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    • 6. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINES STRAHLUNGSEMITTIERENDEN HALBLEITERCHIPS
    • 方法用于产生辐射半导体芯片
    • WO2005106972A1
    • 2005-11-10
    • PCT/DE2004/000892
    • 2004-04-29
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHHAHN, BertholdKAISER, StephanHÄRLE, Volker
    • HAHN, BertholdKAISER, StephanHÄRLE, Volker
    • H01L33/00
    • H01L33/22H01L33/0079
    • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Mikrostrukturierung einer strahlungsemittierenden Fläche einer Halbleiterschichtfolge für einen Dünnschicht-Leuchtdiodenchip, mit folgenden Verfahrensschritten: a) Aufwachsen der Halbleiterschichtfolge auf einem Substrat; b) Ausbilden oder Aufbringen einer Spiegelschicht (7) auf der Halbleiterschichtfolge, die zumindest einen Teil einer in der Halbleiterschichtfolge bei deren Betrieb erzeugten und zur Spiegelschicht hin gerichteten Strahlung in die Halbleiterschichtfolge zurückreflektiert; c) Trennen der Halbleiterschichtfolge vom Substrat mittels eines Abhebe-Verfahrens, bei dem eine Trennzone in der Halbleiterschichtfolge zumindest teilweise zersetzt wird, derart, dass an der Trennfläche der Halbleiterschichtfolge, von der das Substrat abgetrennt ist, anisotrop Rückstände (20) eines Bestandteils der Trennzone, insbesondere eines metallischen Bestandteils der Trennschicht verbleiben; und d) Ätzen der mit den Rückständen versehenen Trennfläche der Halbleiterschichtfolge, bei dem die anisotropen Rückstände zumindest temporär als Ätzmaske verwendet werden.
    • 本发明涉及一种用于微结构的半导体层序列的发射辐射的表面的薄膜发光二极管芯片,包括以下步骤:a)在衬底上的半导体层序列的增长; b)形成或沉积镜层(7)在半导体层序列,其至少反映在其朝向半导体层序列中的反射镜层中的操作过程中在半导体层序列产生的辐射和一部分; c)以在其中半导体层序列中的分离区被至少部分地分解,剥离方法的手段从基底分离半导体层序列,使得在从该衬底在分离区的部件的各向异性分离残基(20)中的半导体层序列的接口 依然存在,特别是分离层的金属成分的; 以及d)蚀刻设置有半导体层序列的残基,其中,所述各向异性残基是至少暂时分离区域,作为蚀刻掩模。