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    • 1. 发明申请
    • GALLIUMNITRID-BASIERTE LED UND IHR HERSTELLUNGSVERFAHREN
    • 氮化镓基于LED及其制造方法
    • WO2003009399A1
    • 2003-01-30
    • PCT/DE2002/002677
    • 2002-07-19
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHHAHN, BertholdHANGLEITER, AndreasHÄRLE, Volker
    • HAHN, BertholdHANGLEITER, AndreasHÄRLE, Volker
    • H01L33/00
    • H01L33/007H01L33/02H01L33/32
    • Es wird ein Verfahren zum Herstellen einer lichtemittierenden Vorrichtung auf Basis eines Galliumnitrid-basierten Verbindungshalbleiters vorgeschlagen, mit einer lichtemittierenden Schicht (2) mit einer ersten und einer zweiten Hauptfläche, die aus einem Verbindungshalbleiter auf Galliumnitridbasis gebildet ist; einer ersten Überzugsschicht (3), die mit der ersten Hauptfläche der lichtemittierenden Schicht (2) verbunden und aus einem n-Typ-Verbindungshalbleiter auf Galliumnitridbasis gebildet ist, dessen Zusammensetzung sich von derjenigen des Verbindungshalbleiters der lichtemittierenden Schicht unterscheidet; und einer zweiten Überzugsschicht (4), die mit der zweiten Hauptfläche der lichtemittierenden Schicht (2) verbunden und aus einem p-Typ-Verbindungshalbleiter auf Galliumnitridbasis gebildet ist, dessen Zusammensetzung sich von derjenigen des Verbindungshalbleiters der lichtemittierenden Schicht unterscheidet. Zur Verbesserung der Lumineszenzausbeute der Vorrichtung (1) ist die Dicke der lichtemittierenden Schicht (2) in der Nähe von Versetzungen (10) geringer als im übrigen Be-reich ausgebildet.
    • 所以建议制造光基于一个氮化镓基化合物半导体发光器件的方法,用(2),具有第一和被氮化镓系化合物半导体形成的第二主表面上的发光层; 的第一涂层(3),其连接到所述发光层(2)的第一主表面和n型化合物半导体氮化镓其组成不同于所述发光层的化合物半导体的不同的形成; 并且连接到所述发光层(2)的所述第二主表面和p型化合物半导体氮化镓其组成不同于所述发光层的化合物半导体的不同所形成的第二涂层(4)。 为了提高所述设备(1)的发光层的厚度(2)大于富处于另一位错的附近(10)少的发光效率。
    • 9. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINES STRAHLUNGSEMITTIERENDEN HALBLEITERCHIPS
    • 方法用于产生辐射半导体芯片
    • WO2005106972A1
    • 2005-11-10
    • PCT/DE2004/000892
    • 2004-04-29
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHHAHN, BertholdKAISER, StephanHÄRLE, Volker
    • HAHN, BertholdKAISER, StephanHÄRLE, Volker
    • H01L33/00
    • H01L33/22H01L33/0079
    • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Mikrostrukturierung einer strahlungsemittierenden Fläche einer Halbleiterschichtfolge für einen Dünnschicht-Leuchtdiodenchip, mit folgenden Verfahrensschritten: a) Aufwachsen der Halbleiterschichtfolge auf einem Substrat; b) Ausbilden oder Aufbringen einer Spiegelschicht (7) auf der Halbleiterschichtfolge, die zumindest einen Teil einer in der Halbleiterschichtfolge bei deren Betrieb erzeugten und zur Spiegelschicht hin gerichteten Strahlung in die Halbleiterschichtfolge zurückreflektiert; c) Trennen der Halbleiterschichtfolge vom Substrat mittels eines Abhebe-Verfahrens, bei dem eine Trennzone in der Halbleiterschichtfolge zumindest teilweise zersetzt wird, derart, dass an der Trennfläche der Halbleiterschichtfolge, von der das Substrat abgetrennt ist, anisotrop Rückstände (20) eines Bestandteils der Trennzone, insbesondere eines metallischen Bestandteils der Trennschicht verbleiben; und d) Ätzen der mit den Rückständen versehenen Trennfläche der Halbleiterschichtfolge, bei dem die anisotropen Rückstände zumindest temporär als Ätzmaske verwendet werden.
    • 本发明涉及一种用于微结构的半导体层序列的发射辐射的表面的薄膜发光二极管芯片,包括以下步骤:a)在衬底上的半导体层序列的增长; b)形成或沉积镜层(7)在半导体层序列,其至少反映在其朝向半导体层序列中的反射镜层中的操作过程中在半导体层序列产生的辐射和一部分; c)以在其中半导体层序列中的分离区被至少部分地分解,剥离方法的手段从基底分离半导体层序列,使得在从该衬底在分离区的部件的各向异性分离残基(20)中的半导体层序列的接口 依然存在,特别是分离层的金属成分的; 以及d)蚀刻设置有半导体层序列的残基,其中,所述各向异性残基是至少暂时分离区域,作为蚀刻掩模。