面加工状態の評価システムおよび評価方法有权
标题翻译：评价体系和表面加工状态的评价方法
公开(公告)号：JPWO2014102919A1
公开(公告)日：2017-01-12
申请号：JP2014553927
申请日：2012-12-26
申请人：株式会社日立製作所
发明人：ユウ王 , ゆう王
IPC分类号： G01N23/205
CPC分类号： G01N23/207 , G01L1/25 , G01N2223/629
摘要：本願発明は、溶接金属のようなX線回折強度の方向依存性を持つ集合組織や粗大結晶材料においても、測定対象物の表面加工状態を非破壊的に評価することが可能なシステムおよび方法を提供することを目的とする。本願発明における課題を解決する手段は、二次元X線回折斑点のX線入射中心に対する半径方向のX線強度曲線の半価幅から装置による半価幅を差し引いた後の値と、X線入射中心に対する中心角との、全周範囲での定積分を二次元X線回折パラメータとして求め、予め求めた二次元X線回折パラメータと塑性ひずみ又は硬さのうち少なくともいずれか1つの物理量との関係から測定対象物の表面加工状態を評価することを特徴とする。
摘要翻译：本发明中，即使是在质地和粗晶材料具有方向性的X射线衍射强度的依赖性的焊接金属，非破坏性评估系统和能够在所述测量对象的表面处理状态的方法本发明的一个目的是提供。用于解决本发明中的问题，由所述设备从所述半值宽度在二维X射线衍射斑的X射线入射的中心与X射线强度曲线的半径方向减去半宽度后的值，X射线入射相对于所述中心的中心角，求出在整个圆周范围内的二维X射线衍射参数的定积分，先前确定的二维X射线衍射参数和塑性应变或硬度的物理量中的至少一个之间的关系和评估从测量对象的表面处理状态。

4. 发明专利

JP2016530523A 熱機械構造の状態監視用の原位置マーカーのための方法审中-公开
标题翻译：用于原位标记方法为热机械结构的状态监测
公开(公告)号：JP2016530523A
公开(公告)日：2016-09-29
申请号：JP2016536290
申请日：2014-08-08
申请人：ユナイテッドテクノロジーズコーポレイションUnited Technologies Corporation , ユナイテッドテクノロジーズコーポレイションUnited Technologies Corporation
发明人：ダウトヴァ，リュトゥシア , ジュニアー，ウェンデル，ヴィー．トウェルヴズ , ジュニアー，ウェンデル，ヴィー．トウェルヴズ , オット，ジョー , ブッチャー，エヴァン , シャーツィンガー，ゲーリー，エー． , ハーバート，レイナー，ジェイ．
IPC分类号： G01N23/207
CPC分类号： G01L1/25 , B22F3/1055 , B22F5/04 , B22F2003/1056 , B23K26/342 , B23K26/702 , B23K2203/14 , B33Y10/00 , B33Y40/00 , F01D21/003 , G01N23/20 , Y02P10/295
摘要：構成要素の表面領域及び表面付近の領域における残留応力を監視する方法は、構成要素の通常の動作条件の間に高応力を経験することが予想される構成要素の表面上の所定の位置を識別することを含む。マーカー粒子が、構成要素の付加製造中に所定の位置で構成要素に導入される。そして、構成要素の残留応力が、X線技術を使用して、マーカー材料に対応した位置で測定される。
摘要翻译：用于在表面区域和所述部件的表面附近的区域监视中的残余应力的方法，识别出预计在部件的正常工作条件下经历高应力部件的表面上的预定位置包括。标记颗粒被引入到组件的额外的生产组件的过程中的预定位置。然后，该部件的残余应力，使用X射线的技术，在对应于所述标记材料的位置测定。

6. 发明专利

JP2018017589A エンジン試験装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018017589A
公开(公告)日：2018-02-01
申请号：JP2016147534
申请日：2016-07-27
申请人：株式会社エー・アンド・デイ
发明人：杉田満春 , 江頭祐太 , 安野啓介
IPC分类号： G01M15/02
CPC分类号： G01M15/042 , G01L1/25 , G01M15/02 , G01P3/36 , G01S7/4808 , G01S17/58 , G01S17/87 , G01S17/88
摘要：【課題】エンジンの特性を高精度に計測することができるエンジン試験装置を提供する。【解決手段】エンジンEにシャフトSを介して連結されたダイナモメータDと、エンジンE及びダイナモメータDの動作を制御する制御演算装置3とを備えたエンジン試験装置Wであって、シャフトSは、その一端部がエンジンEの出力軸に連結され、その他端部がダイナモメータDの回転軸に連結されており、シャフトSの一端部或いはエンジンEの出力軸にレーザ光を照射しエンジンEの出力軸の回転速度を非接触で計測して制御演算装置3に送信するドップラ速度計1を有し、制御演算装置3は、ドップラ速度計1から送信された回転速度を用いてダイナモメータDの動作を制御する。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2014025746A Method and apparatus for x-ray stress measurement 有权
标题翻译： X射线应力测量的方法和装置
公开(公告)号：JP2014025746A
公开(公告)日：2014-02-06
申请号：JP2012164632
申请日：2012-07-25
申请人： Rigaku Corp , 株式会社リガク
发明人： YASUKAWA SHOICHI
IPC分类号： G01L1/00
CPC分类号： G01L1/25 , G01N23/207
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To expedite stress measurement by simultaneously acquiring information on diffracted X-rays for a plurality of Ψ angles.SOLUTION: A sample 1 is irradiated with X-rays from a plurality of X-ray sources 21, 22 at a plurality of different incident angles. Each Debye-ring of diffracted X-rays conically radiated from the sample 1 in response to the incident X-rays from each of the X-ray sources 21, 22 is observed, and internal stress of the sample 1 is derived from information recorded on an imaging plate 30 on the diffracted X-rays at an intersection between the Debye-ring of the diffracted X-rays and an equatorial plane H and on diffracted X-rays in the vicinity of the intersection between the Debye-ring and the equatorial plane H.
摘要翻译：要解决的问题：通过同时获取关于多个Ψ角的衍射X射线的信息来加速应力测量。解决方案：样品1以多个X射线源21,22的X射线照射多个的不同入射角度。观察到响应于来自每个X射线源21,22的入射X射线从样品1圆锥形辐射的衍射X射线的每个德拜环，并且样品1的内部应力来自记录在在衍射X射线的德拜环与赤道平面H之间的交叉处的衍射X射线和德拜环与赤道平面之间的交叉点附近的衍射X射线上的成像板30 H。

8. 发明专利

JP5014119B2 Electromagnetic resonant sensor 有权
公开(公告)号：JP5014119B2
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：JP2007508353
申请日：2005-03-15
申请人：ローズマウントインコーポレイテッド
发明人：ロジャーエル．フリック，
IPC分类号： G01D5/26 , G01D5/00 , G01D5/243 , G01D5/353 , G01D5/48 , G01F1/38 , G01K5/72 , G01K11/32 , G01L1/25 , G01L9/00 , G01L11/00 , G01N21/00 , G01N21/41 , G05D27/02 , H03C7/00
CPC分类号： G01F1/383 , G01D5/268 , G01D5/35345 , G01K5/72 , G01K11/32 , G01L1/25 , G01L9/0008 , G01L9/0011 , G01L11/00

9. 发明专利

JP2010521658A Medical device comprising a sensor for detecting a force 审中-公开
公开(公告)号：JP2010521658A
公开(公告)日：2010-06-24
申请号：JP2009552314
申请日：2008-03-04
申请人：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
发明人：ヨアヒムカーレルト , スザボルクスデラディ , ネナドミハイロヴィッチ
IPC分类号： G01L5/00 , A61B1/00 , A61B18/20 , G01L1/00
CPC分类号： A61B5/02154 , A61B5/6843 , A61B5/6885 , A61B18/1492 , A61B18/22 , A61B90/06 , A61B2090/065 , A61N7/022 , G01L1/25 , G01L9/0077 , Y10T29/49002
摘要：本発明は、医療装置１２０，１３０の長手方向に作用する力を検出するセンサ１００、１１０を有する医療装置１２０、１３０に関する。医療装置１２０、１３０は、力を受ける可撓性部分２２、４２を有する光機械力トランスデューサと、光機械力トランスデューサの可撓性部分２２、４２に面するアウトカップリング表面１１を有する光導波路１と、光導波路１のアウトカップリング表面１１から反射される光導波路１内の光３２、及び光機械力トランスデューサの可撓性部分１１から反射される光導波路１内の光３３からなる干渉パターンを検出する光検出器とを有する。光導波路のアウトカップリング表面から反射される光、及び光機械力トランスデューサの可撓性部分から反射される光からなる干渉パターンの使用は、結果として、医療装置に作用する力のより正確な測定を可能にする。

10. 发明专利

JPS61500181A JPS61500181A - 失效
公开(公告)号：JPS61500181A
公开(公告)日：1986-01-30
申请号：JP50365884
申请日：1984-09-21
IPC分类号： G01L1/00 , G01L1/25 , G01N23/207
CPC分类号： G01L1/25 , G01N23/207

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式