会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 1. 发明申请
    • 半導体発光素子
    • 半导体发光器件
    • WO2009078482A1
    • 2009-06-25
    • PCT/JP2008/073189
    • 2008-12-19
    • ローム株式会社尺田 幸男
    • 尺田 幸男
    • H01S5/323H01S5/343
    • H01S5/32341H01S5/0425H01S5/16H01S5/22H01S5/2214H01S5/3214
    •   リッジストライプ構造を備えていても、素子の駆動電圧の上昇や内部発熱による寿命低下を防止し、レーザ特性を均一にすることができる窒化物半導体発光素子を提供する。  GaN基板1上にn型GaN層2、n型AlGaN層3、活性層4、p型AlGaN層5、p型GaN層6が順に積層されている。p型GaN層6上には絶縁膜7と透明電極8が形成されている。透明電極8の一部は、p型GaN層6と接するように形成されている。導波路形成のためのリッジストライプ部Dは、透明膜9で構成されている。透明電極8とp型GaN層6と接触している領域が、ストライプ形状の電流注入領域となる。
    • 公开了一种氮化物半导体发光器件,即使当器件具有脊状条纹结构时,由于器件的驱动电压的增加或内部发热而防止寿命缩短,从而具有均匀的激光特性。 具体地,n型GaN层(2),n型AlGaN层(3),有源层(4),p型AlGaN层(5)和p型GaN层(6)分别为 顺序地布置在GaN衬底(1)上。 在p型GaN层(6)上形成绝缘膜(7)和透明电极(8)。 透明电极(8)的一部分形成为与p型GaN层(6)接触。 用于形成波导的脊条部分(D)由透明膜(9)组成。 与透明电极(8)和p型GaN层(6)接触的区域用作条纹电流注入区域。
    • 5. 发明申请
    • INFRAROTHALBLEITERLASER
    • 红外半导体激光
    • WO2004047244A1
    • 2004-06-03
    • PCT/EP2003/010333
    • 2003-09-17
    • FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.LAMBRECHT, Armin
    • LAMBRECHT, Armin
    • H01S5/10
    • B82Y20/00H01S5/12H01S5/1203H01S5/2231H01S5/227H01S5/3211H01S5/3214H01S5/3422
    • Die Erfindung betrifft einen Infrarot-Halbleiterlaser (1) mit mindestens einer aktiven Zone (2) aus III-V-Material mit einem ersten thermischen Brechungsindexgradienten dn/dT und einem Lichtmodenbereich (3). Der Infrarot-Halbleiterlaser (1) zeichnet sich dadurch aus, dass in dem Lichtmodenbereich (3) ein Material (4) mit einem zweiten thermischen Brechungsindexgradienten dn/dT vorgesehen ist, dessen Vorzeichen dem des ersten thermischen Brechungsindexgradienten entgegengesetzt ist und/oder der einen mindestens doppelt so hohen Betrag hat. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zur Herstellung eines Infrarot-Halbleiterlasers (1) mit: Bildung mindestens einer aktiven Zone (2) aus III-V-Material mit einem ersten thermischen Brechungsindexgradienten dn/dT und Bildung eines Wellenleiters (5) mit einem Lichtmodenbereich (3). Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass in dem Lichtmodenbereich (3) ein Material (4) mit einem zweiten thermischen Brechungsindexgradienten dn/dT angeordnet wird, dessen Vorzeichen dem des ersten thermischen Brechungsindexgradienten entgegengesetzt ist und/oder der einen mindestens doppelt so hohen Betrag hat. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Telekommunikations-sowie Spektroskopiesystemkomponente mit einem entsprechenden oder entsprechend hergestelltem Halbleiterlaser (1), sowie ein Telekommunikations- und Spektroskopiesystem mit derjeweiligen Komponente.
    • 本发明涉及一种红外半导体激光器(1),III-V族材料中的至少一个有源区(2),具有折射率的dn / dT的第一热梯度和光模式区域(3)。 红外半导体激光器(1)的特征在于,一种材料(4)上设置有折射率DN的第二热梯度/ DT在光模式区(3),其标志是相反的是,第一热梯度指数的和/或至少 具有两倍。 本发明还涉及一种制造红外半导体激光器的方法(1),包括:形成III-V材料的(2)(具有折射率的dn / dT的第一热梯度的至少一个有源区,并用一个光模式区形成波导(5) 3)。 该方法的特征在于,一种材料(4)被布置成与折射率的dn的第二热梯度/ DT在光模式区(3),其标志是相反于所述第一热折射率梯度的和/或具有至少高两倍量 , 本发明还涉及一种电信和光谱学系统组件与相应的或相应产生的半导体激光器(1),并且与相应的成分的电信和光谱系统。
    • 10. 发明申请
    • HALBLEITERLASER
    • 半导体激光器
    • WO2017055284A1
    • 2017-04-06
    • PCT/EP2016/073000
    • 2016-09-27
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • GERHARD, SvenLELL, AlfredVIERHEILIG, ClemensLÖFFLER, AndreasEICHLER, Christoph
    • H01S5/042H01S5/16H01S5/32H01S5/028H01S5/323
    • H01S5/168H01S5/0287H01S5/0421H01S5/16H01S5/162H01S5/166H01S5/3211H01S5/3214H01S5/32341H01S2301/176
    • Es umfasst der Halbleiterlaser (1) eine Halbleiterschichtenfolge(2) mit einem n-leitenden n-Bereich (21), einem p-leitenden p-Bereich (23) und einer dazwischenliegendenaktive Zone (22) zur Erzeugung von Laserstrahlung. Zur Stromeinprägung befindet sich direkt an dem p-Bereich (23) eine für die Laserstrahlung durchlässige p-Kontaktschicht (3) aus einem transparenten leitfähigen Oxid. Direkt an der p-Kontaktschicht (3) ist eine elektrisch leitende und metallische p-Kontaktstruktur (4) angebracht. Die p-Kontaktschicht (3) ist ein Teil einer Mantelschicht, sodass die Laserstrahlung im Betrieb des Halbleiterlasers (1) bestimmungsgemäß in die p-Kontaktschicht (3) eindringt. Zwei Facetten (25) der Halbleiterschichtenfolge (2) bilden Resonatorendflächen für die Laserstrahlung. In wenigstens einem Stromschutzbereich (5) direkt an zumindest einer der Facetten (25) ist eine Stromeinprägung in den p-Bereich (23) unterdrückt. Der Stromschutzbereich weist in Richtung senkrecht zur zugehörigen Facette (25) eine Ausdehnung von mindestens 0,5µm und von höchstens 100 µm und zusätzlich von höchstens 20 % einer Resonatorlänge für die Laserstrahlung auf.
    • 半导体激光器(1)包括具有n型的n型区域(21),p型的p型区域(23)和用于产生激光辐射的居间有源区(22)的半导体层序列(2)。 电流注入直接位于所述p-区(23)可透过由透明导电氧化物的激光辐射p接触层(3)。 直接在p型接触层(3)是一种导电性的金属和p接触结构(4)。 p接触层(3)是一包层的一部分,从而使半导体激光器的操作期间所述激光辐射(1),用于渗透到p型接触层(3)。 两个小平面(25)的半导体层序列(2)用于激光辐射形式谐振器端的。 在至少一个电流保护区域(5)直接在刻面中的至少一个(25)抑制了在p区(23)的电流注入。 过电流保护区域具有在沿垂直于相关联的小面(25)具有至少0.5微米的扩展,并且不超过100微米,并且另外至多20用于激光辐射的谐振器的%。